TLV5614IYZ
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SBAS401 - 2006年12月
12位，四通道， 2.7V至5.5V ，在DAC
凸点芯片（晶圆级芯片）封装，无铅/绿色
特点
4个12位D / A转换器
可编程稳定无论是为3μs或时间
器件为9μs典型值
TMS320DSP系列， （Q ） SPI 和
Microwire兼容的串行接口
内部上电复位
低功耗：
- 8MW ，低速模式; 5V电源
- 3.6MW ，低速模式; 3V电源
参考输入缓冲器
电压输出范围。 。 。 2个参考输入
电压
单调过热
双路2.7V至5.5V电源（单独的数字和
模拟电源）
硬件掉电（ 10nA的）
软件省电（ 10nA的）
同步更新
应用
电池供电测试仪器
数字增益与失调调节
工业过程控制
机器和运动控制设备
通讯
任意波形
凸点芯片
（底视图）
OUTA OUTB
14 13
15
16
1
2
34
OUTC OUTD
12
11
10
9
8
7
5
6
REFINAB
AV
DD
REFINCD
AGND
DGND
FS
DV
DD
PD
LDAC
DIN
SCLK
CS
描述
该TLV5614IYZ是一个四，12位，电压输出数字 - 模拟转换器（DAC），用柔性的4线
串行接口。串行接口允许无缝连接TMS320 ， SPI ， QSPI和Microwire串行端口。
该TLV5614IYZ编程有一个16位串行字组成的一个DAC地址，个人DAC控制
位，以及一个12位的DAC值。该设备具有提供两种电源： 1数字电源串行接口
（通过插针DV
DD
和DGND ） ，和一个用于所述的DAC ，基准缓冲器和输出缓冲器（通过引脚的AV
DD
和
AGND ） 。每个电源都独立于其它的，并且可以是2.7V和5.5V之间的任何值。双
耗材让那里的DAC通过微处理器采用3V电源供电控制的典型应用
（也可用于对销DV
DD
和DGND ）与5V电源操作的DAC 。当然，数字和模拟
电源也可以连在一起。
电阻串的输出电压是由一个2×增益轨到轨输出缓冲器缓冲。缓冲区有
AB类输出级，以提高稳定性和减少建立时间。轨到轨输出级和掉电
模式使得它非常适用于单电压，电池为基础的应用。 DAC的建立时间是可编程的，
使设计师能够优化速度和功耗的关系。稳定时间的选择是通过控制位
内的16位串行输入字符串。高阻抗缓冲器集成在REFINAB和REFINCD
端子，以减少需要一个低的源阻抗驱动到终端。 REFINAB和REFINCD允许
DAC的A和B具有不同的参考电压比的DAC C和D.
该TLV5614IYZ是建立与CMOS工艺，并采用16端子凸点芯片（晶圆芯片级）
封装。它的特点是操作温度范围为-40 ° C至+ 85°C的引线键合，小外形封装（SOIC ）封装。
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并在得克萨斯州的关键应用程序使用
仪器的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
TMS320是德州仪器的商标。
SPI是Motorola ， Inc.的商标。
MICROWIRE是美国国家半导体公司的商标。
MCS是美国国家半导体公司的注册商标。
所有其他商标均为其各自所有者的财产。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合占德州条款规范
仪器标准保修。生产加工过程中不
不一定包括所有参数进行测试。
版权所有 2006年，德州仪器
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这个集成电路可以被ESD损坏。德州仪器建议所有集成电路与处理
适当的预防措施。如果不遵守正确的操作和安装程序，可以造成损坏。
ESD损害的范围可以从细微的性能下降，完成设备故障。精密集成电路可以是
更容易受到伤害，因为很小的参数变化可能导致设备不能满足其公布
特定连接的阳离子。
封装/订购信息
对于最新的封装和订购信息，请参阅封装选项附录本月底
文件，或查看TI网站
www.ti.com 。
绝对最大额定值
在工作自由空气的温度范围内（除非另有说明）
(1)
