SN54LVTH18504A ， SN54LVTH182504A ， SN74LVTH18504A ， SN74LVTH182504A
3.3 -V ABT扫描测试设备
与20位通用总线收发器
SCBS667B - 1996年7月 - 修订1997年6月
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德州仪器成员
范围
家庭可测性产品
德州仪器成员
Widebus
家庭
一个国家的最先进的3.3 -V ABT设计，支持
混合模式信号操作（ 5 - V输入
输出电压采用3.3 V V
CC
)
支持非稳压电池操作
下降到2.7 V
UBT
（通用总线收发器）
联合收割机D类锁存器和D- TYPE
触发器的操作透明，
锁存或时钟模式
在总线保持数据输入消除了
无需外部上拉/下拉
电阻器
对“ LVTH182504A设备B端口输出
拥有等效25 Ω串联电阻，所以
无需外部电阻，需要
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兼容IEEE标准1149.1-1990
（ JTAG ）测试访问端口和
边界扫描结构
范围
指令集
- IEEE标准1149.1-1990要求
说明和可选的夹具和
高阻
- 在输入并行信号分析
- 伪随机模式生成
从输出
- 采样输入/输出切换
- 二进制计数从输出
- 设备标识
- 偶校验操作码
封装在64引脚塑料薄型四方扁平
（ PM ）包中使用0.5毫米
中心到中心的间距和68针
陶瓷四方扁平（ HV ）用包
25密耳的中心到中心的间距
描述
在“ LVTH18504A和” 20位通用总线收发器LVTH182504A扫描测试设备是会员
的德州仪器（ TI ）适用范围可测性集成电路系列。该系列器件支持
IEEE标准1149.1-1990边界扫描，方便的复杂电路板组件的测试。扫描访问
该测试电路是通过4线测试访问端口（TAP ）接口来完成。
此外，这些设备被用于低电压（3.3 - V）专
CC
操作，但与
能力，以提供一个TTL接口到一个5 -V系统的环境。
在正常模式下，这些设备是20位通用总线收发器相结合的D型锁存器和D型
触发器，使数据流在透明锁存，或时钟模式。测试电路可通过激活
TAP要出现在器件引脚的数据的快照样本，或者在执行自检
边界测试电池。激活TAP在正常模式下，不影响的功能操作
SCOPE通用总线收发器。
在每个方向上的数据流是由输出使能（ OEAB和OEBA ） ，锁存使能（ LEAB和LEBA ）控制，
时钟使能（ CLKENAB和CLKENBA ）和时钟（ CLKAB和CLKBA ）输入。对于A到B的数据流中，
设备工作在透明模式时LEAB高。当LEAB为低电平时， A总线的数据被锁存，而
CLKENAB是高和/或CLKAB被保持在一个静态的低或高逻辑电平。否则，如果LEAB是低和
CLKENAB低， A总线的数据存储在一个低到高的CLKAB的过渡。当OEAB为低电平时， B输出
是活动的。当OEAB为高电平时， B输出端处于高阻抗状态。 B对一个数据流是类似于
A到B的数据流量，但使用OEBA ， LEBA ， CLKENBA和CLKBA投入。
在测试模式中，所述范围的通用总线收发器的正常操作被禁止，并且测试电路
被使能，以观察和控制该设备的I / O的边界。当启用时，测试电路进行
根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议的边界扫描测试操作。
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用
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SCOPE ， UBT和Widebus是德州仪器的商标。
除非另有说明这个文件包含了生产
数据信息为出版日期。产品符合
每德州仪器标准保修条款的规范。
生产加工并不包括所有的测试
参数。
邮政信箱655303
版权
1997年，德州仪器
达拉斯，德克萨斯州75265
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