STD4NS25
N沟道250V - 0.9Ω - 4A DPAK / IPAK
MESH OVERLAY MOSFET
TYPE
STD4NS25
s
s
s
s
V
DSS
250 V
R
DS ( ON)
< 1.1
I
D
4A
典型
DS
(上) = 0.9
DV dt能力极高/
100%的雪崩测试
加后缀“ T4 ” ,供订购在磁带&
REEL
3
1
DPAK
TO-252
IPAK
TO-251
1
3
2
描述
采用了最新的高电压MESH OVERLAY
过程中,意法半导体设计了一个AD-
vanced系列功率MOSFET具有突出的
性能。新专利带布局cou-
PLED与本公司专有的边缘端接
化结构,使得它适合于coverters的
照明应用。
内部原理图
应用
s
大电流,高开关速度
s
SWITH模式电源( SMPS )
s
DC- DC转换器,用于电信,
工业,照明设备
绝对最大额定值
符号
V
DS
V
DGR
V
GS
I
D
I
D
I
DM
(
q
)
P
合计
dv / dt的( 1 )
T
英镑
T
j
参数
漏源电压(V
GS
= 0)
漏,栅极电压(R
GS
= 20 k)
栅 - 源电压
漏电流(连续的)在T
C
= 25°C
漏电流(连续的)在T
C
= 100°C
漏电流(脉冲)
总功耗在T
C
= 25°C
降额因子
峰值二极管恢复电压斜率
储存温度
马克斯。工作结温
价值
250
250
± 20
4
2.5
16
50
0.4
5
-65到150
150
(1) I
SD
≤
4A ,二/ dt≤300 A / μs的,V
DD
≤
V
( BR ) DSS
, Tj≤T
JMAX
单位
V
V
V
A
A
A
W
W / ℃,
V / ns的
°C
°C
( )脉冲宽度有限的安全工作区
2001年2月
1/9
STD4NS25
电气特性
(续)
接通
符号
t
D(上)
t
r
Q
g
Q
gs
Q
gd
参数
导通延迟时间
上升时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
测试条件
V
DD
= 125 V,I
D
= 2 A
R
G
= 4.7 V
GS
= 10 V
(见测试电路,图3 )
V
DD
= 200V ,我
D
= 4 A,
V
GS
= 10V
分钟。
典型值。
12
18
19
3.2
7.5
27
马克斯。
单位
ns
ns
nC
nC
nC
关闭
符号
t
D( Voff时)
t
f
t
R( Voff时)
t
f
t
c
参数
开启OFF-延迟时间
下降时间
关闭电压上升时间
下降时间
交叉时间
测试条件
V
DD
= 125V ,我
D
= 2 A,
R
G
= 4.7, V
GS
= 10V
(见测试电路,图3 )
V
钳
= 200V ,我
D
= 4 A,
R
G
= 4.7, V
GS
= 10V
(见测试电路,图5 )
分钟。
典型值。
70
10.5
13
10
21.5
马克斯。
单位
ns
ns
ns
ns
ns
源漏二极管
符号
I
SD
I
SDM
(2)
V
SD
(1)
t
rr
Q
rr
I
RRM
参数
源极 - 漏极电流
源极 - 漏极电流(脉冲)
正向电压上
反向恢复时间
反向恢复电荷
反向恢复电流
I
SD
= 4 A,V
GS
= 0
I
SD
= 4 A的di / dt = 100A / μs的
V
DD
= 30V ,T
j
= 150°C
(见测试电路,图5 )
124
0.5
7.2
测试条件
分钟。
典型值。
马克斯。
4
16
1.5
单位
A
A
V
ns
C
A
注: 1。脉冲:脉冲宽度= 300微秒,占空比为1.5% 。
2.脉冲宽度有限的安全工作区。
安全工作区
热阻抗
3/9