SN74ALVCH162601
18位通用总线收发器
具有三态输出
SCES026G - 1995年7月 - 修订1999年6月
D
D
D
D
D
D
D
D
德州仪器会员
Widebus
家庭
EPIC
（增强型性能注入
CMOS ）亚微米工艺
UBT
（通用总线收发器）
联合收割机D类锁存器和D- TYPE
触发器的操作透明，
锁存，主频或时钟使能模式
B端口输出具有等效26 Ω
系列电阻器，因此无需外部电阻器
需要
ESD保护超过2000伏每
MIL -STD -883方法3015 ;超过200 V
使用机型号（ C = 200 pF的， R = 0 ）
闭锁性能超过250毫安每
JESD 17
在总线保持数据输入消除了
无需外部上拉/下拉
电阻器
封装选择包括塑料300万
紧缩小外形封装（ DL）和超薄紧缩
小外形（ DGG ）封装
DGG或DL包装
（ TOP VIEW ）
注：对于磁带和卷轴订单输入：
该DGGR包简称GR 。
描述
这18位通用总线收发器的设计
为1.65 V至3.6 V V
CC
操作。
该SN74ALVCH162601结合D型
锁存器和D型触发器，以允许在数据流
透明锁存，时钟和时钟功能
模式。
OEAB
LEAB
A1
GND
A2
A3
V
CC
A4
A5
A6
GND
A7
A8
A9
A10
A11
A12
GND
A13
A14
A15
V
CC
A16
A17
GND
A18
OEBA
LEBA
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
56
55
54
53
52
51
50
49
48
47
46
45
44
43
42
41
40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
CLKENAB
CLKAB
B1
GND
B2
B3
V
CC
B4
B5
B6
GND
B7
B8
B9
B10
B11
B12
GND
B13
B14
B15
V
CC
B16
B17
GND
B18
CLKBA
CLKENBA
在每个方向上的数据流是由输出使能（ OEAB和OEBA ） ，锁存使能（ LEAB和LEBA ）控制，
和时钟（ CLKAB和CLKBA ）输入。该时钟可以由时钟使能（ CLKENAB进行控制和
CLKENBA ）输入。对于A到B的数据流，该设备工作在透明模式时， LEAB高。当
LEAB低，如果CLKAB被保持在高或低逻辑电平的数据进行锁存。如果LEAB为低时，数据被存储
在CLKAB低到高的转变锁存器/触发器。当OEAB为低电平时，输出处于激活状态。当
OEAB为高电平时，输出处于高阻抗状态。
为B到A的数据流类似于A至B，但使用OEBA ， LEBA ， CLKBA和CLKENBA 。
而B端口输出，包括相当于26 Ω串联电阻，以减少过冲和下冲。
为了确保上电或断电高阻抗状态， OE应当连接到V
CC
通过上拉
电阻器;该电阻的最小值由驾驶员的电流吸收能力来确定。
有源总线保持电路被设置在有效的逻辑电平，以保持未使用的或浮动的数据输入。
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
Widebus ， EPIC和UBT是德州仪器的商标。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合每德州仪器条款规范
标准保修。生产加工并不包括
所有测试参数。
版权
1999年，德州仪器
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
1
SN74ALVCH162601
18位通用总线收发器
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描述（续）
该SN74ALVCH162601的特点是操作温度范围为-40 ° C至85°C 。
功能表
输入
CLKENAB
X
X
X
H
H
L
L
L
OEAB
H
L
L
L
L
L
L
L
LEAB
X
H
H
L
L
L
L
L
CLKAB
X
X
X
X
X
↑
↑
L或H
A
X
L
H
X
X
L
H
X
产量
B
Z
L
H
B0
B0
L
H
B0
A到B的数据流图： B-对甲流相似，但使用OEBA ，
LEBA ， CLKBA和CLKENBA 。
=输出电平指示的稳态输入条件之前
既定
2
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逻辑图（正逻辑）
OEAB
1
CLKENAB
56
CLKAB
55
LEAB
2
LEBA
28
CLKBA
30
CLKENBA
29
OEBA
27
CE
1D
C1
CLK
CE
1D
C1
CLK
54
B1
A1
3
17其他渠道
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3
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具有三态输出
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在工作自由空气的温度范围内绝对最大额定值（除非另有说明）
电源电压范围，V
CC
。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.5 V至4.6 V
输入电压范围，V
I
：除了I / O端口（见注1 ） 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.5 V至4.6 V
I / O端口（见注1和2 ） 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.5 V到V
CC
+ 0.5 V
输出电压范围，V
O
（见注1和2 ） 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.5 V到V
CC
+ 0.5 V
输入钳位电流，I
IK
(V
I
＆ LT ; 0）。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -50毫安
输出钳位电流，I
OK
(V
O
＆ LT ; 0）。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -50毫安
连续输出电流，I
O
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
±50
mA
连续电流通过每个V
CC
或GND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。
±100
mA
封装的热阻抗，
θ
JA
（见注3 ） ： DGG包。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 81 ° C / W
DL包。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 74 ° C / W
存储温度范围，T
英镑
。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -65 ℃150 ℃的
超出“绝对最大额定值”列出的强调可能会造成永久性损坏设备。这些压力额定值只，和
该设备在这些或超出下标明的任何其他条件的功能操作“推荐工作条件”不
暗示。暴露于长时间处于最大绝对额定情况下会影响器件的可靠性。
注释：1.输入负电压和输出电压额定值，可能会超过如果输入和输出电流额定值观察。
2.该值被限制在4.6V的最大。
3.封装的热阻抗的计算按照JESD 51 。
4
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推荐工作条件（见注4 ）
民
VCC
VIH
电源电压
高电平输入电压
VCC = 1.65 V至1.95 V
VCC = 2.3 V至2.7 V
VCC = 2.7 V至3.6 V
VCC = 1.65 V至1.95 V
VIL
VI
VO
低电平输入电压
输入电压
输出电压
VCC = 1.65 V
VCC = 2.3 V
VCC = 2.7 V
VCC = 3 V
VCC = 1.65 V
VCC = 2.3 V
VCC = 2.7 V
VCC = 3 V
VCC = 1.65 V
VCC = 2.3 V
VCC = 2.7 V
VCC = 3 V
VCC = 1.65 V
VCC = 2.3 V
VCC = 2.7 V
VCC = 3 V
VCC = 2.3 V至2.7 V
VCC = 2.7 V至3.6 V
0
0
1.65
0.65
×
VCC
1.7
2
0.35
×
VCC
0.7
0.8
VCC
VCC
–4
–12
–12
–24
–2
–6
–8
–12
4
12
12
24
2
6
8
12
10
NS / V
mA
mA
V
V
V
V
最大
3.6
单位
V
高位
高电平输出电流（A口）
IOH
高位
高电平输出电流（ B端口）
低电平
低电平输出电流（A口）
IOL
低电平
低电平输出电流（ B端口）
ΔT/ ΔV
输入过渡上升或下降速率
TA
工作自由空气的温度
–40
85
°C
注4 ：该设备的所有未使用的控制输入必须在VCC或GND举行，以确保器件正常工作。请参阅TI申请报告，
慢或浮动CMOS输入的影响，
文献编号SCBA004 。
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5
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