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位置:首页 > IC型号导航 > 首字符S型号页 > 首字符S的型号第1564页 > SN74LVTH182502APM
SN54LVTH18502A , SN54LVTH182502A , SN74LVTH18502A , SN74LVTH182502A
3.3 V ABT扫描测试设备
采用18位通用总线收发器
SCBS668C - 1996年7月 - 修订2004年6月
D
德州仪器成员
D
D
D
D
D
D
范围
家庭可测性产品
德州仪器成员
Widebus
家庭
一个国家的最先进的3.3 -V ABT设计,支持
混合模式信号操作( 5 - V输入
输出电压采用3.3 V V
CC
)
支持非稳压电池操作
下降到2.7 V
UBT
(通用总线收发器)
联合收割机D类锁存器和D- TYPE
触发器的操作透明,
锁存或时钟模式
在总线保持数据输入消除了
无需外部上拉电阻
对“ LVTH182502A设备B端口输出
拥有等效25 Ω串联电阻,所以
无需外部电阻,需要
D
兼容IEEE标准
D
1149.1-1990 ( JTAG )测试访问端口和
边界扫描结构
范围
指令集
- IEEE标准1149.1-1990要求
说明和可选的夹具和
高阻
- 在输入并行信号分析
- 伪随机波形发生
输出
- 采样输入/输出切换
- 二进制计数从输出
- 设备标识
- 偶校验操作码
封装在64引脚塑料薄型四方扁平
( PM )包中使用0.5毫米
中心到中心的间距和68针
陶瓷四方扁平( HV )用包
25密耳的中心到中心的间距
D
描述
在“ LVTH18502A和” 18位通用总线收发器LVTH182502A扫描测试设备是会员
的德州仪器SCOPE可测性集成电路系列。该系列器件支持IEEE
标准1149.1-1990边界扫描,方便的复杂电路板组件的测试。扫描访问
该测试电路是通过4线测试访问端口(TAP )接口来完成。
此外,这些设备被用于低电压(3.3 - V)专
CC
操作,但与
能力,以提供一个TTL接口到一个5 -V系统的环境。
在正常模式下,这些设备是18位通用总线收发器,其与D型锁存器,并结合
D型双稳态多谐振荡器,它们允许数据流在透明,锁存,或时钟模式。另一种用途是作为两个
9位收发器或1个18位的收发器。测试电路可以通过TAP采取快照被激活
出现在设备引脚或数据的样本上的边界试验电池进行自测。激活
在正常模式下在TAP不会影响范围通用总线收发器的功能操作。
在每个方向上的数据流是由输出使能( OEAB和OEBA ) ,锁存使能( LEAB和LEBA )控制,
和时钟( CLKAB和CLKBA )输入。对于A到B的数据流,该设备工作在透明模式时,
LEAB高。当LEAB为低电平时, A总线的数据被锁存,而CLKAB被保持在一个静态的低或高逻辑电平。
否则,如果LEAB低, A总线的数据存储在一个低到高的CLKAB的过渡。当OEAB低,
B输出被激活。当OEAB为高电平时, B输出端处于高阻抗状态。 B对数据流
类似于A至B数据流,但使用OEBA , LEBA和CLKBA输入。
在测试模式中,所述范围的通用总线收发器的正常操作被禁止,并且测试电路
被使能,以观察和控制该设备的I / O的边界。当启用时,测试电路进行
根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议的边界扫描测试操作。
请注意,一个重要的通知有关可用性,标准保修,并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
SCOPE , Widebus和UBT是德州仪器的商标。
除非另有说明这个文件包含了生产
数据信息为出版日期。产品符合
每德州仪器标准保修条款的规范。
生产加工并不包括所有的测试
参数。
邮政信箱655303
版权
2004年,德州仪器
达拉斯,德克萨斯州75265
1
SCBS668C - 1996年7月 - 修订2004年6月
SN54LVTH18502A , SN54LVTH182502A , SN74LVTH18502A , SN74LVTH182502A
3.3 V ABT扫描测试设备
采用18位通用总线收发器
描述(续)
四个专用测试引脚用来观察和控制测试电路的操作:测试数据输入(TDI),
测试数据输出(TDO ) ,测试模式选择(TMS)和测试时钟(TCK ) 。另外,测试电路进行
其他测试功能,例如对数据的输入和伪随机模式并行签名分析(PSA)的
代( PRPG )从数据输出。所有的测试和扫描操作同步到TAP接口。
有源总线保持电路被设置在有效的逻辑电平,以保持未使用的或浮动的数据输入。
的“ LVTH182502A的B端口输出,其目的是为了源出或吸入高达12毫安,包括25 - Ω系列
电阻器,以减少过冲和下冲。
该SN54LVTH18502A和SN54LVTH182502A的特点是工作在整个军用
