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位置:首页 > IC型号导航 > 首字符S型号页 > 首字符S的型号第1555页 > SFF7N60
SEMIWELL
半导体
SFF7N60
N沟道MOSFET
特点
R
DS ( ON)
(最大1.2
)@V
GS
=10V
栅极电荷(典型值28nC )
改进的dv / dt能力,高耐用性
100%的雪崩测试
最高结温范围( 150 ° C)
符号
2.漏
1.门
3.源
概述
这是功率MOSFET采用SEMIWELL先进的生产
平面条形, DMOS技术。这一最新技术已
尤其是旨在最大限度地减少通态电阻,具有较高的
坚固耐用的雪崩特性。这些器件非常适合
高效率开关模式电源,有源功率因数
基于半桥拓扑结构校正,电子镇流器。
TO-220F
1
2
3
绝对最大额定值
符号
V
DSS
I
D
I
DM
V
GS
E
AS
E
AR
dv / dt的
P
D
T
英镑,
T
J
T
L
漏源极电压
(
*
漏电流受结温)
价值
600
7.0*
4.4*
(注1 )
参数
连续漏电流( @T
C
= 25
°C)
连续漏电流( @T
C
= 100
°C)
漏电流脉冲
栅极至源极电压
单脉冲雪崩能量
重复性雪崩能量
峰值二极管恢复的dv / dt
总功率耗散( @T
C
= 25 °C)
高于25 ℃的降额因子
工作结温&储藏温度
最大无铅焊接温度的目的,
1/8案件从5秒。
(注2 )
(注1 )
(注3)
单位
V
A
A
A
V
mJ
mJ
V / ns的
W
W / ℃,
°C
°C
28*
±
30
420
14.7
4.5
48
0.38
- 55 ~ 150
300
热特性
符号
R
θJC
R
θJA
参数
热阻,结到外壳
热阻,结到环境
价值
分钟。
-
-
典型值。
-
-
马克斯。
2.6
62.5
单位
° C / W
° C / W
版权所有@ SEMIWELL半导体公司,保留所有权利。
SFF7N60
电气特性
符号
开关特性
BV
DSS
Δ
BV
DSS
/
Δ
T
J
I
DSS
漏源击穿电压
击穿电压温度
系数
漏极 - 源极漏电流
门源泄漏,正向
栅源泄漏,反向
V
GS
= 0V时,我
D
= 250uA
I
D
= 250uA ,参考25 ℃下
V
DS
= 600V, V
GS
= 0V
V
DS
= 480V ,T
C
= 125 °C
V
GS
= 30V, V
DS
= 0V
V
GS
= -30V, V
DS
= 0V
V
DS
= V
GS
, I
D
= 250uA
V
GS
= 10 V,I
D
= 3.5A
600
-
-
-
-
-
-
0.6
-
-
-
-
-
-
10
100
100
-100
V
V /°C的
uA
uA
nA
nA
( T
C
= 25 ° C除非另有说明)
参数
测试条件
典型值
最大
单位
I
GSS
基本特征
V
GS ( TH)
R
DS ( ON)
栅极阈值电压
静态漏源导通状态电阻
tance
2.0
-
-
1.0
4.0
1.2
V
动态特性
C
国际空间站
C
OSS
C
RSS
t
D(上)
t
r
t
D(关闭)
t
f
Q
g
Q
gs
Q
gd
输入电容
输出电容
反向传输电容
V
GS
=0 V, V
DS
= 25V , F = 1MHz的
-
-
-
1100
110
12
1500
150
16
pF
动态特性
导通延迟时间
上升时间
打开-O FF延迟时间
下降时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅 - 漏极电荷(米勒电荷)
V
DS
=480V, V
GS
= 10V ,我
D
=7.0A
(注4,5)
-
V
DD
= 300V ,我
D
= 7.0A ,R
G
=25
(注4,5)
15
30
110
40
28
5
11
40
70
230
90
37
-
-
nC
ns
-
-
-
