SPW11N60S5
酷MOS 功率晶体管
特征
新的革命高电压技术
超低栅极电荷
周期性的额定雪崩
至尊的dv / dt评分
超低电容有效
改进的跨导
V
DS
R
DS ( ON)
I
D
600
0.38
11
PG-TO247
V
A
TYPE
SPW11N60S5
包
PG-TO247
订购代码
Q67040-S4239
记号
11N60S5
最大额定值
参数
符号
I
D
价值
单位
连续漏电流
T
C
= 25 °C
T
C
= 100 °C
A
11
7
脉冲漏极电流,
t
p
受
T
JMAX
雪崩能量,单脉冲
I
D
= 5.5 A,
V
DD
= 50 V
I
D
PULS
E
AS
22
340
0.6
11
±20
±
30
mJ
雪崩能量,重复
t
AR
受
T
JMAX
1)
E
AR
I
D
= 11 A,
V
DD
= 50 V
雪崩电流,重复性
t
AR
受
T
JMAX
I
AR
门源电压
V
GS
栅极 - 源极电压AC (F >1Hz )
功耗,
T
C
= 25°C
A
V
W
°C
V
GS
P
合计
T
j
,
T
英镑
125
-55... +150
工作和存储温度
修订版2.4
第1页
2008-02-11
请注意,新的封装尺寸arccording到PCN 2009-134 -A
SPW11N60S5
最大额定值
参数
漏源电压斜率
V
DS
= 480 V,
I
D
= 11 A,
T
j
= 125 °C
符号
dv / dt的
价值
20
单位
V / ns的
热特性
参数
热阻,结 - 案
热阻,结 - 环境,含铅
符号
分钟。
R
thJC
R
thJA
-
-
值
典型值。
-
-
马克斯。
1
62
K / W
单位
焊接温度,
波峰焊接
从案例10秒1.6毫米( 0.063英寸)
T
出售
-
-
260
°C
电气特性,
at
Tj=25°C
除非另有说明
参数
符号
条件
分钟。
漏源击穿电压
V
( BR ) DSS
V
GS
=0V,
I
D
=0.25mA
漏源雪崩
击穿电压
栅极阈值电压
零栅极电压漏极电流
V
GS ( TH)
I
DSS
I
D
=500Α,
V
GS
=V
DS
V
DS
=600V,
V
GS
=0V,
T
j
=25°C,
T
j
=150°C
值
典型值。
-
700
4.5
-
-
-
0.34
0.92
29
马克斯。
-
-
5.5
600
-
3.5
-
-
-
-
-
-
单位
V
V
( BR ) DS
V
GS
=0V,
I
D
=11A
A
25
250
100
0.38
-
-
nA
栅极 - 源极漏电流
I
GSS
V
GS
=20V,
V
DS
=0V
V
GS
=10V,
I
D
=7A,
T
j
=25°C
T
j
=150°C
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
门输入电阻
R
G
f=1MHz,
漏极开路
修订版2.4
第2页
2008-02-11
请注意,新的封装尺寸arccording到PCN 2009-134 -A
SPW11N60S5
电气特性
在
T
j
= 25℃,除非另有说明
参数
特征
跨
输入电容
输出电容
反向传输电容
符号
条件
分钟。
值
典型值。
6
1460
610
21
45
85
130
35
150
20
马克斯。
-
-
-
-
-
-
-
-
225
30
单位
g
fs
C
国际空间站
C
OSS
C
RSS
V
DS
≥
2*
I
D
*
R
DS ( ON)最大值
,
I
D
=7A
-
-
-
-
-
-
S
pF
V
GS
=0V,
V
DS
=25V,
f=1MHz
有效输出电容,
2)
C
O( ER )
能源相关
有效输出电容,
3)
C
O( TR )
时间相关
导通延迟时间
上升时间
打开-O FF延迟时间
下降时间
V
GS
=0V,
V
DS
= 0V至480V
pF
t
D(上)
t
r
t
D(关闭)
t
f
V
DD
=350V,
V
GS
=0/10V,
I
D
=11A,
R
G
=6.8
-
-
-
-
ns
栅极电荷特性
门源费
Q
gs
栅漏电荷
栅极电荷总量
栅极电压平台
Q
gd
Q
g
V
DD
=350V,
I
D
=11A
-
-
-
-
10.5
24
41.5
8
-
-
54
-
nC
V
DD
=350V,
I
D
=11A,
V
GS
= 0至10V
V
(高原)
V
DD
=350V,
I
D
=11A
V
1Repetitve雪崩使得可以计算为额外的功率损耗
P
=E
AR
*f.
AV
2
C
O( ER )
是一个固定的电容,给相同的存储的能量作为
C
OSS
而
V
DS
上升,从0至80%
V
DSS
.
3
C
O( TR )
是一个固定的电容,赋予相同的充电时间作为
C
OSS
而
V
DS
上升,从0至80%
V
DSS
.
