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TPCA8103
东芝场效应晶体管的硅P沟道MOS型( U- MOSⅢ )
TPCA8103
0.5±0.1
锂离子电池应用
笔记本电脑应用
便携式设备的应用
6.0±0.3
单位:mm
1.27
8
0.4±0.1
5
0.05 M A
占地面积小,因小而薄的封装
低漏源导通电阻,R
DS ( ON)
= 3.1毫欧(典型值)。
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 45S (典型值)。
低漏电流:I
DSS
=
10
μA (最大值) (V
DS
=
30
V)
增强型: V
th
=
0.8
to
2.0
V (V
DS
=
10
V,I
D
=
1
毫安)
5.0±0.2
0.15±0.05
1
0.95±0.05
4
0.595
A
5.0±0.2
S
1
4
0.6±0.1
4.25±0.2
绝对最大额定值
( TA = 25°C )
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 k)
栅源电压
漏电流
DC
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
P
D
P
D
E
AS
I
AR
(TC = 25 ° C) (注4 )
通道温度
存储温度范围
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
30
30
±20
40
120
45
2.8
单位
V
V
V
A
W
W
8
1,2,3:SOURCE
4:GATE
5,6,7,8:DRAIN
5 0.8±0.1
JEDEC
JEITA
东芝
2-5Q1A
脉冲(注1 )
(Tc=25°C)
(t
=
10 s)
(注2A )
(t
=
10 s)
(注2B )
重量: 0.076克(典型值)。
漏极功耗
漏极功耗
电路CON组fi guration
8
7
6
5
漏极功耗
1.6
W
单脉冲雪崩能量
(注3)
雪崩电流
重复性雪崩能量
208
40
4.5
150
55
150
mJ
A
mJ
1
2
3
4
°C
°C
注:对于(注1 ) (注2 ) (注3 ) (注4 ) ,请参阅下页。
重负载下连续使用(如高温/电流/电压的施加而在显著变化
温度等)可能会导致此产品的可靠性降低显著即使工作条件下(即
工作温度/电流/电压等)的绝对最大额定值。请设计适当的
经审查东芝半导体可靠性手册( “注意事项” /降级的概念和可靠性
方法)和个人可靠性数据(即可靠性测试报告和估计的故障率,等)。
此晶体管是静电敏感器件。请谨慎操作。
1
2006-11-16
3.5±0.2
1.1±0.2
0.05 S
0.166±0.05
TPCA8103
热特性
特征
耐热性,信道到外壳
(Tc=25°C)
耐热性,信道至环境
(t
=
10 s)
(注2A )
符号
R
TH( CH-C )
最大
2.78
单位
° C / W
R
第(章-a)的
44.6
° C / W
耐热性,信道至环境
(t
=
10 s)
(注2B )
R
第(章-a)的
78.1
° C / W
记号
(注5 )
TPCA
8103
TYPE
LOT号
注1 :请在使用条件下的设备,该通道的温度低于150 ℃。
注2 :(1)安装在玻璃环氧基板的装置(一)
(二)装置安装在一个玻璃环氧板(二)
FR-4
25.4
×
25.4
×
0.8
(单位:毫米)
FR-4
25.4
×
25.4
×
0.8
(单位:毫米)
(a)
(b)
注3 : V
DD
=
24 V ,T
ch
=
25 ° C(初始) ,L
=
100μH ,R
G
=
25
I
AR
=
40 A
注4 :重复评价:脉冲宽度有限的最大通道温度
注5 :
在标记的左下角显示引脚1 。
每周的代码:
(三位数)
制造周
( 01年第一周,持续到52或53 )
制造年份
(一低位日历年的数字)
2
2006-11-16
TPCA8103
电气特性
( TA = 25°C )
特征
栅极漏电流
排水截止电流
漏源击穿电压
栅极阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
开启时间
开关时间
下降时间
t
f
t
关闭
Q
g
Q
gs1
Q
gd
符号
I
GSS
I
DSS
V
( BR ) DSS
V
( BR ) DSX
V
th
R
DS ( ON)
|Y
fs
|
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
r
t
on
0V
V
GS
10
V
4.7
I
D
= 20A
V
OUT
R
L
=
