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SN54ACT8997 , SN74ACT8997
与4位的识别巴士扫描路径LINKERS
SCAN控制的IEEE标准1149.1 ( JTAG ) TAP CONCATENATORS
SCAS157D - 1990年4月 - 修订1996年12月
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
德州仪器成员
范围
家庭可测性产品
兼容IEEE标准
1149.1-1990 ( JTAG )串行总线测试
让系统扫描路径的分区
可以水平或垂直级联
选择最多四个辅助扫描路径,以
被包括在主扫描路径
包括8位可编程二进制计数器
以计数或启动中断信号
包括4位识别总线为
扫描路径识别
输入是TTL兼容
EPIC
(增强型性能注入
CMOS ) 1微米工艺
封装选择包括塑料
小外形( DW )封装,陶瓷
芯片载体( FK )和标准塑料
( NT)和陶瓷( JT ) 300密耳的DIP
SN54ACT8997 。 。 。 JT包装
SN74ACT8997 。 。 。 DW或NT包装
( TOP VIEW )
DCO
MCO
DTDO1
DTDO2
DTDO3
DTDO4
GND
DTMS1
DTMS2
DTMS3
DTMS4
DTCK
TDO
TMS
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
DCI
MCI
TRST
ID1
ID2
ID3
ID4
V
CC
DTDI1
DTDI2
DTDI3
DTDI4
TDI
TCK
SN54ACT8997 。 。 。 FK包装
( TOP VIEW )
描述
在“ ACT8997是德州的成员
SCOPE仪器可测性 integrated-
电路的家庭。该系列组件的方便
测试复杂的电路板组件。
在“ ACT8997增强了TI的扫描功能
SCOPE 系列允许的增强
系统的二次扫描主要扫描路径
路径程序(SSP ),其可以被单独选择
由' ACT8997包含在主扫描
路径。这些器件还提供测试的缓冲
信号,以减少对外部逻辑。
TRST
MCI
DCI
DCO
MCO
DTDO1
DTDO2
5
6
7
8
9
ID1
ID2
ID3
ID4
V
CC
DTDI1
DTDI2
4 3
2 1 28 27 26
25
24
23
22
21
20
10
11
19
12 13 14 15 16 17 18
DTDI3
DTDI4
TDI
TCK
TMS
TDO
DTCK
通过设置适当的值到指令
寄存器和数据寄存器中,用户可以选择向上
到4的SSP被包括在一个主扫描路径。在SSP的任意组合可以同时被选择。任何
的设备的6个数据寄存器或指令寄存器可以被放置在该设备的扫描路径,即,置于
间的测试数据输入(TDI)和测试数据输出( TDO)用于随后的移位和扫描操作。
该装置除计算所有的操作是同步的测试时钟引脚( TCK) 。 8位
可编程加/减计数器可以被用来计算在设备条件输入转换( DCI)销和
通过设备状态输出( DCO )引脚输出中断信号。该设备可以被配置为依赖
无论是上升或下降的DCI的边缘。
测试访问端口( TAP )控制器是一个符合IEEE 1149.1标准兼容的有限状态机。
该SN54ACT8997的特点是工作在-55 ° C至125°C的整个军用温度范围。
该SN74ACT8997的特点是操作从0℃至70℃。
请注意,一个重要的通知有关可用性,标准保修,并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
范围和EPIC是德州仪器的商标。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合每德州仪器条款规范
标准保修。生产加工并不包括
所有测试参数。
邮政信箱655303
达拉斯,德克萨斯州75265
DTDO3
DTDO4
GND
DTMS1
DTMS2
DTMS3
DTMS4
版权
1996年,德州仪器
关于产品符合MIL -PRF- 38535 ,所有参数进行测试
除非另有说明。在所有其他产品,生产
加工不一定包括所有参数进行测试。
1
SN54ACT8997 , SN74ACT8997
