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SCANSTA111增强扫描桥梁多点寻址IEEE 1149.1 ( JTAG )端口
2005年10月
SCANSTA111
增强扫描桥梁
多点寻址IEEE 1149.1 ( JTAG )端口
概述
该SCANSTA111延伸的IEEE标准。 1149.1测试总线
进入多点测试总线的环境。的优点
在一个单一的串行扫描链,多点方法是im-
探明测试吞吐量并删除板的能力
从系统和保留测试接入到剩余
模块。每个SCANSTA111最多支持3个当地
IEEE1149.1扫描环可单独访问的
或组合串联。寻址是通过加载完成
指令寄存器的值相匹配的插槽中
输入。背板和板间测试可以很容易地被响应
停经当地TAP控制器的一个complished
通过园区的指令稳定的TAP控制器的状态。 32位
TCK柜台启用内置自测试操作要per-
形成在一个端口上,而其他的扫描链被simulta-
neously测试。
n
3 IEEE 1149.1兼容配置本地扫描端口
n
模式寄存器
0
允许本地抽头被绕过,
选择用于插入到扫描链单独,或
串联的两个或三个基团
n
透明模式也可以与一个单一的使能
指令可以方便地缓冲底板IEEE
1149.1引脚那些在一个本地端口扫描
n
LSP ACTIVE输出提供本地端口使能信号
模拟总线支持IEEE 1149.4 。
n
通用本地端口直通位很有用
交付写入脉冲用于FPGA编程或
监控设备状态。
n
知名电状态
n
TRST上的所有本地扫描端口
n
32位计数器TCK
n
16位线性反馈移位寄存器签名夯
n
本地的TAP可以通过OE输入成为TRI -STATE
可替代测试主采取局部控制
龙头( LSP
0-2
具有三态输出的通知)
n
3.0-3.6V V
CC
电源供电
n
断电高阻抗输入和输出
n
支持实时插入/取款
特点
n
真正的IEEE 1149.1的层次和多点
寻址能力
n
7插槽输入支持高达121的唯一地址,
询问地址,广播地址,而4
多播组地址(地址为000000
预留)
连接图
10124516
10124502
2005美国国家半导体公司
DS101245
www.national.com
SCANSTA111
表1.名词解释
LFSR
LSP
当地
线性反馈移位寄存器。当启用时,会产生采样串行测试的16位签名
数据。
本地扫描端口。驱动本地的四信号端口(即非背板)扫描链。 (例如, TCK
0
, TMS
0
,
TDO
0
, TDI
0
).
当地是用来描述IEEE标准。 1149.1兼容的扫描环和SCANSTA111测试访问端口
驱动它们。这个词从本地系统测试架构采用了“ STA111将最
通常被用在;即,系统测试底板,每个卡上的“ STA111驱动多达3地方
每张卡的扫描环。 (每张卡可以包含多个' STA111s ,每3本地扫描端口“ STA111 )。
公园/取消驻留/取消驻留停放,取消驻留,并已启动,用于描述LSP控制器的状态和的状态
本地的TAP控制器(本地的TAP控制器指的扫描部件的TAP控制器
弥补本地扫描环) 。园还用于描述停放LSP的动作(转换成
停放的LSP控制的州之一) 。重要的是要明白,当一个LSP控制器处于很重要
停放的国家之一, TMS
n
保持恒定,从而保持或停放在一个本地的TAP控制器
给定状态。
龙头
选中/未选中
测试访问端口由IEEE标准所定义的。 1149.1 。
选中和未选中是指“ STA111选择控制器的状态。选定“ STA111有
得到妥善解决,并已准备好接收2级协议。未选中“ STA111s监控
系统测试底板,但不接受级别2协议(除
GOTOWAIT
指令)。该
数据寄存器和未选择的“ STA111s的LSP都无法从系统中测试主访问。
该活动扫描链是指在扫描链的结构在给定的可见由测试主
的时刻。当一个“ STA111选择与其所有的LSP停车时,所述主动扫描链是当前
只扫描登记。当LSP是已启动,活动扫描链变为: TDI
B
当前的' STA111
注册
局部扫描寄存器环
一个PAD位
TDO
B
。请参阅
表7
对已启动
