D8
DGK8
TLV5636
SLAS223C - 1999年6月 - 修订2004年4月
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2.7 V至5.5 V，低功耗， 12位，数位类比转换器
具内部基准和断电
特点
12位电压输出DAC
可编程内部参考
可编程建立时间：
- 1 μs的快速模式
- 3.5微秒低速模式
兼容TMS320和SPI 串行
端口
微分非线性。 。 。 <0.5 LSB的典型值
单调过热
应用
数字伺服控制回路
数字增益与失调调节
工业过程控制
机器和运动控制设备
大容量存储设备
D组或DGK包装
（ TOP VIEW ）
DIN
SCLK
CS
FS
1
2
3
4
8
7
6
5
V
DD
OUT
REF
AGND
描述
该TLV5636是一个12位电压输出DAC，具有灵活的4线串行接口。串行接口允许
无缝连接TMS320和SPI ， QSPI和Microwire串行端口。它被编程为16位
含有4控制和12个数据位串行字串。
电阻串的输出电压由2倍增益的轨到轨输出缓冲缓冲。可编程沉降
DAC的时间使设计人员能够优化速度VS功耗。凭借其片上可编程
精密电压参考， TLV5636简化了整个系统的设计。
因为它能够提供高达1毫安，参考也可以被用来作为一个系统参考。实施
采用CMOS工艺，设备是专为单电源工作，从2.7 V至5.5 V可在
8引脚SOIC和8引脚MSOP封装，以降低标准的商用和工业温度电路板空间
范围
可选项
T
A
0 ° C至70℃
-40 ° C至85°C
包
SOIC （ D）
TLV5636CD
TLV5636ID
MSOP （ DGK ）
TLV5636CDGK
TLV5636IDGK
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并在得克萨斯州的关键应用程序使用
仪器的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
SPI ， QSPI是摩托罗拉公司的商标..
MICROWIRE是美国国家半导体公司的商标。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合占德州条款规范
仪器标准保修。生产加工过程中不
不一定包括所有参数进行测试。
版权所有 1999-2004 ，德州仪器
TLV5636
SLAS223C - 1999年6月 - 修订2004年4月
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这些器件具有有限的内置ESD保护。引线应短接在一起或设备
贮藏期间放置在导电泡棉或处理，以防止对静电损坏MOS大门。
功能框图
REF
随着PGA
OUTPUT ENABLE
电压
带隙
动力
与速度
控制
2
2
2-Bit
控制
LATCH
串行
接口
和
控制
POWER- ON
RESET
DIN
SCLK
CS
FS
12
12-Bit
DAC
LATCH
12
x2
OUT
终端功能
终奌站
名字
AGND
CS
DIN
FS
OUT
REF
SCLK
V
DD
号
5
3
1
4
7
6
2
8
I / O / P
P
I
I
I
O
I / O
I
P
地
片选。数字输入低电平有效，用于使能/禁止输入
数字串行数据输入
帧同步输入
DAC A的模拟电压输出
模拟参考电压输入/输出
数字串行时钟输入
正电源。
描述
2
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TLV5636
SLAS223C - 1999年6月 - 修订2004年4月
绝对最大额定值
在工作自由空气的温度范围内（除非另有说明）
(1)
单位
电源电压（V
DD
对于AGND）
参考输入电压
数字输入电压范围
工作的自由空气的温度范围内，T
A
存储温度范围，T
英镑
焊接温度1.6毫米（ 1/16英寸）的情况下，持续10秒
(1)
TLV5636C
TLV5636I
7V
- 0.3 V到V
DD
+ 0.3 V
- 0.3 V到V
DD
+ 0.3 V
0 ° C至70℃
