V55C2128164V(T/B)
该V55C2128164V (T / B )是一个4银行同步DRAM组织成4组X的2Mbit X 16。
V55C2128164V (T / B)通过采用芯片架构实现高速数据传输速率高达166 MHz的
该预取多个位,然后输出数据同步到系统时钟
所有的控制,地址,数据输入输出电路均与一个EX-的上升沿同步
ternally提供的时钟。
操作的四个存储体中以交错的方式允许发生在随机存取操作
更高的速率比用标准的DRAM 。高达166 MHz的连续和无缝数据速率
可能因突发长度, CAS延迟和设备的速度等级。
CILETIV LESO M
描述
信号引脚说明
针
CLK
TYPE
输入
信号
脉冲
极性
积极
EDGE
功能
系统时钟输入。所有的SDRAM的输入的采样上的上升沿
时钟。
CKE
输入
水平
高电平有效激活CLK信号为高电平时,并停用CLK信号为低电平时,使
启动或者掉电模式或自刷新模式。
低电平有效CS使指令译码器时低,禁用命令解码器时,
高。当指令译码器被禁用,新的命令将被忽略,但以前
行动仍在继续。
活性低时采样时钟, CAS , RAS的正上升沿和WE定义
命令由SDRAM中执行。
—
在一个银行激活指令周期, A0 -A11定义的行地址( RA0 - RA11 )
当在时钟上升沿采样。
在读或写命令周期中, A0 -一个定义的列地址( CA0 -CAN)
当在时钟的上升沿采样edge.CAn取决于从SDRAM组织:
8M ×16 SDRAM CA0 - CA8 。
除了列地址,A10 (= AP)用于调用autoprecharge操作
在脉冲串的末端的读或写周期。如果A10的高, autoprecharge被选择并
BA0 , BA1定义了预充电银行。如果A10为低, autoprecharge被禁用。
在一个预充电命令周期,A10 (= AP)功能结合使用BA0和BA1
到哪家银行( S)控制预充电。如果A10很高,所有四家银行将BA0和BA1是
用哪家银行定义为预充电。
CS
输入
脉冲
RAS , CAS
WE
A0 - A11
输入
脉冲
输入
水平
BA0,
BA1
DQX
输入
水平
—
选择哪家银行是活跃。
输入
产量
输入
水平
—
数据输入/输出引脚以相同的方式进行操作在常规的DRAM 。
LDQM
UDQM
脉冲
高电平有效的数据输入/输出的掩码会将DQ缓冲区处于高阻抗状态时SAM-
为高电平。在读模式, DQM有两个时钟周期的延迟和控制输出
缓冲器等的输出使能。在写模式, DQM具有零延迟,并作为
要写入的允许输入数据的单词的掩模,如果它是低,但块的写操作
如果DQM高。
电源和地的输入缓冲器和核心逻辑。
VCC , VSS供应
VCCQ
VSSQ
供应
—
—
对于输出缓冲隔离电源和接地,以提供改进的噪音
免疫力。
V55C2128164V (T / B ) 1.2修订版2002年8月
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