TPCA8106
东芝场效应晶体管的硅P沟道MOS型( U- MOSⅢ )
TPCA8106
锂离子电池应用
笔记本电脑应用
便携式设备的应用
6.0
±
0.3
5.0
±
0.2
单位:mm
1.27 0.4
±
0.1
8
5
0.05 M A
占地面积小,因小而薄的封装
导通电阻低的漏极 - 源极,R
DS ( ON)
= 2.9毫欧(典型值)。
(V
GS
=
10V)
0.15
±
0.05
1
0.95
±
0.05
4
0.595
0.166
±
0.05
4
0.8
±
0.1
5
3.5
±
0.2
1.1
±
0.2
A
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 79S (典型值)。
低漏电流:I
DSS
=
10
μA
(最大值) (Ⅴ
DS
=
30
V)
增强型: V
th
=
0.8
to
2.0
V (V
DS
=
10
V,I
D
=
1
毫安)
5.0
±
0.2
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 kΩ)
栅源电压
漏电流
DC
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
P
D
P
D
E
AS
I
AR
( TC = 25 ℃ ) (注4 )
通道温度
存储温度范围
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
30
30
±20
40
120
45
2.8
单位
V
V
V
A
W
W
S
1
0.6
±
0.1
0.05 S
4.25
±
0.2
8
脉冲(注1 )
(Tc=25℃)
(t
=
10 s)
(注2A )
1,2,3 : SOURCE
5,6,7,8 :排水
4 :门
漏极功耗
漏极功耗
JEDEC
JEITA
东芝
2-5Q1A
漏极功耗
(t
=
10 s)
(注2B )
1.6
W
重量: 0.069克(典型值)。
单脉冲雪崩能量
(注3)
雪崩电流
重复性雪崩能量
208
40
4.5
150
55
150
mJ
A
mJ
°C
°C
电路CON组fi guration
8
7
6
5
注意:对于注1至4中,请参阅下一页。
4
1
2
3
在重负载下连续使用(高如应用程序
温度/电流/电压和在显著变化
温度等)可能会导致此产品在减少
可靠性显著即使工作条件下(即
工作温度/电流/电压等)内的
绝对最大额定值。请在审查东芝设计相应的可靠性
半导体可靠性手册( “注意事项” / “降额的概念和方法” )和个人
可靠性数据(即可靠性测试报告和估计故障率等)。
此晶体管是静电感应装置。小心轻放。
1
2010-01-14