TLV5637
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SLAS224C - 1999年6月 - 修订2007年6月
2.7V至5.5V的低功耗双10位数字 - 模拟转换器
内部基准和掉电
特点
双通道10位电压输出DAC
可编程内部参考
可编程建立时间：
- 0.8μs的快速模式
- 2.8μs在低速模式
兼容TMS320和SPI 串行
端口
微分非线性<0.1LSB典型值
单调过热
描述
该TLV5637是一个双通道10位电压输出DAC
具有灵活的3线串行接口。串行
接口允许无缝连接和TMS320
SPI ， QSPI ，和Microwire 串行端口。这是
有16位串行字符串，其中包含2编程
控制和10个数据位。
电阻串的输出电压是由一个×2缓冲
获得轨到轨输出缓冲。缓冲区有
AB类输出级，以改善稳定性和
减少建立时间。可编程建立时间
的DAC使设计师能够优化速度
与功耗。凭借其片上
可编程精密电压参考，
TLV5637简化了整个系统的设计。
因为它能够提供高达1mA时，该
参考也可以被用来作为一个系统参考。
实现与CMOS工艺，该装置是
设计用于从2.7V单电源操作
5.5V 。它采用8引脚SOIC封装，以
降低标准的商用电路板空间和
工业温度范围。
包
（ TOP VIEW ）
应用
数字伺服控制回路
数字增益与失调调节
工业过程控制
机器和运动控制设备
大容量存储设备
DIN
SCLK
CS
OUTA
1
2
3
4
8
7
6
5
V
DD
OUTB
REF
AGND
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并在得克萨斯州的关键应用程序使用
仪器的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
SPI ， QSPI是Motorola，Inc.的商标。
MICROWIRE是美国国家半导体公司的商标。
所有其他商标均为其各自所有者的财产。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合占德州条款规范
仪器标准保修。生产加工过程中不
不一定包括所有参数进行测试。
版权所有1999-2007 ，德州仪器
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这些器件具有有限的内置ESD保护。引线应短接在一起或设备放置在导电泡棉
储存或搬运过程中，以防止对静电损坏MOS大门。
功能框图
REF
随着PGA
OUTPUT ENABLE
电压
带隙
动力
与速度
控制
2
2
2-Bit
控制
LATCH
DIN
10
SCLK
串行
接口
和
控制
10-Bit
DAC A
LATCH
10
AGND
V
DD
POWER- ON
RESET
x2
OUTA
10
卜FF器
10
10
x2
CS
10-Bit
DAC B
LATCH
OUTB
终端功能
终奌站
名字
AGND
CS
DIN
OUTA
OUTB
REF
SCLK
V
DD
号
5
3
1
4
7
6
2
8
I / O / P
P
I
I
I
O
I / O
I
P
地
片选。数字输入低电平有效，用于使能/禁止输入
数字串行数据输入
DAC A的模拟电压输出
DAC乙模拟电压输出
模拟参考电压输入/输出
数字串行时钟输入
正电源。
描述
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绝对最大额定值
(1)
在工作自由空气的温度范围内（除非另有说明） 。
单位
电源电压（V
DD
对于AGND）
参考输入电压范围
数字输入电压范围
工作的自由空气的温度范围内，T
A
存储温度范围，T
英镑
从案例引线温度1,6mm （ 1/16英寸） ，持续10秒
(1)
TLV5637C
TLV5637I
7V
0.3 V到V
DD
+ 0.3V
0.3 V到V
DD
+ 0.3V
0 ° C至+ 70°C
-40 ° C至+ 85°C
-65 ° C至+ 150°C
+260°C
强调超越那些在列
绝对最大额定值
可能对器件造成永久性损坏。这些压力额定值
只和功能在这些或任何其他条件超出下所指示的设备的操作
推荐工作
条件
是不是暗示。暴露于长时间处于最大绝对额定情况下会影响器件的可靠性。
封装/订购信息
对于最新的封装和订购信息，请参阅封装选项附录本月底
文档，或参阅TI的网站
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推荐工作条件
民
电源电压，V
DD
功率门限电压时， POR
高层次的数字输入电压，V
IH
低层次的数字输入电压，V
IL
参考电压，V
REF
到REF端子
参考电压，V
REF
到REF端子
负载电阻R
L
负载电容，C
L
时钟频率f
CLK
经营自由的空气温度，T
A
(1)
TLV5637C
TLV5637I
0
–40
DV
DD
= 2.7 V
DV
DD
= 5.5 V
DV
DD
= 2.7 V
DV
DD
= 5.5 V
V
DD
= 5 V （见
V
DD
= 3 V （见
(1)
)
(1)
)
喃
5
3
最大
