TLV5618A EP
2.7 V至5.5 V低功率双路12位
具有掉电数字模拟转换器
SGLS214 - 2003年10月
特点
D
兼容TMS320和SPI串行
D
D
D
D
D
D
D
D
端口
微分非线性<0.5 LSB的典型值
单调过热
直接替代TLC5618A
D
控制基线
D
D
D
D
D
D
- 一个封装/测试网站，一个制造
现场
扩展温度性能
-55 ° C至125°C
提高制造业递减
源（ DMS ）支持
增强型产品更改通知
资质谱系
双通道12位电压输出DAC
可编程建立时间，
3
s
在快速模式
10
s
慢速模式
应用
数字伺服控制回路
数字增益与失调调节
工业过程控制
机器和运动控制设备
大容量存储设备
包
（ TOP VIEW ）
按照JEDEC和产业组件资质
标准，以确保可靠的操作在长时间
温度范围。这包括，但不限于，高
加速应力测试（ HAST ）或偏见85/85 ，温度
循环，高压灭菌器或偏见的HAST ，电，债券
间的生活，模塑料的使用寿命。该项资格
检测不应该被看作是证明使用该组件的
超出规定的性能和环境的限制。
DIN
SCLK
CS
OUTA
1
2
3
4
8
7
6
5
V
DD
OUTB
REF
AGND
描述
该TLV5618A是一个双通道12位电压输出DAC，具有灵活的3线串行接口。串行接口是
与TMS320 ， SPI ， QSPI和Microwire串行端口兼容。它被编程为16位串行串
含有4控制和12个数据位。
电阻串的输出电压是由一个2倍增益的轨到轨输出缓冲缓冲。缓冲区有
AB类输出级，以提高稳定性和减少建立时间。 DAC的可编程建立时间
使设计人员能够优化速度和功耗的关系。
实现了CMOS工艺，该装置是专为单电源供电，从2.7 V至5.5 V
在采用8引脚SOIC封装。
该TLV5618AM的特点是从操作 - 55 ° C至125°C 。
订购信息
TA
-55 ° C至125°C
SOIC （ D）
包
磁带和卷轴
订购
产品型号
TLV5618AMDREP
TOP- SIDE
记号
5618ME
包装图纸，标准包装数量，热数据，符号和PCB设计指南
可在www.ti.com/sc/package 。
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
SPI和QSPI是Motorola，Inc.的商标。
MICROWIRE是美国国家半导体公司的商标。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合每德州仪器条款规范
标准保修。生产加工并不包括
所有测试参数。
版权
2003德州仪器
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
1
TLV5618A EP
2.7 V至5.5 V低功率双路12位
具有掉电数字模拟转换器
SGLS214 - 2003年10月
在工作自由空气的温度范围内绝对最大额定值（除非另有说明）
电源电压（V
DD
到AGND ） 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 7 V
参考输入电压范围。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 - 0.3 V到V
DD
+ 0.3 V
数字输入电压范围。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 - 0.3 V到V
DD
+ 0.3 V
工作自由空气的温度范围内
, T
A
:
TLV5618AM 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -55 ° C至125°C
存储温度范围
, T
英镑
。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -65 ℃150 ℃的
铅温度1.6毫米（1/16英寸）的距离的情况下为10秒。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 260℃
封装的热阻抗， Rθ
JA
：D包。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 131 ° C / W
超出“绝对最大额定值”列出的强调可能会造成永久性损坏设备。这些压力额定值只，和
该设备在这些或超出下标明的任何其他条件的功能操作“推荐工作条件”不
暗示。暴露于长时间处于最大绝对额定情况下会影响器件的可靠性。
长期高温存储和/或最大超期使用推荐的工作条件可能会导致减少整体的
设备的使用寿命。见http://www.ti.com/ep_quality关于增强塑料包装的附加信息。
推荐工作条件
民
电源电压（VDD）
上电复位
高层次的数字输入电压， VIH
低层次的数字输入电压， VIL
参考电压VREF为REF端
负载电阻器RL
负载电容CL
时钟频率f （ CLK ）
经营自由的空气温度， TA
TLV5618AM
55
注1 ：由于×2输出缓冲器中，参考输入电压
≥
（VDD - 0.4 V）的传递函数的/ 2的原因削波。
VDD = 2.7 V
VDD = 5.5 V
VDD = 2.7 V
VDD = 5.5 V
VDD = 5 V （见注1 ）
VDD = 3V （见注1 ）
AGND
AGND
2
100
20
125
2.048
1.024
VDD = 5 V
VDD = 3V
2
2.4
0.6
1
VDD -1.5