修订版2.4
第3页
2008-02-11
请注意,新的封装尺寸arccording到PCN 2009-134 -A
SPW11N60S5
电气特性,
at
T
j
= 25℃,除非另有说明
参数
逆二极管连续
正向电流
逆二极管直流,
脉冲
逆二极管正向电压
反向恢复时间
反向恢复电荷
V
SD
t
rr
Q
rr
V
GS
=0V,
I
F
=I
S
V
R
=350V,
I
F
=I
S
,
di
F
/dt=100A/s
符号
I
S
I
SM
条件
分钟。
T
C
=25°C
值
典型值。
-
-
1
650
7.9
马克斯。
11
22
1.2
1105
-
-
-
-
-
-
单位
A
V
ns
C
典型的瞬态热特性
符号
热阻
R
th1
R
th2
R
th3
R
th4
R
th5
R
th6
0.015
0.03
0.056
0.197
0.216
0.083
K / W
价值
典型值。
单位
符号
价值
典型值。
单位
热容
C
th1
C
th2
C
th3
C
th4
C
th5
C
th6
0.0001878
0.0007106
0.000988
0.002791
0.007285
0.063
WS / K
T
j
R
th1
R
日,正
T
例
xternal eatsink
P
合计
(t)
C
th1
C
th2
C
日,正
T
上午B
修订版2.4
第4页
2008-02-11
请注意,新的封装尺寸arccording到PCN 2009-134 -A
SPW11N60S5
1功耗
P
合计
=
f
(
T
C
)
140
SPW11N60S5
2安全工作区
I
D
=
f
(
V
DS
)
参数:
D
= 0 ,
T
C
=25°C
10
2
W
A
120
110
100
10
1
P
合计
80
70
60
50
40
30
20
10
0
0
20
40
60
80
100
120
10
-1
10
0
I
D
90
TP = 0.001毫秒
TP = 0.01毫秒
TP = 0.1毫秒
TP = 1毫秒
DC
°C
160
10
-2 0
10
10
1
10
2
T
C
10
V
V
DS
3
3瞬态热阻抗
Z
thJC
=
f
(t
p
)
参数:
D
=
t
p
/T
10
1
4典型。输出特性
I
D
=
f
(
V
DS
);
T
j
=25°C
参数:
t
p
= 10 s,
V
GS
35
K / W
A
10
0
25
10
-1
20V
12V
10V
Z
thJC
I
D
20
9V
10
-2
10
-3
D = 0.5
D = 0.2
D = 0.1
D = 0.05
D = 0.02
D = 0.01
单脉冲
15
8V
10
7V
5
6V
10
-4
10
-7
10
-6
10
-5
10
-4
10
-3
s
t
p
10
-1
0
0
5
10
15
V
DS
25
V
修订版2.4
第5页
2008-02-11
请注意,新的封装尺寸arccording到PCN 2009-134 -A
SPW11N60S5
电气特性
在
T
j
= 25℃,除非另有说明
参数
特征
跨
输入电容
输出电容
反向传输电容
符号
条件
分钟。
值
典型值。
6
1460
610
21
45
85
130
35
150
20
马克斯。
-
-
-
-
-
-
-
-
225
30
单位
g
fs
C
国际空间站
C
OSS
C
RSS
V
DS
≥
2*
I
D
*
R
DS ( ON)最大值
,
I
D
=7A
-
-
-
-
-
-
S
pF
V
GS
=0V,
V
DS
=25V,
f=1MHz
有效输出电容,
2)
C
O( ER )
能源相关
有效输出电容,
3)
C
O( TR )
时间相关
导通延迟时间
上升时间
打开-O FF延迟时间
下降时间
V
GS
=0V,
V
DS
= 0V至480V
pF
t
D(上)
t
r
t
D(关闭)
t
f
V
DD
=350V,
V
GS
=0/10V,
I
D
=11A,
R
G
=6.8
-
-
-
-
ns
栅极电荷特性
门源费
Q
gs
栅漏电荷
栅极电荷总量
栅极电压平台
Q
gd
Q
g
V
DD
=350V,
I
D
=11A
-
-
-
-
10.5
24
41.5
8
-
-
54
-
nC
V
DD
=350V,
I
D
=11A,
V
GS
= 0至10V
V
(高原)
V
DD
=350V,
I
D
=11A
V
1Repetitve雪崩使得可以计算为额外的功率损耗
P
=E
AR
*f.
AV
2
C
O( ER )
是一个固定的电容,给相同的存储的能量作为
C
OSS
而
V
DS
上升,从0至80%
V
DSS
.
3
C
O( TR )
是一个固定的电容,赋予相同的充电时间作为
C
OSS
而
V
DS
上升,从0至80%
V
DSS
.
2.1版
第3页
2004-03-30