STB160NF03L
N沟道30V - 0.0021Ω - 160A D2PAK
的STripFET 功率MOSFET
TYPE
STB160NF03L
s
s
s
s
s
V
DSS
30 V
R
DS ( ON)
< 0.0030
I
D
160 A
典型
DS
(上) = 0.0021Ω
低阈值DRIVE
超低导通电阻
栅电荷极低
100%的雪崩测试
3
1
D
2
PAK
(TO-263)
描述
这是功率MOSFET的最新发展
意法半导体独有的“单一特征
SIZE
”
条形基础的过程。由此产生的转录
体管显示了极高的堆积密度
超低导通电阻,优越的开关字符
开创性意义和不太重要的调整措施,因此
一个了不起的制造重复性。这
装置特别适合于高电流,低
电压开关应用中的效率
至关重要的。
内部原理图
应用
s
在BUCK变换器高
性能电信和VRM的
s
DC- DC转换器
绝对最大额定值
符号
V
DS
V
DGR
V
GS
I
D
(1)
I
D
I
DM
(
q
)
P
合计
E
AS
(2)
T
英镑
T
j
参数
漏源电压(V
GS
= 0)
漏,栅极电压(R
GS
= 20 k)
栅 - 源电压
漏电流(连续的)在T
C
= 25°C
漏电流(连续的)在T
C
= 100°C
漏电流(脉冲)
总功耗在T
C
= 25°C
降额因子
单脉冲雪崩能量
储存温度
马克斯。工作结温
价值
30
30
±15
160
113
640
300
2
2
-65 175
175
( 1 )限制了包
(2) I
SD
≤100A,
的di / dt
≤300A/s,
V
DD
≤
V
( BR ) DSS
, T
j
≤
T
JMAX 。
单位
V
V
V
A
A
A
W
W / ℃,
J
°C
°C
(
q
)脉冲宽度LIMI泰德由安全工作区
2001年2月
1/9
STB160NF03L
电气特性
(续)
接通
符号
t
D(上)
t
r
Q
g
Q
gs
Q
gd
参数
导通延迟时间
上升时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
测试条件
V
DD
= 15V ,我
D
= 80A
R
G
= 4.7 V
GS
= 10V
(见测试电路,图3 )
V
DD
= 24V ,我
D
= 160A,
V
GS
= 10V
分钟。
典型值。
28
285
123
21
40
马克斯。
单位
ns
ns
nC
nC
nC
关闭
符号
t
D(关闭)
t
f
t
D(关闭)
t
f
t
c
参数
关断延迟时间
下降时间
关闭电压上升时间
下降时间
交叉时间
测试康迪特离子
V
DD
= 15V ,我
D
= 80A,
R
G
= 4.7, V
GS
= 10V
(见测试电路,图5 )
VCLAMP = 24V ,我
D
=40A
R
G
= 4.7, V
GS
= 10V
分钟。
典型值。
110
65
110
35
70
马克斯。
单位
ns
ns
ns
ns
ns
源漏二极管
符号
I
SD
I
SDM
(1)
V
SD
(2)
t
rr
Q
rr
I
RRM
参数
源极 - 漏极电流
源极 - 漏极电流(脉冲)
正向电压上
反向恢复时间
反向恢复电荷
反向恢复电流
I
SD
= 160A ,V
GS
= 0
I
SD
= 80A ,的di / dt = 100A / μs的,
V
DD
= 15V ,T
j
= 25°C
(见测试电路,图5 )
80
180
4.5
测试条件
分钟。
典型值。
马克斯。
160
640
1.3
单位
A
A
V
ns
nC
A
注: 1。脉冲:脉冲宽度= 300
s,
占空比为1.5% 。
2.脉冲宽度有限的安全工作区。
安全工作区
热阻抗
3/9