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TPCP8H02
东芝多芯片晶体管
硅NPN外延型,场效应晶体管硅N沟道MOS型
TPCP8H02
2.4±0.1
0.475
1
4
多芯片
分立器件;内置NPN晶体管用于主开关和
N沟道MOS FET驱动器
直流电流增益:H
FE
= 250400 (我
C
= 0.3 A) ( NPN晶体管)
ULOW
集电极 - 发射极饱和电压: V
CE (SAT)
= 0.14 V(最大值)
( NPN晶体管)
- 高速
开关:吨
f
= 25 ns(典型值) ( NPN晶体管)
0.65
2.9±0.1
B
A
0.05
M
B
0.8±0.05
S
0.025
S
0.17±0.02
0.28
+0.1
-0.11
+0.13
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
晶体管
特征
集电极 - 基极电压
集电极 - 发射极电压
发射极 - 基极电压
集电极电流
基极电流
集电极耗散功率
结温
( NPN )
DC
(注1 )
符号
V
CBO
V
CEX
V
首席执行官
V
EBO
I
C
I
CP
I
B
P
C
(注2 )
T
j
等级
50
50
30
6
3.0
5.0
0.3
1.0
150
单位
V
V
V
A
A
W
°C
1.源
2.收集
3.收集
4.收集
1.12
-0.12
1.12
+0.13
-0.12
0.28
+0.1
-0.11
5.基
6.发射器
7.门
8.排水
JEDEC
JEITA
东芝
-
-
2-3V1E
脉冲(注1 )
电路CON组fi guration
8
7
6
5
MOS FET
特征
漏源电压
栅源电压
漏电流
通道温度
DC
脉冲
符号
V
DSS
V
GSS
I
D
I
DP
T
ch
等级
20
±10
100
200
150
单位
V
V
1
mA
°C
2
3
4
注1 :确保结(通道)温度不超过150 ℃ 。
注2 :设备安装在玻璃环氧基板(FR- 4,25.4 × 25.4 × 1.6毫米,铜面积: 645毫米
2
)
注3 :在重负载下连续使用(如高温/电流/电压和应用
在温度等显著变化)可能会导致此产品的可靠性降低显著
即使在操作条件下(即工作温度/电流/电压等)内的绝对
最大额定值。
请在审查东芝半导体可靠性手册设计适当的可靠性
( “注意事项” /降级的概念和方法)和个人数据的可靠性(即可靠性试验
报告与估计的故障率,等)。
此晶体管是静电感应装置。请谨慎操作。
1
2006-11-13
2.8±0.1
频闪闪光灯应用
高速开关应用
DC- DC转换器应用
0.33±0.05
0.05
M
A
8
5
TPCP8H02
常见的绝对最大额定值( TA = 25 ° C)
特征
存储温度范围
符号
T
英镑
等级
55
150
单位
°C
记号
(注4 )
8H02
*
TYPE
LOT号
(每周代码)
注4:在标记的左下角的标记“×”表示引脚1 。
*
每周代码(三位数)
制造周
( 01年度的第一周,持续到52或53 )
制造年份
(最后一位数字历年)
电气特性
(大
=
25°C)
晶体管
特征
集电极截止电流
发射极截止电流
集电极 - 发射极击穿电压
直流电流增益
集电极 - 发射极饱和电压
基射极饱和电压
集电极输出电容
上升时间
开关时间
贮存时间
下降时间
符号
I
CBO
I
EBO
V
( BR ) CEO
h
FE
(1)
h
FE
(2)
V
CE (SAT)
V
BE (SAT)
C
ob
t
r
t
英镑
t
f
测试条件
V
CB
=
50 V,I
E
=
0
V
EB
=
6 V,I
C
=
0
I
C
=
10毫安,我
B
=
0
V
CE
=
2 V,I
C
=
0.3 A
V
CE
=
2 V,I
C
=
1.0 A
I
C
=
1.0 A,I
B
=
33毫安
I
C
=
1.0 A,I
B
=
33毫安
V
CB
=
10V ,我
E
=
0 , F = 1MHz的
参见图1电路原理图。
V
CC
12 V ,R
L
=
12
Ω
I
B1
=
-I
B2
=
33毫安
30
250
120
典型值。
18
40
320
25
最大
100
100
400
140
1.1
ns
mV
V
pF
单位
nA
nA
V
图1开关时间测试电路&时序图
V
CC
20
μs
I
B1
I
B2
占空比
& LT ;
1%
输入
I
B1
I
B2
R
L
产量
2
2006-11-13
TPCP8H02
MOS FET
特征
栅极漏电流
漏源击穿电压
排水截止电流
栅极阈值电压
正向转移导纳
符号
I
GSS
V
( BR ) DSS
I
DSS
V
th
½Yfs½
测试条件
V
GS
= ±10
V, V
DS
=
0
I
D
=
0.1毫安,V
GS
=
0
V
DS
=
20 V, V
GS
=
0
V
DS
