SN54ABT8543 ， SN74ABT8543
与扫描测试设备
挂号八路总线收发器
SCBS120E - 1991年8月 - 修订1996年7月
D
D
D
D
D
D
D
德州仪器成员
范围
家庭可测性产品
兼容IEEE标准
1149.1-1990 （ JTAG ）测试访问端口和
边界扫描结构
功能上等同于' F543和
在正常功能模式“ ABT543
范围
指令集
- IEEE标准1149.1-1990要求
说明，可选INTEST ， CLAMP ，
和HIGHZ
- 在输入并行信号分析
用蒙版选项
- 伪随机模式生成
从输出
- 采样输入/输出切换
- 二进制计数从输出
- 偶校验操作码
每个I / O两个边界扫描单元
更大的灵活性
国家的最先进的
EPIC-
ΙΙ
B
BiCMOS工艺设计
显著降低了功耗
封装选择包括塑料
小外形（ DW ）和收缩
小外形（ DL ）封装，陶瓷片
电信运营商（ FK ） ，和标准的陶瓷
DIP封装（ JT ）
SN54ABT8543 。 。 。 JT包装
SN74ABT8543 。 。 。 dl或DW包装
（ TOP VIEW ）
LEAB
CEAB
OEAB
A1
A2
A3
GND
A4
A5
A6
A7
A8
TDO
TMS
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
LEBA
CEBA
OEBA
B1
B2
B3
B4
V
CC
B5
B6
B7
B8
TDI
TCK
SN54ABT8543 。 。 。 FK包装
（ TOP VIEW ）
B1
B2
B3
B4
V
CC
B5
B6
OEBA
CEBA
LEBA
LEAB
CEAB
OEAB
A1
5
6
7
8
9
10
4 3 2 1 28 27 26
25
24
23
22
21
20
11
19
12 13 14 15 16 17 18
描述
与八进制的“ ABT8543扫描测试设备
注册总线收发器的成员
得克萨斯州
仪器
SCOPE
可测性
集成电路的家庭。该系列器件
支持IEEE标准1149.1-1990边界
扫描，以方便复杂的电路板测试
集会。扫描获得的测试电路是
通过4线测试访问端口来实现
（TAP）接口。
B7
B8
TDI
TCK
TMS
TDO
A8
在正常模式中，这些设备在功能上等同于“ F543和' ABT543八进制注册总线
收发器。测试电路可通过在TAP被激活以采取出现在数据的快照样品
器件引脚或以上的边界试验电池进行自检。激活TAP在正常模式下不
影响范围八进制登记总线收发器的功能操作。
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
范围和EPIC- ΙΙB是德州仪器的商标。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合每德州仪器条款规范
标准保修。生产加工并不包括
所有测试参数。
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
A2
A3
GND
A4
A5
A6
A7
版权
1996年，德州仪器
关于产品符合MIL -PRF- 38535 ，所有参数进行测试
除非另有说明。在所有其他产品，生产
加工不一定包括所有参数进行测试。
1
SN54ABT8543 ， SN74ABT8543
与扫描测试设备
挂号八路总线收发器
SCBS120E - 1991年8月 - 修订1996年7月
描述（续）
在每个方向上的数据流是由锁存使能（ LEAB和LEBA ） ，芯片使能（ CEAB和CEBA ） ，和控制
输出使能（ OEAB和OEBA ）输入。对于A到B的数据流，该设备工作在透明模式
当LEAB和CEAB都很低。当任一LEAB或CEAB为高时，数据被锁存。在B输出
是活性时OEAB和CEAB都很低。当任一OEAB或CEAB为高时， B输出是在
高阻抗状态。控制对B对一个数据流是类似于对于A至B ，但使用LEBA ， CEBA和OEBA 。
在测试模式中，所述范围注册总线收发器的正常运行被抑制，试验
电路被使能，以观察和控制该设备的I / O的边界。当启用时，测试电路
如在IEEE标准1149.1-1990描述执行边界扫描测试操作。
四个专用测试管脚控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI），测试数据输出（TDO ） ，
测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK ） 。另外，测试电路执行其他测试功能
如在从数据输入和伪随机模式生成（ PRPG ）并行签名分析（PSA）的
数据输出。所有的测试和扫描操作同步到TAP接口。
该SN54ABT8543的特点是工作在-55 ° C至125°C的整个军用温度范围。
该SN74ABT8543的特点是操作温度范围为-40 ° C至85°C 。
功能表
（正常模式下，每个寄存器）
输入
CEAB
L
L
L
L
H
OEAB
L
L
L
H
X
LEAB
L
L
H
X
X
A
L
H
X
X
X
产量
B
L
H
B0