与4位的识别巴士扫描路径LINKERS
SCAN控制的IEEE标准1149.1 ( JTAG ) TAP CONCATENATORS
SCAS157D - 1990年4月 - 修订1996年12月
功能框图
3
DTDO1
TDI
VCC
16
VCC
20
扫描路径
CON组fi guration
4
DTDO2
5
DTDO3
DTDI1
VCC
DTDI2 19
VCC
18
VCC
17
6
DTDO4
DTDI3
DTDI4
2
MCO
DCO
( 3态或
开漏)
DCI
28
8
DTMS1
1
9
27
10
数据
注册
22–25
13
指令
注册
DTMS2
MCI
DTMS3
11
DTMS4
ID ( 1-4 )
TDO
TMS
VCC
14
测试端口
TCK
15
12
DTCK
VCC
TRST 26
显示引脚数都为DW , JT和NT包。
2
邮政信箱655303
达拉斯,德克萨斯州75265
SN54ACT8997 , SN74ACT8997
与4位的识别巴士扫描路径LINKERS
SCAN控制的IEEE标准1149.1 ( JTAG ) TAP CONCATENATORS
SCAS157D - 1990年4月 - 修订1996年12月
功能块描述
的' ACT8997旨在在主扫描路径连接的二次扫描路径列入。任意组合
的四个第二扫描路径可以被链接,或者该设备可以完全被旁路。
最不显著位的扫描到的设备的任何寄存器的所有值( LSB)为第一比特移位
(最接近TDO ) 。最-显著位(MSB)是最后的位偏移(最接近TDI) 。
的' ACT8997分为功能块,详情如下。
测试端口
测试端口解码在TCK,TMS和TRST信号,以控制电路的操作。测试端口
包括根据所述发出适当的控制指令到数据寄存器的一个TAP控制器
IEEE标准1149.1协议。 TAP控制器的状态图示于图1 。
指令寄存器
指令寄存器(IR)是发出指令到该装置中的8比特宽的串行移位寄存器。数据
通过TDI输入到指令寄存器(或者是DTDI引脚1 ),并通过TDO移出。所有的设备操作
通过加载指令正确的指令序列,或者进入IR发起。
数据寄存器
六个并行数据寄存器中包含的' ACT8997 :旁路,控制,计数器,边界扫描,标识总线,并
选择。标识总线寄存器的边界扫描寄存器中的一个组成部分。每个数据寄存器通过TDI串行加载
通过TDO或DTDI并输出数据。表1总结了在' ACT8997的寄存器。
扫描路径配置的电路
此电路进行解码的选择和控制寄存器比特,以确定其中二次扫描的,如果有的话
路径将被包括在所述主扫描路径。
表1.注册摘要
注册
名字
指令
控制
计数器
SELECT
边界扫描
ID的总线
绕行
(比特)
8
10
8
8
10
4
1
功能
发行命令信息发送到设备
配置和使能控制
指望通过DCO的DCI事件,输出中断
选择一个或多个次级扫描路径
在外围设备捕获和力量的测试数据
提供子系统识别码
从扫描路径中删除了“ ACT8997
邮政信箱655303
达拉斯,德克萨斯州75265
3
SN54ACT8997 , SN74ACT8997
与4位的识别巴士扫描路径LINKERS
SCAN控制的IEEE标准1149.1 ( JTAG ) TAP CONCATENATORS
SCAS157D - 1990年4月 - 修订1996年12月
终端功能
终奌站
名字
DCI
I / O
I
描述
设备条件输入。 DCI接收中断并从次级扫描路径(多个)协议信号。当
计数器寄存器指示向上或向下计数, DCI配置为计数器时钟。
设备条件输出。 DCO由控制寄存器被配置为输出协议和中断信号,并可以
由控制寄存器,如果该指令寄存器中加载一个无效值被配置为输出一个误差信号。
DCO进一步配置成通过控制寄存器为:
高有效或低有效(复位状态=低电平有效)
漏极开路或三态(复位状态=开漏)
设备测试时钟。 DTCK输出缓冲的测试时钟TCK到二次扫描路径(多个) 。
设备测试数据输入1-4。 DTDI1 - DTDI4接收所选择的次级扫描的串行测试数据输出(多个)
路径(多个) 。内部上拉的力量DTDI1 - DTDI4到高逻辑电平,如果它悬空。
DCO
O
DTCK
DTDI1
DTDI2
DTDI3
DTDI4
DTDO1
DTDO2
DTDO3