该LSP网络的配置。
级别1是用于寻址' STA111的协议。
级别2是一次' STA111被选择时所使用的协议。 2级协议是IEEE标准。 1149.1
符合当个体' STA111被选中。
一个一比特的寄存器,它被放置在每个本地扫描端口扫描链的末端。在PAD位消除
这将通过TDI之间的“ STA111 LSPN逻辑被添加丙延迟
n
和TDO
(n+1)
或TDO
B
by
缓冲和LSP的TDI输入同步于TCK的下降沿
B
,因此允许数据被
在较高的频率扫描,而不违反的建立和保持时间。
最低有效位,在一个寄存器中的最右边的位置(位0)。
最有效位,在一个寄存器中的最左边的位置。
主动扫描链
1级协议
2级协议
PAD
最低位
最高位
www.national.com
2
SCANSTA111
架构
图1
示出了' STA111的基本体系结构。该
设备的主要功能模块都在这里说明。该
TAP控制器,具有16个状态的状态机,是中央CON-
控制该设备。指令寄存器和各种测试
数据寄存器可以被扫描行使的各种功能
的' STA111的行动(这些寄存器表现为在定义
IEEE标准。 1149.1 ) 。在“ STA111选择控制器提供
它允许在要使用的1149.1协议的功能
多点的环境。它主要比较的地址
输入到时隙识别和使' STA111用于
随后的扫描操作。本地扫描端口网络
( LSPN )包含用来选择不同的复用逻辑
端口配置。该LSPN控制块包含
本地扫描端口控制器( LSPC )对每个本地扫描端口
( LSP
0
, LSP
1
LSP ...
n
) 。该控制模块接收来自输入
在“ STA111指令寄存器,状态寄存器和TAP
控制器。每一个本地端口包含所有四个边界扫描
所需信号与本地的TAP加上接口
可选的测试复位信号( TRST ) 。
10124503
图1. SCANSTA111框图
3
www.national.com
SCANSTA111
表2.引脚说明
引脚名称
VCC
GND
TMS
B
引脚
3
3
1
I / O
不适用
不适用
I
动力
描述
背板测试模式选择:控制顺序通过的TAP控制器
“ STA111 。还控制这是在本地扫描链的水龙头测序。该输入
具有25KΩ上拉电阻和没有ESD钳位二极管(ESD进行控制的备用
法)。当该装置处于断电状态(Ⅴ
DD
浮动) ,显示该输入是一个电容
负载到地(注1) 。当V
DD
= 0V (即;不浮,但连接到V
SS
)出现这种输入
以与上拉至地的电容性负载。
背板测试数据输入:所有底板扫描数据是通过供给到' STA111
这种输入管脚。该输入具有25KΩ上拉电阻和没有ESD钳位二极管( ESD是
用另一种方法来控制)。当该装置处于断电状态(Ⅴ
DD
浮动) ,该输入
似乎是一种电容性负载向地面(注1) 。当V
DD
= 0V (即;不浮,但绑
到V
SS
)该输入似乎是与上拉至地的电容性负载。
背板测试数据输出:此输出驱动器,从“ STA111和测试数据
当地水龙头,走回扫描主控制器。这种输出具有驱动电流24毫安。
当该装置处于断电状态(Ⅴ
DD
= 0V或浮动) ,此输出似乎是一个电容
负载(注1) 。
测试时钟输入从背板:这是控制主时钟信号
的本地扫描的端口' STA111和所有扫描操作。该输入具有无拉
电阻器和没有ESD钳位二极管(ESD进行控制的另一种方法) 。当
设备断电(V
DD
浮动) ,显示该输入是容性负载到地(注
1) 。当V
DD
= 0V (即;不浮,但连接到V
SS
)该输入似乎是一个电容
负载到地。
测试复位:异步复位信号(低电平有效),它初始化“ STA111逻辑。
该输入具有25KΩ上拉电阻和没有ESD钳位二极管(ESD控制用
另一种方法) 。当该装置处于断电状态(Ⅴ
DD
浮置) ,该输入似乎是一个
容性负载到地(注1) 。当V
DD
= 0V (即;不浮,但连接到V
SS
)这
显示输入是一个电容性负载用的上拉至地。
TRI- STATE通知输出:此信号为高电平时,相关的TDO
为三态。美联社表示特里斯特
B
是TDO
B
,特里斯特
1
是TDO
1
等,该输出
有驱动电流12毫安。
背板直通输入:通用输入被驱动到Y
