茂矽
V53C806H
高性能
1M ×8有点快页模式
CMOS动态RAM
初步
高性能
马克斯。 RAS访问时间, (T
RAC
)
马克斯。列地址访问时间(T
CAA
)
分钟。快速页模式周期时间, (T
PC
)
分钟。读/写周期时间, (T
RC
)
40
40纳秒
20纳秒
23纳秒
75纳秒
45
45纳秒
22纳秒
25纳秒
80纳秒
50
50纳秒
24纳秒
28纳秒
90纳秒
60
60纳秒
30纳秒
40纳秒
120纳秒
特点
s
1M ×8位的组织
s
对于一个持续数据传输率快页模式
43兆赫
s
RAS访问时间: 40 , 45 , 50 , 60纳秒
s
读 - 修改 - 写, RAS仅刷新,
CAS先于RAS的刷新功能
s
刷新间隔: 1024次/ 16毫秒
s
可提供28引脚400密耳SOJ包装
s
+ 5V单
±
10 %的电力供应
s
TTL接口
描述
该V53C806H是一种超高速1,048,576 X
8位CMOS动态随机存取存储器。该
V53C806H提供的特征的组合:快
页高数据带宽模式,以及低
CMOS待机电流。
所有的输入和输出为TTL兼容。输入
输出电容显著降低到
使系统性能提高。快速页
模式操作允许最多的随机接入
一排周期时间一样快,在1024× 8位
23纳秒。因为静态电路,中科院时钟
不是在临界定时路径。流过的协作
UMN地址锁存允许的地址,而流水线
轻松许多关键系统的时序要求。
该V53C806H非常适合图形, dig-
需求面实证信号处理和高性能的COM
思想促进体系。
设备使用图
操作
温度
范围
0
°
C至70
°
C
包装外形
K
40
访问时间(纳秒)
45
50
60
动力
标准。
温度
标志
空白
V53C806H 1.6修订版1998年4月
1
茂矽
V
5
3
C
8
0
6
H
V53C806H
家庭
设备
K( SOJ )
PKG
速度
( t
RAC
)
温度。
PWR 。
空( 0 ° C至70 ° C)
BLANK ( NORMAL)
描述
SOJ
PKG 。
K
引脚数
28
40
45
50
60
( 40纳秒)
( 45纳秒)
( 50纳秒)
( 60纳秒)
808H-01
28引脚SOJ
引脚配置
顶视图
VCC
IO1
IO2
IO3
IO4
WE
RAS
NC
NC
A0
A1
A2
A3
V CC
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
806H-02
引脚名称
A
0
–A
9
RAS
地址输入
行地址选通
列地址选通
写使能
OUTPUT ENABLE
数据输入,输出
+ 5V电源
0V供应
无连接
V SS
IO8
IO7
IO6
IO5
CAS
OE
A9
A8
A7
A6
A5
A4
VSS
CAS
WE
OE
I / O
1
-I / O
8
V
CC
V
SS
NC
绝对最大额定值*
环境温度
在偏置..................................- 10
°
C至+ 80
°
C
存储温度(塑料) ......- 55
°
C至+ 125
°
C
电压相对于V
SS
.................- 1.0 V至7.0 V
数据输出电流..................................... 50毫安
功耗.......................................... 1.4 W功率
*注意:
操作上面绝对最大额定值可以
器件的可靠性产生不利影响。
T
A
= 25
°
C,V
CC
= 5 V
±
的10%中,f = 1 MHz的
符号
C
IN1
C
IN2
C
OUT
参数
地址输入
RAS , CAS,WE , OE
数据输入/输出
典型值。
3
4
5
马克斯。
4
5
7
单位
pF
pF
pF
电容*
*注意:
电容进行采样,而不是100 %测试
V53C806H 1.6修订版1998年4月
2