DTDO4
DTMS1
DTMS2
DTMS3
DTMS4
GND
的IDi
ID2
ID3
ID4
MCI
MCO
TCK
O
I
O
设备测试数据输出1-4。这些输出发送串行测试数据到辅助扫描路径(多个)的TDI输入(多个) 。
O
设备测试模式选择1-4。这四个输出的任意组合可以被选择为后续的TMS以引导
在图1中的二次扫描路径( S)通过TAP控制器状态未选择的DTMS输出可以设置
独立地,以高或低逻辑电平。从选择寄存器的TMS电路监视输入确定
的DTMS输出配置。
识别1-4。此4位数据总线可以是硬连线的,以根据测试提供识别子系统。该
在总线上的价值目前可以扫描出通过边界扫描或ID的总线寄存器。
法师条件输入。 MCI接收中断,并从主总线控制器( PBC)协议信号。水平
对MCI进行缓冲和输出MCO 。
主状态输出。 MCO发送中断和协议信号到副扫描路径(多个) 。
测试时钟。一个由IEEE标准1149.1所需的四个端子。的' ACT8997的除外的所有操作
计数功能是同步的TCK 。上的设备的输入端的数据被捕获在TCK ,并将其输出的上升沿
更改TCK的下降沿。
测试数据输入。一个由IEEE标准1149.1所需的四个端子。 TDI是用于移动信息的串行输入
到指令寄存器或选定的数据寄存器。 TDI是通常由中国人民银行TDO 。内部上拉
力TDI为高电平,如果悬空。
测试数据输出。一个由IEEE标准1149.1所需的四个端子。 TDO是用于移位串行输出
信息从指令寄存器的或选择的数据寄存器中。 TDO通常连接到下一个的TDI的
可扫描设备的主扫描路径。
测试模式选择。一个由IEEE标准1149.1所需的四个端子。 TMS处的上升沿的电平
TCK通过TAP控制器状态指示“ ACT8997 。一个内部上拉力,TMS为高电平时,如果左
悬空。
测试复位。此低电平有效的输入实现了IEEE标准1149.1的可选复位端。当断言,
TRST使“ ACT8997去测试逻辑复位状态和配置指令寄存器和数据
寄存器为电值。内部上拉的力量TRST为高电平,如果悬空。
电源电压
I
I
O
I
TDI
I
TDO
O
TMS
I
TRST
VCC
I
4
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达拉斯,德克萨斯州75265
SN54ACT8997 , SN74ACT8997
与4位的识别巴士扫描路径LINKERS
SCAN控制的IEEE标准1149.1 ( JTAG ) TAP CONCATENATORS
SCAS157D - 1990年4月 - 修订1996年12月
状态图描述
根据IEEE标准1149.1的TAP进入通过状态如图1所示。有六个稳定状态
和10不稳定的状态在图中(通过一个循环箭头表示) 。一个稳定的状态是在TAP可以保留
连续的TCK周期。不符合这一标准的任何状态是不稳定的状态。
有通过状态图的两个主要途径:一是操纵操纵数据寄存器和一个
指令寄存器。不超过一个寄存器可以在同一时间内进行操作。
测试逻辑复位
TMS = H
TMS = L
TMS = H
TMS = H
运行测试/空闲
TMS = L
TMS = L
选择DR扫描
TMS = H
选择红外扫描
TMS = L
TMS = H
捕捉-DR
TMS = L
TMS = H
捕获红外
TMS = L
按住Shift -DR
TMS = L
TMS = H
TMS = H
Exit1-DR
按住Shift -IR
TMS = L
TMS = H
TMS = H
Exit1-IR
TMS = L
TMS = L
暂停-DR
TMS = L
TMS = H
TMS = L
Exit2-DR
TMS = H
暂停-IR
TMS = L
TMS = H
TMS = L
Exit2-IR
TMS = H
更新DR
更新IR
TMS = H
TMS = L
TMS = H
TMS = L
图1. TAP控制器状态图
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达拉斯,德克萨斯州75265
5
SN54ACT8997 , SN74ACT8997
与4位的识别巴士扫描路径LINKERS
SCAN控制的IEEE标准1149.1 ( JTAG ) TAP CONCATENATORS
