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SCANSTA111

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SNLS060K - 2001年8月 - 修订2013年4月

SCANSTA111增强扫描大桥

多点寻址IEEE 1149.1 （ JTAG ）端口

检查样品：

SCANSTA111

特点

真正的IEEE 1149.1的层次和多点

寻址能力

7插槽输入支持高达121独特

地址，询问地址，

播地址，以及4多铸组

地址（地址000000保留）

3 IEEE 1149.1兼容的本地配置

端口扫描

模式寄存器

允许本地水龙头是

绕过，入选插入扫描

链单独，或顺序的组

两个或三个

透明模式可以用一个被启用

单指令可以方便地将缓冲区

背板IEEE 1149.1销到那些在

单一的本地扫描端口

LSP ACTIVE输出提供本地端口

启用模拟公共汽车支持信号

IEEE 1149.4 。

通用本地端口直通位

是有用的交付写入脉冲

FPGA编程或监控设备

状态。

知名电状态

TRST上的所有本地扫描端口

32位计数器TCK

16位线性反馈移位寄存器签名夯

本地的TAP可以通过OE成为TRI -STATE

输入允许备用测试主拿

控制本地水龙头（ LSP

0-2

有三

状态通知输出）

3.0-3.6V V

电源供电

断电高阻抗输入和输出

支持实时插入/取款

描述

该SCANSTA111延伸的IEEE标准。 1149.1测试

公交车成多点测试总线的环境。该

优势过于单一多点方法

串行扫描链，提高测试吞吐量和

能够从系统中移除主板和留住

测试访问其余模块。每

达SCANSTA111支持当地3 IEEE 1149.1

可单独存取的搜索环或

串联结合。寻址是通过完成

用一个值匹配的加载指令寄存器

说的插槽输入。背板和板间

测试可以很容易地通过停放来实现

在稳定的TAP的一个地方TAP控制器

通过园区的指令控制状态。 32位

TCK柜台启用内置自测试操作要

在一个端口上进行的，而其他的扫描链

同时测试。

请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用

德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。

所有商标均为其各自所有者的财产。

PRODUCTION数据信息为出版日期。

产品符合占德州条款规范

仪器标准保修。生产加工过程中不

不一定包括所有参数进行测试。

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接线图

表1.名词解释

LFSR

LSP

当地

线性反馈移位寄存器。当启用时，会产生采样串行测试数据的16位签名。

本地扫描端口。驱动本地的四信号端口（即非背板）扫描链。（例如， TCK

， TMS

， TDO

TDI

当地是用来描述IEEE标准。 1149.1兼容的扫描环和SCANSTA111测试访问端口

驱使他们。这个词从本地系统测试架构采用了“ STA111将最常用

可以使用在;即，系统测试底板，每个卡上的“ STA111可驱动高达每3本地扫描戒指

卡。（每张卡可以包含多个' STA111s ，每3本地扫描端口“ STA111 ）。

停放，取消驻留，并已启动，用于描述LSP控制器的状态和当地TAP状态

控制器（本地的TAP控制器指的扫描部件的TAP控制器组成一个本地

扫描环）。公园也被用来形容停放LSP （过渡的作用进入停放LSP之一

控制器状态）。它以了解是很重要的是，当LSP控制器处于停车状态中的一个，TMS

保持恒定，从而保持或停车的地方的TAP控制器在一个给定的状态。

测试访问端口由IEEE标准所定义的。 1149.1 。

选中和未选中是指“ STA111选择控制器的状态。选定“ STA111已

妥善处理和准备接收2级协议。未选中“ STA111s监控系统测试

背板，但不接受级别2协议（除

GOTOWAIT

指令）。数据寄存器和

未选择的“ STA111s的LSP都无法从系统中测试主访问。

该活动扫描链是指在扫描链的结构在某一特定时刻看到的测试主。

当一个“ STA111选择与其所有的LSP停车时，所述主动扫描链是仅在当前扫描寄存器。

当LSP是已启动，活动扫描链变为： TDI

→

目前“ STA111寄存器

→

局部扫描

环寄存器

→

一个PAD位

→

TDO

。请参阅

表6

对于LSP网络已启动的配置。

级别1是用于寻址' STA111的协议。

级别2是一次' STA111被选择时所使用的协议。 2级协议是IEEE标准。 1149.1标准

当个体' STA111被选中。

一个一比特的寄存器，它被放置在每个本地扫描端口扫描链的末端。在PAD位消除了道具

这将通过TDI之间的“ STA111 LSPN逻辑被添加延迟

和TDO

(n+1)