-
-
-
源极 - 漏极二极管额定值和特性
符号
I
S
I
SM
V
SD
t
rr
Q
rr
笔记
1. Repeativity评价:脉冲宽度有限的结温
2, L = 15.7mH ,我
AS
= 7A ,V
DD
= 50V ,R
G
= 25Ω ,起始物为
J
=
25°C
3. I
SD
图7A中, di / dt的
200A / us的,V
DD
BV
DSS
,起始物为
J
=
25°C
4.脉冲测试:脉冲宽度
300US ,占空比
2%
5.基本上是独立的工作温度。
参数
连续源电流
脉冲源电流
二极管的正向电压
反向恢复时间
反向恢复电荷
测试条件
积分反向的P- N结
二极管在MOSFET
I
S
= 7.0A ,V
GS
=0V
I
S
= 7.0A ,V
GS
= 0V ,二
F
/dt=100A/us
分钟。
-
-
-
-
-
典型值。
-
-
-
365
3.4
马克斯。
7.0
28
1.4
-
-
单元。
A
V
ns
uC
版权所有@ SEMIWELL半导体公司,保留所有权利。
典型特征
10
1
I
D
,漏电流[ A]
I
D
,漏电流[ A]
V
GS
15.0 V
10.0 V
8.0 V
7.0 V
6.5 V
6.0 V
5.5 V
底部: 5.0 V
上图:
10
1
150 C
10
0
o
10
0
25 C
-55 C
o
o
10
-1
注意事项:
1. 250μs的脉冲测试
2. T
C
= 25
注意事项:
1. V
DS
= 40V
2. 250μs的脉冲测试
10
-1
10
0
10
1
10
-1
2
4
6
8
10
V
DS
,漏源电压[V]
V
GS
,栅源电压[V]
图1.区域特征
图2.传输特性
5
R
DS ( ON)
[ ],
漏源导通电阻
V
GS
= 10V
3
V
GS
= 20V
I
DR
,反向漏电流[ A]
4
10
1
2
10
0
150
25
注意事项:
1. V
GS
= 0V
2. 250μs的脉冲测试
1
注:t
J
= 25
0
0
5
10
15
20
25
10
-1
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
1.2
1.4
I
D
,漏电流[ A]
V
SD
,源极 - 漏极电压[ V]
图3.导通电阻变化VS
漏电流和栅极电压
图4.体二极管正向电压
变化与源电流
和温度
2000
C
国际空间站
= C
gs
+ C
gd
(C
ds
=短路)
C
OSS
= C
ds
+ C
gd
C
RSS
= C
gd
12
V
GS
,栅源电压[V]
10
V
DS
= 120V
V
DS
= 300V
1500
电容[ pF的]
C
国际空间站
8
V
DS
= 480V
1000
C
OSS
6
4
500
C
RSS
注意事项:
1. V
GS
= 0 V
2. F = 1 MHz的
2
注:我
D
= 7.0 A
0
-1
10
0
10
0
10
1
0
5
10
15
20
25
30
35
V
DS
,漏源电压[V]
Q
G
,总栅极电荷[ NC ]
图5.电容特性
图6.栅极电荷特性
典型特征
(续)
1.2
3.0
BV
DSS
(归一化)
漏源击穿电压
1.1
R
DS ( ON)
(归一化)
漏源导通电阻
2.5
2.0
1.0
1.5
1.0
0.9
注意事项:
1. V
GS
= 0 V
2. I
D
= 250 A
0.5
注意事项:
1. V
GS
= 10 V
2. I
D
= 3.5 A
0.8
-100
-50
0
50
100
o
150
200
0.0
-100
-50
0
50
100
o
150
200
T
J
,结温[C]
T
J
,结温[C]
图7.击穿电压变化
与温度
图8.导通电阻变化
与温度
8
10
2
在这一领域
由R有限公司
DS ( ON)
I
D
,漏电流[ A]
10
1
10毫秒
DC
10
0
10
-1
注意事项:
o
1. T
C
= 25 C
