SN54ABTH18502A ， SN54ABTH182502A ， SN74ABTH18502A ， SN74ABTH182502A
扫描测试设备
内置18位通用总线收发器
SCBS164E - 1993年8月 - 修订1996年12月
SN74ABTH18502A ， SN74ABTH182502A 。 。 。 PM PACKAGE
（ TOP VIEW ）
64 63 62 61 60 59 58 57 56 55 54 53 52 51 50 49
1A3
1A4
1A5
GND
1A6
1A7
1A8
1A9
V
CC
2A1
2A2
2A3
GND
2A4
2A5
2A6
1A2
1A1
1OEAB
GND
1LEAB
1CLKAB
TDO
V
CC
TMS
1CLKBA
1LEBA
1OEBA
GND
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1B4
1B5
1B6
GND
1B7
1B8
1B9
V
CC
2B1
2B2
2B3
2B4
GND
2B5
2B6
2B7
描述
在“ ABTH18502A和” 18位通用总线收发器ABTH182502A扫描测试设备是会员
的德州仪器范围可测试集成电路的家庭。该系列器件支持IEEE
标准1149.1-1990边界扫描，方便的复杂电路板组件的测试。扫描访问
该测试电路是通过4线测试访问端口（TAP ）接口来完成。
在正常模式下，这些设备是18位通用总线收发器相结合的D型锁存器和D型
触发器，使数据流在透明锁存，或时钟模式。它们可以被用来作为两个9位
收发器或1个18位的收发器。测试电路可以通过TAP取快照的样品被激活
数据出现在器件引脚或上边界的试验细胞进行自测。激活TAP
在正常模式中，不影响范围通用总线收发器的功能操作。
在每个方向上的数据流是由输出使能（ OEAB和OEBA ） ，锁存使能（ LEAB和LEBA ）控制，
和时钟（ CLKAB和CLKBA ）输入。对于A到B的数据流，该设备工作在透明模式时，
LEAB高。当LEAB为低电平时， A总线的数据被锁存，而CLKAB被保持在一个静态的低或高逻辑电平。
否则，如果LEAB低， A总线的数据存储在一个低到高的CLKAB的过渡。当OEAB低，
B输出被激活。当OEAB为高电平时， B输出端处于高阻抗状态。 B对数据流
类似A到B的数据流量，而是使用OEBA ， LEBA和CLKBA投入。
在测试模式中，所述范围的通用总线收发器的正常运行被抑制，测试电路
被使能，以观察和控制该设备的I / O的边界。当启用时，测试电路进行
根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议的边界扫描测试操作。
2
2A7
2A8
2A9
GND
2OEAB
2LEAB
2CLKAB
TDI
V
CC
TCK
2CLKBA
2LEBA
GND
2OEBA
2B9
2B8
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
QQ：2880707522 复制