或TDO

通过缓冲和

LSP的TDI输入同步到TCK的下降沿

，因此允许数据以较高的扫描

频率不违反建立时间和保持时间。

最低有效位，在一个寄存器中的最右边的位置（位0）。

最有效位，在一个寄存器中的最左边的位置。

公园/取消驻留/取消驻留

龙头

选中/未选中

主动扫描链

1级协议

2级协议

PAD

最低位

最高位

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架构

图1

示出了' STA111的基本体系结构。该设备的主要功能模块都在这里说明。

TAP控制器，具有16个状态的状态机，是中央控制设备。指令寄存器和

各个测试数据寄存器可以被扫描行使' STA111的各种功能（这些寄存器

表现为在IEEE标准定义。 1149.1 ）。的' STA111选择控制器提供允许的功能

在一个多点的环境中使用的1149.1协议。它主要的地址输入进行比较，以所述时隙

识别和使' STA111用于随后的扫描操作。本地扫描端口网络（ LSPN ）

包含用来选择不同的端口配置复用的逻辑。该LSPN控制块包含本地

扫描端口控制器（ LSPC ）对每个本地扫描端口（ LSP

， LSP

LSP ...

）。该控制模块接收输入

从“ STA111指令寄存器，状态寄存器和TAP控制器。每一个本地端口包含所有四个

需要边界扫描信号与本地的TAP加上可选的测试复位信号（ TRST ）接口。

图1. SCANSTA111框图

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引脚说明

引脚名称

VCC

GND

TMS

号

引脚

I / O

不适用

动力

地

背板测试模式选择：控制顺序通过的TAP控制器

“ STA111 。还控制这是在本地扫描链的水龙头测序。该输入具有

25KΩ上拉电阻和没有ESD钳位二极管（ESD进行控制的另一种方法）。当

该设备是关机（V

浮动），显示该输入是容性负载到地

(1)

。当

= 0V （即;不浮，但连接到V

）该输入似乎是与拉容性负载

到地面。

背板测试数据输入：所有底板扫描数据是通过该供给到' STA111

输入引脚。该输入具有25KΩ上拉电阻和没有ESD钳位二极管（ESD控制用

另一种方法）。当该装置处于断电状态（Ⅴ

浮动），显示该输入是一个电容

负载到地

(1)

。当V

= 0V （即;不浮，但连接到V

）该输入似乎是一个

电容性负载用的上拉至地。

背板测试数据输出：此输出驱动器，从“ STA111和本地测试数据

水龙头，走回扫描主控制器。这种输出具有驱动电流24毫安。当

设备断电（V

= 0V或浮动），此输出似乎是一个电容性负载

(1)

测试时钟输入从背板：这是控制所有主时钟信号

的本地扫描的端口' STA111和扫描操作。该输入没有上拉电阻和无

ESD钳位二极管（ESD进行控制的另一种方法）。当该装置处于断电状态（Ⅴ

浮动），显示该输入是容性负载到地

(2)

。当V

= 0V （即;不浮

但连接到V

）该输入似乎是一个容性负载接地。

测试复位：异步复位信号（低电平有效），它初始化“ STA111逻辑。这

输入具有25KΩ上拉电阻和没有ESD钳位二极管（ESD进行控制的备用

法）。当该装置处于断电状态（Ⅴ

浮动），显示该输入是容性负载

地

(2)