SCAS157D - 1990年4月 - 修订1996年12月
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
德州仪器成员
范围
家庭可测性产品
兼容IEEE标准
1149.1-1990 ( JTAG )串行总线测试
让系统扫描路径的分区
可以水平或垂直级联
选择最多四个辅助扫描路径,以
被包括在主扫描路径
包括8位可编程二进制计数器
以计数或启动中断信号
包括4位识别总线为
扫描路径识别
输入是TTL兼容
EPIC
(增强型性能注入
CMOS ) 1微米工艺
封装选择包括塑料
小外形( DW )封装,陶瓷
芯片载体( FK )和标准塑料
( NT)和陶瓷( JT ) 300密耳的DIP
SN54ACT8997 。 。 。 JT包装
SN74ACT8997 。 。 。 DW或NT包装
( TOP VIEW )
DCO
MCO
DTDO1
DTDO2
DTDO3
DTDO4
GND
DTMS1
DTMS2
DTMS3
DTMS4
DTCK
TDO
TMS
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
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12
13
14
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
DCI
MCI
TRST
ID1
ID2
ID3
ID4
V
CC
DTDI1
DTDI2
DTDI3
DTDI4
TDI
TCK
SN54ACT8997 。 。 。 FK包装
( TOP VIEW )
描述
在“ ACT8997是德州的成员
SCOPE仪器可测性 integrated-
电路的家庭。该系列组件的方便
测试复杂的电路板组件。
在“ ACT8997增强了TI的扫描功能
SCOPE 系列允许的增强
系统的二次扫描主要扫描路径
路径程序(SSP ),其可以被单独选择
由' ACT8997包含在主扫描
路径。这些器件还提供测试的缓冲
信号,以减少对外部逻辑。
TRST
MCI
DCI
DCO
MCO
DTDO1
DTDO2
5
6
7
8
9
ID1
ID2
ID3
ID4
V
CC
DTDI1
DTDI2
4 3
2 1 28 27 26
25
24
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22
21
20
10
11
19
12 13 14 15 16 17 18
DTDI3
DTDI4
TDI
TCK
TMS
TDO
DTCK
通过设置适当的值到指令
寄存器和数据寄存器中,用户可以选择向上
到4的SSP被包括在一个主扫描路径。在SSP的任意组合可以同时被选择。任何
的设备的6个数据寄存器或指令寄存器可以被放置在该设备的扫描路径,即,置于
间的测试数据输入(TDI)和测试数据输出( TDO)用于随后的移位和扫描操作。
该装置除计算所有的操作是同步的测试时钟引脚( TCK) 。 8位
可编程加/减计数器可以被用来计算在设备条件输入转换( DCI)销和
通过设备状态输出( DCO )引脚输出中断信号。该设备可以被配置为依赖
无论是上升或下降的DCI的边缘。
测试访问端口( TAP )控制器是一个符合IEEE 1149.1标准兼容的有限状态机。
该SN54ACT8997的特点是工作在-55 ° C至125°C的整个军用温度范围。
该SN74ACT8997的特点是操作从0℃至70℃。
请注意,一个重要的通知有关可用性,标准保修,并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
范围和EPIC是德州仪器的商标。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合每德州仪器条款规范
标准保修。生产加工并不包括
所有测试参数。
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达拉斯,德克萨斯州75265
DTDO3
DTDO4
GND
DTMS1
DTMS2
DTMS3
DTMS4
版权
1996年,德州仪器
