【SN54ABT8245 ， SN74ABT8245扫描测试设备八进制总线收发器SCBS124D - 】,IC型号SN74ABT8245DW,SN74ABT8245DW PDF资料,SN74ABT8245DW经销商,ic,电子元器件-51电子网

SN54ABT8245 ， SN74ABT8245

扫描测试设备

八进制总线收发器

SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月

描述

与八进制总线“ ABT8245扫描测试设备

收发器是得克萨斯仪器成员

ments范围

可测试的集成电路

家庭。该系列器件支持IEEE

标准1149.1-1990边界扫描，方便

测试复杂的电路板组件。扫描

访问该测试电路是通过完成

4线测试访问端口（TAP ）接口。

DIR

3 2 1 28 27 26

12 13 14 15 16 17 18

德州仪器成员

范围

家庭可测性产品

兼容IEEE标准

1149.1-1990 （ JTAG ）测试访问端口

和边界扫描结构

功能上等同于' F245和

在正常功能模式“ ABT245

范围

指令集：

- IEEE标准1149.1-1990要求

说明，可选INTEST ， CLAMP ，

和HIGHZ

- 在输入并行信号分析

用蒙版选项

- 伪随机模式生成

从输出

- 采样输入/输出切换

- 二进制计数从输出

- 偶校验操作码

每个I / O两个边界扫描单元

更大的灵活性

国家的最先进的

EPIC-

ΙΙ

BiCMOS工艺设计

显著降低了功耗

封装选择包括塑料

小外形封装（ DW ），陶瓷

芯片载体（ FK ），和标准的陶瓷

DIP封装（ JT ）

SN54ABT8245 。。。 JT包装

SN74ABT8245 。。。 DW包装

（ TOP VIEW ）

DIR

GND

TDO

TMS

TDI

TCK

SN54ABT8245 。。。 FK包装

（ TOP VIEW ）

TDI

TCK

TMS

TDO

NC - 无内部连接

在正常模式中，这些设备在功能上等同于“ F245和' ABT245八进制总线收发器。

测试电路可通过在TAP被激活以采取出现在器件引脚的数据的快照样品

或以上的边界试验电池进行自测。激活在正常模式下在TAP不影响

范围的功能操作

八路总线收发器。

数据流由方向控制（DIR）和输出使能（OE）输入控制。数据传输是

从A总线允许B总线或从B总线到A总线，这取决于在DIR的逻辑电平。该

输出使能（OE）输入可用于禁用该设备，以使总线被有效隔离。

请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用

德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。

范围和EPIC- ΙΙB是德州仪器的商标。

PRODUCTION数据信息为出版日期。

产品符合每德州仪器条款规范

标准保修。生产加工并不包括

所有测试参数。

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

GND

版权

1996年，德州仪器

关于产品符合MIL -PRF- 38535 ，所有参数进行测试

除非另有说明。在所有其他产品，生产

加工不一定包括所有参数进行测试。

SN54ABT8245 ， SN74ABT8245

扫描测试设备

八进制总线收发器

SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月

描述（续）

在测试模式下，正常的范围的操作

总线收发器被抑制和测试电路是

使观察和控制设备的I / O的边界。当启用时，测试电路可以执行

如在IEEE标准1149.1-1990中所述边界扫描测试操作。

四个专用测试管脚控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI），测试数据输出（TDO ），

测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK ）。另外，测试电路执行其他测试功能

如在从数据输入和伪随机模式生成（ PRPG ）并行签名分析（PSA）的

数据输出。所有的测试和扫描操作同步到TAP接口。

该SN54ABT8245的特点是操作上的整个军用温度范围 - 55 ° C至125°C 。

该SN74ABT8245的特点是操作从 - 40 ° C至85°C 。

功能表

（正常模式）

输入

DIR

手术

B数据到总线

数据到B总线

隔离

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

SN54ABT8245 ， SN74ABT8245

扫描测试设备

八进制总线收发器

SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月

功能框图

边界扫描寄存器

DIR

一个8通道

旁路寄存器

边界控制

VCC

TDI

指令寄存器

TDO

VCC

TMS

龙头

调节器

TCK

显示引脚数都为DW和JT包。

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

SN54ABT8245 ， SN74ABT8245

扫描测试设备

八进制总线收发器

SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月

