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SSF0115
羽毛:
先进的加工技术
雪崩能量, 100 %测试
充分界定雪崩电压和电流
描述:
该SSF0115是新一代高电压和低
当前N沟道增强型沟道功率
MOSFET。这种新技术提高了设备的可靠性
和电参数的可重复性。 SSF0115组装
在高可靠性和合格的装配厂。
应用:
符合IEEE802.3af兼容
SSF0115顶视图( SOT- 223 )
ID = 3A
BV=100V
Rdson=0.15
绝对最大额定值
参数
I
D
@T
c
=25
C
I
D
@T
c
=100C
I
DM
P
D
@T
C
=25C
V
GS
E
AS
E
AR
dv / dt的
T
J
T
英镑
热阻
参数
R
θJA
结到环境
分钟。
典型值。
马克斯。
69
单位
C / W
连续漏电流, VGS @ 10V
连续漏电流, VGS @ 10V
漏电流脉冲
功耗
线性降额因子
栅极 - 源极电压
单脉冲雪崩能量
重复性雪崩能量
峰值二极管恢复电压
工作结
存储温度范围
-55到+150
马克斯。
3
2.3
12
1.8
0.019
±20
79
待定
W
W/
C
V
mJ
mJ
V / ns的
C
A
单位
*当安装在推荐的最小尺寸PAS ( PCB安装) 。
电气特性@ TJ = 25
℃(除非另有规定)
参数
BV
DSS
V
GS ( TH)
I
DSS
漏极至源极击穿电压
栅极阈值电压
漏极至源极漏电流
栅 - 源正向漏
栅 - 源反向漏
R
DS ( ON)
静态漏 - 源极导通电阻
分钟。
100
2.0
2009.6.10
典型值。
0.09
MAX 。单位
0.15
4.0
1
10
100
-100
μA
V
V
测试条件
V
GS
=0V,I
D
=250μA
V
GS
=10V,I
D
=2A
V
DS
=V
GS
,I
D
=250μA
V
DS
=30V,V
GS
=0V
V
DS
=100V,
V
GS
=0V,T
J
=150C
V
GS
=20V
V
GS
=-20V
版本: 1.0
页面
1of5
I
GSS
nA
Silikron半导体有限公司。
SSF0115
Q
g
Q
gs
Q
gd
t
D(上)
t
r
t
D(关闭)
t
f
C
国际空间站
C
OSS
C
RSS
总栅极电荷
栅极 - 源极充电
栅极 - 漏极( "Miller" )收费
导通延迟时间
上升时间
打开-O FF延迟时间
下降时间
输入电容
输出电容
反向传输电容
18
2.7
7.8
12
12
33
26
350
90
35
22
40
40
85
68
480
110
45
pF
nS
V
DD
=50V
I
D
= 9.2A ,R
L
=5.4
R
G
=18
V
GS
=10V
V
GS
=0V
V
DS
=25V
f=1.0MHZ
nC
I
D
=9.2A,V
GS
=10V
V
DD
=80V,RL=8.6
源极 - 漏极额定值和特性
参数
I
S
I
SM
连续源电流
(体二极管)
脉冲源电流
(体二极管)
反向恢复时间
向前开启时间
.
.
分钟。
典型值。
98
0.34
马克斯。
3
A
18
1.3
V
nS
μC
单位
测试条件
MOSFET符号
展示
整体反转
p-n结二极管。
T
J
=25C,I
S
=3A,V
GS
=0V
T
J
=25C,I
F
=9.2A
di/dt=100A/μs
V
SD
二极管的正向电压
t
rr
t
on
Q
rr
反向恢复电荷
固有的导通时间是可以忽略不计(开启由LS主导+ LD )
注意事项:
重复评价;脉冲宽度有限的最高结温。
测试条件: L = 30mH , VDD = 50V ,ID = 2.3A
脉冲width≤300μS ,值班cycle≤1.5 % ; RG = 25Ω
开始TJ = 25°C
Silikron半导体有限公司。
2009.6.10
版本: 1.0
页面
2of5
SSF0115
EAS测试电路:
栅极电荷测试电路:
开关时间测试电路:
开关波形:
栅极电荷
源极 - 漏极二极管正向电压
Silikron半导体有限公司。
2009.6.10
版本: 1.0
页面
3of5
SSF0115
在电阻与结温
击穿电压VS结温
安全工作区
最大漏电流与结温
瞬态热阻抗曲线
Silikron半导体有限公司。
2009.6.10
版本: 1.0
页面
4of5
SSF0115
SOT- 223机械数据:
Silikron半导体有限公司。
2009.6.10
版本: 1.0
页面
5of5
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    SSF0115
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    -
    -
    -
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联系人:朱
地址:福田区红荔路上步工业区201栋西座316
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