关于产品符合MIL -PRF- 38535 ,所有参数进行测试
除非另有说明。在所有其他产品,生产
加工不一定包括所有参数进行测试。
1
SN54ACT8997 , SN74ACT8997
与4位的识别巴士扫描路径LINKERS
SCAN控制的IEEE标准1149.1 ( JTAG ) TAP CONCATENATORS
SCAS157D - 1990年4月 - 修订1996年12月
功能框图
3
DTDO1
TDI
VCC
16
VCC
20
扫描路径
CON组fi guration
4
DTDO2
5
DTDO3
DTDI1
VCC
DTDI2 19
VCC
18
VCC
17
6
DTDO4
DTDI3
DTDI4
2
MCO
DCO
( 3态或
开漏)
DCI
28
8
DTMS1
1
9
27
10
数据
注册
22–25
13
指令
注册
DTMS2
MCI
DTMS3
11
DTMS4
ID ( 1-4 )
TDO
TMS
VCC
14
测试端口
TCK
15
12
DTCK
VCC
TRST 26
显示引脚数都为DW , JT和NT包。
2
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达拉斯,德克萨斯州75265
SN54ACT8997 , SN74ACT8997
与4位的识别巴士扫描路径LINKERS
SCAN控制的IEEE标准1149.1 ( JTAG ) TAP CONCATENATORS
SCAS157D - 1990年4月 - 修订1996年12月
功能块描述
的' ACT8997旨在在主扫描路径连接的二次扫描路径列入。任意组合
的四个第二扫描路径可以被链接,或者该设备可以完全被旁路。
最不显著位的扫描到的设备的任何寄存器的所有值( LSB)为第一比特移位
(最接近TDO ) 。最-显著位(MSB)是最后的位偏移(最接近TDI) 。
的' ACT8997分为功能块,详情如下。
测试端口
测试端口解码在TCK,TMS和TRST信号,以控制电路的操作。测试端口
包括根据所述发出适当的控制指令到数据寄存器的一个TAP控制器
IEEE标准1149.1协议。 TAP控制器的状态图示于图1 。
指令寄存器
指令寄存器(IR)是发出指令到该装置中的8比特宽的串行移位寄存器。数据
通过TDI输入到指令寄存器(或者是DTDI引脚1 ),并通过TDO移出。所有的设备操作
通过加载指令正确的指令序列,或者进入IR发起。
数据寄存器
六个并行数据寄存器中包含的' ACT8997 :旁路,控制,计数器,边界扫描,标识总线,并
选择。标识总线寄存器的边界扫描寄存器中的一个组成部分。每个数据寄存器通过TDI串行加载
通过TDO或DTDI并输出数据。表1总结了在' ACT8997的寄存器。
扫描路径配置的电路
此电路进行解码的选择和控制寄存器比特,以确定其中二次扫描的,如果有的话
路径将被包括在所述主扫描路径。
表1.注册摘要
注册
名字
指令
控制
计数器
SELECT
边界扫描
ID的总线
绕行
(比特)
8
10
8
8
10
4
1
功能
发行命令信息发送到设备
配置和使能控制
指望通过DCO的DCI事件,输出中断
选择一个或多个次级扫描路径
在外围设备捕获和力量的测试数据
提供子系统识别码
从扫描路径中删除了“ ACT8997
邮政信箱655303
达拉斯,德克萨斯州75265
3
SN54ACT8997 , SN74ACT8997
与4位的识别巴士扫描路径LINKERS
SCAN控制的IEEE标准1149.1 ( JTAG ) TAP CONCATENATORS
SCAS157D - 1990年4月 - 修订1996年12月
终端功能
终奌站
名字
DCI
I / O
I
描述
设备条件输入。 DCI接收中断并从次级扫描路径(多个)协议信号。当
计数器寄存器指示向上或向下计数, DCI配置为计数器时钟。
设备条件输出。 DCO由控制寄存器被配置为输出协议和中断信号,并可以
由控制寄存器,如果该指令寄存器中加载一个无效值被配置为输出一个误差信号。
DCO进一步配置成通过控制寄存器为:
高有效或低有效(复位状态=低电平有效)
漏极开路或三态(复位状态=开漏)
设备测试时钟。 DTCK输出缓冲的测试时钟TCK到二次扫描路径(多个) 。
设备测试数据输入1-4。 DTDI1 - DTDI4接收所选择的次级扫描的串行测试数据输出(多个)