o
2. T
J
= 150 C
3.单脉冲
0
10
-2
I
D
,漏电流[ A]
10
100
s
s
1毫秒
6
4
2
10
10
1
10
2
10
3
0
25
50
75
100
125
150
V
DS
,漏源电压[V]
T
C
,外壳温度[
]
图9.最高安全工作区
图10.最大漏极电流
VS外壳温度
10
0
Z
θ
JC
(T ) ,热响应
D = 0 .5
0 .2
10
-1
N 2 O TE S:
1 . Z
θ
J·C
(t) = 0 .8 5
/ W M A X 。
2 。 ü TY F A C到R,D = T
1
/t
2
3 . T
J·M
- T
C
= P
D M
* Z
θ
J·C
(t)
0 .1
0 .0 5
0 .0 2
0 .0 1
S IN克乐P ü LS ê
P
DM
t
1
t
2
10
-2
10
-5
10
-4
10
-3
10
-2
10
-1
10
0
10
1
t
1
,S之四重W AVE P ü LS E D ü RA TIO N [秒]
图11.瞬态热响应曲线
栅极电荷测试电路波形&
5K
0
Ω
1V
2
20F
0n
30F
0n
SM Tp的
A E咋
一个DT
的SuI
V
S
D
V
S
G
Q
g
1V
0
Q
g
s
Q
g
d
V
S
G
DT
U
3A
m
CAG
HR ê
电阻开关测试电路波形&
V
D
S
R
G
V
G
S
R
L
V
D
D
V
D
S
9
0
%
1
0
V
D
U
T
V
G
S
1
0
%
t
(n
d)
o
t
r
t
n
o
t
(f)
df
o
t
f
o
f
t
f
非钳位感应开关测试电路波形&
L
V
D
S
I
D
R
G
1
0
V
t
p
B
S
V
S
D
1
-- I
2
----------
E = L -
S
----------
A
S
A
2
B
S
-V
V
S.D。
D
D
B
S
V
S
D
I
S
A
V
D
D
I(
t
D
)
V
D
D
t
p
D
U
T
V ()
D
t
S
Te
i
m
SFF7N60
FF7N6
7N60
硅N沟道MOSFET
CHA
OSF
特点
7A,600V,R
DS ( ON)
( 1.0Ω最大) @V
GS
=10V
超低栅极电荷(典型值29nC )
快速开关能力
100%的雪崩测试
绝缘电压(V
ISO
= 4000V AC)
最高结温范围( 150 ℃ )
概述
这股力量
MOSFET导通时
使用Winsemi的制作
先进
平面条形, VDMOS技术。这一最新技术已
特别设计,以尽量减少对通态电阻,已
崎岖
合适的
雪崩特性。
桥式和全
镇流器,高
该器件是特别完善
线路一
桥谐振拓扑结构
交换效率
电子
电源模式
用品,有源功率因数校正。
绝对最大额定值
符号
V
DSS
I
D
连续漏电流( @ T = 100 ℃ )
I
DM
V
GS
E
AS
E
AR
dv / dt的
P
D
减额在25℃以上因素
T
J
,T
英镑
T
L
结温和存储温度
通道温度
0.38
-55~150
300
W/℃
漏电流脉冲
栅极至源极电压
单脉冲雪崩能量
重复性雪崩能量
峰值二极管恢复的dv / dt
总功率耗散( @ TC = 25 ℃ )
(Note2)
(Note1)
(Note3)
(Note1)
4.1*
26
±30
240
15
4.5
48
A
A
V
mJ
mJ
V / ns的
W
漏源电压
连续漏电流( @ T = 25 ℃ )
参数
价值
600
7*
单位
V
A
*
漏电流受结温
热特性
符号
R
QJC
R
qJA
参数
热阻,结-to -Case
热阻,结到 - 环境
价值
-
-
典型值
-
-
最大
2.6
62.5
单位
℃/W
℃/W
Rev.A的Jun.2011
版权所有@ Winsemi微电子有限公司,保留所有权利。
SFF7N60
FF7N6
7N60
电气特性( TC = 25 ℃ )
特征
栅极漏电流
栅源击穿电压
符号
I
GSS
V