单位
供电电压， （DV
DD
， AV
DD
到GND）
供电电压差， （AV
DD
以DV
DD
)
数字输入电压范围
参考输入电压范围
工作的自由空气的温度范围内，T
A
(1)
7V
-2.8V至2.8V
-0.3V到DV
DD
+ 0.3V
-0.3V到AV
DD
+ 0.3V
-40 ° C至+ 85°C
强调超越那些在列
绝对最大额定值
可能对器件造成永久性损坏。这些压力额定值
只和功能在这些或任何其他条件超出下所指示的设备的操作
推荐工作
条件
是不是暗示。暴露于长时间处于最大绝对额定情况下会影响器件的可靠性。
推荐工作条件
在工作自由空气的温度范围内（除非另有说明）
民
电源电压， AV
DD
， DV
DD
高层次的数字输入电压，V
IH
低层次的数字输入电压，V
IL
参考电压，V
REF
到REFINAB ， REFINCD
终奌站
负载电阻R
L
负载电容，C
L
串行时钟速率，SCLK
工作自由空气的温度
(1)
TLV5614IYZ
–40
5V电源
3V电源
DV
DD
= 2.7V
DV
DD
= 5.5V
DV
DD
= 2.7V
DV
DD
= 5.5V
5V电源
(1)
3V电源
(1)
0
0
2
2.048
1.024
10
100
20
+85
4.5
2.7
2
2.4
0.6
1
V
DD
– 1.5
V
DD
– 1.5
V
k
pF
兆赫
°C
V
V
喃
5
3
最大
5.5
3.3
V
单位
电压大于AV
DD
/ 2输出的原因饱和度上DAC的代码。
2
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电气特性
在工作自由空气的温度范围，电源电压和基准电压（除非另有说明） 。
参数
静态DAC规格
决议
积分非线性（ INL ） ，终点
调整
微分非线性（ DNL ）
E
ZS
零刻度误差（在零刻度偏移误差）
零刻度误差温度系数
E
G
增益误差
增益误差温度系数
PSRR
电源抑制比
零刻度
满量程
SEE
(1)
SEE
(2)
SEE
(3)
SEE
(4)
SEE
(5)
SEE
(6)
SEE
(7) (8)
10
–80
–80
10
±0.6
12
±1.5
±0.5
±4
±1
±12
位
最低位
最低位
mV
PPM /°C的
％ FS的
电压
PPM /°C的
dB
dB
测试条件
民
典型值
最大
单位
单个DAC输出规格
V
O
电压输出范围
输出负载稳压精度
基准输入（ REFINAB ， REFINCD ）
V
I
R
I
C
I
输入电压范围
输入阻抗
输入电容
参考穿心
参考输入带宽
数字量输入（ DIN ， CS ， LDAC ， PD ）
I
IH
I
IL
C
I
高层次的数字输入电流
低层次的数字输入电流
输入电容
V
I
= V
DD
V
I
= 0V
3
±1
±1
A
A
pF
REFIN = 1V
PP
在1kHz + 1.024V
DC
（见
(10)
)
慢
快
SEE
(9)
0
10
5
–75
0.5
1
AV
DD
– 1.5
V
M
pF
dB
兆赫
R
L
= 10k
R
L
= 2kΩ的VS为10kΩ
0
0.1
AV
DD
– 0.4
0.25
V
％ FS的
电压
REFIN = 0.2V
PP
+ 1.024V
DC
大信号
电源
5V电源，空载，时钟运行。
所有的输入0V或V
DD
I
DD
电源电流
3V电源，空载，时钟运行。
所有的输入0V或DV
DD
掉电电源电流（见
图12）
慢
快
慢
快
1.6
3.8
1.2
3.2
10
2.4
5.6
1.8
4.8
mA
mA
nA
相对精度或积分非线性（INL ） ，有时也被称为
线性误差，
是输出从最大偏差
零点和满量程之间的线，不包括零码和满量程误差的影响。
（2）微分非线性（DNL） ，有时也被称为
微分误差，
为测得的和理想的1 LSB之间的差
的任意两个相邻码的振幅变化。
单调
装置在相同的方向上的输出电压的变化（或保持不变）
如在数字输入码的变更。
（ 3 ）零刻度误差是当数字输入代码为零的零电压输出的偏差。
（ 4 ）零刻度误差温度系数由下式给出：电子
ZS
TC = [E
ZS
(T
最大
） - EZS （T
民
)]/V
REF
×
10
6
/(T
最大
– T
民
).