终端功能

终奌站

名字

A1 – A8

B1 – B8

DIR

GND

TCK

TDI

TDO

TMS

VCC

描述

正常功能的总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。

正常功能的B-总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。

正常功能方向控制输入。见正常模式逻辑函数表。

地

正常功能输出使能输入。见正常模式逻辑函数表。

测试时钟。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。该装置的测试操作是与TCK同步的。

捕获数据在TCK的上升沿和输出在TCK的下降沿发生变化。

测试数据输入。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDI是用于通过移动数据的串行输入

指令寄存器或选定的数据寄存器。内部上拉的力量TDI为高电平，如果悬空。

测试数据输出。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDO是通过将数据串行输出

指令寄存器或选定的数据寄存器。

测试模式选择。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TMS输入通过TAP指示装置

控制器的状态。一个内部上拉力量TMS为高电平，如果悬空。

电源电压

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

SN54ABT8245 ， SN74ABT8245

扫描测试设备

八进制总线收发器

SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月

测试结构

串行测试信息通过4线测试总线或TAP符合IEEE标准的设备传递

1149.1-1990 。测试说明，测试数据和测试控制信号都沿着这个串行总线测试通过。该

TAP控制器监视来自测试总线，TCK和TMS两个信号。 TAP控制器提取

同步（ TCK ）和国家控制（ TMS）从测试总线信号，并产生相应的片上

对于测试结构中的装置控制信号。图1示出了TAP控制器的状态图。

TAP控制器是完全同步的TCK信号。输入数据被捕获在TCK的上升沿和

在TCK的下降沿输出数据的变化。该方案可以确保被捕获的数据是有效的完全

二分之一的TCK时钟周期。

该功能框图显示了IEEE标准1149.1-1990 4线测试总线和边界扫描

体系结构和其中的测试总线，TAP控制器的关系，并且测试寄存器。如图所示，

该器件包含一个8位指令寄存器和三个测试数据寄存器： 36位边界扫描寄存器，

一个11位的边界控制寄存器，和一个1位旁路寄存器。

测试逻辑复位

TMS = H

TMS = L

TMS = H

运行测试/空闲

TMS = L

选择DR扫描

TMS = L

TMS = H

捕捉-DR

TMS = L

按住Shift -DR

TMS = L

TMS = H

Exit1-DR

TMS = L

暂停-DR

TMS = L

TMS = H

TMS = L

Exit2-DR

TMS = H

更新DR

TMS = H

TMS = L

Exit2-IR

TMS = H

更新IR

TMS = H

TMS = L

TMS = H

Exit1-IR

TMS = L

暂停-IR

TMS = L

TMS = H

捕获红外

TMS = L

按住Shift -IR

TMS = L

TMS = H

选择红外扫描

TMS = L

TMS = H

图1. TAP控制器状态图

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

SN54ABT8245 ， SN74ABT8245

扫描测试设备

八进制总线收发器

SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月

描述

与八进制总线“ ABT8245扫描测试设备

收发器是得克萨斯仪器成员

ments范围

可测试的集成电路

家庭。该系列器件支持IEEE

标准1149.1-1990边界扫描，方便

测试复杂的电路板组件。扫描

访问该测试电路是通过完成

4线测试访问端口（TAP ）接口。

DIR

3 2 1 28 27 26

12 13 14 15 16 17 18

德州仪器成员

范围

家庭可测性产品

兼容IEEE标准

1149.1-1990 （ JTAG ）测试访问端口

和边界扫描结构

功能上等同于' F245和

在正常功能模式“ ABT245

范围

指令集：

- IEEE标准1149.1-1990要求

说明，可选INTEST ， CLAMP ，

和HIGHZ

- 在输入并行信号分析

用蒙版选项

- 伪随机模式生成

从输出

- 采样输入/输出切换

- 二进制计数从输出

- 偶校验操作码

每个I / O两个边界扫描单元

更大的灵活性

国家的最先进的

EPIC-

ΙΙ

BiCMOS工艺设计

显著降低了功耗

封装选择包括塑料

小外形封装（ DW ），陶瓷

芯片载体（ FK ），和标准的陶瓷

DIP封装（ JT ）

SN54ABT8245 。。。 JT包装

SN74ABT8245 。。。 DW包装

（ TOP VIEW ）

DIR

GND

TDO

TMS

TDI

TCK

