【SN54ABTH18504A ， SN54ABTH182504A ， SN74ABTH18504A 】,IC型号SN74ABTH182504APM,SN74ABTH182504APM PDF资料,SN74ABTH182504APM经销商,ic,电子元器件-51电子网

SN54ABTH18504A ， SN54ABTH182504A ， SN74ABTH18504A ， SN74ABTH182504A

与扫描测试设备

20位通用总线收发器

SCBS165C - 1993年8月 - 修订1996年7月

德州仪器成员

范围

家庭可测性产品

德州仪器成员

Widebus

家庭

兼容IEEE标准

1149.1-1990 （ JTAG ）测试访问端口和

边界扫描结构

UBT

（通用总线收发器）

联合收割机D类锁存器和D- TYPE

触发器的操作透明，

锁存或时钟模式

在总线保持数据输入消除了

无需外部上拉电阻

B超输出端口

’ABTH182504A

器件

拥有等效25 Ω串联电阻，所以

无需外部电阻，需要

国家的最先进的

EPIC-

ΙΙ

BiCMOS工艺设计

一个边界扫描单元每I / O

架构提高扫描效率

范围

指令集

- IEEE标准1149.1-1990要求

说明和可选的夹具和

高阻

- 在输入并行信号分析

- 伪随机模式生成

从输出

- 采样输入/输出切换

- 二进制计数从输出

- 设备标识

- 偶校验操作码

封装在64引脚塑料薄型四方扁平

（ PM ）包中使用0.5毫米

中心到中心的间距和68针

陶瓷四方扁平（ HV ）用包

25密耳的中心到中心的间距

8 7

GND

OEBA

LEBA

TDO

TMS

CLKBA

CLKENBA

GND

5 4 3

2 1 68 67 66 65 64 63 62 61

SN54ABTH18504A ， SN54ABTH182504A 。。。 HV封装

（ TOP VIEW ）

GND

A10

A11

A12

A13

GND

A14

A15

A16

27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43

GND

B10

B11

B12

B13

B14

GND

B15

B16

B17

A17

A18

A19

GND

A20

CLKENAB

CLKAB

TDI

NC - 无内部连接

请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用

德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。

SCOPE ， Widebus ， UBT和EPIC- ΙΙB是德州仪器的商标。

除非另有说明这个文件包含了生产

数据信息为出版日期。产品符合

每德州仪器标准保修条款的规范。

生产加工并不包括所有的测试

参数。

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

TCK

LEAB

OEAB

GND

B20

B19

B18

版权

1996年，德州仪器

关于产品符合MIL -PRF- 38535 ，所有参数进行测试

除非另有说明。在所有其他产品，生产

加工不一定包括所有参数进行测试。

VCC

SN54ABTH18504A ， SN54ABTH182504A ， SN74ABTH18504A ， SN74ABTH182504A

与扫描测试设备

20位通用总线收发器

SCBS165C - 1993年8月 - 修订1996年7月

SN74ABTH18504A ， SN74ABTH182504A 。。。 PM PACKAGE

（ TOP VIEW ）

64 63 62 61 60 59 58 57 56 55 54 53 52 51 50 49

GND

A10

A11

A12

A13

GND

A14

A15

A16

GND

OEBA

LEBA

TDO

TMS

CLKBA

CLKENBA

GND

17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32

GND

B10

B11

B12

B13

B14

GND

B15

B16

B17

描述

在“ ABTH18504A和” 20位通用总线收发器ABTH182504A扫描测试设备是会员

的德州仪器SCOPE可测性集成电路系列。该系列器件支持IEEE

标准1149.1-1990边界扫描，方便的复杂电路板组件的测试。扫描访问

该测试电路是通过4线测试访问端口（TAP ）接口来完成。

在正常模式下，这些设备是20位通用总线收发器相结合的D型锁存器和D型

触发器，使数据流在透明锁存，或时钟模式。测试电路可通过激活

TAP要出现在器件引脚的数据的快照样本，或者在执行自检

边界测试电池。激活TAP在正常模式下，不影响的功能操作

SCOPE 通用总线收发器。

在每个方向上的数据流是由输出使能（ OEAB和OEBA ），锁存使能（ LEAB和LEBA ）控制，

时钟使能（ CLKENAB和CLKENBA ）和时钟（ CLKAB和CLKBA ）输入。对于A到B的数据流中，

设备工作在透明模式时LEAB高。当LEAB为低电平时， A总线的数据被锁存，而

CLKENAB是高和/或CLKAB被保持在一个静态的低或高逻辑电平。否则，如果LEAB是低和

CLKENAB低， A总线的数据存储在一个低到高的CLKAB的过渡。当OEAB为低电平时， B输出

是活动的。当OEAB为高电平时， B输出端处于高阻抗状态。 B对一个数据流是类似于

