茂矽
V53C318165A
3.3伏1M ×16 EDO页模式
CMOS动态RAM
高性能
马克斯。 RAS访问时间, (T
RAC
)
马克斯。列地址访问时间(T
CAA
)
分钟。扩展数据输出页模式周期时间(T
PC
)
分钟。读/写周期时间, (T
RC
)
50
50纳秒
25纳秒
20纳秒
84纳秒
60
60纳秒
30纳秒
25纳秒
104纳秒
70
70纳秒
35纳秒
30纳秒
124纳秒
特点
s
1M ×16位的组织
s
EDO页面模式的持续数据传输率
50兆赫
s
RAS存取时间:50 ,60, 70纳秒
s
双输入CAS
s
低功耗
s
读 - 修改 - 写, RAS仅刷新,
CAS先于RAS刷新,隐藏刷新,
自刷新。
s
刷新间隔: 1024次/ 16毫秒
s
可提供42引脚400密耳SOJ和50μg/ 44针
400万TSOP -II
s
+ 3.3V单
±
0.3 V电源
s
TTL接口
描述
该V53C318165A是1048576 ×16位高
高性能CMOS动态随机存取MEM-
ORY 。该V53C318165A提供页面模式操作
化与扩展数据输出。该V53C318165A
具有一个对称的地址, 10比特的行和10位
柱。
所有输入为TTL兼容。 EDO页面模式
操作允许随机存取高达1024 ×16
位,页内,与循环时间越短
20ns.
这些特性使得V53C318165A理想
适合于各种高性能的COM
计算机系统和外围设备的应用程序。
设备使用图
操作
温度
范围
0
°
C至70
°
C
包装外形
K
访问时间(纳秒)
50
动力
70
T
60
标准。
温度
标志
空白
V53C318165A 1.0版1998年1月
1
茂矽
绝对最大额定值*
工作温度范围.................. 0 70
°
C
存储温度范围............... -55 150
°
C
焊接温度.................................. 260
°
C
焊接时间................................................ ... 10秒
输入/输出电压.... -0.5到MIN( V
CC
+0.5, 4.6) V
电源电压........................- 0.5V至4.6V的
功耗.......................................... 0.5瓦
数据输出电流(短路) ...................... 50毫安
*
注意:
操作上面绝对最大额定值可以
器件的可靠性产生不利影响。
V53C318165A
电容*
符号
C
IN1
C
IN2
C
OUT
T
A
= 25
°
C,V
CC
= 3.3 V
±
0.3 V, V
SS
= 0 V , F = 1兆赫
参数
地址输入
RAS , UCAS , LCAS ,
WE , OE
数据输入/输出
分钟。
—
—
—
马克斯。
5
7
7
单位
pF
pF
pF
*
注意:
电容进行采样,而不是100 %测试。
框图
1024 x 16
OE
WE
UCAS
LCAS
RAS
RAS时钟
发电机
CAS时钟
发电机
WE时钟
发电机
OE时钟
发电机
VCC
VSS
数据I / O总线
列解码器
Y0–Y9
I / O 1
I/O2
I/O3
I/O4
I / O 5
I/O6
I/O7
感测放大器
刷新
计数器
1024 x 16
12
A0
A1
I / O
卜FF器
I/O8
I / O 9
I/O10
I/O11
地址缓冲器
与预解码
ROW
解码器
X0– X9
1024
I/O12
A8
A9
内存
ARRAY
1024 x 1024 x 16
I / O 13
I/O14
I/O15
I/O16
311816500-04
V53C318165A 1.0版1998年1月
3