SN54ABT8245 。。。 FK包装

（ TOP VIEW ）

TDI

TCK

TMS

TDO

NC - 无内部连接

在正常模式中，这些设备在功能上等同于“ F245和' ABT245八进制总线收发器。

测试电路可通过在TAP被激活以采取出现在器件引脚的数据的快照样品

或以上的边界试验电池进行自测。激活在正常模式下在TAP不影响

范围的功能操作

八路总线收发器。

数据流由方向控制（DIR）和输出使能（OE）输入控制。数据传输是

从A总线允许B总线或从B总线到A总线，这取决于在DIR的逻辑电平。该

输出使能（OE）输入可用于禁用该设备，以使总线被有效隔离。

请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用

德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。

范围和EPIC- ΙΙB是德州仪器的商标。

PRODUCTION数据信息为出版日期。

产品符合每德州仪器条款规范

标准保修。生产加工并不包括

所有测试参数。

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

GND

版权

1996年，德州仪器

关于产品符合MIL -PRF- 38535 ，所有参数进行测试

除非另有说明。在所有其他产品，生产

加工不一定包括所有参数进行测试。

SN54ABT8245 ， SN74ABT8245

扫描测试设备

八进制总线收发器

SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月

描述（续）

在测试模式下，正常的范围的操作

总线收发器被抑制和测试电路是

使观察和控制设备的I / O的边界。当启用时，测试电路可以执行

如在IEEE标准1149.1-1990中所述边界扫描测试操作。

四个专用测试管脚控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI），测试数据输出（TDO ），

测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK ）。另外，测试电路执行其他测试功能

如在从数据输入和伪随机模式生成（ PRPG ）并行签名分析（PSA）的

数据输出。所有的测试和扫描操作同步到TAP接口。

该SN54ABT8245的特点是操作上的整个军用温度范围 - 55 ° C至125°C 。

该SN74ABT8245的特点是操作从 - 40 ° C至85°C 。

功能表

（正常模式）

输入

DIR

手术

B数据到总线

数据到B总线

隔离

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

SN54ABT8245 ， SN74ABT8245

扫描测试设备

八进制总线收发器

SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月

功能框图

边界扫描寄存器

DIR

一个8通道

旁路寄存器

边界控制

VCC

TDI

指令寄存器

TDO

VCC

TMS

龙头

调节器

TCK

显示引脚数都为DW和JT包。

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

SN54ABT8245 ， SN74ABT8245

扫描测试设备

八进制总线收发器

SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月

终端功能

终奌站

名字

A1 – A8

B1 – B8

DIR

GND

TCK

TDI

TDO

TMS

VCC

描述

正常功能的总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。

正常功能的B-总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。

正常功能方向控制输入。见正常模式逻辑函数表。

地

正常功能输出使能输入。见正常模式逻辑函数表。

测试时钟。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。该装置的测试操作是与TCK同步的。

捕获数据在TCK的上升沿和输出在TCK的下降沿发生变化。

测试数据输入。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDI是用于通过移动数据的串行输入

指令寄存器或选定的数据寄存器。内部上拉的力量TDI为高电平，如果悬空。

测试数据输出。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDO是通过将数据串行输出

指令寄存器或选定的数据寄存器。

测试模式选择。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TMS输入通过TAP指示装置

控制器的状态。一个内部上拉力量TMS为高电平，如果悬空。

电源电压

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

SN54ABT8245 ， SN74ABT8245

扫描测试设备

八进制总线收发器

SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月

测试结构

