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SPICE器件模型Si4922DY
Vishay Siliconix公司
N通道30 -V (D -S )的MOSFET
特征
N沟道垂直DMOS
宏模型(子电路模型)
3级MOS
同时申请线性和开关应用
在精确的
55
至125°C温度范围
模型的栅极电荷,瞬态,二极管反向恢复
特征
描述
所附的SPICE模型描述了典型的电
的n沟道垂直DMOS特性。子电路
模型中提取并优化过
55
至125℃
脉冲0至5V栅极驱动下的温度范围。该
饱和输出阻抗是在靠近栅极偏压最佳拟合
阈值电压。
一种新颖的栅极 - 漏极电容的反馈网络是用来模拟
同时避免收敛困难的栅极电荷特性
交换的C
gd
模型。所有的模型参数值进行了优化
以提供最适合于所测量的电数据,并且不
目的是作为该装置的一个具体的物理解释。
子电路模型示意图
本文档的目的是作为一个SPICE建模准则,不构成商业产品数据表。设计师应该参考相应的
相同数量的保证规范限制的数据表。
文档编号: 71563
16-Apr-01
www.vishay.com
1
SPICE器件模型Si4922DY
Vishay Siliconix公司
规格(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
参数
STATIC
栅极阈值电压
通态漏电流
a
符号
V
GS ( TH)
I
D(上)
测试条件
V
DS
= V
GS
, I
D
= 250
A
V
DS
5 V, V
GS
= 10 V
V
GS
= 10 V,I
D
= 8.8 A
典型
1.1
365
0.013
0.015
0.024
31
0.72
单位
V
A
漏源导通电阻
a
r
DS ( ON)
V
GS
= 4.5 V,I
D
= 8.3 A
V
GS
= 2.5 V,I
D
= 7.2 A
正向跨导
二极管的正向电压
a
b
a
g
fs
V
SD
V
DS
= 15 V,I
D
= 8.8 A
I
S
= 1.7 A,V
GS
= 0 V
S
V
动态
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
导通延迟时间
上升时间
打开-O FF延迟时间
下降时间
源漏反向恢复时间
笔记
一。脉冲测试;脉冲宽度
300
s,
占空比
2%.
B 。通过设计保证,不受生产测试。
Q
g
Q
gs
Q
gd
t
D(上)
t
r
t
D(关闭)
t
f
t
rr
I
F
= 1.7 A, di / dt的= 100 A / μs的
V
DD
= 15 V ,R
L
= 15
I
D
1 ,V
= 10 V ,R
G
= 6
V
DS
= 15 V, V
GS
= 4.5 V,I
D
= 8.8 A
22.8
5.8
5.8
13
17
20
47
30
ns
nC
www.vishay.com
2
文档编号: 71563
16-Apr-01
SPICE器件模型Si4922DY
Vishay Siliconix公司
与实测数据模型的比较(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
文档编号: 71563
16-Apr-01
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3
SPICE器件模型Si4922DY
Vishay Siliconix公司
N通道30 -V (D -S )的MOSFET
特征
N沟道垂直DMOS
宏模型(子电路模型)
3级MOS
同时申请线性和开关应用
在精确的
55
至125°C温度范围
模型的栅极电荷,瞬态,二极管反向恢复
特征
描述
所附的SPICE模型描述了典型的电
的n沟道垂直DMOS特性。子电路
模型中提取并优化过
55
至125℃
脉冲0至5V栅极驱动下的温度范围。该
饱和输出阻抗是在靠近栅极偏压最佳拟合
阈值电压。
一种新颖的栅极 - 漏极电容的反馈网络是用来模拟
同时避免收敛困难的栅极电荷特性
交换的C
gd
模型。所有的模型参数值进行了优化
以提供最适合于所测量的电数据,并且不
目的是作为该装置的一个具体的物理解释。
子电路模型示意图
本文档的目的是作为一个SPICE建模准则,不构成商业产品数据表。设计师应该参考相应的
相同数量的保证规范限制的数据表。
文档编号: 71563
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1
SPICE器件模型Si4922DY
Vishay Siliconix公司
规格(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
参数
STATIC
栅极阈值电压
通态漏电流
a
符号
V
GS ( TH)
I
D(上)
测试条件
V
DS
= V
GS
, I
D
= 250
A
V
DS
5 V, V
GS
= 10 V
V
GS
= 10 V,I
D
= 8.8 A
典型
1.1
365
0.013
0.015
0.024
31
0.72
单位
V
A
漏源导通电阻
a
r
DS ( ON)
V
GS
= 4.5 V,I
D
= 8.3 A
V
GS
= 2.5 V,I
D
= 7.2 A
正向跨导
二极管的正向电压
a
b
a
g
fs
V
SD
V
DS
= 15 V,I
D
= 8.8 A
I
S
= 1.7 A,V
GS
= 0 V
S
V
动态
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
导通延迟时间
上升时间
打开-O FF延迟时间
下降时间
源漏反向恢复时间
笔记
一。脉冲测试;脉冲宽度
300
s,
占空比
2%.