5.5
3.3
2
单位
V
V
V
V
V
DD
= 5 V
V
DD
= 3 V
4.5
2.7
0.55
2
2.4
0.6
1
AGND
AGND
2
100
20
+70
+85
2.048
1.024
V
DD
–1.5
V
DD
–1.5
V
V
V
k
pF
兆赫
°C
由于×2输出缓冲器中，参考输入电压
≥
(V
DD
- 传递函数的0.4V ）/ 2的原因削波。的输出缓冲器
内参必须禁止，如果使用外部参考电压。
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电气特性
在推荐工作条件（除非另有说明） 。
电源
参数
测试条件
V
DD
= 5V ，诠释。裁判。
V
DD
= 3V ，诠释。裁判。
V
DD
= 5V ，分机。裁判。
V
DD
= 3V ，分机。裁判。
掉电电源电流
PSRR
(1)
(2)
电源抑制比
零电平，参见
满量程，见
(1)
(2)
民
快
慢
快
慢
快
慢
快
慢
TYP MAX
4.2
2
3.7
1.7
3.8
1.7
3.4
1.4
0.01
65
65
7
3.6
6.3
3.0
6.3
3.0
5.7
2.6
10
单位
mA
mA
mA
mA
mA
mA
mA
mA
A
dB
I
DD
电源电流
无负载，所有输入= AGND或
V
DD
， DAC锁存器为0x800 =
处于零电平的电源抑制比是通过改变V测
DD
而由下式给出： PSRR = 20日志[（E
ZS
(V
DD
最大） -
E
ZS
(V
DD
分） ）/ V
DD
MAX]
在满量程的电源抑制比是通过改变V测
DD
而由下式给出： PSRR = 20日志[（E
G
(V
DD
最大） -
E
G
(V
DD
分） ）/ V
DD
MAX]
静态DAC规格
参数
决议
INL
DNL
E
ZS
积分非线性，终点调整
微分非线性
零刻度误差（在零刻度偏移误差）
SEE
SEE
SEE
SEE
SEE
SEE
(1)
(2)
(3)
(4)
(5)
(6)
测试条件
民
10
典型值
±0.4
±0.1
10
最大
±1
±0.5
±24
单位
位
最低位
最低位
mV
PPM /°C的
％全
规模V
PPM /°C的
E
ZS
TC零误差温度系数
E
G
E
G
T
C
V
O
增益误差
增益误差温度系数
输出电压
输出负载稳压精度
(1)
(2)
(3)
(4)
(5)
(6)
±0.6
10
0
V
DD
–0.4
±0.25
输出规格
R
L
= 10k
V
O
= 4.096V ， 2.048V ，R
L
= 2 k
V
％全
规模V
相对精度或积分非线性（INL ）有时也被称为线性误差是输出从最大偏差
零点和满量程之间的线，不包括零码和满量程误差的影响。从32码测试，以4095 。
微分非线性（DNL）有时被称为差分误差，之间的差别的测量和理想的1 LSB
的任意两个相邻码的振幅变化。单调性意味着在相同方向上的输出电压的变化（或保持不变）
如在数字输入码的变更。
零刻度误差是零电压输出的偏差时，数字输入代码为零。
零误差温度系数由下式给出：电子
ZS
TC = [E
ZS
(T
最大
) – E
ZS
(T
民
)]/V
REF
×
10
6
/(T
最大
– T
民
).
增益误差是与理想输出的偏差（ 2V
REF
- 1LSB ）用10 k的输出负载，不包括零误差的影响。
增益温度系数由下式给出：电子
G
TC = [E
G
(T
最大
) – E
G
(T
民
)]/V
REF
×
10
6
/(T
最大
– T
民
).
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电气特性（续）
在推荐工作条件（除非另有说明）
参考引脚配置为输出（ REF ）
参数
V
REF（ OUTL ）
V
REF（ OUTH ）
I
REF （ SOURCE ）
I
REF （ SINK ）
PSRR
低参考电压
高参考电压
输出源电流
输出灌电流
负载电容
电源抑制比
65
1
100
V
DD
＆ GT ; 4.75V
测试条件
民
1.003
2.027
典型值
1.024
2.048
最大
1.045
2.069
1
单位
V
V
mA
mA
pF
dB
参考引脚配置为输入（ REF ）
参数
V
I
R
I
C
I
输入电压
输入阻抗
输入电容
参考输入带宽
参考穿心
(1)
REF = 0.2V
PP
+ 1.024V DC
REF = 1V
PP
在1 kHz + 1.024V直流，见
(1)
测试条件
民
0
典型值
最大
V
DD
–1.
5
单位
V
M
pF
兆赫
千赫
dB
10
5
快
慢
1.3
525
80
参考馈通的测量是在DAC输出与输入代码= 0x000的。
数字输入
参数
I
IH
I
IL
C
i
高层次的数字输入电流
低层次的数字输入电流
输入电容
V
I
= V
DD
V
I
= 0V
1
8
测试条件
民
TYP MAX
1
单位
A
A
pF
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5
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