SN54ABT8646 ， SN74ABT8646
与扫描测试设备
八路总线收发器和寄存器
SCBS123F - 1992年8月 - 修订2004年4月
D
德州仪器成员
范围
家庭可测性产品
1149.1-1990 （ JTAG ）测试访问端口和
边界扫描结构
D
兼容IEEE标准
D
功能上等同于' F646和
在正常功能模式“ ABT646
SN54ABT8646 。 。 。 JT包装
SN74ABT8646 。 。 。 dl或DW包装
（ TOP VIEW ）
D
范围
指令集
- IEEE标准1149.1-1990要求
说明，可选INTEST ， CLAMP ，
和HIGHZ
- 在输入并行信号分析
用蒙版选项
- 伪随机波形发生
输出
- 采样输入/输出切换
- 二进制计数从输出
- 偶校验操作码
CLKAB
SAB
DIR
A1
A2
A3
GND
A4
A5
A6
A7
A8
TDO
TMS
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
CLKBA
SBA
OE
B1
B2
B3
B4
V
CC
B5
B6
B7
B8
TDI
TCK
D
每个I / O两个边界扫描单元
更大的灵活性
SN54ABT8646 。 。 。 FK包装
（ TOP VIEW ）
显著降低了功耗
D
封装选择包括塑料
小外形（ DW ）和收缩
小外形（ DL ）封装，陶瓷片
电信运营商（ FK ）和标准的陶瓷DIP封装
（ JT ）
OE
SBA
CLKBA
CLKAB
SAB
DIR
A1
B1
B2
B3
B4
V
CC
B5
B6
5
6
7
8
9
10
4
3 2 1 28 27 26
25
24
23
22
21
20
11
19
12 13 14 15 16 17 18
D
国家的最先进的
EPIC- ΙΙB
BiCMOS工艺设计
描述
在“ ABT8646和扫描测试设备与八进制
总线收发器和寄存器的成员
得克萨斯州
仪器
SCOPE
可测性
集成电路的家庭。该系列器件
支持IEEE标准1149.1-1990边界
扫描，以方便复杂的电路板测试
集会。扫描获得的测试电路是
通过4线测试访问端口来实现
（TAP）接口。
B7
B8
TDI
TCK
TMS
TDO
A8
在正常模式中，这些设备在功能上等同于“ F646和' ABT646八进制总线收发器
和寄存器。测试电路可通过在TAP被激活以取出现的数据的快照样品
在器件引脚或以上的边界试验电池进行自检。激活TAP在正常模式下不
不影响SCOPE 八路总线收发器和寄存器的功能操作。
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
范围和EPIC- ΙΙB是德州仪器的商标。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合每德州仪器条款规范
标准保修。生产加工并不包括
所有测试参数。
关于产品符合MIL PRF 38535 ，所有参数进行测试
除非另有说明。在所有其他产品，生产
加工不一定包括所有参数进行测试。
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
A2
A3
GND
A4
A5
A6
A7
版权
2004年，德州仪器
1
SCBS123F - 1992年8月 - 修订2004年4月
SN54ABT8646 ， SN74ABT8646
与扫描测试设备
八路总线收发器和寄存器
描述（续）
收发器功能由输出使能（OE）和方向（DIR）输入控制。当OE为低电平时，
收发器是活动的，工作在A到B的方向，当DIR为高电平或B对A的方向时， DIR
是低的。当OE为高电平时，无论是A和B输出处于高阻抗状态，从而有效地隔离两个
巴士。
数据流是由时钟（ CLKAB和CLKBA ），选择（ SAB和SBA ）输入控制。 A总线上的数据
主频为上CLKAB低到高的转变相关的寄存器。当SAB低，实时数据
被选择用于呈现给B总线（透明模式）。当SAB为高电平时，存储在数据选择
呈现给B总线（注册模式）。的CLKBA和SBA输入的功能，反映了CLKAB的
和SAB分别。图1示出了可以执行的四个基本总线管理功能
与“ ABT8646 。
在测试模式中， SCOPE总线收发器和寄存器的正常操作被禁止，并且测试
电路被使能，以观察和控制该设备的I / O的边界。当启用时，测试电路
如在IEEE标准1149.1-1990描述执行边界扫描测试操作。
四个专用测试管脚控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI），测试数据输出（TDO ） ，
测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK ） 。另外，测试电路执行其他测试功能
如对数据的输入和伪随机模式生成（ PRPG ）从并行签名分析（PSA）的
数据输出。所有的测试和扫描操作同步到TAP接口。