串行测试信息通过4线测试总线或TAP符合IEEE标准的设备传递

1149.1-1990 。测试说明，测试数据和测试控制信号都沿着这个串行总线测试通过。该

TAP控制器监视来自测试总线，TCK和TMS两个信号。 TAP控制器提取

同步（ TCK ）和国家控制（ TMS）从测试总线信号，并产生相应的片上

对于测试结构中的装置控制信号。图1示出了TAP控制器的状态图。

TAP控制器是完全同步的TCK信号。输入数据被捕获在TCK的上升沿和

在TCK的下降沿输出数据的变化。该方案可以确保被捕获的数据是有效的完全

二分之一的TCK时钟周期。

该功能框图显示了IEEE标准1149.1-1990 4线测试总线和边界扫描

体系结构和其中的测试总线，TAP控制器的关系，并且测试寄存器。如图所示，

该器件包含一个8位指令寄存器和三个测试数据寄存器： 36位边界扫描寄存器，

一个11位的边界控制寄存器，和一个1位旁路寄存器。

测试逻辑复位

TMS = H

TMS = L

TMS = H

运行测试/空闲

TMS = L

选择DR扫描

TMS = L

TMS = H

捕捉-DR

TMS = L

按住Shift -DR

TMS = L

TMS = H

Exit1-DR

TMS = L

暂停-DR

TMS = L

TMS = H

TMS = L

Exit2-DR

TMS = H

更新DR

TMS = H

TMS = L

Exit2-IR

TMS = H

更新IR

TMS = H

TMS = L

TMS = H

Exit1-IR

TMS = L

暂停-IR

TMS = L

TMS = H

捕获红外

TMS = L

按住Shift -IR

TMS = L

TMS = H

选择红外扫描

TMS = L

TMS = H

图1. TAP控制器状态图

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

SN54ABT8245 ， SN74ABT8245

扫描测试设备

八进制总线收发器

SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月

描述

与八进制总线“ ABT8245扫描测试设备

收发器是得克萨斯仪器成员

ments范围

可测试的集成电路

家庭。该系列器件支持IEEE

标准1149.1-1990边界扫描，方便

测试复杂的电路板组件。扫描

访问该测试电路是通过完成

4线测试访问端口（TAP ）接口。

DIR

3 2 1 28 27 26

12 13 14 15 16 17 18

德州仪器成员

范围

家庭可测性产品

兼容IEEE标准

1149.1-1990 （ JTAG ）测试访问端口

和边界扫描结构

功能上等同于' F245和

在正常功能模式“ ABT245

范围

指令集：

- IEEE标准1149.1-1990要求

说明，可选INTEST ， CLAMP ，

和HIGHZ

- 在输入并行信号分析

用蒙版选项

- 伪随机模式生成

从输出

- 采样输入/输出切换

- 二进制计数从输出

- 偶校验操作码

每个I / O两个边界扫描单元

更大的灵活性

国家的最先进的

EPIC-

ΙΙ

BiCMOS工艺设计

显著降低了功耗

封装选择包括塑料

小外形封装（ DW ），陶瓷

芯片载体（ FK ），和标准的陶瓷

DIP封装（ JT ）

SN54ABT8245 。。。 JT包装

SN74ABT8245 。。。 DW包装

（ TOP VIEW ）

DIR

GND

TDO

TMS

TDI

TCK

SN54ABT8245 。。。 FK包装

（ TOP VIEW ）

TDI

TCK

TMS

TDO

NC - 无内部连接

在正常模式中，这些设备在功能上等同于“ F245和' ABT245八进制总线收发器。

测试电路可通过在TAP被激活以采取出现在器件引脚的数据的快照样品

或以上的边界试验电池进行自测。激活在正常模式下在TAP不影响

范围的功能操作

八路总线收发器。

数据流由方向控制（DIR）和输出使能（OE）输入控制。数据传输是

从A总线允许B总线或从B总线到A总线，这取决于在DIR的逻辑电平。该

输出使能（OE）输入可用于禁用该设备，以使总线被有效隔离。

请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用

德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。

范围和EPIC- ΙΙB是德州仪器的商标。

PRODUCTION数据信息为出版日期。

产品符合每德州仪器条款规范

标准保修。生产加工并不包括

所有测试参数。

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

GND

版权

1996年，德州仪器

关于产品符合MIL -PRF- 38535 ，所有参数进行测试

除非另有说明。在所有其他产品，生产

加工不一定包括所有参数进行测试。

SN54ABT8245 ， SN74ABT8245

扫描测试设备

八进制总线收发器

SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月

描述（续）

在测试模式下，正常的范围的操作

总线收发器被抑制和测试电路是

使观察和控制设备的I / O的边界。当启用时，测试电路可以执行

如在IEEE标准1149.1-1990中所述边界扫描测试操作。

