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TC55VBM416AFTN55
暂定
东芝MOS数字集成电路硅栅CMOS
1,048,576 ,一个字一个16位/ 2097152 - WORD 8位全CMOS静态RAM
描述
该TC55VBM416AFTN是组织为1,048,576字16777216位的静态随机存取存储器(SRAM)
16位/ 2,097,152字由8位。采用东芝的CMOS硅栅工艺技术制造,该设备
采用单2.3至3.6 V电源供电。先进的电路技术提供了高速和低
功率以3mA / MHz的工作电流为55 ns的最小循环时间。它会自动放置在
在0.9的低功耗模式下
A
待机电流(在V
DD
=
3 V ,TA
=
25 ° C,典型值)时,芯片使能( CE1 )被置
高或( CE2 )被置为低电平。有三个控制输入。 CE1和CE2分别用于选择设备和用于
数据保持控制,并输出使能(OE )提供了快速存储器的访问。数据字节控制引脚( LB , UB )
提供了下限和上限字节访问。该装置非常适合于各种微处理器系统的应用
其中,高速,低功率和备用电池是必需的。并且,与工作保证极端
的温度范围内
40°
到85℃时, TC55VBM416AFTN可以在表现出极端的环境中使用
温度条件。该TC55VBM416AFTN可在一个塑料48引脚薄小外形封装
( TSOP ) 。
特点
低功耗
操作: 9毫瓦/兆赫(典型值)
2.3 3.6 V单电源电压
使用CE1和CE2关机功能
1.5 3.6 V数据保持电源电压
所有的输入和输出直接TTL兼容
宽工作温度范围
40°
至85℃
待机电流(最大) :
3.6 V
3.0 V
15
A
8
A
访问时间(最大) :
存取时间
CE1
存取时间
55纳秒
55纳秒
55纳秒
30纳秒
CE2
OE
存取时间
存取时间
包装:
TSOPⅠ48-P-1220-0.50
(重量: 0.51克典型值)
引脚分配
( TOP VIEW )
48引脚TSOP
引脚名称
A0~A19
1
48
A-1~A19
CE1
, CE2
地址输入(字模式)
地址输入(字节模式)
芯片使能
读/写控制
OUTPUT ENABLE
数据字节控制
数据输入/输出
字节( '8模式)启动
动力
无连接
选项
读/写
OE
磅,
UB
24
(普通)
25
I/O1~I/O16
字节
V
DD
GND
NC
OP *
*: OP引脚必须开路或连接到GND 。
PIN号
引脚名称
PIN号
引脚名称
PIN号
引脚名称
1
A15
17
A17
33
I/O3
2
A14
18
A7
34
I/O11
3
A13
19
A6
35
I/O4
4
A12
20
A5
36
I/O12
5
A11
21
A4
37
V
DD
6
A10
22
A3
38
I/O5
7
A9
23
A2
39
8
A8
24
A1
40
9
A19
25
A0
41
10
NC
26
CE1
11
读/写
27
GND
43
12
CE2
28
OE
13
OP
29
I/O1
14
UB
15
LB
31
I/O2
16
A18
32
I/O10
48
A16
30
I/O9
42
44
I / O13 I / O6
I / O14 I / O7
I / O15 I / O8
45
46
47
I / O16 GND
字节
/A-1
2002-08-29
1/14
TC55VBM416AFTN55
框图
CE
A0
A8
A9
A10
A11
A12
A13
A14
A15
A16
A18
A19
I/O1
I/O2
I/O3
I/O4
I/O5
I/O6
I/O7
I/O8
I/O9
I/O10
I/O11
I/O12
I/O13
I/O14
I/O15
I/O16
V
DD
GND
存储单元阵列
4,096
×
256
×
16
(16,777,216)
行地址
卜FF器
行地址
注册
行地址
解码器
SENSE AMP
数据
产量
卜FF器
CE
A-1
A1
A2
A3
A4
A5
A6
A17
A7
数据
输入
卜FF器
列地址
解码器
列地址
注册
列地址
卜FF器
时钟
发电机
CE1
CE2
LB
CE
UB
读/写
OE
字节
数据
产量
卜FF器
数据