0.8
V
DS
= 10
V, V
GS
=
0 V,F
=
1兆赫
测试条件
V
GS
= ±16
V, V
DS
=
0 V
V
DS
= 30
V, V
GS
=
0 V
I
D
= 10
毫安,V
GS
=
0 V
I
D
= 10
毫安,V
GS
=
20 V
V
DS
= 10
V,I
D
=
1毫安
V
GS
= 4
V,I
D
= 20
A
V
GS
= 10
V,I
D
= 20
A
V
DS
= 10
V,I
D
= 20
A
30
13
0.8
22.5
V
DD
24
V, V
GS
= 10
V,
I
D
= 40
A
典型值。
5.2
3.1
45
7880
1340
1450
15
13
251
最大
±10
10
2.0
6.8
4.2
ns
nC
pF
单位
A
A
V
V
m
S
V
DD
15
V
打开-O FF时间
总栅极电荷
(栅极 - 源极加上栅极 - 漏极)
栅极 - 源极电荷1
栅 - 漏极( “米勒” )费
& LT ;
1%, t
w
=
10
s
=
596
184
12
58
源极 - 漏极额定值和特性
( TA = 25°C )
特征
反向漏电流
正向电压(二极管)
脉冲
(注1 )
符号
I
DRP
V
DSF
测试条件
I
DR
= 40
A,V
GS
=
0 V
典型值。
最大
120
1.2
单位
A
V
3
2006-11-16
TPCA8103
I
D
– V
DS
50
4
100
3
2.8
10
6
30
2.6
8
80
常见的来源
Ta
=
25°C
脉冲测试
2.4
20
2.2
10
VGS
= 2
V
0
0
1
2
3
4
5
0
0
0.2
8
10
I
D
– V
DS
常见的来源
Ta
=
25°C
脉冲测试
4
3.2
3.1
3.0
40
2.8
20
40
6
(A)
I
D
I
D
漏电流
(A)
60
漏电流
2.6
VGS
= 2.4
V
0.4
0.6
0.8
1.0
漏源电压
V
DS
(V)
漏源电压
V
DS
(V)
I
D
– V
GS
100
常见的来源
VDS
= 10
V
脉冲测试
Ta
= 55°C
60
25
100
0.5
V
DS
– V
GS
常见的来源
Ta
=
25°C
脉冲测试
80
(V)
V
DS
漏源电压
0.4
I
D
(A)
0.3
漏电流
40
0.2
10
0.1
20
ID
= 40
A
20
0
0
2
4
6
8
10
0
0
4
8
12
16
20
栅源电压
V
GS
(V)
栅源电压
V
GS
(V)
|Y
fs
| – I
D
(S)
100
100
R
DS ( ON)
– I
D
正向转移导纳
Y
fs
100
10
25
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(m)
Ta
= 55°C
10
VGS
= 4
V
10
1
1
0.1
0.1
常见的来源
VDS
= 10
V
脉冲测试
1
10
100
0.1
0.1
常见的来源
Ta
=
25°C
脉冲测试
1
10
100
漏电流
I
D
(A)
漏电流
I
D
(A)
4
2006-11-16
TPCA8103
R
DS ( ON)
- TA
20
常见的来源
脉冲测试
1000
I
DR
– V
DS
反向漏电流I
DR
(A)
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(m)
15
100
10
5
3
10
ID
= 40
A,
20
A,
10
A
10
1
VGS
=
0 V
5
VGS
= 4
V
ID
= 40
A,
20
A,
10
A
0
40
80
120
160
1
常见的来源
Ta
=
25°C
脉冲测试
0.1
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
1.2
10
V
0
80
40
环境温度
Ta
(°C)
漏源电压
V
DS
(V)
电容 - V
DS
100000
2.0
V
th
- TA
常见的来源
VDS
= 10
V
1.6
ID
= 1
mA
脉冲测试
10000
西塞
C
栅极阈值电压
100
V
th
(V)
(PF )
1.2
电容
科斯
1000
常见的来源
VGS
=
0 V
f
=
1兆赫
Ta
=
25°C
100
0.1
1
10
CRSS
0.8
0.4
漏源电压
V
DS
(V)
0
80
40
0
40
80
120
160
环境温度
Ta
(°C)
动态输入/输出特性
30
常见的来源
VDD
= 24
V
VDS
20
ID
= 13
A
Ta
=
25°C
脉冲测试
20
30
(V)
漏源电压
12
10
6
6
12
10
VDD
= 24
V
VGS
0
0
40
80
120
160