温度范围为-55 ° C至125°C 。该SN74LVTH18502A和SN74LVTH182502A的特点为
操作温度范围为-40 ° C至85°C 。
SN54LVTH18502A , SN54LVTH182502A 。 。 。 HV封装
( TOP VIEW )
9
8 7
1A3
1A4
1A5
GND
1A6
1A7
1A8
1A9
NC
V
CC
2A1
2A2
2A3
GND
2A4
2A5
2A6
1OEAB
GND
1LEAB
1CLKAB
TDO
V
CC
NC
TMS
1CLKBA
1LEBA
1OEBA
1O
GND
1B1
1B2
1B3
6
5 4 3
2 1 68 67 66 65 64 63 62 61
60
59
58
57
56
55
54
53
52
51
50
49
48
47
46
45
44
1A2
1A1
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43
1B4
1B5
1B6
GND
1B7
1B8
1B9
V
CC
NC
2B1
2B2
2B3
2B4
GND
2B5
2B6
2B7
2A7
2A8
2A9
GND
2OEAB
2LEAB
2CLKAB
TDI
NC
NC - 无内部连接
2
邮政信箱655303
VCC
达拉斯,德克萨斯州75265
TCK
2CLKBA
2LEBA
GND
2OEBA
2B9
2B8
SN54LVTH18502A , SN54LVTH182502A , SN74LVTH18502A , SN74LVTH182502A
3.3 V ABT扫描测试设备
采用18位通用总线收发器
SCBS668C - 1996年7月 - 修订2004年6月
SN74LVTH18502A , SN74LVTH182502A 。 。 。 PM PACKAGE
( TOP VIEW )
64 63 62 61 60 59 58 57 56 55 54 53 52 51 50 49
1A2
1A1
1OEAB
GND
1LEAB
1CLKAB
TDO
V
CC
TMS
1CLKBA
1LEBA
1OEBA
GND
1B1
1B2
1B3
1A3
1A4
1A5
GND
1A6
1A7
1A8
1A9
V
CC
2A1
2A2
2A3
GND
2A4
2A5
2A6
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32
48
47
46
45
44
43
42
41
40
39
38
37
36
35
34
33
1B4
1B5
1B6
GND
1B7
1B8
1B9
V
CC
2B1
2B2
2B3
2B4
GND
2B5
2B6
2B7
表示A到B的数据流。 B-到一个数据流是相似的,
但使用OEBA , LEBA和CLKBA 。
输出指示稳态输入前级
条件成立
2A7
2A8
2A9
GND
2OEAB
2LEAB
2CLKAB
TDI
V
CC
TCK
2CLKBA
2LEBA
GND
2OEBA
2B9
2B8
功能表
(正常模式下,每个寄存器)
输入
OEAB
L
L
L
L
L
H
LEAB
L
L
L
H
H
X
CLKAB
L
X
X
X
A
X
L
H
L
H
X
产量
B
B0
L
H
L
H
Z
邮政信箱655303
达拉斯,德克萨斯州75265
3
SCBS668C - 1996年7月 - 修订2004年6月
SN54LVTH18502A , SN54LVTH182502A , SN74LVTH18502A , SN74LVTH182502A
3.3 V ABT扫描测试设备
采用18位通用总线收发器
功能框图
边界扫描寄存器
60
1LEAB
1CLKAB
1OEAB
1LEBA
1CLKBA
1OEBA
59
VCC
62
54
55
VCC
53
C1
1D
C1
1D
1A1
63
C1
51
1D
其中9个频道
C1
1D
1B1
2LEAB
2CLKAB
2OEAB
2LEBA
2CLKBA
2OEBA
22
23
VCC
21
28
27
VCC
30
C1
1D
C1
1D
2A1
10
C1
1D
C1
1D
40
2B1
其中9个频道
旁路寄存器
边界控制
注册
鉴定
注册
VCC
24
VCC
56
26
58
指令
注册
TDO
TDI
TMS
TCK
龙头
调节器
显示引脚数是对PM包。
4
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达拉斯,德克萨斯州75265
SN54LVTH18502A , SN54LVTH182502A , SN74LVTH18502A , SN74LVTH182502A
3.3 V ABT扫描测试设备
采用18位通用总线收发器
SCBS668C - 1996年7月 - 修订2004年6月
终端功能
终端名称
1A11A9,
2A12A9
1B11B9,
2B12B9
1CLKAB , 1CLKBA ,