输入
卜FF器
2002-08-29
2/14
TC55VBM416AFTN55
经营模式
模式
CE1
CE2
H
H
H
H
H
H
H
H
H
H
H
H
*
L
*
OE
读/写
H
H
H
H
L
L
L
L
H
H
H
H
*
*
*
字节
L
H
H
H
L
H
H
H
L
H
H
H
H或L
H或L
H
LB
*
L
H
L
*
L
H
L
*
L
H
L
*
*
H
UB
I/O1~I/O8
产量
产量
高-Z
产量
输入
输入
高-Z
输入
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
I/O9~I/O15
高-Z
产量
产量
高-Z
高-Z
输入
输入
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
A-1
I/O16
动力
I
DDO
I
DDO
I
DDO
I
DDO
I
DDO
I
DDO
I
DDO
I
DDO
I
DDO
I
DDO
I
DDO
I
DDO
I
DDS
I
DDS
I
DDS
L
L
L
L
L
L
L
L
L
输出取消
L
L
L
H
待机
*
*
*
=不关心
H =逻辑高
L =逻辑低
L
L
L
L
*
*
*
*
H
H
H
H
*
*
*
*
L
L
H
*
L
L
H
*
L
L
H
*
*
H
产量
产量
高-Z
A-1
输入
输入
高-Z
A-1
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
最大额定值
符号
V
DD
V
IN
V
I / O
P
D
T
SOLDER
T
英镑
T
OPR
电源电压
输入电压
输入/输出电压
功耗
焊接温度( 10秒)
储存温度
工作温度
等级
价值
0.3~4.2
0.3*~4.2
0.5~V
DD
+
0.5
0.6
260
55~150
40~85
单位
V
V
V
W
°C
°C
°C
*:
2.0
V电压为20ns的脉冲宽度测量时
DC推荐工作条件(
Ta
=
40℃至85℃
)
符号
V
DD
V
IH
V
IL
V
DH
参数
电源电压
输入高电压
输入低电压
数据保持电源电压
V
DD
=
2.3 V~2.7 V
V
DD
=
2.7 V~3.6 V
2.3
2.0
2.2
0.3*
1.5
V
DD
×
0.24
3.6
V
V
典型值
最大
3.6
V
DD
+
0.3
单位
V
V
*:
2.0
V电压为20ns的脉冲宽度测量时
2002-08-29
3/14
TC55VBM416AFTN55
DC特性
(大
=
40 °至85° C,V
DD
=
2.3 3.6 V)
符号
I
IL
I
OH
I
OL
I
LO
参数
输入漏
当前
输出高电流
输出低电流
输出漏
当前
V
IN
=
0 V~V
DD
V
OH
=
V
DD
0.5 V
V
OL
=
0.4 V
CE1
=
V
IH
或CE2
=
V
IL
或LB
=
UB
=
V
IH
or
读/写
=
V
IL
or
OE
=
V
IH
, V
OUT
=
0 V~V
DD
CE1
=
V
IL
和CE2
=
V
IH
读/写
=
V
IH
,磅
=
UB
=
V
IL
,
I
OUT
=
0毫安,
其他输入
=
V
IH
/V
IL
CE1
=
0.2 V和CE2
=
V
DD
0.2 V和
读/写
=
V
DD
0.2 V , LB
=
UB
=
0.2 V,
I
OUT
=
0毫安,
其他输入
=
V
DD
0.2 V/0.2 V
测试条件
0.5
2.1
t
周期
1
s
t
周期
1
s
典型值
最大
±1.0
±1.0
35
单位
A
mA
mA
A
0.9
l
DDO1
工作电流
l
DDO2
mA
8
30
mA
3
1
mA
I
DDS1
1)
CE1
=
V
IH
或CE2
=
V
IL
(以字节
V
DD
0.2 V或
0.2 V)
2 ) LB
=
UB
=
V
IH
(以字节
V
DD
0.2 V)
1)
CE1
=
V
DD
0.2 V , CE2
=
V
DD
=
Ta
= 40~85°C
V
DD
0.2 V (以字节
V
DD
3.3 V
±
0.3 V
0.2 V或
0.2 V)
Ta
=
25°C
2 ) CE2
=
