SN74LVTH18646A EP ， EP SN74LVTH182646A
3.3 V ABT扫描测试设备
采用18位收发器和寄存器
SCAS745A - 2003年12月 - 修订2004年4月
D
控制基线
D
D
D
D
D
D
D
- 一个封装/测试网站，一个制造
现场
提高制造业递减
源（ DMS ）支持
增强型产品更改通知
资质谱系
德州仪器成员
范围
家庭可测性产品
德州仪器成员
Widebus
家庭
一个国家的最先进的3.3 -V ABT设计，支持
混合模式信号操作（ 5 - V输入
输出电压采用3.3 V V
CC
)
支持非稳压电池操作
下降到2.7 V
D
包括D型触发器和控制
D
D
电路以提供复
存储和实时数据传输
在总线保持数据输入消除了
无需外部上拉/下拉
电阻器
SN74LVTH182646A的B端口输出
设备具有同等的25 Ω系列
电阻器，因此无需外部电阻器
需要
兼容IEEE标准1149.1-1990
（ JTAG ）测试访问端口和
边界扫描结构
SCOPE指令集
- IEEE标准1149.1-1990要求
说明和可选的夹具和
高阻
- 在输入并行信号分析
- 伪随机波形发生
输出
- 采样输入/输出切换
- 二进制计数从输出
- 设备标识
- 偶校验操作码
D
D
按照JEDEC和产业组件资质
标准，以确保可靠的操作在长时间
温度范围。这包括，但不限于，高
加速应力测试（ HAST ）或偏见85/85 ，温度
循环，高压灭菌器或偏见的HAST ，电，债券
间的生活，模塑料的使用寿命。该项资格
检测不应该被看作是证明使用该组件的
超出规定的性能和环境的限制。
描述/订购信息
该SN74LVTH18646A和SN74LVTH182646A扫描测试设备，具有18位总线收发器和寄存器，
是德州仪器（ TI ） SCOPE可测性集成电路家族的成员。该系列器件
支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，方便的复杂电路板组件的测试。扫描
访问该测试电路是通过4线测试访问端口（TAP ）接口来完成。
此外，这些设备被用于低电压（3.3 - V）专
CC
操作，但与
能力，以提供一个TTL接口到一个5 -V系统的环境。
在正常模式下，这些设备是18位总线收发器和寄存器，允许对复
发送直接从输入总线或从内部寄存器中的数据的。它们可以被用来作为两个
9位收发器或1个18位的收发器。测试电路可以通过TAP采取快照被激活
出现在设备引脚或数据的样本上的边界试验电池进行自测。激活
在正常模式下在TAP不会影响范围总线收发器的功能操作
和寄存器。
订购信息
TA
LQFP - PM
-40 ° C至85°C
LQFP - PM
包
磁带和卷轴
磁带和卷轴
订购
产品型号
8V18646AIPMREP
8V182646AIPMREP§
TOP- SIDE
记号
LH18646AEP
包装图纸，标准包装数量，热数据，符号和PCB设计指引可
在www.ti.com/sc/package 。
产品预览
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
范围和Widebus是德州仪器的商标。
除非另有说明这个文件包含了生产
数据信息为出版日期。产品符合
每德州仪器标准保修条款的规范。
生产加工并不包括所有的测试
参数。
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版权
2004年，德州仪器
达拉斯，德克萨斯州75265
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SN74LVTH18646A EP ， EP SN74LVTH182646A
3.3 V ABT扫描测试设备
采用18位收发器和寄存器
描述/订购信息（续）
收发器功能由输出使能（OE）和方向（DIR）输入控制。当OE为低电平时，
收发器是活动的，工作在A到B的方向，当DIR为高电平或B对A的方向时， DIR
是低的。当OE为高电平时，无论是A和B输出处于高阻抗状态，从而有效地隔离
两条总线。
数据流是由时钟（ CLKAB和CLKBA ），选择（ SAB和SBA ）输入控制。 A总线上的数据
主频为上CLKAB低到高的转变相关的寄存器。当SAB低，实时数据
被选择用于呈现给B总线（透明模式）。当SAB为高电平时，存储在数据选择
呈现给B总线（注册模式）。的CLKBA和SBA输入的功能，反映了CLKAB的
和SAB分别。图1示出了可以执行的四个基本总线管理功能
与SN74LVTH18646A和SN74LVTH182646A 。
在测试模式中，所述范围的总线收发器和寄存器的正常操作被禁止，并且测试
电路被使能，以观察和控制该设备的I / O的边界。当启用时，测试电路
进行边界扫描测试的操作，根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议。