n
of
单个选定的LSP。 (不可用时,多条LSP被选中) 。该输入具有
内部上拉电阻。
背板直通输出:通用输出,从驱动
A
n
的单一选择的LSP。 (不可用时,多条LSP被选中) 。此输出
有驱动电流24毫安。
SLOT鉴定:这些引脚的配置用来识别(分配一个唯一的
针对于)对系统背板的每个' STA111 。
OUTPUT ENABLE为本地扫描端口,低电平有效。当高,这种低有效控制
信号三态上的“ STA111所有本地扫描端口,以使备用资源
访问一个或多个本地三扫描链。
测试数据输出:为每个本地扫描端口个别输出。这些输出
有驱动电流的24毫安。
测试数据输入:单个扫描数据输入为每个本地扫描端口。
测试模式选择输出:对于每个本地扫描端口单独的输出。 TMS
n
不提供一个上拉电阻器(其被假定为存在于一个连接的TMS
输入时,根据IEEE 1149.1的规定) 。这些输出具有驱动电流24毫安。
本地测试时钟输出:对于每个本地扫描端口单独的输出。这些
缓冲TCK版本
B
。这些输出具有驱动电流24毫安。
TDI
B
1
I
TDO
B
1
O
TCK
B
1
I
TRST
B
1
I
特里斯特
(B,0-2)
4
O
A
B
1
I
Y
B
1
O
S
(0-6)
OE
7
1
I
I
TDO
(0-2)
TDI
(0-2)
TMS
(0-2)
3
3
3
O
I
O
TCK
(0-2)
3
O
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4
SCANSTA111
表2.引脚说明
(续)
引脚
3
2
引脚名称
TRST
(0-2)
A
(0-1)
I / O
O
I
描述
本地测试复位的: TRST的门版本
B
。这些输出驱动器具有的24毫安
电流。
LOCAL直通输入:通用输入可驱动至
背板引脚
B
。 (仅在LSP
0
和LSP
1
。仅当一个LSP被选中) 。
这些输入具有内部上拉电阻。
LOCAL直通输出:通用输出可以从驱动
背板引脚上的
B
。 (仅在LSP
0
和LSP
1
。仅当一个LSP被选中) 。
这些输出具有驱动电流24毫安。
本地模拟测试总线ENABLE :这些模拟引脚作为启用模拟信号
总线支持IEEE 1149.4混合信号测试总线标准,或背板
物理层的变化(即; TTL到LVDS ) 。这些输出具有驱动电流12毫安。
局部三态通知输出:此信号为高时,本地扫描端口时
处于三态。这些引脚用于背板物理层的变化(即,以TTL
LVDS ) 。这些输出具有驱动电流12毫安。
TEST ENABLE输入:此引脚用于工厂测试,并应连接到V
CC
正常
操作。
Y
(0-1)
2
O
LSP_ACTIVE
(0-2)
3
O
特里斯特
(0-2)
3
O
测试开启
1
I
注1 :
请参考我们的网站上进行I / O特性的IBIS模型。
应用概述
解决方案
- 该SCANSTA111架构
延伸在IEEE 1149.1标准的由功能
该补充协议与解决方案
这允许一个测试控制器与特定通信
STA111s '内的一个网络STA111s ' 。该网络可以
包括多点和层次的连接。在EF -
FECT中,“ STA111架构允许一个测试控制器
动态地选择这样的网络的特定部
参与扫描操作。这允许一个复杂的系
统被划分成用于测试目的的更小的块。
在“ STA111提供了两个级别的考试,网络分区
能力。首先,一个测试控制器可以选择单个
“ STA111s ,具体设置' STA111s (多播组) ,或所有
“ STA111s (广播) 。这种“ STA111选择过程
由Level-1的通信协议的支持。其次,
每个所选择的' STA111内,一个测试控制器可以选择
的一个或多个芯片的三个本地扫描端口。即,
个别地方的端口,可以选择列入
(单)扫描链,一个“ STA111呈现给测试
控制器。这种机制允许控制器选择spe-
cific终端扫描链内的全盘扫描网络。
端口选择过程支持Level-2的原型
歌罗西书
层次支持
- 多SCANSTA111的罐头
用于组装的分级边界扫描树。在
这样的结构,该系统检测仪可以配置
一组“ STA111s的本地端口,以便连接特定