( BR ) GSS
测试条件
V
GS
=±30V,V
DS
=0V
I
G
= ±10 μA ,V
DS
=0V
V
DS
=600V,V
GS
=0V
-
±30
-
-
600
2
-
-
-
-
-
-
-
-
TYPE
-
-
-
最大
±100
-
10
100
单位
nA
V
A
A
V
V
S
漏切离型电流
I
DSS
V
DS
=480V,Tc=125℃
I
D
= 250 μA ,V
GS
=0V
V
DS
=10V,I
D
=250 A
V
GS
=10V,I
D
=3.5A
V
DS
=50V,I
D
=3.5A
V
DS
=25V,
V
GS
=0V,
f=1MHz
V
DD
=200V,
I
D
=7.0A
R
G
=25,
(Note4,5)
V
DD
=480V,
漏极 - 源极击穿电压
栅极阈值电压
漏 - 源极导通电阻
正向跨导
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
开启时间
开关时间
下降时间
打开-O FF时间
总栅极电荷(栅源
V
( BR ) DSS
V
GS ( TH)
R
DS ( ON)
政府飞行服务队
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
tr
tf
花花公子
Qg
-
-
0.8
8.7
1100
15
135
30
80
65
60
29
7
14.5
-
4
1.0
-
1430
20
175
70
170
pF
ns
140
130
38
nC
-
-
-
-
加栅极 - 漏极)
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极( "miller" )充电
QGS
QGD
V
GS
=10V,
I
D
=7.0A
(Note4,5)
-
-
源极 - 漏极额定值和特性(Ta = 25℃)
特征
连续漏电流反向
脉冲漏极电流反向
正向电压(二极管)
反向恢复时间
反向恢复电荷
符号
I
DR
I
DRP
V
DSF
TRR
QRR
测试条件
-
-
I
DR
=7.4A,V
GS
=0V
I
DR
=7.4A,V
GS
=0V,
dI
DR
/ DT = 100 A / μs的
-
-
-
-
-
TYPE
-
-
-
320
2.4
最大
7.0
28
1.4
-
-
单位
A
A
V
ns
C
注1.Repeativity评价:脉冲宽度有限的结温
2.L = 18.5mH我
AS
=7A,V
DD
=50V,R
G
= 0Ω ,起始物为
J
=25℃
3.I
SD
≤7.0A,di/dt≤200A/us,V
DD
<BV
DSS
,起始物为
J
=25℃
4.Pulse测试:脉冲Width≤300us ,职务Cycle≤2 %
5.基本上是独立的工作温度。
此晶体管是静电敏感设备
请小心处理
2/7
稳定,让你提前
SFF7N60
FF7N6
7N60
图1导通状态特性
图2传输电流特性
图3导通电阻变化VS
漏电流
图4体二极管正向电压
变化与源电流
和温度
图5导通电阻变化VS
结温
图6栅极电荷特性
3/7
稳定,让你提前
SFF7N60
FF7N6
7N60
图7最大安全作业区
图8最大漏极电流与
外壳温度
图9瞬态热响应曲线
4/7
稳定,让你提前
SFF7N60
FF7N6
7N60
图10门测试电路波形&
图11电阻开关测试电路波形&
图12 Uncamped电感式开关测试电路波形&
5/7
稳定,让你提前
SFF7N60
N沟道MOSFET
特点
R
DS ( ON)
最大1.2欧姆在V
GS
= 10V
栅极电荷(典型29.0nC )
提高dv / dt能力,快速开关
100%的雪崩测试
概述
该MOSFET采用先进的平面带生产
DMOS
技术。
最新
技术
一直
尤其是旨在最大限度地减少通态电阻有
高雪崩坚固耐用的特点。这些设备都很好
适用于高效率开关模式电源主动
功率因数校正。基于半桥电子灯
拓扑
绝对最大额定值(T