200
0
240
总栅极电荷Q
g
( NC )
栅源电压
V
GS
(V)
V
DS
5
2006-11-16
TPCA8103
东芝场效应晶体管的硅P沟道MOS型( U- MOSⅢ )
TPCA8103
0.5±0.1
锂离子电池应用
笔记本电脑应用
便携式设备的应用
6.0±0.3
单位:mm
1.27
8
0.4±0.1
5
0.05 M A
占地面积小,因小而薄的封装
低漏源导通电阻,R
DS ( ON)
= 3.1毫欧(典型值)。
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 45S (典型值)。
低漏电流:I
DSS
=
10
μA (最大值) (V
DS
=
30
V)
增强型: V
th
=
0.8
to
2.0
V (V
DS
=
10
V,I
D
=
1
毫安)
5.0±0.2
0.15±0.05
1
0.95±0.05
4
0.595
A
5.0±0.2
最大额定值
( TA = 25°C )
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 k)
栅源电压
漏电流
DC
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
P
D
P
D
E
AS
I
AR
(TC = 25 ° C) (注4 )
通道温度
存储温度范围
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
30
30
±20
40
120
45
2.8
单位
V
V
V
A
W
W
S
1
4
0.6±0.1
4.25±0.2
8
1,2,3:SOURCE
4:GATE
5,6,7,8:DRAIN
5 0.8±0.1
脉冲(注1 )
(Tc=25°C)
(t
=
10 s)
(注2A )
(t
=
10 s)
(注2B )
JEDEC
JEITA
东芝
2-5Q1A
漏极功耗
漏极功耗
漏极功耗
重量: 0.076克(典型值)。
1.6
W
单脉冲雪崩能量
(注3)
雪崩电流
重复性雪崩能量
208
40
4.5
150
55
150
mJ
A
mJ
°C
°C
电路CON组fi guration
8
7
6
5
注:对于(注1 ) (注2 ) (注3 ) (注4 ) ,请参考下
页。
此晶体管是静电敏感器件。请处理好与
慎用。
1
2
3
3.5±0.2
1.1±0.2
0.05 S
0.166±0.05
4
1
2004-01-16
TPCA8103
热特性
特征
耐热性,信道到外壳
(Tc=25°C)
耐热性,信道至环境
(t
=
10 s)
(注2A )
符号
R
TH( CH-C )
最大
2.78
单位
° C / W
R
第(章-a)的
44.6
° C / W
耐热性,信道至环境
(t
=
10 s)
(注2B )
R
第(章-a)的
78.1
° C / W
记号
(注5 )
TPCA
8103
TYPE
LOT号
注1 :请在使用条件下的设备,该通道的温度低于150 ℃。
注2 :(1)安装在玻璃环氧基板的装置(一)
(二)装置安装在一个玻璃环氧板(二)
FR-4
25.4
×
25.4
×
0.8
(单位:毫米)
FR-4
25.4
×
25.4
×
0.8
(单位:毫米)
(a)
(b)
注3 : V
DD
=
24 V ,T
ch
=
25 ° C(初始) ,L
=
100μH ,R
G
=
25
I
AR
=
40 A
注4 :重复评价:脉冲宽度有限的最大通道温度
注5 :
在标记的左下角显示引脚1 。
每周的代码:
(三位数)
制造周
( 01年第一周,持续到52或53 )
制造年份
(一低位日历年的数字)
2
2004-01-16
TPCA8103
电气特性
( TA = 25°C )
特征
栅极漏电流
排水截止电流
漏源击穿电压
栅极阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
开启时间
开关时间
下降时间
t
f
t
关闭
Q
g
Q
gs1
Q
gd
符号
I
GSS
I
DSS
V
( BR ) DSS
V
( BR ) DSX
V
th
R
DS ( ON)
|Y
fs
|
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
r
t
on
0V
V
GS
10 V
I
D
=
20A
V
OUT
V
DS
=
10 V, V
GS
=
0 V,F
=
1兆赫
测试条件
V
GS
= ±
16 V, V
DS
=
0 V
V
DS
=
30 V, V
GS
=
0 V
I
D
=
10毫安,V
GS
=
0 V
I
D
=
10毫安,V
GS
=
20 V
V
DS
=
10 V,I
D
=
1毫安
V