集的本地扫描链,以有效扫描链。使用这种
能力,测试人员可以选择,它特有沟通
目标系统的cific部分。测试仪的扫描端口
连接到根层的背板端口扫描
' STA111s ,其每一个可以通过使用多点来选择
寻址。的“ STA111s第二层可以连接到
这根层,通过连接一个根级的本地端口( LSP)的
层“ STA111到二线的背板端口
“ STA111 。这个过程可以继续构建多
水平扫描层次。 “ STA111本地端口不属于磁带式
caded到更高级别的“ STA111s可以被认为是作为
终端树叶的扫描树。测试主可以选择
一个或多个目标离开,通过选择和配置
的一套合适的“ STA111s在测试树本地端口。
请与您的ATPG工具的供应商,以确保支持这一
功能。
状态机
的' STA111是IEEE 1149.1兼容的,因为它支持
所有必需的1149.1操作。此外,它支持一个
高层协议的, ( 1级) ,扩展了IEEE
1149.1标准。到多点的环境。
在多点扫描系统,扫描仪可以选择indi-
维杜阿尔“ STA111s为参加即将到来的扫描操作
系统蒸发散。 STA111选择是通过同时完成
扫描设备地址到多个STA111s 。通过
芯片上地址匹配过程中,只有那些' STA111s
其静态分配地址匹配扫描出
地址成为选择接受进一步的说明
该扫描仪。使用Level-1的STA111选择做的是
协议,而后续的指令被发送到所选
“ STA111s使用Level-2的协议。
5
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SCANSTA111增强扫描桥梁多点寻址IEEE 1149.1 ( JTAG )端口
2004年4月
SCANSTA111
增强扫描桥梁
多点寻址IEEE 1149.1 ( JTAG )端口
概述
该SCANSTA111延伸的IEEE标准。 1149.1测试总线
进入多点测试总线的环境。的优点
在一个单一的串行扫描链,多点方法是im-
探明测试吞吐量并删除板的能力
从系统和保留测试接入到剩余
模块。每个SCANSTA111最多支持3个当地
IEEE1149.1扫描环可单独访问的
或组合串联。寻址是通过加载完成
指令寄存器的值相匹配的插槽中
输入。背板和板间测试可以很容易地被响应
停经当地TAP控制器的一个complished
通过园区的指令稳定的TAP控制器的状态。 32位
TCK柜台启用内置自测试操作要per-
形成在一个端口上,而其他的扫描链被simulta-
neously测试。
n
3 IEEE 1149.1兼容配置本地扫描端口
n
模式寄存器
0
允许本地抽头被绕过,
选择用于插入到扫描链单独,或
串联的两个或三个基团
n
透明模式也可以与一个单一的使能
指令可以方便地缓冲底板IEEE
1149.1引脚那些在一个本地端口扫描
n
LSP ACTIVE输出提供本地端口使能信号
模拟总线支持IEEE 1149.4 。
n
通用本地端口直通位很有用
交付写入脉冲用于FPGA编程或
监控设备状态。
n
知名电状态
n
TRST上的所有本地扫描端口
n
32位计数器TCK
n
16位线性反馈移位寄存器签名夯
n
本地的TAP可以通过OE输入成为TRI -STATE
可替代测试主采取局部控制
龙头( LSP
0-2
具有三态输出的通知)
n
3.0-3.6V V
CC
电源供电
n
断电高阻抗输入和输出
n
支持实时插入/取款
特点
n
真正的IEEE 1149.1的层次和多点
寻址能力
n
7插槽输入支持高达121的唯一地址,
询问地址,广播地址,而4
多播组地址(地址为000000
预留)
连接图
10124516
10124502
2004美国国家半导体公司
DS101245
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SCANSTA111
表1.名词解释
LFSR
LSP
当地
线性反馈移位寄存器。当启用时,会产生采样串行测试的16位签名
数据。
本地扫描端口。驱动本地的四信号端口(即非背板)扫描链。 (例如, TCK
0
, TMS
0
,
TDO
0
, TDI
0
).