J
= 25℃
除非另有规定编)
符号
V
DSS
I
D
漏源电压
漏电流
T
C
=25℃
参数
评级
600
7
单位
V
A
T
C
=100℃
V
GSS
I
DM
E
AS
E
AR
dv / dt的
P
D
T
j
, T
英镑
栅源电压
漏电流
脉冲
(注1 )
(注2 )
(注1 )
(注3)
4.3
±
30
28
267
15.2
4.5
152
-45 ~ 150
V
A
mJ
mJ
V / ns的
W
单脉冲雪崩能量
重复性雪崩能量
峰值二极管恢复的dv / dt
功率耗散T
C
=25℃
操作和存储温度范围
SFF7N60
热特性
符号
R
θJC
R
θCS
R
θJA
参数
热阻结到外壳
热阻情况下水槽典型。
热阻结到环境
评级
单位
℃/W
℃/W
℃/W
0.82
0.5
62.5
电气特性( TC = 25
除非另有说明)
评级
符号
条件
BV
DSS
ΔBV
DSS
/ΔT
J
I
DSS
I
GSSF
I
GSSR
漏源击穿电压
击穿
系数
V
DS
= 600V, V
GS
= 0V
零栅极电压漏极电流
V
DS
= 480V ,T
S
= 125℃
门体漏电流正向
门体漏电流反向
V
GS
= 30V, V
DS
= 0V
V
GS
= -30V, V
DS
= 0V
10
100
-100
nA
nA
1
uA
电压
温度
I
D
= 250uA ,参考到25 ℃
0.7
V/℃
V
GS
= 0 V,I
D
= 250uA
600
典型值。
最大
V
单位
基本特征
V
GS ( TH)
栅极阈值电压
静态漏源导通电阻
V
GS
= V
DS
, I
D
= 250uA
V
GS
= 10V ,我
D
= 3.5A
2.5
0.98
4.5
1.2
V
R
DS ( ON)
动态特性
C
国际空间站
C
OSS
C
RSS
输入电容
V
DS
= 25 V, V
GS
= 0V
输出电容
反向传输电容
F = 1.0MHz的
1000
110
12.6
pF
pF
pF
2/5
SFF7N60
开关特性
符号
t
D(上)
t
r
t
D(关闭)
t
f
Q
g
Q
gs
Q
gd
导通延迟时间
条件
典型值。
20
最大
单位
ns
ns
ns
ns
nC
nC
nC
V
DD
= 300V ,我
D
= 7.0A
开启上升时间
R
G
= 25
打开-O FF延迟时间
关断下降时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
V
DS
= 480V ,我
D
= 7.0A
V
GS
= 10V
50
80
70
29
4.7
(注4,5 )
(注4,5 )
12.5
漏源二极管的特性
I
S
I
SM
V
SD
t
rr
Q
rr
最大连续漏源二极管的正向电流
最大脉冲漏源二极管的正向电流
漏源二极管的正向电压
反向恢复时间
反向恢复电荷
V
GS
= 0V时,我
s
= 7.0A
V
GS
= 0V时,我
s
= 7.0A
dl
F
/ DT = 100 A /美
(注4 )
350
3.3
7.0
28.0
1.4
A
A
V
nS
uC
笔记
1.重复额定值:脉冲宽度有限的最高结温
2, L = 10MH ,我
AS
= 7.0A ,V
DD
= 50V ,R
G
= 25
,起始物为
J
= 25
3. I
SD
≤ 7.0A ,的di / dt = 200A / us的,V
DD
= BV
DSS
,起始物为
J
= 25
4.脉冲测试:脉冲宽度≤ 300US ,占空比≤ 2 %
5.基本上是独立运作温辐射
3/5
SFF7N60
图。 1在区域特征
图。 2导通电阻变化VS漏电流
与栅极电压
图。 3击穿电压变化VS
温度
图4.导通电阻变化与温度
图。 5最大安全作业区
图。 6最大漏极电流与外壳温度。
4/5
SFF7N60
TO- 220F封装尺寸
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