-40 ° C至85°C
-65 ℃150 ℃的
260°C
强调超越那些在列
绝对最大额定值
可能对器件造成永久性损坏。这些压力额定值
只和功能在这些或任何其他条件超出下所指示的设备的操作
推荐工作
条件
是不是暗示。暴露于长时间处于最大绝对额定情况下会影响器件的可靠性。
推荐工作条件
民
电源电压，V
DD
上电复位， POR
高层次的数字输入电压，V
IH
低层次的数字输入电压，V
IL
参考电压，V
REF
到REF端子
负载电阻R
L
负载电容，C
L
时钟频率f
CLK
经营自由的空气温度，T
A
(1)
TLV5636C
TLV5636I
0
-40
DV
DD
= 2.7 V
DV
DD
= 5.5 V
DV
DD
= 2.7 V
DV
DD
= 5.5 V
V
DD
= 5 V
(1)
V
DD
= 3 V
(1)
AGND
AGND
2
100
20
70
85
2.048
1.024
V
DD
= 5 V
V
DD
= 3 V
4.5
2.7
0.55
2
2.4
0.6
1
V
DD
- 1.5
V
DD
- 1.5
喃
5
3
最大
5.5
3.3
2
单位
V
V
V
V
V
V
V
k
pF
兆赫
°C
由于×2输出缓冲器中，参考输入电压。 （V
DD
- 0.4 V）的传递函数的/ 2的原因削波。的输出缓冲器
内参必须禁止，如果使用外部参考电压。
电气特性
在推荐工作的自由空气的温度范围，电源电压和基准电压（除非另有说明）
电源
参数
I
DD
电源电流
掉电电源电流
PSRR
(1)
(2)
电源抑制比
测试条件
无负载，
所有输入= AGND或V
DD
,
DAC锁存器为0x800 =
SEE
图8
零刻度
(1)
民
典型值
2.3
1.5
0.01
-65
-65
最大
3.3
1.9
10
单位
mA
A
dB
快
慢
满量程
(2)
处于零电平的电源抑制比是通过改变V测
DD
和由下式给出：
PSRR = 20日志[（E
ZS
(V
DD
最大） - é
ZS
(V
DD
分） ）/ V
DD
MAX]
在满量程的电源抑制比是通过改变V测
DD
和由下式给出：
PSRR = 20日志[（E
G
(V
DD
最大） - é
G
(V
DD
分） ）/ V
DD
MAX]
3
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SLAS223C - 1999年6月 - 修订2004年4月
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电气特性
在推荐工作的自由空气的温度范围，电源电压和基准电压（除非另有说明）
静态DAC规格
参数
决议
INL
DNL
E
ZS
E
ZS
TC
E
G
E
G
TC
(1)
(2)
(3)
(4)
(5)
(6)
积分非线性
微分非线性
零刻度误差（在零刻度偏移误差）
零误差温度系数
增益误差
增益误差温度系数
见注
(1)
SEE
记
(2)
(4)
(5)
(6)
测试条件
民
12
典型值
±2
±0.5
10
最大
±4
±1
±20
单位
位
最低位
最低位
mV
μV/°C
％ FS的
电压
PPM /°C的
见注
(3)
见注
见注
见注
±0.6
10
相对精度或积分非线性（INL ）有时也被称为线性误差是输出从最大偏差
零点和满量程之间的线，不包括零码和满量程误差的影响。测试了从10码到4095码。
微分非线性（DNL）有时被称为差分误差，之间的差别的测量和理想的1 LSB
的任意两个相邻码的振幅变化。单调性意味着在相同方向上的输出电压的变化（或保持不变）
如在数字输入码的变更。测试了从10码到4095码。
零刻度误差是零电压输出的偏差时，数字输入代码为零。
零误差温度系数由下式给出：电子
ZS
TC = [E
ZS
（最高温度） - é
ZS
(T
民
)]/V
REF
x 10
6
/(T
最大
- T
民
).
增益误差是与理想输出的偏差（ 2V
REF
- 1 LSB ）为10千欧的输出负载，不包括零误差的影响。
增益误差温度系数由下式给出：电子
G
TC = [E
G
(T
最大
) - E
G
(T
民
)]/V
REF
x 10
6
/(T
最大
- T
民
).
