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SSM5H14F
硅N沟道MOS型(U - MOSⅢ ) /硅外延肖特基二极管
SSM5H14F
电池组的保险丝熔断的应用
1.8 -V驱动器
一个N沟道MOSFET和肖特基势垒二极管在一个封装中。
低R
DS ( ON)
低V
F
单位:mm
绝对最大额定值
MOSFET
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
栅源电压
漏电流
漏极功耗
通道温度
DC
脉冲
符号
V
DSS
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
(注1 )
T
ch
等级
30
±12
3.0
6.0
0.75
150
单位
V
V
A
W
°C
1.门
2.源
3.阳极
4.阴极
5.排水
肖特基二极管
(大
=
25°C)
特征
最大(峰值)反向电压
反向电压
平均正向电流
最大(峰值)正向电流
浪涌电流( 10毫秒)
结温
符号
V
RM
V
R
I
O
I
FM
I
FSM
T
j
等级
45
40
100
300
1
125
单位
V
V
mA
mA
A
°C
SMV
JEDEC
JEITA
东芝
SC-74A
2-3L1F
重量: 14毫克(典型值)。
MOSFET和二极管
(大
=
25°C)
特征
存储温度范围
工作温度范围
符号
T
英镑
T
OPR
等级
55
到125
40
100
单位
°C
°C
注:在重负载下连续使用(如高温/电流/电压和应用
在温度等显著变化)可能会导致此产品的可靠性降低显著即使
的操作条件(即工作温度/电流/电压等)内的绝对最大
收视率。
请在审查东芝半导体可靠性手册设计适当的可靠性
( “注意事项” / “降额的概念和方法” )和个人数据的可靠性(即可靠性试验
报告与估计的故障率,等)。
2
注1 :安装在FR4电路板(25.4毫米
×
25.4 mm
×
1.6毫米, Cu焊盘: 645毫米)
记号
5
4
等效电路(顶视图)
5
4
KEZ
1
2
3
1
2
3
1
2009-05-15
SSM5H14F
MOSFET
电气特性(Ta = 25 ° C)
特征
漏源击穿电压
排水截止电流
栅极漏电流
栅极阈值电压
正向转移导纳
符号
V
( BR ) DSS
V
( BR ) DSX
I
DSS
I
GSS
V
th
|Y
fs
|
R
DS ( ON)
C
国际空间站
C
OSS
C
RSS
Q
g
Q
gs
Q
gd
开启时间
打开-O FF时间
t
on
t
关闭
V
DSF
V
DD
= 15 V,I
D
= 3.0 A
V
GS
= 4 V
V
DD
=
10 V,I
D
=
2 A
V
GS
=
0 2.5 V ,R
G
=
4.7
Ω
I
D
=
-3.0 A,V
GS
=
0 V
(Note2)
V
DS
=
10 V, V
GS
=
0 V,F
=
1兆赫
测试条件
I
D
=
1毫安,V
GS
=
0 V
I
D
=
1毫安,V
GS
=
-12 V
V
DS
=30
V, V
GS
=
0 V
V
GS
= ±12
V, V
DS
=
0 V
V
DS
=
3 V,I
D
=
1毫安
V
DS
=
3 V,I
D
=
2.0 A
I
D
=
2.0 A,V
GS
=
4.0 V
漏源导通电阻
I
D
=
1.0 A,V
GS
=
2.5 V
I
D
=
0.5 A ,V
GS
=
1.8 V
输入电容
输出电容
反向传输电容
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
开关时间
(Note2)
(Note2)
(Note2)
(Note2)
30
18
0.4
3.8
典型值。
7.7
59
71
88
270
56
47
4.3
2.8
1.5
20
31
–0.85
最大
1
±1
1.0
78
94
138
–1.2
ns
V
nC
pF
单位
V
μA
μA
V
S
漏源正向电压
注2 :脉冲测试
开关时间测试电路
( a)测试电路
2.5 V
0
10
μs
V
DD
OUT
V
DD
=
10 V
R
G
=
4.7
Ω
D.U.≤ 1 %
V
IN
: t
r
, t
f
& LT ;
5纳秒
常见的来源
Ta
=
25°C
(二)V
IN
2.5 V
10%
90%
IN
0V
V
DD
(三)V
OUT
V
DS ( ON)
t
on
t
r
90%
10%
t
f
t
关闭
注意事项
V
th
可表示为栅极和源极之间的电压时,低工作电流值是我
D =
对于1毫安
此产品。对于正常的开关操作,V
GS (上)
需要较高的电压比V
th
和V
GS (关闭)
需要
电压比V低
th
.