0.2 V (以字节
V
DD
0.2 V或
0.2 V)
V
DD
=
3.0 V的Ta
= 40~40°C
3 ) LB
=
UB
=
V
DD
0.2 V,
CE1
=
0.2 V , CE2
=
V
DD
0.2
Ta
= 40~85°C
V(以字节
V
DD
0.2 V)
15
A
3
8
待机电流
I
DDS2
电容
(大
=
25 ° C,F
=
1兆赫)
符号
C
IN
C
OUT
注意:
参数
输入电容
输出电容
V
IN
=
GND
V
OUT
=
GND
测试条件
最大
10
10
单位
pF
pF
此参数是周期性采样,而不是100%测试。
2002-08-29
4/14
TC55VBM416AFTN55
(大
=
40 °至85° C,V
DD
=
2.7至3.6 V )
读周期
符号
t
RC
t
t
CO1
t
CO2
t
OE
t
BA
t
COE
t
OEE
t
BE
t
OD
t
ODO
t
BD
t
OH
读周期时间
地址访问时间
芯片使能(
CE1
)访问时间
芯片使能( CE2 )访问时间
输出启用访问时间
数据字节的控制访问时间
芯片使能低到输出有效
输出使能低到输出有效
数据字节控制低到输出有效
芯片使能高到输出高阻
输出使能高到输出高阻
数据字节控制高到输出高阻
输出数据保持时间
参数
55
5
0
5
10
最大
55
55
55
30
55
25
25
25
ns
单位
交流特性和操作条件
写周期
符号
t
WC
t
WP
t
CW
t
BW
t
AS
t
WR
t
ODW
t
OEW
t
DS
t
DH
注意:
写周期时间
把脉冲宽度
芯片使能写操作的结束
数据字节的控制来写结束
地址建立时间
写恢复时间
R / W低到输出高阻
R / W高到输出有效
数据建立时间
数据保持时间
参数
55
40
45
45
0
0
0
25
0
最大
25
ns
单位
t
OD
, t
ODO
, t
BD
和T
ODW
中时的输出变成高阻抗的时间被指定,并且根据所判断出没有
的输出电压电平。
2002-08-29
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TC55VBM416AFTN55
暂定
东芝MOS数字集成电路硅栅CMOS
1,048,576 ,一个字一个16位/ 2097152 - WORD 8位全CMOS静态RAM
描述
该TC55VBM416AFTN是组织为1,048,576字16777216位的静态随机存取存储器(SRAM)
16位/ 2,097,152字由8位。采用东芝的CMOS硅栅工艺技术制造,该设备
采用单2.3至3.6 V电源供电。先进的电路技术提供了高速和低
功率以3mA / MHz的工作电流为55 ns的最小循环时间。它会自动放置在
在0.9的低功耗模式下
A
待机电流(在V
DD
=
3 V ,TA
=
25 ° C,典型值)时,芯片使能( CE1 )被置
高或( CE2 )被置为低电平。有三个控制输入。 CE1和CE2分别用于选择设备和用于
数据保持控制,并输出使能(OE )提供了快速存储器的访问。数据字节控制引脚( LB , UB )
提供了下限和上限字节访问。该装置非常适合于各种微处理器系统的应用
其中,高速,低功率和备用电池是必需的。并且,与工作保证极端
的温度范围内
40°
到85℃时, TC55VBM416AFTN可以在表现出极端的环境中使用
温度条件。该TC55VBM416AFTN可在一个塑料48引脚薄小外形封装
( TSOP ) 。
特点
低功耗
操作: 9毫瓦/兆赫(典型值)
2.3 3.6 V单电源电压
使用CE1和CE2关机功能
1.5 3.6 V数据保持电源电压
所有的输入和输出直接TTL兼容
宽工作温度范围
40°
至85℃
待机电流(最大) :
3.6 V
3.0 V
15
A
8
A
访问时间(最大) :
存取时间
CE1
存取时间
55纳秒
55纳秒
55纳秒
30纳秒
CE2
OE
存取时间
存取时间
包装:
TSOPⅠ48-P-1220-0.50
(重量: 0.51克典型值)
引脚分配
( TOP VIEW )
48引脚TSOP
引脚名称
A0~A19
1
48
A-1~A19
CE1
, CE2
地址输入(字模式)
地址输入(字节模式)
芯片使能