B 。通过设计保证,不受生产测试。
Q
g
Q
gs
Q
gd
t
D(上)
t
r
t
D(关闭)
t
f
t
rr
I
F
= 1.7 A, di / dt的= 100 A / μs的
V
DD
= 15 V ,R
L
= 15
I
D
1 ,V
= 10 V ,R
G
= 6
V
DS
= 15 V, V
GS
= 4.5 V,I
D
= 8.8 A
22.8
5.8
5.8
13
17
20
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SPICE器件模型Si4922DY
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与实测数据模型的比较(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
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SPICE器件模型Si4922DY
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N通道30 -V (D -S )的MOSFET
特征
N沟道垂直DMOS
宏模型(子电路模型)
3级MOS
同时申请线性和开关应用
在精确的
55
至125°C温度范围
模型的栅极电荷,瞬态,二极管反向恢复
特征
描述
所附的SPICE模型描述了典型的电
的n沟道垂直DMOS特性。子电路
模型中提取并优化过
55
至125℃
脉冲0至5V栅极驱动下的温度范围。该
饱和输出阻抗是在靠近栅极偏压最佳拟合
阈值电压。
一种新颖的栅极 - 漏极电容的反馈网络是用来模拟
同时避免收敛困难的栅极电荷特性
交换的C
gd
模型。所有的模型参数值进行了优化
以提供最适合于所测量的电数据,并且不
目的是作为该装置的一个具体的物理解释。
子电路模型示意图
本文档的目的是作为一个SPICE建模准则,不构成商业产品数据表。设计师应该参考相应的
相同数量的保证规范限制的数据表。
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SPICE器件模型Si4922DY
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规格(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
参数
STATIC
栅极阈值电压
通态漏电流
a
符号
V
GS ( TH)
I
D(上)
测试条件
V
DS
= V
GS
, I
D
= 250
A
V
DS
5 V, V
GS
= 10 V
V
GS
= 10 V,I
D
= 8.8 A
典型
1.1
365
0.013
0.015
0.024
31
0.72
单位
V
A
漏源导通电阻
a
r
DS ( ON)
V
GS
= 4.5 V,I
D
= 8.3 A
V
GS
= 2.5 V,I
D
= 7.2 A
正向跨导
二极管的正向电压
a
b
a
g
fs
V
SD
V
DS
= 15 V,I
D
= 8.8 A
I
S
= 1.7 A,V
GS
= 0 V
S
V
动态
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
导通延迟时间
上升时间
打开-O FF延迟时间
下降时间
源漏反向恢复时间
笔记
一。脉冲测试;脉冲宽度
300
s,
占空比
2%.
B 。通过设计保证,不受生产测试。
Q
g
Q
gs
Q
gd
t
D(上)
t
r
t
D(关闭)
t
f
t
rr
I
F
= 1.7 A, di / dt的= 100 A / μs的
V
DD
= 15 V ,R
L
= 15
I
D
1 ,V
= 10 V ,R
G
= 6
V
DS
= 15 V, V
GS
= 4.5 V,I
D
= 8.8 A
22.8
5.8
5.8
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SI4922DY
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