（ 5 ）增益误差与理想输出的偏差（ 2V
REF
- 1 LSB ）为10千欧的输出负载，不包括零误差的影响。
（ 6 ）增益温度系数由下式给出：电子
G
TC = [E
G
(T
最大
) – E
G
(T
民
)]/V
REF
×
106/(T
最大
– T
民
).
（ 7 ）零刻度误差抑制比（ EZS - RR）通过改变AV测
DD
从5V
±
0.5V和3V
±
0.3V
DC
，并测量
这个信号的比例施加于零码输出电压。
（ 8 ）满度抑制比（ EG- RR），是通过改变该AV测
DD
从5V
±
0.5V和3V
±
0.3V
DC
和测量的比重
这个信号中减去零刻度变更后施加在满量程输出电压。
（ 9 ）参考输入电压大于V
DD
/ 2输出的原因饱和度上DAC的代码。
（10 ）参考馈通的测量是在DAC输出与输入代码= 000hex和V
REF
（ REFINAB或REFINCD ）输入=
1.024V
DC
+ 1V
PP
在1kHz 。
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电气特性（续）
在工作自由空气的温度范围，电源电压和基准电压（除非另有说明） 。
参数
模拟输出动态性能
SR
输出压摆率
C
L
= 100pF电容，R
L
= 10kΩ的，V
O
= 10％ 90％，
V
REF
= 2.048V, 1024V
To
±
0.5 LSB ，C
L
= 100pF电容，R
L
= 10kΩ的，看
(11) (12)
测试条件
民
典型值
最大
单位
快
慢
快
慢
快
慢
5
1
3
9
1
2
10
74
66
–68
70
5.5
20
V / μs的
V / μs的
s
s
nVs
t
s
t
S（ C）
输出建立时间
输出稳定时间，码码
毛刺能量
To
±
0.5 LSB ，C
L
= 100pF电容，R
L
= 10kΩ的，看
(13)
代码转换从7FF 800
正弦波由DAC产生，基准电压=
1.024在3V和2.048为5V ，女
S
= 400KSPS ，女
OUT
=
1.1kHz的正弦波，C
L
= 100pF电容，R
L
= 10kΩ的， BW =
20kHz
SNR
SINAD
THD
SFDR
信噪比
信号与噪声+失真
总谐波失真
无杂散动态范围
dB
数字输入的时序要求
t
SU（ CS -FS ）
t
SU（ FS -CK ）
t
su(C16–FS)
建立时间， FS ↓之前CS为低电平
建立时间，低FS首次出现负前
SCLK边缘
建立时间。之后FS低上D0位的16负SCLK的上升沿之前进行采样
FS的
建立时间。 D0后的第一个SCLK上升沿之前CS上升沿采样。如果FS使用
而不是SCLK上升沿更新DAC ，那么建立时间是FS上升之间
边缘和CS上升沿。
脉冲持续时间，SCLK高
脉冲持续时间，SCLK低
建立时间，数据准备SCLK下降沿之前
保持时间，保持数据的有效SCLK下降沿后缘
脉冲持续时间， FS高
10
8
10
ns
ns
ns
t
su(C16–CS)
t
wH
t
wL
t
SU（ D）
t
H（ D）
t
WH （ FS ）
10
25
25
8
5
20
ns
ns
ns
ns
ns
ns
（11），建立时间是时间的输出信号，以保持内
±0.5
LSB为数字输入代码更改的最终测量值
FFFhex到080hex的080hex到FFFhex 。
（ 12 ）的限额，是保证设计和特性，但不生产测试。
（13）稳定时间是时间的输出信号将保持内
±0.5
LSB为1的数字输入代码更改的最终测量值
算。
t
wL
t
wH
SCLK
t
DIN
1
SU（ D）
2
t
H（ D）
D15
D14
3
4
5
15
16
D13
D12
D1
D0
t
SU（ FS -CK ）
t
SU（ CS -FS ）
CS
t
WH （ FS ）
FS
t
su(C16-CS)
t
su(C16-FS)
图1.时序图
4
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