SN54ABT18245A ， SN74ABT18245A
扫描测试设备
18位总线收发器
SCBS110H - 1992年8月 - 修订1999年2月
D
D
D
D
D
D
德州仪器成员
范围
家庭可测性产品
德州仪器成员
Widebus
家庭
兼容IEEE标准
1149.1-1990 （ JTAG ）测试访问端口和
边界扫描结构
范围
指令集
- IEEE标准1149.1-1990要求
说明， CLAMP和HIGHZ
- 在输入并行信号分析
- 伪随机模式生成
从输出
- 采样输入/输出切换
- 二进制计数从输出
- 设备标识
- 偶校验操作码
国家的最先进的
EPIC-
ΙΙ
B
BiCMOS工艺设计
显著降低了功耗
封装在一个塑料小外形
（ DL）和超薄紧缩小外形（ DGG ）
包和380万细间距陶瓷
平（ WD ）的软件包
SN54ABT18245A 。 。 。 WD包装
SN74ABT18245A 。 。 。 DGG或DL包装
（ TOP VIEW ）
描述
18位总线的“ ABT18245A扫描测试设备
收发器是德州的成员
SCOPE仪器可测性 integrated-
电路的家庭。该系列器件支持IEEE
标准1149.1-1990边界扫描，方便
测试复杂的电路板组件。扫描
访问该测试电路是通过完成
4线测试访问端口（TAP ）接口。
1DIR
1B1
1B2
GND
1B3
1B4
V
CC
1B5
1B6
1B7
GND
1B8
1B9
2B1
2B2
2B3
2B4
GND
2B5
2B6
2B7
V
CC
2B8
2B9
GND
2DIR
TDO
TMS
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
56
55
54
53
52
51
50
49
48
47
46
45
44
43
42
41
40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
1OE
1A1
1A2
GND
1A3
1A4
V
CC
1A5
1A6
1A7
GND
1A8
1A9
2A1
2A2
2A3
2A4
GND
2A5
2A6
2A7
V
CC
2A8
2A9
GND
2OE
TDI
TCK
在正常模式下，这些设备是18位的同相总线收发器。它们可以被用来作为两个
9位收发器或1个18位的收发器。测试电路可以通过TAP采取快照被激活
出现在设备引脚或数据的样本上的边界试验电池进行自检。激活
在正常模式下在TAP不会影响范围总线收发器的功能操作。
数据流由方向控制（DIR）和输出使能（OE）输入控制。数据传输是
从A总线允许B总线或从B总线到A总线，这取决于在DIR的逻辑电平。 OE罐
使用禁用的设备，这样的公交车得到有效隔离。
在测试模式中，所述范围总线收发器的正常运行被抑制，测试电路是
使观察和控制装置的输入/输出（I / O）的边界。当启用时，测试电路
根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
SCOPE ， Widebus和EPIC- ΙΙB是德州仪器的商标。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合每德州仪器条款规范
标准保修。生产加工并不包括
所有测试参数。
版权
1999年，德州仪器
关于产品符合MIL -PRF- 38535 ，所有参数进行测试
除非另有说明。在所有其他产品，生产
加工不一定包括所有参数进行测试。
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
1
SN54ABT18245A ， SN74ABT18245A
扫描测试设备
18位总线收发器
SCBS110H - 1992年8月 - 修订1999年2月
描述（续）
四个专用测试管脚观察和控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI），测试数据
输出（TDO ） ，测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK ） 。另外，测试电路执行其他测试
功能，例如对数据的输入和伪随机模式生成并行签名分析（PSA）的
（ PRPG ）从数据输出。所有的测试和扫描操作同步到TAP接口。
该SN54ABT18245A的特点是工作在-55 ° C至125°C的整个军用温度范围。
该SN74ABT18245A的特点是操作温度范围为-40 ° C至85°C 。
功能表
（正常模式下，每一个9位的部分）
输入
OE
L
L
H
DIR
L
H
X
手术
B数据到总线
数据到B总线
隔离
2
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SN54ABT18245A ， SN74ABT18245A
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18位总线收发器
SCBS110H - 1992年8月 - 修订1999年2月
功能框图
边界扫描寄存器
1DIR
1
1OE
56
1A1
55
2
1B1
其中9个频道
2DIR
26
2OE
31
2A1
43
14
2B1
其中9个频道
旁路寄存器
边界控制
注册
VCC
鉴定
注册
27
TDO
TDI
30
VCC
指令寄存器
TMS
28
龙头
调节器
TCK
29
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3
SN54ABT18245A ， SN74ABT18245A
扫描测试设备
18位总线收发器
SCBS110H - 1992年8月 - 修订1999年2月
终端功能
终奌站
名字
1A1–1A9,
2A1–2A9
1B1–1B9,
2B1–2B9
1DIR ， 2DIR
GND
10E， 2OE
TCK
TDI
TDO
TMS
VCC
描述
正常功能的总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的B-总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的方向控制。见正常模式逻辑函数表。
地
正常功能的输出使能。见正常模式逻辑函数表。
测试时钟。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。该装置的测试操作是同步的，以
TCK 。捕获数据在TCK的上升沿和输出在TCK的下降沿发生变化。
测试数据输入。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDI是通过移动数据的串行输入
指令寄存器或选定的数据寄存器。内部上拉的力量TDI为高电平，如果悬空。
测试数据输出。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDO是将数据串行输出
通过指令寄存器或选定的数据寄存器。
测试模式选择。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TMS通过TAP指示装置
控制器的状态。一个内部上拉力量TMS为高电平，如果悬空。
电源电压
4
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SN54ABT18245A ， SN74ABT18245A
扫描测试设备
18位总线收发器
SCBS110H - 1992年8月 - 修订1999年2月
测试结构
串行测试信息通过4线测试总线，或点击的方式传达，符合IEEE标准
1149.1-1990 。测试说明，测试数据和测试控制信号都沿着这个串行总线测试通过。该
TAP控制器监视来自测试总线，TCK和TMS两个信号。 TAP控制器提取
同步（ TCK ）和国家控制（ TMS）从测试总线信号，并产生相应的片上
对于测试结构中的装置控制信号。图1示出了TAP控制器的状态图。
TAP控制器是完全同步的TCK信号。输入数据被捕获在TCK的上升沿和
在TCK的下降沿输出数据的变化。此方案确保数据被捕获的有效期为充分
二分之一的TCK时钟周期。
该功能框图给出了IEEE标准1149.1-1990 4线测试总线和边界扫描
体系结构和其中的测试总线，TAP控制器的关系，并且测试寄存器。如图所示，
该器件包含一个8位指令寄存器和四个测试数据寄存器： 44位边界扫描寄存器，
3位的边界控制寄存器， 1位旁路寄存器，和一个32位的设备标识寄存器。
测试逻辑复位
TMS = H
TMS = L
TMS = H
运行测试/空闲
TMS = L
选择DR扫描
TMS = L
TMS = H
捕捉-DR
TMS = L
按住Shift -DR
TMS = L
TMS = H
TMS = H
Exit1-DR
TMS = L
暂停-DR
TMS = L
TMS = H
TMS = L
Exit2-DR
TMS = H
更新DR
TMS = H
TMS = L
TMS = L
Exit2-IR
TMS = H
更新IR
TMS = H
TMS = L
TMS = H
Exit1-IR
TMS = L
暂停-IR
TMS = L
TMS = H
TMS = H
TMS = H
捕获红外
TMS = L
按住Shift -IR
TMS = L
TMS = H
选择红外扫描
TMS = L
TMS = H
图1. TAP控制器状态图
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达拉斯，德克萨斯州75265
5
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