VDD -1.5
V
V
k
pF
兆赫
°C
V
4.5
2.7
0.55
喃
5
3
最大
5.5
3.3
2
V
V
单位
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3
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TLV5618A EP
2.7 V至5.5 V低功率双路12位
具有掉电数字模拟转换器
电气特性在推荐工作条件（除非另有说明）
电源
参数
国际直拨电话
电源电流
测试条件
无负载，所有输入= AGND或
VDD ， DAC锁存器=所有的人
快
VDD = 2.7 V至5.5 V
慢
民
典型值
1.8
0.8
1
零刻度，见注2
PSRR
电源抑制比
满量程，
见注3
注：在零刻度2.电源电压抑制比是通过改变VDD测量，由下式给出：
PSRR = 20日志[ （ EZS （ VDDMAX ） - EZS （ VDDMIN ） / VDDMAX ]
在满量程3.电源抑制比是通过改变VDD测量，由下式给出：
PSRR = 20日志[ （ EG （ VDDMAX ） - EG （ VDDMIN ） / VDDMAX ]
65
65
dB
最大
2.3
1
mA
A
单位
掉电电源电流
静态DAC规格
参数
决议
INL
DNL
EZS
EZS （ TC ）
EG
EG （TC）的
积分非线性
微分非线性
零刻度误差（零偏移误差
秤）
零误差温度
系数
增益误差
增益误差温度系数
见注4
见注5
见注6
见注7
见注8
见注9
VDD = 2.7 V - 5.5 V
1
3
±
0.6
测试条件
民
12
±
2
±
0.5
±
4
±
1
±
12
典型值
最大
单位
位
最低位
最低位
mV
PPM /°C的
％全
规模V
PPM /°C的
注：4.积分非线性的相对精度（INL） ，有时也称为线性误差，是输出的最大偏差
从零点和满量程之间的线，不包括零码和满量程误差的影响。
5.微分非线性（DNL） ，有时被称为差分误差，是测得的和理想的区别
中任意两个相邻码1 LSB的幅度变化。
6.零刻度误差是当数字输入代码为零的零电压输出的偏差。
- / 2VREF EZS TC = [ EZS （ Tmin的） EZS （最高温度） ]： 7.零点误差温度系数由下式给出
×
106 / （最高温度 - Tmin的） 。
8.增益误差与理想输出的偏差（ 2VREF - 1 LSB ）为10 kΩ的输出负载。
- / 2VREF EG TC = [ EG（ Tmin的）， EG （最高温度） ] ： 9.增益温度系数由下式给出
×
106 / （最高温度 - Tmin的） 。
输出规格
参数
VO
输出电压范围
输出负载稳压精度
测试条件
RL = 10 kΩ的
VO = 4.096 V ， 2.048 V ，
RL = 2 kΩ至10 kΩ的
民
0
典型值
最大
VDD0.4
±
0.29
单位
V
％ FS
4
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2.7 V至5.5 V低功率双路12位
具有掉电数字模拟转换器
SGLS214 - 2003年10月
电气特性在推荐工作条件（除非另有说明）
（续）
参考输入
参数
VI
RI
CI
输入电压范围
输入阻抗
输入电容
快
参考输入带宽
参考穿心
REF = 0.2 Vpp的+ 1.024 V直流
慢
测试条件
民
0
10
5
1.3
525
80
典型值
最大
VDD1.5
单位
V
M
pF
兆赫
千赫
dB
REF = 1 VPP在1 kHz + 1.024 V DC （见注10 ）
注10 ：参考馈通的测量是在DAC输出与输入代码= 0x000的。
数字输入
参数
IIH
IIL
Ci
高层次的数字输入电流
低层次的数字输入电流
输入电容
测试条件
VI = VDD
VI = 0 V
民
1
8
典型值
最大
1
单位
A
A
pF
模拟输出动态性能
参数
TS （ FS ）
TS （ CC ）
SR
输出稳定时间，满量程
输出稳定时间，码码
压摆率
毛刺能量
SNR
SINAD
THD
SFDR
信噪比
信号 - 噪声+失真
总谐波失真
无杂散动态范围
FS = 102 kSPS时， FOUT = 1千赫，
CL = 100 pF的
RL = 10 kΩ的，
RL = 10 kΩ的，
RL = 10 kΩ的，
RL = 10 kΩ的，
DIN = 0至1 ，
测试条件
快
CL = 100 pF的，见注11
CL = 100 pF的，见注12
CL = 100 pF的，见注13
FCLK = 100 kHz时， CS = VDD
慢
快
慢
快
慢
民
典型值
1
3
1
2
3
0.5
5
76
68
68
72
dB
V / S
V / μs的
nVs
最大
3
10
单位
s
s
s
s
注： 11建立时间的时候输出信号保持在
±
0.5 LSB的数字输入代码变化的最终测量值
的量0x020到0xFDF和0xFDF分别量0x020 。没有测试过，保证了设计。
12.建立时间是时间的输出信号，以保持内
±
0.5 LSB的数字输入代码变化的最终测量值
的罪名。没有测试过，保证了设计。
13.斜率确定它需要对DAC输出的10％至90％的满刻度电压的变化所需的时间。
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达拉斯，德克萨斯州75265
5
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