输出规格
参数
V
O
电压输出范围
输出负载稳压精度
参考引脚配置为输出（ REF ）
参数
V
REF（ OUTL ）
V
REF（ OUTH ）
I
REF （ SOURCE ）
I
REF （ SINK ）
PSRR
低参考电压
高参考电压
输出源电流
输出灌电流
负载电容
电源抑制比
-65
-1
100
V
DD
> 4.75 V
测试条件
民
1.003
2.027
典型值
1.024
2.048
最大
1.045
2.068
1
单位
V
V
mA
mA
pF
dB
R
L
= 10 k
V
O
= 4.096 V ， 2.048 V ，R
L
= 2 k
测试条件
民
0
典型值
最大
V
DD
- 0.4
±0.25
单位
V
％ FS的
电压
参考输入配置为输入（ REF ）
参数
V
I
R
i
C
i
输入电压
输入阻抗
输入电容
参考输入带宽
通过参考饲料
(1)
REF = 0.2 V
pp
+ 1.024 V直流
REF = 1 V
pp
在1 kHz + 1.024 V直流
(1)
快
慢
测试条件
民
0
10
5
1.3
525
-80
典型值
最大
V
DD
- 1.5
单位
V
k
pF
兆赫
dB
参考馈通的测量是在DAC输出与输入代码= 0x000的。
数字输入
参数
I
IH
I
IL
C
i
高层次的数字输入电流
低层次的数字输入电流
输入电容
V
I
= V
DD
V
I
= 0 V
-1
8
测试条件
民
典型值
最大
1
单位
A
A
pF
4
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电气特性
在推荐工作的自由空气的温度范围，电源电压和基准电压（除非另有说明）
模拟输出动态性能
参数
t
S（ FS ）
t
S（ CC ）
SR
输出稳定时间（满量程）
输出稳定时间，码码
压摆率
毛刺能量
SNR
S /（N + D）的
THD
信噪比
信号 - 噪声+失真
总谐波失真
无杂散动态范围
(1)
(2)
(3)
f
s
= 480 kSPS时，
R
L
= 10 k,
f
OUT
= 1千赫，
C
L
= 100 pF的
测试条件
R
L
= 10 k,
见注
(1)
R
L
= 10 k,
见注
(2)
R
L
= 10 k,
见注
(3)
DIN = 0至1 ，
CS = V
DD
C
L
= 100 pF的，
C
L
= 100 pF的，
C
L
= 100 pF的，
f
OUT
= 1千赫，
71
59
59
快
慢
快
慢
快
慢
民
典型值
1
3.5
0.5
1
8
1.5
5
75
66
-67
69
-59
dB
最大
3
7
1.5
2
单位
s
s
V / μs的
nV-s表示
建立时间是时间的输出信号保持最后的测量值以内0.5 LSB为数字输入代码变化
0x20至0xFDF和0xFDF分别量0x020 。通过设计保证;未经测试。
建立时间是时间的输出信号保持最后的测量值以内0.5 LSB为1的数字输入代码变化
算。通过设计保证;未经测试。
压摆率决定它需要对DAC输出的10％至90％的满刻度电压的变化所需的时间。
时序要求
数字输入
民
t
SU（ CS -FS ）
t
SU（ FS -CK ）
t
su(C16-FS)
t
su(C16-CS)
t
wH
t
wL
t
SU（ D）
t
H（ D）
t
WH （ FS ）
建立时间， FS下降沿之前CS为低电平
建立时间，低FS首次出现负SCLK上升沿之前
建立时间， 16
th
在其位D0在抽样前财政司司长后低的负边缘
FS上升边缘。
建立时间， 16
th
SCLK上升沿CS前（ D0采样首次正面后）
上升沿。如果FS用16代替
th
正边沿更新DAC ，然后设置
FS上升沿与CS上升沿之间的时间。
SCLK脉冲宽度高
SCLK脉冲宽度低
建立时间，数据准备SCLK下降沿之前
保持时间，保持数据的有效SCLK下降沿后缘
FS持续高
10
8
10
10
25
25
8
5
25
喃
最大
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
5
QQ：2881677436 复制
