茂矽
V53C8256H
超高速,
256K ×8的快速页面模式
CMOS动态RAM
初步
高性能
马克斯。 RAS访问时间, (T
RAC
)
马克斯。列地址访问时间(T
CAA
)
分钟。快速页模式周期时间, (T
PC
)
分钟。读/写周期时间, (T
RC
)
35
35纳秒
18纳秒
21纳秒
70纳秒
40
40纳秒
20纳秒
23纳秒
75纳秒
45
45纳秒
22纳秒
25纳秒
80纳秒
50
50纳秒
24纳秒
28纳秒
90纳秒
特点
s
256K ×8位的组织
s
对于一个持续数据传输率快页模式
47兆赫
s
RAS访问时间: 35 , 40 , 45 , 50纳秒
s
低功耗
s
读 - 修改 - 写, RAS仅刷新,
CAS先于RAS的刷新功能
s
刷新间隔: 512次/ 8毫秒
s
单5V
±
10 %的电力供应
s
采用24引脚300密耳的塑料DIP ,
24分之26针300万SOJ ,以及28引脚TSOP -I
套餐
描述
该V53C8256H是高速262144 ×8位
CMOS动态随机存取存储器。该
V53C8256H提供的特征的组合:快
页高数据带宽模式下,可以使用快
速度, CMOS待机电流。
所有的输入和输出为TTL兼容。输入
输出电容显著降低到
使系统性能提高。快速页
模式操作允许多达512个的随机接入
( X8 )一行与周期时间越短21位之内
纳秒。因为静态电路,中科院时钟不
在临界定时路径。流过的柱
地址锁存允许的地址流水线,同时再
laxing许多关键系统的时序要求
快使用的速度。这些特点使
V53C8256H非常适合图形,数字显
最终的处理和高性能计算
系统。
设备使用图
操作
温度
范围
0
°
C至70
°
C
包装外形
P
访问时间(纳秒)
T
动力
标准。
K
50
60
70
温度
标志
空白
V53C8256H修订版1.2 1997年7月
1
茂矽
绝对最大额定值*
环境温度
在偏置.............................. -10
°
C至+ 80
°
C
存储温度(塑料) -55 ......
°
C至+ 125
°
C
电压相对于V
SS
...................- 1.0V至+ 7.0V
数据输出电流..................................... 50毫安
功耗..........................................为1.0W
*
注意:
操作上面绝对最大额定值可以
器件的可靠性产生不利影响。
V53C8256H
电容*
符号
C
IN1
C
IN2
C
OUT
T
A
= 25
°
C,V
DD
= 5 V
±
10%, V
SS
= 0 V
参数
地址输入
RAS , CAS,WE , OE
数据输入/输出
分钟。
3
4
5
马克斯。
4
5
7
单位
pF
pF
pF
*注意:
电容进行采样,而不是100 %测试。
框图
256K ×8
OE
WE
CAS
RAS
RAS时钟
发电机
CAS时钟
发电机
WE时钟
发电机
OE时钟
发电机
VDD
VSS
数据I / O总线
列解码器
Y0 -Y8
I / O 1
I / O 2
I / O 3
感测放大器
512 x 8
I / O
卜FF器
I / O 4
I / O 5
I / O 6
I / O 7
I / O 8
刷新
计数器
9
A0
A1
地址缓冲器
与预解码
X 0 -X8
ROW
解码器
512
A
7
A8
内存
ARRAY
8256H-05
V53C8256H修订版1.2 1997年7月
3
茂矽
T
A
= 0
°
C至70
°
C,V
CC
= 5 V
±
10%, V
SS
= 0V ,除非另有说明
AC测试条件下,输入脉冲电平0 3V
35
#
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
JEDEC
符号
t
RL1RH1
t
RL2RL2
t
RH2RL2
t
RL1CH1
t
CL1CH1
t
RL1CL1
t
WH2CL2
t
AVRL2
t
RL1AX
t
AVCL2
t
CL1AX
t
CL1RH1(R)
t
CH2RL2
t
CH2WX
t
RH2WX
t
OEL1RH2
t
GL1QV
t
CL1QV
t
RL1QV
t
AVQV
t
CL1QX
t
CH2QZ
t
RL1AX
t
RL1AV
t
CL1RH1(W)
t
WL1CH1
t
WL1CL2
t
CL1WH1
符号
t
RAS
t
RC
t
RP
t
CSH
t
CAS
t
RCD
t
RCS
t
ASR
t
RAH
t
ASC
t
CAH
t
RSH (R)的
t
CRP
t
RCH
t
RRH
t
ROH
t
OAC
t
CAC
t
RAC
t
CAA
t
LZ
t
HZ
t
AR
t
拉德
t
RSH (W)的
t
CWL
t
WCS
t
WCH
参数
RAS脉冲宽度
读或写周期时间
RAS预充电时间
CAS保持时间
CAS脉冲宽度
RAS到CAS延迟
READ命令设置时间
行地址建立时间
行地址保持时间
列地址设置时间
列地址保持时间
RAS保持时间(读周期)
CAS到RAS预充电时间
读命令保持时间
参考CAS
读命令保持时间
参考RAS
RAS保持时间参考的
以OE
从OE访问时间
从CAS访问时间
从RAS访问时间
从列存取时间
地址
OE或CAS以低阻抗输出
OE或CAS到输出高阻态
列地址保持时间
从RAS
RAS到列地址
延迟时间
RAS或CAS保持时间
写周期
写命令到CAS铅
时间
写命令设置时间
写命令保持时间
0
0
28
6
40
45
50
V53C8256H
AC特性
分钟。马克斯。分钟。马克斯。分钟。马克斯。分钟。马克斯。单位
35
70
25
35
12
16
0
0
6
0
4
12
5
0
23
75K
40
75
25
40
12
17
0
0
7
0
5
12
5
0
28
75K
45
80
25
45
13
18
0
0
8
0
6
13
5
0
32
75K
50
90
30
50
14
19
0
0
9
0
7
14
5
0
36
75K
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
笔记
4
5
15
0
0
0
0
ns
5
16
8
8
9
10
ns
17
18
19
20
12
12
35
18
12
12
40
20
13
13
45
22
14
14
50
24
ns
ns
ns
ns
6, 7
6, 8, 9
6, 7, 10
21
22
23
0
0
30
6
0
0
35
7
0
0
40
8
ns
ns
ns
16
16
24
11
17
12
20
13
23
14
26
ns
11
25
12
12
13
14
ns
26
12
12
13
14
ns
27
28
0
5
0
5
0
6
0
7
ns
ns
12, 13
V53C8256H修订版1.2 1997年7月
5