四个专用测试管脚控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI），测试数据输出（TDO ），

测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK ）。另外，测试电路执行其他测试功能

如在从数据输入和伪随机模式生成（ PRPG ）并行签名分析（PSA）的

数据输出。所有的测试和扫描操作同步到TAP接口。

该SN54ABT8245的特点是操作上的整个军用温度范围 - 55 ° C至125°C 。

该SN74ABT8245的特点是操作从 - 40 ° C至85°C 。

功能表

（正常模式）

输入

DIR

手术

B数据到总线

数据到B总线

隔离

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

SN54ABT8245 ， SN74ABT8245

扫描测试设备

八进制总线收发器

SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月

功能框图

边界扫描寄存器

DIR

一个8通道

旁路寄存器

边界控制

VCC

TDI

指令寄存器

TDO

VCC

TMS

龙头

调节器

TCK

显示引脚数都为DW和JT包。

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

SN54ABT8245 ， SN74ABT8245

扫描测试设备

八进制总线收发器

SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月

终端功能

终奌站

名字

A1 – A8

B1 – B8

DIR

GND

TCK

TDI

TDO

TMS

VCC

描述

正常功能的总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。

正常功能的B-总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。

正常功能方向控制输入。见正常模式逻辑函数表。

地

正常功能输出使能输入。见正常模式逻辑函数表。

测试时钟。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。该装置的测试操作是与TCK同步的。

捕获数据在TCK的上升沿和输出在TCK的下降沿发生变化。

测试数据输入。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDI是用于通过移动数据的串行输入

指令寄存器或选定的数据寄存器。内部上拉的力量TDI为高电平，如果悬空。

测试数据输出。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDO是通过将数据串行输出

指令寄存器或选定的数据寄存器。

测试模式选择。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TMS输入通过TAP指示装置

控制器的状态。一个内部上拉力量TMS为高电平，如果悬空。

电源电压

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

SN54ABT8245 ， SN74ABT8245

扫描测试设备

八进制总线收发器

SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月

测试结构

串行测试信息通过4线测试总线或TAP符合IEEE标准的设备传递

1149.1-1990 。测试说明，测试数据和测试控制信号都沿着这个串行总线测试通过。该

TAP控制器监视来自测试总线，TCK和TMS两个信号。 TAP控制器提取

同步（ TCK ）和国家控制（ TMS）从测试总线信号，并产生相应的片上

对于测试结构中的装置控制信号。图1示出了TAP控制器的状态图。

TAP控制器是完全同步的TCK信号。输入数据被捕获在TCK的上升沿和

在TCK的下降沿输出数据的变化。该方案可以确保被捕获的数据是有效的完全

二分之一的TCK时钟周期。

该功能框图显示了IEEE标准1149.1-1990 4线测试总线和边界扫描

体系结构和其中的测试总线，TAP控制器的关系，并且测试寄存器。如图所示，

该器件包含一个8位指令寄存器和三个测试数据寄存器： 36位边界扫描寄存器，

一个11位的边界控制寄存器，和一个1位旁路寄存器。

测试逻辑复位

TMS = H

TMS = L

TMS = H

运行测试/空闲

TMS = L

选择DR扫描

TMS = L

TMS = H

捕捉-DR

TMS = L

按住Shift -DR

TMS = L

TMS = H

Exit1-DR

TMS = L

暂停-DR

TMS = L

TMS = H

TMS = L

Exit2-DR

TMS = H

更新DR

TMS = H

TMS = L

Exit2-IR

TMS = H

更新IR

TMS = H

TMS = L

TMS = H

Exit1-IR

TMS = L

暂停-IR

TMS = L

TMS = H

捕获红外

TMS = L

按住Shift -IR

TMS = L

TMS = H

选择红外扫描

TMS = L

TMS = H

图1. TAP控制器状态图

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265