A到B的数据流量，但使用OEBA ， LEBA ， CLKENBA和CLKBA投入。

在测试模式中，所述范围通用总线收发器的正常操作被禁止，并且测试

电路被使能，以观察和控制该设备的I / O的边界。当启用时，测试电路

根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。

A17

A18

A19

GND

A20

CLKENAB

CLKAB

TDI

TCK

LEAB

OEAB

GND

B20

B19

B18

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

SN54ABTH18504A ， SN54ABTH182504A ， SN74ABTH18504A ， SN74ABTH182504A

与扫描测试设备

20位通用总线收发器

SCBS165C - 1993年8月 - 修订1996年7月

描述（续）

四个专用测试管脚观察和控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI），测试数据

输出（TDO ），测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK ）。另外，测试电路执行其他测试

功能，例如对数据的输入和伪随机模式生成并行签名分析（PSA）的

（ PRPG ）从数据输出。所有的测试和扫描操作同步到TAP接口。

提高扫描效率，是通过每个I / O引脚通过一个边界扫描单元（ BSC ）来实现的

架构。这个体系结构以这样的方式来捕获最相关的测试数据来实现。一

PSA / COUNT指令还包括以缓解内存和其他电路的测试，其中一个二进制计数

解决方案是有用的。

有源总线保持电路拥有未使用的或浮动的数据在输入一个有效的逻辑电平。

的“ ABTH182504A的B端口输出，其目的是为了源出或吸入高达12毫安，包括25 - Ω系列

电阻器，以减少过冲和下冲。

该SN54ABTH18504A和SN54ABTH182504A的特点是工作在整个军用

温度范围为-55 ° C至125°C 。该SN74ABTH18504A和SN74ABTH182504A的特点为

操作温度范围为-40 ° C至85°C 。

功能表

（正常模式下，每个寄存器）

输入

OEAB

LEAB

CLKENAB

CLKAB

↑

产量

表示A到B的数据流。 B-到一个数据流是相似的，但使用OEBA ，

LEBA ， CLKENBA和CLKBA 。

=输出电平指示的稳态输入条件之前

既定

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

SN54ABTH18504A ， SN54ABTH182504A ， SN74ABTH18504A ， SN74ABTH182504A

与扫描测试设备

20位通用总线收发器

SCBS165C - 1993年8月 - 修订1996年7月

功能框图

边界扫描寄存器

CLKENAB

LEAB

CLKAB

OEAB

VCC

CLKENBA

LEBA

CLKBA

VCC

OEBA

1 20个频道

旁路寄存器

边界控制

鉴定

VCC

龙头

调节器

指令

TDO

TDI

TMS

TCK

显示引脚数是对PM包。

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

SN54ABTH18504A ， SN54ABTH182504A ， SN74ABTH18504A ， SN74ABTH182504A

与扫描测试设备

20位通用总线收发器

SCBS165C - 1993年8月 - 修订1996年7月

终端功能

终端名称

A1–A20

B1–B20

CLKAB ， CLKBA

CLKENAB ， CLKENBA

GND

LEAB ， LEBA

OEAB ， OEBA

TCK

描述

正常功能的总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。

正常功能的B-总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。

正常功能的时钟输入。见正常模式逻辑函数表。

正常功能的时钟使能。见正常模式逻辑函数表。

地

正常功能的锁存使能。见正常模式逻辑函数表。

正常功能的输出使能。见正常模式逻辑函数表。在每个终端的内部上拉

迫使端子为高电平，如果悬空。

测试时钟。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。该装置的测试操作

与TCK同步的。捕获数据在TCK的上升沿和输出在TCK的下降沿发生变化。

测试数据输入。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDI是用于移位的串行输入

通过指令寄存器或数据选择的数据寄存器。一个内部上拉力的TDI为高电平，如果左

悬空。

测试数据输出。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDO是用于移位串行输出

通过指令寄存器或数据选择的数据寄存器。

测试模式选择。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TMS通过指示装置

其TAP控制器的状态。一个内部上拉力量TMS为高电平，如果悬空。

电源电压

TDI

TDO

TMS

VCC

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265