Z
Z
表示A到B的数据流。 B-到一个数据流相似，但
使用CEBA ， OEBA和LEBA 。
输出指示稳态输入前级
条件成立
2
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SN54ABT8543 ， SN74ABT8543
与扫描测试设备
挂号八路总线收发器
SCBS120E - 1991年8月 - 修订1996年7月
功能框图
边界扫描寄存器
OEBA
26
CEBA
27
LEBA
28
3
OEAB
CEAB
2
1
LEAB
C1
1D
A1 4
C1
1D
一个8通道
25
B1
旁路寄存器
边界控制
注册
VCC
TDI
16
指令寄存器
13
TDO
VCC
TMS
14
龙头
调节器
TCK
15
显示引脚数都为DL ， DW ，和JT包。
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3
SN54ABT8543 ， SN74ABT8543
与扫描测试设备
挂号八路总线收发器
SCBS120E - 1991年8月 - 修订1996年7月
终端功能
终奌站
名字
A1–A8
B1–B8
CEAB ， CEBA
GND
LEAB ， LEBA
OEAB ， OEBA
TCK
TDI
TDO
TMS
VCC
描述
正常功能的总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的B-总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的芯片使能输入。见正常模式逻辑函数表。
地
正常功能的锁存使能输入。见正常模式逻辑函数表。
正常功能输出使能输入。见正常模式逻辑函数表。
测试时钟。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。该装置的测试操作是同步的，以
TCK 。捕获数据在TCK的上升沿，并输出在TCK的下降沿发生变化。
测试数据输入。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDI是通过移动数据的串行输入
指令寄存器或选定的数据寄存器。内部上拉的力量TDI为高电平，如果悬空。
测试数据输出。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDO是将数据串行输出
通过指令寄存器或选定的数据寄存器。
测试模式选择。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TMS通过TAP指示装置
控制器的状态。一个内部上拉力量TMS为高电平，如果悬空。
电源电压
4
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SN54ABT8543 ， SN74ABT8543
与扫描测试设备
挂号八路总线收发器
SCBS120E - 1991年8月 - 修订1996年7月
测试结构
串行测试信息通过4线测试总线或咨询的方式传达，符合IEEE标准
1149.1-1990 。测试说明，测试数据和测试控制信号都沿着这个串行总线测试通过。该
TAP控制器监视来自测试总线，TCK和TMS两个信号。 TAP控制器提取
同步（ TCK ）和国家控制（ TMS）从测试总线信号，并产生相应的片上
对于测试结构中的装置控制信号。图1示出了TAP控制器的状态图。
TAP控制器是完全同步的TCK信号。输入数据被捕获在TCK的上升沿和
在TCK的下降沿输出数据的变化。此方案确保数据被捕获的有效期为充分
二分之一的TCK时钟周期。
该功能框图显示了IEEE标准1149.1-1990 4线测试总线和边界扫描
体系结构和其中的测试总线，TAP控制器的关系，并且测试寄存器。如图所示，该
器件包含一个8位指令寄存器和三个测试数据寄存器： 40位边界扫描寄存器，
11位边界上，控制寄存器，和一个1位旁路寄存器。
测试逻辑复位
TMS = H
TMS = L
TMS = H
运行测试/空闲
TMS = L
选择DR扫描
TMS = L
TMS = H
捕捉-DR
TMS = L
按住Shift -DR
TMS = L
TMS = H
TMS = H
Exit1-DR
TMS = L
暂停-DR
TMS = L
TMS = H
TMS = L
Exit2-DR
TMS = H
更新DR
TMS = H
TMS = L
TMS = L
Exit2-IR
TMS = H
更新IR
TMS = H
TMS = L
TMS = H
Exit1-IR
TMS = L
暂停-IR
TMS = L
TMS = H
TMS = H
TMS = H
捕获红外
TMS = L
按住Shift -IR
TMS = L
TMS = H
选择红外扫描
TMS = L
TMS = H
图1. TAP控制器状态图
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5
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