当地是用来描述IEEE标准。 1149.1兼容的扫描环和SCANSTA111测试访问端口
驱动它们。这个词从本地系统测试架构采用了“ STA111将最
通常被用在;即,系统测试底板,每个卡上的“ STA111驱动多达3地方
每张卡的扫描环。 (每张卡可以包含多个' STA111s ,每3本地扫描端口“ STA111 )。
公园/取消驻留/取消驻留停放,取消驻留,并已启动,用于描述LSP控制器的状态和的状态
本地的TAP控制器(本地的TAP控制器指的扫描部件的TAP控制器
弥补本地扫描环) 。园还用于描述停放LSP的动作(转换成
停放的LSP控制的州之一) 。重要的是要明白,当一个LSP控制器处于很重要
停放的国家之一, TMS
n
保持恒定,从而保持或停放在一个本地的TAP控制器
给定状态。
龙头
选中/未选中
测试访问端口由IEEE标准所定义的。 1149.1 。
选中和未选中是指“ STA111选择控制器的状态。选定“ STA111有
得到妥善解决,并已准备好接收2级协议。未选中“ STA111s监控
系统测试底板,但不接受级别2协议(除
GOTOWAIT
指令)。该
数据寄存器和未选择的“ STA111s的LSP都无法从系统中测试主访问。
该活动扫描链是指在扫描链的结构在给定的可见由测试主
的时刻。当一个“ STA111选择与其所有的LSP停车时,所述主动扫描链是当前
只扫描登记。当LSP是已启动,活动扫描链变为: TDI
B
当前的' STA111
注册
局部扫描寄存器环
一个PAD位
TDO
B
。请参阅
表7
对已启动
该LSP网络的配置。
级别1是用于寻址' STA111的协议。
级别2是一次' STA111被选择时所使用的协议。 2级协议是IEEE标准。 1149.1
符合当个体' STA111被选中。
一个一比特的寄存器,它被放置在每个本地扫描端口扫描链的末端。在PAD位消除
这将通过TDI之间的“ STA111 LSPN逻辑被添加丙延迟
n
和TDO
(n+1)
或TDO
B
by
缓冲和LSP的TDI输入同步于TCK的下降沿
B
,因此允许数据被
在较高的频率扫描,而不违反的建立和保持时间。
最低有效位,在一个寄存器中的最右边的位置(位0)。
最有效位,在一个寄存器中的最左边的位置。
主动扫描链
1级协议
2级协议
PAD
最低位
最高位
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2
SCANSTA111
架构
图1
示出了' STA111的基本体系结构。该
设备的主要功能模块都在这里说明。该
TAP控制器,具有16个状态的状态机,是中央CON-
控制该设备。指令寄存器和各种测试
数据寄存器可以被扫描行使的各种功能
的' STA111的行动(这些寄存器表现为在定义
IEEE标准。 1149.1 ) 。在“ STA111选择控制器提供
它允许在要使用的1149.1协议的功能
多点的环境。它主要比较的地址
输入到时隙识别和使' STA111用于
随后的扫描操作。本地扫描端口网络
( LSPN )包含用来选择不同的复用逻辑
端口配置。该LSPN控制块包含
本地扫描端口控制器( LSPC )对每个本地扫描端口
( LSP
0
, LSP
1
LSP ...
