SN54ABT18652 ， SN74ABT18652
与扫描测试设备
18位总线收发器和寄存器
SCBS132A - 1992年8月 - 修订1992年10月
德州仪器成员
范围
家庭可测性产品
德州仪器成员
Widebus
家庭
兼容IEEE标准
1149.1-1990 （ JTAG ）测试访问端口和
边界扫描结构
包括D型触发器和控制
电路以提供复
存储和实时数据传输
每个I / O两个边界扫描单元
更大的灵活性
国家的最先进的
EPIC-
ΙΙ
B
BiCMOS工艺设计
显著降低了功耗
范围
指令集
- IEEE标准1149.1-1990要求
说明，可选INTEST和
P1149.1A CLAMP和HIGHZ
- 在输入并行信号分析随着
蒙版选项
- 伪随机模式生成
从输出
- 采样输入/输出切换
- 二进制计数从输出
- 设备标识
- 偶校验操作码
封装在64引脚塑料热收缩四方扁平
包（ PM）和68引脚陶瓷四方扁平
包（ HV ）
SN54ABT18652 。 。 。 HV封装
（ TOP VIEW ）
1A2
1A1
1OEBA
GND
1SAB
1CLKAB
TDO
V
CC
NC
TMS
1CLKBA
1SBA
1OEAB
GND
1B1
1B2
1B3
68 67 66 65 64 63 62 61 60 59 58 57 56 55 54 53 52
1A3
1A4
1A5
GND
1A6
1A7
1A8
1A9
NC
V
CC
2A1
2A2
2A3
GND
2A4
2A5
2A6
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
51
50
49
48
47
46
45
44
43
42
41
40
39
38
37
36
17
35
18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34
1B4
1B5
1B6
GND
1B7
1B8
1B9
V
CC
NC
2B1
2B2
2B3
2B4
GND
2B5
2B6
2B7
2A7
2A8
2A9
GND
2OEBA
2SAB
2CLKAB
TDI
NC
VCC
NC - 无内部连接
产品预览资料涉及产品的形成或
开发设计阶段。特征数据和其他
规格是设计目标。德州仪器公司保留权利，以
变更通知或不通知终止这些产品。
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
TCK
2CLKBA
2SBA
GND
2OEAB
2B9
2B8
版权
1992年，德州仪器
1
产品预览
SN54ABT18652 ， SN74ABT18652
与扫描测试设备
18位总线收发器和寄存器
SCBS132A - 1992年8月 - 修订1992年10月
SN74ABT18652 。 。 。 PM PACKAGE
（ TOP VIEW ）
64 63 62 61 60 59 58 57 56 55 54 53 52 51 50 49
1A3
1A4
1A5
GND
1A6
1A7
1A8
1A9
V
CC
2A1
2A2
2A3
GND
2A4
2A5
2A6
1A2
1A1
1OEBA
GND
1SAB
1CLKAB
TDO
V
CC
TMS
1CLKBA
1SBA
1OEAB
GND
1B1
1B2
1B3
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32
48
47
46
45
44
43
42
41
40
39
38
37
36
35
34
33
1B4
1B5
1B6
GND
1B7
1B8
1B9
V
CC
2B1
2B2
2B3
2B4
GND
2B5
2B6
2B7
产品预览
描述
18位总线收发器和寄存器的SN54ABT18652和SN74ABT18652扫描测试设备
德州仪器范围成员
可测试性IC系列。该系列器件支持IEEE标准
1149.1-1990边界扫描，方便的复杂电路板组件的测试。扫描访问测试
电路是通过4线测试访问端口（TAP ）接口来完成。
在正常模式下，这些设备是18位总线收发器和寄存器，允许对复
发送直接从输入总线或从内部寄存器中的数据的。它们可以被用来作为两个
9位收发器或1个18位的收发器。测试电路可以通过TAP采取快照被激活
出现在设备引脚或数据的样本上的边界试验电池进行自测。激活
在正常模式下在TAP不会影响范围的功能操作总线收发器和
寄存器。
在每个方向上的数据流是由时钟（ CLKAB和CLKBA ），选择控制（SAB和SBA ）和输出使能
（ OEAB和OEBA ）输入。对于A到B的数据流， A总线上的数据读入相关的寄存器上
CLKAB低到高的转变。当SAB是低，实时的数据被选择用于呈现给B总线
（透明模式） 。当SAB为高电平时，存储的数据被选择用于呈现给B总线（注册模式）。
当OEAB为高电平时， B输出是活动的。当OEAB为低电平时， B输出端处于高阻抗状态。
控制B-到一个数据流是类似的A到B的数据流量，但使用CLKBA ， SBA ，并OEBA投入。自
该OEBA输入为低电平有效时，A输出有效时OEBA低，处于高阻抗状态
当OEBA高。图1示出了可以执行的四个基本总线管理功能
与
′ABT18652.
