TPCA8011-H
东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型(超高速U- MOSIII )
TPCA8011-H
高效率DC / DC转换器应用
笔记本电脑应用
便携式设备应用
6.0±0.3
0.5±0.1
8
1.27
单位:mm
0.4±0.1
5
0.05 M A
5.0±0.2
由于占用空间小,小而薄的封装
高速开关
小栅极电荷:Q
SW
= 16 NC (典型值)。
导通电阻低的漏极 - 源极,R
DS ( ON)
= 2.7毫欧(典型值)。
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 120秒(典型值)。
低漏电流:I
DSS
= 10 μA (最大值) (V
DS
= 20 V)
增强型: V
th
= 0.6 1.3 V(V
DS
= 10 V,I
D
= 200
μA)
0.15±0.05
1
5.0±0.2
0.95±0.05
4
0.595
A
0.166±0.05
S
1
0.05 S
4
1.1±0.2
0.6±0.1
4.25±0.2
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 k)
栅源电压
漏电流
DC
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
P
D
P
D
E
AS
I
AR
( TC = 25 ℃ ) (注4 )
通道温度
存储温度范围
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
20
20
±12
40
120
45
2.8
单位
V
V
V
A
W
W
8
5 0.8±0.1
1,2,3:SOURCE
5,6,7,8:DRAIN
JEDEC
JEITA
东芝
4:GATE
―
―
2-5Q1A
脉冲(注1 )
重量: 0.069克(典型值)。
漏极功耗( TC = 25 ℃ )
漏极功耗
(t
=
10 s)
(注2A )
漏极功耗
(t
=
10 s)
(注2B )
单脉冲雪崩能量
(注3)
雪崩电流
重复性雪崩能量
电路CON组fi guration
8
7
6
5
1.6
W
208
40
2.0
150
55
150
mJ
A
mJ
°C
°C
1
2
3
4
注意:对于注释1至4中,参考下页。
重负载下连续使用(如高温/电流/电压的施加而在显著变化
温度等)可能会导致此产品的可靠性降低显著即使工作条件下(即
工作温度/电流/电压等)的绝对最大额定值。请设计适当的
经审查东芝半导体可靠性手册( “注意事项” /降级的概念和可靠性
方法)和个人可靠性数据(即可靠性测试报告和估计的故障率,等)。
此晶体管是静电感应装置。小心轻放。
1
2006-11-16
3.5±0.2