该SN54ABT8646的特点是工作在-55 ° C至125°C的整个军用温度范围。
该SN74ABT8646的特点是操作温度范围为-40 ° C至85°C 。
功能表
输入
OE
X
X
H
H
L
L
L
L
DIR
X
X
X
X
L
L
H
H
CLKAB
↑
X
↑
H或L
X
X
X
H或L
CLKBA
X
↑
↑
H或L
X
H或L
X
X
SAB
X
X
X
X
X
X
L
H
SBA
X
X
X
X
L
H
X
X
A1A8
输入
Unspecified§
输入
输入禁用
产量
产量
输入
输入禁用
数据I / O
B1B8
Unspecified§
输入
输入
输入禁用
输入
输入禁用
产量
产量
操作或功能
商店A，B不明
商店B，A未指定
商店A和B的数据
隔离，保持存储
实时B数据到总线
存储B数据到总线
实时的数据到B总线
存储在数据到B总线
的数据输出功能，可以启用或通过在OE和DIR各种信号被禁用。数据输入功能始终处于启用状态;即，数据在
在总线引脚上存储的时钟输入每一个由低到高的转变。
2
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
SN54ABT8646 ， SN74ABT8646
与扫描测试设备
八路总线收发器和寄存器
SCBS123F - 1992年8月 - 修订2004年4月
BUS B
BUS B
1
CLKAB
X
28
CLKBA
X
2
SAB
L
27
SBA
X
实时传输
BUS A TO BUS B
1
CLKAB
X
H或L
28
CLKBA
H或L
X
2
SAB
X
H
BUS B
27
SBA
H
X
传输存储数据
A和/或B
总线
26
OE
L
3
DIR
L
28
1
CLKAB CLKBA
X
X
2
SAB
X
27
SBA
L
26
OE
L
实时传输
BUS B TO总线
BUS B
总线
26
OE
X
X
H
3
DIR
X
X
X
1
28
CLKAB CLKBA
X
↑
X
↑
↑
↑
从存储
A，B ，或者A和B
2
SAB
X
X
X
27
SBA
X
X
X
26
OE
L
L
显示引脚数都为DL ， DW ，和JT包。
图1.总线管理功能
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
总线
3
DIR
L
H
总线
3
DIR
H
3
SCBS123F - 1992年8月 - 修订2004年4月
SN54ABT8646 ， SN74ABT8646
与扫描测试设备
八路总线收发器和寄存器
功能框图
边界扫描寄存器
OE
26
DIR
3
28
27
CLKBA
SBA
CLKAB
1
SAB
2
C1
1D
A1
4
C1
1D
25
B1
一个8通道
旁路寄存器
边界控制
注册
VCC
TDI
16
指令寄存器
13
TDO
VCC
TMS
14
龙头
调节器
TCK
15
所示为DL ， DW ，和JT封装的引脚数。
4
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
SN54ABT8646 ， SN74ABT8646
与扫描测试设备
八路总线收发器和寄存器
SCBS123F - 1992年8月 - 修订2004年4月
终端功能
终奌站
名字
A1A8
B1B8
CLKAB ， CLKBA
DIR
GND
OE
SAB ， SBA
TCK
TDI
TDO
TMS
VCC
描述
正常功能的总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的B-总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的时钟输入。见正常模式逻辑函数表。
正常功能方向控制输入。见正常模式逻辑函数表。
地
正常功能输出使能输入。见正常模式逻辑函数表。
正常的功能选择输入。见正常模式逻辑函数表。
测试时钟。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。该装置的测试操作是同步
到TCK 。捕获数据在TCK的上升沿，并输出在TCK的下降沿发生变化。
测试数据输入。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDI是对移动数据的串行输入
通过指令寄存器或选定的数据寄存器。内部上拉的力量TDI为高电平，如果悬空。
测试数据输出。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDO是将数据串行输出
通过指令寄存器或选定的数据寄存器。
测试模式选择。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TMS输入，通过指示装置
其TAP控制器的状态。一个内部上拉力量TMS为高电平，如果悬空。
电源电压
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
5
QQ：2880707522 复制