GS
=
4 V,I
D
=
20 A
V
GS
=
10 V,I
D
=
20 A
V
DS
=
10 V,I
D
=
20 A
典型值。
最大
单位
30
13
0.8
22.5
5.2
3.1
45
7880
1340
1450
15
13
251
±
10
10
2.0
6.8
4.2
A
A
V
V
m
S
V
DD
24 V, V
GS
=
10 V,
I
D
=
40 A
pF
R
L
=
0.8
4.7
ns
nC
V
DD
15 V
打开-O FF时间
总栅极电荷
(栅极 - 源极加上栅极 - 漏极)
栅极 - 源极电荷1
栅 - 漏极( “米勒” )费
& LT ;
1%, t
w
=
10
s
=
596
184
12
58
源极 - 漏极额定值和特性
( TA = 25°C )
特征
反向漏电流
正向电压(二极管)
脉冲
(注1 )
符号
I
DRP
V
DSF
测试条件
典型值。
最大
单位
A
V
I
DR
=
40 A,V
GS
=
0 V
120
1.2
3
2004-01-16
TPCA8103
I
D
– V
DS
50
4
100
3
2.8
10
6
30
2.6
8
80
8
10
I
D
– V
DS
常见的来源
Ta
=
25°C
脉冲测试
4
3.2
3.1
3.0
40
2.8
20
VGS
= 2
V
40
6
I
D
I
D
漏电流
常见的来源
Ta
=
25°C
脉冲测试
2.4
(A)
(A)
60
漏电流
20
2.2
10
2.6
VGS
= 2.4
V
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
0
0
1
2
3
4
5
0
0
漏源电压
V
DS
(V)
漏源电压
V
DS
(V)
I
D
– V
GS
100
常见的来源
VDS
= 10
V
脉冲测试
Ta
= 55°C
60
25
100
0.5
V
DS
– V
GS
常见的来源
Ta
=
25°C
脉冲测试
80
(V)
V
DS
漏源电压
0.4
I
D
(A)
0.3
漏电流
40
0.2
10
0.1
20
ID
= 40
A
20
0
0
2
4
6
8
10
0
0
4
8
12
16
20
栅源电压
V
GS
(V)
栅源电压
V
GS
(V)
|Y
fs
| – I
D
(S)
100
100
R
DS ( ON)
– I
D
正向转移导纳
Y
fs
100
10
25
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(m)
Ta
= 55°C
10
VGS
= 4
V
10
1
1
0.1
0.1
常见的来源
VDS
= 10
V
脉冲测试
1
10
100
0.1
0.1
常见的来源
Ta
=
25°C
脉冲测试
1
10
100
漏电流
I
D
(A)
漏电流
I
D
(A)
4
2004-01-16
TPCA8103
R
DS ( ON)
- TA
20
常见的来源
脉冲测试
1000
I
DR
– V
DS
反向漏电流I
DR
(A)
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(m)
15
100
10
5
3
10
ID
= 40
A,
20
A,
10
A
10
1
VGS
=
0 V
5
VGS
= 4
V
ID
= 40
A,
20
A,
10
A
0
40
80
120
160
1
常见的来源
Ta
=
25°C
脉冲测试
0.1
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
1.2
10
V
0
80
40
环境温度
Ta
(°C)
漏源电压
V
DS
(V)
电容 - V
DS
100000
2.0
V
th
- TA
常见的来源
VDS
= 10
V
1.6
ID
= 1
mA
脉冲测试
10000
西塞
C
栅极阈值电压
100
V
th
(V)
(PF )
1.2
电容
科斯
1000
常见的来源
VGS
=
0 V
f
=
1兆赫
Ta
=
25°C
100
0.1
1
10
CRSS
0.8
0.4
漏源电压
V
DS
(V)
0
80
40
0
40
80
120
160
环境温度
Ta
(°C)
动态输入/输出特性
30
常见的来源
VDD
= 24
V
VDS
20
ID
= 13
A
Ta
=
25°C
脉冲测试
20
30
(V)
漏源电压
12
10
6
6
12
10
VDD
= 24
V
VGS
0
0
40
80
120
160
200
0
240
总栅极电荷Q
g
( NC )
栅源电压
V
GS
(V)
V
DS
5
2004-01-16
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