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SSM6K06FU
东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型
SSM6K06FU
高速开关应用
小型封装
低导通电阻,R
on
= 160 mΩ以下( @V
GS
= 4 V)
: R
on
= 210 mΩ以下( @V
GS
= 2.5 V)
低栅极阈值电压
单位:mm
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
栅源电压
漏电流
DC
脉冲
符号
V
DS
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
(注1 )
T
ch
T
英镑
等级
20
±12
1.1
2.2
300
150
55~150
单位
V
V
A
漏极功耗(大
=
25°C)
通道温度
存储温度范围
mW
°C
°C
JEDEC
注意:
JEITA
重负载下连续使用(例如应用
东芝
2-2J1D
高温/电流/电压和在显著变化
温度等)可能会导致此产品在减少
重量: 6.8毫克(典型值)。
可靠性显著即使工作条件下(即
工作温度/电流/电压等)内的
绝对最大额定值。
请在审查东芝半导体可靠性手册设计适当的可靠性
( “注意事项” / “降额的概念和方法” )和个人数据的可靠性(即可靠性试验
报告与估计的故障率,等)。
注1 :安装在FR4板。
(25.4 mm
×
25.4 mm
×
1.6吨,铜垫: 0.32毫米
2
×
6)如图1所示。
记号
等效电路
( TOP VIEW )
操作注意事项
当处理单个设备(其尚未安装在电路板),确保该环境
防止静电电。操作人员应穿防静电服装,以及集装箱等
这都与设备直接接触的物体应采用防静电材料。
1
2007-11-01
SSM6K06FU
电气特性
(大
=
25°C)
特征
栅极漏电流
漏源击穿电压
排水截止电流
栅极阈值电压
正向转移导纳
漏源导通电阻
输入电容
反向传输电容
输出电容
开关时间
开启时间
打开-O FF时间
符号
I
GSS
V
( BR ) DSS
I
DSS
V
th
Y
fs
R
DS ( ON)
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
on
t
关闭
测试条件
V
GS
= ±12
V, V
DS
=
0
I
D
=
1毫安,V
GS
=
0
V
DS
=
20 V, V
GS
=
0
V
DS
=
3 V,I
D
=
0.1毫安
V
DS
=
3 V,I
D
=
0.5 A
I
D
=
0.5 A ,V
GS
=
4 V
I
D
=
0.5 A ,V
GS
=
2.5 V
(注2 )
(注2 )
(注2 )
20
0.6
1.2
典型值。
120
160
125
30
75
42
100
最大
±1
1
1.1
160
210
单位
μA
V
μA
V
S
pF
pF
pF
ns
V
DS
=
10 V, V
GS
=
0中,f = 1 MHz的
V
DS
=
10 V, V
GS
=
0, f
=
1兆赫
V
DS
=
10 V, V
GS
=
0, f
=
1兆赫
V
DD
=
10 V,I
D
=
0.5 A ,V
GS
=
0~2.5 V,
R
G
=
4.7
Ω
注2 :脉冲测试
开关时间测试电路
注意事项
V
th
可表示为栅极和源极之间的电压时,低工作电流值是我
D
=
100
μA
为了这
产品。对于正常的开关操作,V
GS (上)
需要更高的电压比V
th
和V
GS (关闭)
要求较低
电压比V
th
.
(关系,可以建立如下:V
GS (关闭)
& LT ;
V
th
& LT ;
V
GS (上)
)
请考虑到这一点,使用该设备。
2
2007-11-01
SSM6K06FU
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SSM6K06FU
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SSM6K06FU
图1
25.4 mm
×
25.4 mm
×
1.6吨,铜垫: 0.32毫米
2
×
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2007-11-01
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    电话:0755-82780082
    联系人:杨小姐
    地址:深圳市福田区振兴路156号上步工业区405栋3层

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