(该关系,可以建立如下:V
GS (关闭)
& LT ;
V
th
& LT ;
V
GS (上)
)
请务必在使用该设备时要考虑到这一点。
2
2009-05-15
SSM5H14F
肖特基二极管
电气特性
(大
=
25°C)
特征
符号
V
F (1)
正向电压
V
F (2)
V
F (3)
反向电流
总电容
I
R
C
T
测试条件
I
F
= 1毫安
I
F
= 10毫安
I
F
= 100毫安
V
R
= 40 V
V
R
= 0 V , F = 1mHz的
典型值。
0.28
0.36
0.54
18
最大
0.60
5
25
μA
pF
V
单位
操作注意事项
当处理尚未安装在电路板上的各个装置中,确保环境
防止静电放电。操作人员应穿防静电服装,以及集装箱和其他对象
直接接触与设备应当抗静电材料。
该通道到环境热阻R
第(章-a)的
和漏极功耗P
D
根据董事会各不相同
材料,电路板面积,板的厚度和板面积。使用本设备时,一定要采取散热充分考虑
帐户。
3
2009-05-15
SSM5H14F
MOS FET
I
D
– V
DS
5
10 V
4.0 V 2.5 V
10
常见的来源
VDS
=
3 V
I
D
– V
GS
(A)
1.8 V
I
D
3
I
D
漏电流
(A)
4
1
漏电流
0.1
2
VGS = 1.5 V
1
常见的来源
Ta
=
25 °C
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
0.01
Ta
=
100 °C
25 °C
25 °C
0.001
0
0.0001
0
1.0
2.0
漏源电压
V
DS
(V)
栅源电压
V
GS
(V)
R
DS ( ON)
– V
GS
200
ID
=0.5A
常见的来源
150
Ta
=
25°C
200
R
DS ( ON)
– I
D
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(mΩ)
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(mΩ)
150
100
Ta
=
100 °C
50
25 °C
25 °C
0
100
1.8 V
2.5 V
50
VGS = 4.0
常见的来源
Ta
=
25°C
0
2
4
6
8
10
0
0
1
2
3
4
5
栅源电压
V
GS
(V)
漏电流
I
D
(A)
R
DS ( ON)
- TA
300
1.0
V
th
- TA
常见的来源
V
th
(V)
常见的来源
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(mΩ)
250
VDS
=
3V
ID
=
1毫安
150
0.5 A / 1.8 V
1.0 A / 2.5 V
栅极阈值电压
200
0.5
100
ID
=
2.0 A / VGS
=
4.0 V
50
0
50
0
50
100
150
0
50
0
50
100
150
环境温度
Ta
(°C)
环境温度
Ta
(°C)
4
2009-05-15
SSM5H14F
MOS FET
.
(S)
10
常见的来源
|Y
fs
| – I
D
10
VDS
=
3 V
Ta
=
25°C
3
常见的来源
VGS
=
0 V
D
1
G
I
DR
I
DR
– V
DS
Y
fs
正向转移导纳
反向漏电流
I
DR
(A)
S
0.1
TA = 100℃
1
0.3
0.01
25 °C
25
°C
0.1
0.01
0.1
1
10
0.001
0
–0.2
–0.4
–0.6
–0.8
–1.0
漏电流
I
D
(A)
漏源电压
V
DS
(V)
- V
DS
1000
吨 - 我
D
1000
常见的来源
VDD
=
10 V
VGS
=
0至2.5 V
Ta
=
25 °C
RG
=
4.7Ω
500
(PF )
300
西塞
(纳秒)
花花公子
100
C
tf
电容
100
50
30
常见的来源
Ta
=
25°C
f
=
1兆赫
VGS
=
0 V
1
10
科斯
CRSS
开关时间
t
10
tr
10
0.1
100
1
0.01
0.1
1
10
漏源电压
V
DS
(V)
漏电流
I
D
(A)
动态输入特性
10
常见的来源
V
GS
(V)
ID
=
3 A
8
Ta
=
25°C
栅源电压
6
VDD=15V
4
VDD=24V
2
0
0
4
8
12
总栅极电荷
Qg
( NC )
5
2009-05-15
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