2CLKAB , 2CLKBA
GND
1LEAB , 1LEBA ,
2LEAB , 2LEBA
1OEAB , 1OEBA ,
2OEAB , 2OEBA
TCK
TDI
TDO
TMS
VCC
描述
正常功能的总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的B-总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的时钟输入。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的锁存使能。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的输出使能。见正常模式逻辑函数表。在每个终端内部上拉迫使
端子为高电平,如果悬空。
测试时钟。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。该装置的测试操作是同步
到TCK 。捕获数据在TCK的上升沿和输出在TCK的下降沿发生变化。
测试数据输入。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDI是对移动数据的串行输入
通过指令寄存器或选定的数据寄存器。内部上拉的力量TDI为高电平,如果悬空。
测试数据输出。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDO是将数据串行输出
通过指令寄存器或选定的数据寄存器。
测试模式选择。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TMS通过TAP指示装置
控制器的状态。一个内部上拉力量TMS为高电平,如果悬空。
电源电压
邮政信箱655303
达拉斯,德克萨斯州75265
5
SN54LVTH18502A , SN54LVTH182502A , SN74LVTH18502A , SN74LVTH182502A
3.3 V ABT扫描测试设备
采用18位通用总线收发器
SCBS668C - 1996年7月 - 修订2004年6月
D
德州仪器成员
D
D
D
D
D
D
范围
家庭可测性产品
德州仪器成员
Widebus
家庭
一个国家的最先进的3.3 -V ABT设计,支持
混合模式信号操作( 5 - V输入
输出电压采用3.3 V V
CC
)
支持非稳压电池操作
下降到2.7 V
UBT
(通用总线收发器)
联合收割机D类锁存器和D- TYPE
触发器的操作透明,
锁存或时钟模式
在总线保持数据输入消除了
无需外部上拉电阻
对“ LVTH182502A设备B端口输出
拥有等效25 Ω串联电阻,所以
无需外部电阻,需要
D
兼容IEEE标准
D
1149.1-1990 ( JTAG )测试访问端口和
边界扫描结构
范围
指令集
- IEEE标准1149.1-1990要求
说明和可选的夹具和
高阻
- 在输入并行信号分析
- 伪随机波形发生
输出
- 采样输入/输出切换
- 二进制计数从输出
- 设备标识
- 偶校验操作码
封装在64引脚塑料薄型四方扁平
( PM )包中使用0.5毫米
中心到中心的间距和68针
陶瓷四方扁平( HV )用包
25密耳的中心到中心的间距
D
描述
在“ LVTH18502A和” 18位通用总线收发器LVTH182502A扫描测试设备是会员
的德州仪器SCOPE可测性集成电路系列。该系列器件支持IEEE
标准1149.1-1990边界扫描,方便的复杂电路板组件的测试。扫描访问
该测试电路是通过4线测试访问端口(TAP )接口来完成。
此外,这些设备被用于低电压(3.3 - V)专
CC
操作,但与
能力,以提供一个TTL接口到一个5 -V系统的环境。
在正常模式下,这些设备是18位通用总线收发器,其与D型锁存器,并结合
D型双稳态多谐振荡器,它们允许数据流在透明,锁存,或时钟模式。另一种用途是作为两个
9位收发器或1个18位的收发器。测试电路可以通过TAP采取快照被激活
出现在设备引脚或数据的样本上的边界试验电池进行自测。激活
在正常模式下在TAP不会影响范围通用总线收发器的功能操作。
在每个方向上的数据流是由输出使能( OEAB和OEBA ) ,锁存使能( LEAB和LEBA )控制,
和时钟( CLKAB和CLKBA )输入。对于A到B的数据流,该设备工作在透明模式时,
LEAB高。当LEAB为低电平时, A总线的数据被锁存,而CLKAB被保持在一个静态的低或高逻辑电平。
否则,如果LEAB低, A总线的数据存储在一个低到高的CLKAB的过渡。当OEAB低,
B输出被激活。当OEAB为高电平时, B输出端处于高阻抗状态。 B对数据流
类似于A至B数据流,但使用OEBA , LEBA和CLKBA输入。
在测试模式中,所述范围的通用总线收发器的正常操作被禁止,并且测试电路
被使能,以观察和控制该设备的I / O的边界。当启用时,测试电路进行