读/写控制
OUTPUT ENABLE
数据字节控制
数据输入/输出
字节( '8模式)启动
动力
无连接
选项
读/写
OE
磅,
UB
24
(普通)
25
I/O1~I/O16
字节
V
DD
GND
NC
OP *
*: OP引脚必须开路或连接到GND 。
PIN号
引脚名称
PIN号
引脚名称
PIN号
引脚名称
1
A15
17
A17
33
I/O3
2
A14
18
A7
34
I/O11
3
A13
19
A6
35
I/O4
4
A12
20
A5
36
I/O12
5
A11
21
A4
37
V
DD
6
A10
22
A3
38
I/O5
7
A9
23
A2
39
8
A8
24
A1
40
9
A19
25
A0
41
10
NC
26
CE1
11
读/写
27
GND
43
12
CE2
28
OE
13
OP
29
I/O1
14
UB
15
LB
31
I/O2
16
A18
32
I/O10
48
A16
30
I/O9
42
44
I / O13 I / O6
I / O14 I / O7
I / O15 I / O8
45
46
47
I / O16 GND
字节
/A-1
2002-08-29
1/14
TC55VBM416AFTN55
框图
CE
A0
A8
A9
A10
A11
A12
A13
A14
A15
A16
A18
A19
I/O1
I/O2
I/O3
I/O4
I/O5
I/O6
I/O7
I/O8
I/O9
I/O10
I/O11
I/O12
I/O13
I/O14
I/O15
I/O16
V
DD
GND
存储单元阵列
4,096
×
256
×
16
(16,777,216)
行地址
卜FF器
行地址
注册
行地址
解码器
SENSE AMP
数据
产量
卜FF器
CE
A-1
A1
A2
A3
A4
A5
A6
A17
A7
数据
输入
卜FF器
列地址
解码器
列地址
注册
列地址
卜FF器
时钟
发电机
CE1
CE2
LB
CE
UB
读/写
OE
字节
数据
产量
卜FF器
数据
输入
卜FF器
2002-08-29
2/14
TC55VBM416AFTN55
经营模式
模式
CE1
CE2
H
H
H
H
H
H
H
H
H
H
H
H
*
L
*
OE
读/写
H
H
H
H
L
L
L
L
H
H
H
H
*
*
*
字节
L
H
H
H
L
H
H
H
L
H
H
H
H或L
H或L
H
LB
*
L
H
L
*
L
H
L
*
L
H
L
*
*
H
UB
I/O1~I/O8
产量
产量
高-Z
产量
输入
输入
高-Z
输入
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
I/O9~I/O15
高-Z
产量
产量
高-Z
高-Z
输入
输入
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
A-1
I/O16
动力
I
DDO
I
DDO
I
DDO
I
DDO
I
DDO
I
DDO
I
DDO
I
DDO
I
DDO
I
DDO
I
DDO
I
DDO
I
DDS
I
DDS
I
DDS
L
L
L
L
L
L
L
L
L
输出取消
L
L
L
H
待机
*
*
*
=不关心
H =逻辑高
L =逻辑低
L
L
L
L
*
*
*
*
H
H
H
H
*
*
*
*
L
L
H
*
L
L
H
*
L
L
H
*
*
H
产量
产量
高-Z
A-1
输入
输入
高-Z
A-1
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
高-Z
最大额定值
符号
V
DD
V
IN
V
I / O
P
D
T
SOLDER
T
英镑
T
OPR
电源电压
输入电压
输入/输出电压
功耗
焊接温度( 10秒)
储存温度
工作温度
等级
价值
0.3~4.2
0.3*~4.2
0.5~V
DD
+
0.5
0.6
260
55~150
40~85
单位
V
V
V
W
°C
°C
°C
*:
2.0
V电压为20ns的脉冲宽度测量时
DC推荐工作条件(
Ta
=
40℃至85℃
)
符号
V
DD
V
IH
V
IL
V
DH
参数
电源电压
输入高电压
输入低电压