路径(多个) 。内部上拉的力量DTDI1 - DTDI4到高逻辑电平,如果它悬空。
DCO
O
DTCK
DTDI1
DTDI2
DTDI3
DTDI4
DTDO1
DTDO2
DTDO3
DTDO4
DTMS1
DTMS2
DTMS3
DTMS4
GND
的IDi
ID2
ID3
ID4
MCI
MCO
TCK
O
I
O
设备测试数据输出1-4。这些输出发送串行测试数据到辅助扫描路径(多个)的TDI输入(多个) 。
O
设备测试模式选择1-4。这四个输出的任意组合可以被选择为后续的TMS以引导
在图1中的二次扫描路径( S)通过TAP控制器状态未选择的DTMS输出可以设置
独立地,以高或低逻辑电平。从选择寄存器的TMS电路监视输入确定
的DTMS输出配置。
识别1-4。此4位数据总线可以是硬连线的,以根据测试提供识别子系统。该
在总线上的价值目前可以扫描出通过边界扫描或ID的总线寄存器。
法师条件输入。 MCI接收中断,并从主总线控制器( PBC)协议信号。水平
对MCI进行缓冲和输出MCO 。
主状态输出。 MCO发送中断和协议信号到副扫描路径(多个) 。
测试时钟。一个由IEEE标准1149.1所需的四个端子。的' ACT8997的除外的所有操作
计数功能是同步的TCK 。上的设备的输入端的数据被捕获在TCK ,并将其输出的上升沿
更改TCK的下降沿。
测试数据输入。一个由IEEE标准1149.1所需的四个端子。 TDI是用于移动信息的串行输入
到指令寄存器或选定的数据寄存器。 TDI是通常由中国人民银行TDO 。内部上拉
力TDI为高电平,如果悬空。
测试数据输出。一个由IEEE标准1149.1所需的四个端子。 TDO是用于移位串行输出
信息从指令寄存器的或选择的数据寄存器中。 TDO通常连接到下一个的TDI的
可扫描设备的主扫描路径。
测试模式选择。一个由IEEE标准1149.1所需的四个端子。 TMS处的上升沿的电平
TCK通过TAP控制器状态指示“ ACT8997 。一个内部上拉力,TMS为高电平时,如果左
悬空。
测试复位。此低电平有效的输入实现了IEEE标准1149.1的可选复位端。当断言,
TRST使“ ACT8997去测试逻辑复位状态和配置指令寄存器和数据
寄存器为电值。内部上拉的力量TRST为高电平,如果悬空。
电源电压
I
I
O
I
TDI
I
TDO
O
TMS
I
TRST
VCC
I
4
邮政信箱655303
达拉斯,德克萨斯州75265
SN54ACT8997 , SN74ACT8997
与4位的识别巴士扫描路径LINKERS
SCAN控制的IEEE标准1149.1 ( JTAG ) TAP CONCATENATORS
SCAS157D - 1990年4月 - 修订1996年12月
状态图描述
根据IEEE标准1149.1的TAP进入通过状态如图1所示。有六个稳定状态
和10不稳定的状态在图中(通过一个循环箭头表示) 。一个稳定的状态是在TAP可以保留
连续的TCK周期。不符合这一标准的任何状态是不稳定的状态。
有通过状态图的两个主要途径:一是操纵操纵数据寄存器和一个
指令寄存器。不超过一个寄存器可以在同一时间内进行操作。
测试逻辑复位
TMS = H
TMS = L
TMS = H
TMS = H
运行测试/空闲
TMS = L
TMS = L
选择DR扫描
TMS = H
选择红外扫描
TMS = L
TMS = H
捕捉-DR
TMS = L
TMS = H
捕获红外
TMS = L
按住Shift -DR
TMS = L
TMS = H
TMS = H
Exit1-DR
按住Shift -IR
TMS = L
TMS = H
TMS = H
Exit1-IR
TMS = L
TMS = L
暂停-DR
TMS = L
TMS = H
TMS = L
Exit2-DR
TMS = H
暂停-IR
TMS = L
TMS = H
TMS = L
Exit2-IR
TMS = H
更新DR
更新IR
TMS = H
TMS = L
TMS = H
TMS = L
图1. TAP控制器状态图
邮政信箱655303
达拉斯,德克萨斯州75265
5
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