=
3V ,我
D
=
0.1mA
V
DS
=
3V ,我
D
=
10mA
I
D
=
10毫安,V
GS
=
4V
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
I
D
=
10毫安,V
GS
=
2.5V
I
D
=
1mA时, V
GS
=
1.5V
输入电容
反向传输电容
输出电容
开启时间
开关时间
打开-O FF时间
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
on
t
关闭
参见图2电路原理图。
V
DD
3V ,R
L
=
300
Ω
V
GS
=
0至2.5V
V
DS
=
3V, V
GS
=
0 , F = 1MHz的
20
0.6
40
典型值。
1.5
2.2
5.2
9.3
4.5
9.8
70
125
最大
±1
1
1.1
3
4
15
ns
pF
Ω
单位
μA
V
μA
V
mS
图2开关时间测试电路&时序图
VOUT
VIN
Rg
RL
2.5V
0
10us
选通脉冲宽度为10μs , TR , tf<5ns
( ZOUT = 50Ω ) ,普通的来源,TA = 25℃
值班Cycle<1 %
VDD
注意事项
V
th
可表示为栅极和源极之间的电压时,低工作电流值是我
D
=100
μA
此产品。对于正常的开关操作,V
GS (上)
需要较高的电压比V
th
和V
GS (关闭)
需要
电压比V低
钍。
(该关系,可以建立如下:V
GS (关闭)
& LT ; V
th
& LT ; V
GS (上)
)
使用该设备时,请考虑到这一点。在V
GS
推荐的电压用于导通该
产品是2.5 V或更高。
3
2006-11-13
TPCP8H02
NPN
I
C
– V
CE
3.0
20毫安
2.5
15毫安
10毫安
8毫安
2.0
6毫安
1.5
4毫安
1.0
IB
=2
mA
0.5
共发射极
Ta
=
25°C
单一不重复的脉冲
0.4
0.8
1.2
1.6
2.0
2.4
1000
Ta
=
100°C
h
FE
– I
C
(A)
集电极电流I
C
直流电流增益
FE
25°C
55°C
100
0
0
10
0.001
共发射极
VCE
=
2 V
单一不重复的脉冲
0.01
0.1
1
10
集电极 - 发射极电压V
CE
(V)
集电极电流I
C
(A)
V
CE (SAT)
– I
C
1
共发射极
β
=
30
单一不重复的脉冲
10
V
BE (SAT)
– I
C
共发射极
β
=
30
单一不重复的脉冲
集电极 - 发射极饱和电压
V
CE (SAT)
(V)
基射极饱和电压
V
BE (SAT)
(V)
0.1
55°C
Ta
=
100°C
1
Ta
= 55°C
100°C
25°C
25°C
0.01
0.001
0.01
0.1
1
10
0.01
0.001
0.01
0.1
1
10
集电极电流I
C
(A)
集电极电流I
C
(A)
I
C
– V
BE
3.0
共发射极
VCE
=
2 V
单一不重复的脉冲
2.5
(A)
集电极电流I
C
2.0
1.5
Ta
=
100°C
55°C
1.0
0.5
25°C
0
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
1.2
基射极电压
V
BE
(V)
4
2006-11-13
TPCP8H02
r
日(J -C )
– t
w
1000
瞬态热阻
r
日(J -C )
( ° C / W)
100
10
1
0.001
曲线应该在热面积有限施加。
单一不重复脉冲的Ta
=
25°C
2
安装在FR4电路板(环氧玻璃,厚1.6毫米,铜面积: 645毫米)
0.01
0.1
1
10
100
1000
脉冲宽度
t
w
(s)
安全工作区
10
IC MAX (脉冲)
*
10毫秒* 1毫秒* 100
μs*
IC MAX(连续)
10
μs*
I
C
(A)
100毫秒*
1
10 s*
直流操作
(大
=
25°C)
*:
单一不重复的脉冲
Ta
=
25°C
注意,该曲线为100毫秒,
10秒和直流操作将是
0.1不同的,当设备不在
安装在FR4电路板(玻璃
环氧树脂,1.6毫米厚,铜面积:
2
645 mm ).
单设备操作
这些特性曲线必须
与增加呈线性降额
在温度。
0.01
0.1
1
集电极电流
10
最大VCEO
100
集电极 - 发射极电压V
CE
(V)
5
2006-11-13
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    TPCP8H02
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    -
    -
    -
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