根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议的边界扫描测试操作。
请注意,一个重要的通知有关可用性,标准保修,并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
SCOPE , Widebus和UBT是德州仪器的商标。
除非另有说明这个文件包含了生产
数据信息为出版日期。产品符合
每德州仪器标准保修条款的规范。
生产加工并不包括所有的测试
参数。
邮政信箱655303
版权
2004年,德州仪器
达拉斯,德克萨斯州75265
1
SCBS668C - 1996年7月 - 修订2004年6月
SN54LVTH18502A , SN54LVTH182502A , SN74LVTH18502A , SN74LVTH182502A
3.3 V ABT扫描测试设备
采用18位通用总线收发器
描述(续)
四个专用测试引脚用来观察和控制测试电路的操作:测试数据输入(TDI),
测试数据输出(TDO ) ,测试模式选择(TMS)和测试时钟(TCK ) 。另外,测试电路进行
其他测试功能,例如对数据的输入和伪随机模式并行签名分析(PSA)的
代( PRPG )从数据输出。所有的测试和扫描操作同步到TAP接口。
有源总线保持电路被设置在有效的逻辑电平,以保持未使用的或浮动的数据输入。
的“ LVTH182502A的B端口输出,其目的是为了源出或吸入高达12毫安,包括25 - Ω系列
电阻器,以减少过冲和下冲。
该SN54LVTH18502A和SN54LVTH182502A的特点是工作在整个军用
温度范围为-55 ° C至125°C 。该SN74LVTH18502A和SN74LVTH182502A的特点为
操作温度范围为-40 ° C至85°C 。
SN54LVTH18502A , SN54LVTH182502A 。 。 。 HV封装
( TOP VIEW )
9
8 7
1A3
1A4
1A5
GND
1A6
1A7
1A8
1A9
NC
V
CC
2A1
2A2
2A3
GND
2A4
2A5
2A6
1OEAB
GND
1LEAB
1CLKAB
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V
CC
NC
TMS
1CLKBA
1LEBA
1OEBA
1O
GND
1B1
1B2
1B3
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5 4 3
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44
1A2
1A1
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43
1B4
1B5
1B6
GND
1B7
1B8
1B9
V
CC
NC
2B1
2B2
2B3
2B4
GND
2B5
2B6
2B7
2A7
2A8
2A9
GND
2OEAB
2LEAB
2CLKAB
TDI
NC
NC - 无内部连接
2
邮政信箱655303
VCC
达拉斯,德克萨斯州75265
TCK
2CLKBA
2LEBA
GND
2OEBA
2B9
2B8
SN54LVTH18502A , SN54LVTH182502A , SN74LVTH18502A , SN74LVTH182502A
3.3 V ABT扫描测试设备
采用18位通用总线收发器
SCBS668C - 1996年7月 - 修订2004年6月
SN74LVTH18502A , SN74LVTH182502A 。 。 。 PM PACKAGE
( TOP VIEW )
64 63 62 61 60 59 58 57 56 55 54 53 52 51 50 49
1A2
1A1
1OEAB
GND
1LEAB
1CLKAB
TDO
V
CC
TMS
1CLKBA
1LEBA
1OEBA
GND
1B1
1B2
1B3
1A3
1A4
1A5
GND
1A6
1A7
1A8
1A9
V
CC
2A1
2A2
2A3
GND
2A4
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1
2
3
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5
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17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32
48
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35
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1B4
1B5
1B6
GND