。当V

= 0V （即;不浮，但连接到V

）该输入似乎是一个电容

加载具有上拉至地。

TRI- STATE通知输出：此信号为高电平时，相关的TDO是

三态的。美联社表示特里斯特

是TDO

，特里斯特

是TDO

等，该输出具有

12毫安驱动电流。

背板直通输入：通用输入被驱动到Y

A的

单选择LSP 。（不可用时，多条LSP被选中）。该输入具有内部

上拉电阻。

背板直通输出：通用输出，从A驱动

单个选定的LSP。（不可用时，多条LSP被选中）。该输出具有24毫安

驱动电流。

SLOT鉴定：这些引脚的配置用来识别（分配一个唯一的

针对于）对系统背板的每个' STA111 。

OUTPUT ENABLE为本地扫描端口，低电平有效。当高，这种低有效控制信号

三态的' STA111所有本地扫描端口，以使备用资源访问的一种或

更多三本地扫描链。

测试数据输出：为每个本地扫描端口个别输出。这些输出有

24毫安驱动电流。

测试数据输入：单个扫描数据输入为每个本地扫描端口。

测试模式选择输出：对于每个本地扫描端口单独的输出。 TMS

不

提供一个上拉电阻器（其被假定为存在于一个连接的TMS的输入，根据IEEE

1149.1要求）。这些输出具有驱动电流24毫安。

本地测试时钟输出：对于每个本地扫描端口单独的输出。这些都是

TCK的缓冲版本

。这些输出具有驱动电流24毫安。

本地测试复位的： TRST的门版本

。这些输出具有驱动电流24毫安。

LOCAL直通输入：通用输入可驱动背板

销

。（仅在LSP

和LSP

。仅当一个LSP被选中）。这些输入有

内部上拉电阻。

LOCAL直通输出：通用输出可以从驱动

背板引脚上的

。（仅在LSP

和LSP

。仅当一个LSP被选中）。这些

输出具有驱动电流24毫安。

描述

TDI

TDO

TCK

TRST

特里斯特

(B,0-2)

(0-6)

TDO

(0-2)

TDI

(0-2)

TMS

(0-2)

TCK

(0-2)

TRST

(0-2)

(0-1)

(1)

(2)

请参考我们的网站上进行I / O特性的IBIS模型。

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引脚说明（续）

引脚名称

LSP_ACTIVE

(0-2)

号

引脚

I / O

描述

本地模拟测试总线ENABLE ：这些模拟引脚作为启用模拟信号

总线支持IEEE 1149.4混合信号测试总线标准，或用于底板物理

层的变化（因此， TTL到LVDS ）。这些输出具有驱动电流12毫安。

局部三态通知输出：此信号为高时，本地扫描端口

三态的。这些引脚用于背板物理层的变化（即; TTL到LVDS ）。这些

输出具有驱动电流12毫安。

TEST ENABLE输入：此引脚用于工厂测试，并应连接到V

正常

操作。

特里斯特

(0-2)

测试开启

应用概述

解决方案

- 该SCANSTA111架构扩展了IEEE 1149.1标准的功能

通过补充该协议与寻址方案，它允许测试控制器与通信

STA111s具体'内的一个网络STA111s ' 。该网络可以包括多点和分级

连接。实际上， ' STA111架构允许一个测试控制器动态地选择的特定部分

这样的网络参与扫描操作。这允许一个复杂的系统被划分成更小的

块用于测试目的。在“ STA111提供了两个级别的考试，网络分区功能。首先，一个测试

控制器可以选择个人的STA111s ，具体设置' STA111s （多播组），或所有“ STA111s

（广播）。这种“ STA111选择过程是由Level-1的通信协议的支持。其次，在

每个选定的“ STA111 ，测试控制器可以选择一个芯片的三个本地扫描端口或更多。即，

个别地方的端口，可以选择列入（单）扫描链，一个“ STA111呈现给测试

控制器。这种机制允许控制器选择的整体扫描范围内的特定终端扫描链

网络。端口选择过程由Level-2的协议支持。

层次支持

- 多个SCANSTA111的可以用来组装一个分层的边界扫描

树。在这样的配置中，系统测试器可以作为配置的一组“ STA111s的本地端口，以便

一组特定的本地扫描链连接到所述主动扫描链。使用这种能力，测试者可以

与目标系统的特定部分选择地进行通信。测试仪的扫描端口连接到

的' STA111s ，其每一个可以通过使用多点寻址方式选择了基础层的底板扫描端口。一

的' STA111s第二层可以被连接到这根层，通过连接一个根层的一个本地端口（ LSP）的

“ STA111到第二层的背板端口” STA111 。这个过程可以继续构建多级

扫描层次。 '不属于级联成更高级别的STA111本地端口“ STA111s可以被认为是作为

终端树叶的扫描树。测试主可以选择一个或多个目标留下了选择和配置

的一套合适的“ STA111s在测试树中的本地端口。

请与您的ATPG工具的供应商，以确保支持此功能。

状态机

的' STA111是IEEE 1149.1兼容，因为它支持所有所需1149.1操作。此外，它支持

更高级别的协议，（ 1级），它扩展了IEEE 1149.1标准。到多点的环境。

在多点扫描系统，扫描仪可以选择个人的STA111s为参加即将到来的扫描

操作。 STA111选择是通过同时扫描的装置地址到多个完成

“ STA111s 。通过芯片上地址匹配过程中，只有那些' STA111s其静态分配

地址相匹配的扫描出地址成为选择用于接收来自扫描仪的进一步说明。

SCANSTA111选择是使用一个Level-1的协议，而后续的指令被发送到选定的

“ STA111s使用Level-2的协议。

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