数据保持电源电压
V
DD
=
2.3 V~2.7 V
V
DD
=
2.7 V~3.6 V
2.3
2.0
2.2
0.3*
1.5
V
DD
×
0.24
3.6
V
V
典型值
最大
3.6
V
DD
+
0.3
单位
V
V
*:
2.0
V电压为20ns的脉冲宽度测量时
2002-08-29
3/14
TC55VBM416AFTN55
DC特性
(大
=
40 °至85° C,V
DD
=
2.3 3.6 V)
符号
I
IL
I
OH
I
OL
I
LO
参数
输入漏
当前
输出高电流
输出低电流
输出漏
当前
V
IN
=
0 V~V
DD
V
OH
=
V
DD
0.5 V
V
OL
=
0.4 V
CE1
=
V
IH
或CE2
=
V
IL
或LB
=
UB
=
V
IH
or
读/写
=
V
IL
or
OE
=
V
IH
, V
OUT
=
0 V~V
DD
CE1
=
V
IL
和CE2
=
V
IH
读/写
=
V
IH
,磅
=
UB
=
V
IL
,
I
OUT
=
0毫安,
其他输入
=
V
IH
/V
IL
CE1
=
0.2 V和CE2
=
V
DD
0.2 V和
读/写
=
V
DD
0.2 V , LB
=
UB
=
0.2 V,
I
OUT
=
0毫安,
其他输入
=
V
DD
0.2 V/0.2 V
测试条件
0.5
2.1
t
周期
1
s
t
周期
1
s
典型值
最大
±1.0
±1.0
35
单位
A
mA
mA
A
0.9
l
DDO1
工作电流
l
DDO2
mA
8
30
mA
3
1
mA
I
DDS1
1)
CE1
=
V
IH
或CE2
=
V
IL
(以字节
V
DD
0.2 V或
0.2 V)
2 ) LB
=
UB
=
V
IH
(以字节
V
DD
0.2 V)
1)
CE1
=
V
DD
0.2 V , CE2
=
V
DD
=
Ta
= 40~85°C
V
DD
0.2 V (以字节
V
DD
3.3 V
±
0.3 V
0.2 V或
0.2 V)
Ta
=
25°C
2 ) CE2
=
0.2 V (以字节
V
DD
0.2 V或
0.2 V)
V
DD
=
3.0 V的Ta
= 40~40°C
3 ) LB
=
UB
=
V
DD
0.2 V,
CE1
=
0.2 V , CE2
=
V
DD
0.2
Ta
= 40~85°C
V(以字节
V
DD
0.2 V)
15
A
3
8
待机电流
I
DDS2
电容
(大
=
25 ° C,F
=
1兆赫)
符号
C
IN
C
OUT
注意:
参数
输入电容
输出电容
V
IN
=
GND
V
OUT
=
GND
测试条件
最大
10
10
单位
pF
pF
此参数是周期性采样,而不是100%测试。
2002-08-29
4/14
TC55VBM416AFTN55
(大
=
40 °至85° C,V
DD
=
2.7至3.6 V )
读周期
符号
t
RC
t
t
CO1
t
CO2
t
OE
t
BA
t
COE
t
OEE
t
BE
t
OD
t
ODO
t
BD
t
OH
读周期时间
地址访问时间
芯片使能(
CE1
)访问时间
芯片使能( CE2 )访问时间
输出启用访问时间
数据字节的控制访问时间
芯片使能低到输出有效
输出使能低到输出有效
数据字节控制低到输出有效
芯片使能高到输出高阻
输出使能高到输出高阻
数据字节控制高到输出高阻
输出数据保持时间
参数
55
5
0
5
10
最大
55
55
55
30
55
25
25
25
ns
单位
交流特性和操作条件
写周期
符号
t
WC
t
WP
t
CW
t
BW
t
AS
t
WR
t
ODW
t
OEW
t
DS
t
DH
注意:
写周期时间
把脉冲宽度
芯片使能写操作的结束
数据字节的控制来写结束
地址建立时间
写恢复时间
R / W低到输出高阻
R / W高到输出有效
数据建立时间
数据保持时间
参数
55
40
45
45
0
0
0
25
0
最大
25
ns
单位
t
OD
, t
ODO
, t
BD
和T
ODW
中时的输出变成高阻抗的时间被指定,并且根据所判断出没有
的输出电压电平。
2002-08-29
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