2
2A7
2A8
2A9
GND
2OEAB
2SAB
2CLKAB
TDI
V
CC
TCK
2CLKBA
2SBA
GND
2OEAB
2B9
2B8
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
SN54ABT18652 ， SN74ABT18652
与扫描测试设备
18位总线收发器和寄存器
SCBS132A - 1992年8月 - 修订1992年10月
描述（续）
在测试模式下，正常的范围的操作
总线收发器和寄存器被抑制，并且测试
电路被使能，以观察和控制该设备的I / O的边界。当启用时，测试电路可以
根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。
四个专用测试引脚用来观察和控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI），
测试数据输出（TDO ） ，测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK ） 。另外，测试电路可以执行
其他测试功能，例如对数据的输入和伪随机模式生成并行签名分析
从数据输出。所有的测试和扫描操作同步到TAP接口。
附加的灵活性是通过为每个使用两个边界扫描单元（基站控制器）的设置在测试模式
I / O引脚。这允许独立的测试数据被捕获，并被迫在任一总线（ A或B） 。一个PSA / COUNT
指令还包括以缓解内存和其他电路的测试，其中一个二进制数的寻址
方案是有用的。
该SN54ABT18652的特点是在的整个军用温度范围 - 55 ° C至125°C 。该
SN74ABT18652的特点是操作从 - 40 ° C至85°C 。
功能表
（正常模式下，每一个9位的部分）
输入
OEAB
L
L
X
H
L
L
L
L
H
H
H
OEBA
H
H
H
H
X
L
L
L
H
H
L
CLKAB
L
↑
↑
↑
L
↑
X
X
X
L
L
CLKBA
L
↑
L
↑
↑
↑
X
L
X
X
L
SAB
X
X
X
X
X
X
X
X
L
H
H
SBA
X
X
X
X
X
X
L
H
X
X
H
数据I / O
A1 THRU A9
输入禁用
输入
输入
输入
Unspecified§
产量
产量
产量
输入
输入
产量
B1 B9 THRU
输入禁用
输入
Unspecified§
产量
输入
输入
输入
输入
产量
产量
产量
操作或功能
隔离
商店A和B的数据
商店A，按住B
在这两个寄存器保存一个
持有A， B店
在这两个寄存器存储B
实时B数据到总线
存储B数据到总线
实时的数据到B总线
存储在数据到B总线
存储在数据到B总线和
存储B数据到总线
的数据输出功能，可以启用或通过各种在OEAB或OEBA输入电平的组合的禁止。数据输入功能
始终处于启用状态;也就是说，在总线引脚的数据存储上的时钟输入每低到高的转变。
选择控制= L ：时钟，可以同时进行。
选择控制= H ：时钟必须以加载这两个寄存器错开。
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BUS B
OEAB OEBA
L
L
CLKAB CLKBA SAB
X
X
X
SBA
L
OEAB OEBA
H
H
CLKAB
X
CLKBA
X
SAB
L
BUS B
SBA
X
实时传输
BUS A TO BUS B
CLKAB
L
CLKBA
L
SAB
H
BUS B
SBA
H
传输存储数据
A和/或B
总线
实时传输
BUS B TO总线
BUS B
总线
OEAB
X
L
L
OEBA
H
X
H
CLKAB CLKBA SAB
↑
X
↑
X
↑
↑
X
X
X
SBA
X
X
X
OEAB
H
OEBA
L
从存储
A，B ，或者A和B
图1.总线管理功能
4
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总线
总线
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18位总线收发器和寄存器
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功能框图
边界扫描寄存器
1OEAB
1OEBA
1CLKBA
1SBA
1CLKAB
1SAB
53
62
55
54
59
60
C1
1D
63
1A1
C1
1D
1的9个频道
51
1B1
2OEAB
2OEBA
2CLKBA
2SBA
2CLKAB
2SAB
21
27
28
23
22
C1
1D
2A1
10
C1
1D
1的9个频道
40
2B1
旁路寄存器
边界控制
注册
鉴定
注册
TDI
VCC
24
VCC
56
26
58
指令
注册
TDO
TMS
TCK
龙头
调节器
显示引脚数是对PM包。
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