1B7
1B8
1B9
V
CC
2B1
2B2
2B3
2B4
GND
2B5
2B6
2B7
表示A到B的数据流。 B-到一个数据流是相似的,
但使用OEBA , LEBA和CLKBA 。
输出指示稳态输入前级
条件成立
2A7
2A8
2A9
GND
2OEAB
2LEAB
2CLKAB
TDI
V
CC
TCK
2CLKBA
2LEBA
GND
2OEBA
2B9
2B8
功能表
(正常模式下,每个寄存器)
输入
OEAB
L
L
L
L
L
H
LEAB
L
L
L
H
H
X
CLKAB
L
X
X
X
A
X
L
H
L
H
X
产量
B
B0
L
H
L
H
Z
邮政信箱655303
达拉斯,德克萨斯州75265
3
SCBS668C - 1996年7月 - 修订2004年6月
SN54LVTH18502A , SN54LVTH182502A , SN74LVTH18502A , SN74LVTH182502A
3.3 V ABT扫描测试设备
采用18位通用总线收发器
功能框图
边界扫描寄存器
60
1LEAB
1CLKAB
1OEAB
1LEBA
1CLKBA
1OEBA
59
VCC
62
54
55
VCC
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1D
C1
1D
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C1
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1D
其中9个频道
C1
1D
1B1
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2CLKAB
2OEAB
2LEBA
2CLKBA
2OEBA
22
23
VCC
21
28
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VCC
30
C1
1D
C1
1D
2A1
10
C1
1D
C1
1D
40
2B1
其中9个频道
旁路寄存器
边界控制
注册
鉴定
注册
VCC
24
VCC
56
26
58
指令
注册
TDO
TDI
TMS
TCK
龙头
调节器
显示引脚数是对PM包。
4
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SN54LVTH18502A , SN54LVTH182502A , SN74LVTH18502A , SN74LVTH182502A
3.3 V ABT扫描测试设备
采用18位通用总线收发器
SCBS668C - 1996年7月 - 修订2004年6月
终端功能
终端名称
1A11A9,
2A12A9
1B11B9,
2B12B9
1CLKAB , 1CLKBA ,
2CLKAB , 2CLKBA
GND
1LEAB , 1LEBA ,
2LEAB , 2LEBA
1OEAB , 1OEBA ,
2OEAB , 2OEBA
TCK
TDI
TDO
TMS
VCC
描述
正常功能的总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的B-总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的时钟输入。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的锁存使能。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的输出使能。见正常模式逻辑函数表。在每个终端内部上拉迫使
端子为高电平,如果悬空。
测试时钟。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。该装置的测试操作是同步
到TCK 。捕获数据在TCK的上升沿和输出在TCK的下降沿发生变化。
测试数据输入。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDI是对移动数据的串行输入
通过指令寄存器或选定的数据寄存器。内部上拉的力量TDI为高电平,如果悬空。
测试数据输出。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDO是将数据串行输出
通过指令寄存器或选定的数据寄存器。
测试模式选择。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TMS通过TAP指示装置
控制器的状态。一个内部上拉力量TMS为高电平,如果悬空。
电源电压
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5
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