四个专用测试引脚用来观察和控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI），
测试数据输出（TDO ） ，测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK ） 。另外，测试电路进行
其他测试功能，例如对数据的输入和伪随机模式并行签名分析（PSA）的
代（ PRPG ）从数据输出。所有的测试和扫描操作同步到TAP接口。
有源总线保持电路被设置在有效的逻辑电平，以保持未使用的或浮动的数据输入。
SN74LVTH182646A的B端口输出，其目的是为了源出或吸入高达12毫安，包括相当于
25 Ω串联电阻，以减少过冲和下冲。
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采用18位收发器和寄存器
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PM PACKAGE
（ TOP VIEW ）
64 63 62 61 60 59 58 57 56 55 54 53 52 51 50 49
1A3
1A4
1A5
GND
1A6
1A7
1A8
1A9
V
CC
2A1
2A2
2A3
GND
2A4
2A5
2A6
1A2
1A1
1OE
GND
1SAB
1CLKAB
TDO
V
CC
TMS
1CLKBA
1SBA
1DIR
GND
1B1
1B2
1B3
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32
48
47
46
45
44
43
42
41
40
39
38
37
36
35
34
33
1B4
1B5
1B6
GND
1B7
1B8
1B9
V
CC
2B1
2B2
2B3
2B4
GND
2B5
2B6
2B7
输入
OE
X
X
H
H
L
L
L
L
DIR
X
X
X
X
L
L
H
H
CLKAB
↑
X
↑
H或L
X
X
X
H或L
CLKBA
X
↑
↑
H或L
X
H或L
X
X
SAB
X
X
X
X
X
X
L
H
SBA
X
X
X
X
L
H
X
X
A1A9
输入
2A7
2A8
2A9
GND
2OE
2SAB
2CLKAB
TDI
V
CC
TCK
2CLKBA
2SBA
GND
2DIR
2B9
2B8
功能表
（正常模式下，每一个9位的部分）
数据I / O
B1B9
Unspecified§
输入
输入
输入禁用
输入
输入禁用
产量
产量
操作或功能
商店A，B不明
商店B，A未指定
商店A和B的数据
隔离，保持存储
实时B数据到总线
存储B数据到总线
实时的数据到B总线
存储在数据到B总线
Unspecified§
输入
输入禁用
产量
产量
输入
输入禁用
的数据输出功能，可以启用或通过在OE和DIR各种信号被禁用。数据输入功能总是被启用;即，数据在
总线终端上存储的时钟输入每一个由低到高的转变。
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3.3 V ABT扫描测试设备
采用18位收发器和寄存器
BUS B
OE
L
DIR
L
CLKAB CLKBA
X
X
SAB
X
SBA
L
OE
L
DIR
H
CLKAB
X
CLKBA
X
SAB
L
BUS B
SBA
X
实时传输
BUS A TO BUS B
CLKAB
X
H或L
CLKBA
H或L
X
SAB
X
H
BUS B
SBA
H
X
总线
实时传输
BUS B TO总线
BUS B
总线
OE
X
X
H
DIR
X
X
X
CLKAB CLKBA
X
↑
X
↑
↑
↑
从存储
A，B ，或者A和B
SAB
X
X
X
SBA
X
X
X
OE
L
L
总线
DIR
L
H
传输存储数据
A和/或B
图1.总线管理功能
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总线
SN74LVTH18646A EP ， EP SN74LVTH182646A
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采用18位收发器和寄存器
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功能框图
1OE
1DIR
1CLKBA
1SBA
1CLKAB
1SAB
VCC
62
53
55
54
59
60
边界扫描寄存器
C1
1D
1A1
63
C1
1D
其中9个频道
51
1B1
2OE
2DIR
2CLKBA
2SBA
2CLKAB
2SAB
VCC
21
30
27
28
23
22
C1
1D
2A1
10
C1
1D
其中9个频道
40
2B1
旁路寄存器
边界控制
注册
鉴定
注册
VCC
24
TDI
VCC
56
TMS
26
TCK
58
指令
注册
TDO
龙头
调节器
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