n
) 。该控制模块接收来自输入
在“ STA111指令寄存器,状态寄存器和TAP
控制器。每一个本地端口包含所有四个边界扫描
所需信号与本地的TAP加上接口
可选的测试复位信号( TRST ) 。
10124503
图1. SCANSTA111框图
3
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SCANSTA111
表2.引脚说明
引脚名称
VCC
GND
TMS
B
引脚
3
3
1
I / O
不适用
不适用
I
动力
描述
背板测试模式选择:控制顺序通过的TAP控制器
“ STA111 。还控制这是在本地扫描链的水龙头测序。该输入
具有25KΩ上拉电阻和没有ESD钳位二极管(ESD进行控制的备用
法)。当该装置处于断电状态(Ⅴ
DD
浮动) ,显示该输入是一个电容
负载到地(注4 ) 。当V
DD
= 0V (即;不浮,但连接到V
SS
)出现这种输入
以与上拉至地的电容性负载。
背板测试数据输入:所有底板扫描数据是通过供给到' STA111
这种输入管脚。该输入具有25KΩ上拉电阻和没有ESD钳位二极管( ESD是
用另一种方法来控制)。当该装置处于断电状态(Ⅴ
DD
浮动) ,该输入
似乎是一种电容性负载向地面(注4)。当V
DD
= 0V (即;不浮,但绑
到V
SS
)该输入似乎是与上拉至地的电容性负载。
背板测试数据输出:此输出驱动器,从“ STA111和测试数据
当地水龙头,走回扫描主控制器。这种输出具有驱动电流24毫安。
当该装置处于断电状态(Ⅴ
DD
= 0V或浮动) ,此输出似乎是一个电容
负载(注4)。
测试时钟输入从背板:这是控制主时钟信号
的本地扫描的端口' STA111和所有扫描操作。该输入具有无拉
电阻器和没有ESD钳位二极管(ESD进行控制的另一种方法) 。当
设备断电(V
DD
浮动) ,显示该输入是容性负载到地(注
4)。当V
DD
= 0V (即;不浮,但连接到V
SS
)该输入似乎是一个电容
负载到地。
测试复位:异步复位信号(低电平有效),它初始化“ STA111逻辑。
该输入具有25KΩ上拉电阻和没有ESD钳位二极管(ESD控制用
另一种方法) 。当该装置处于断电状态(Ⅴ
DD
浮置) ,该输入似乎是一个
容性负载到地(注4)。当V
DD
= 0V (即;不浮,但连接到V
SS
)这
显示输入是一个电容性负载用的上拉至地。
背板三态通知输出:此信号为高时,背板
扫描端口是三态。该引脚用于背板物理层的变化(即; TTL到
LVDS ) 。这种输出具有驱动电流12毫安。
背板直通输入:通用输入被驱动到Y
n
of
单个选定的LSP。 (不可用时,多条LSP被选中) 。该输入具有
内部上拉电阻。
背板直通输出:通用输出,从驱动
A
n
的单一选择的LSP。 (不可用时,多条LSP被选中) 。此输出
有驱动电流24毫安。
SLOT鉴定:这些引脚的配置用来识别(分配一个唯一的
地址)上的系统底板(注1)每个' STA111 。
OUTPUT ENABLE为本地扫描端口,低电平有效。当高,这种低有效控制
信号三态上的“ STA111所有本地扫描端口,以使备用资源
访问一个或多个本地三扫描链。
测试数据输出:对于每个本地扫描端口单独的输出(注2 ) 。这些
输出具有驱动电流24毫安。
测试数据输入:单个扫描数据输入为每个本地扫描端口(注2) 。
测试模式选择输出:对于每个本地扫描端口单独的输出。 TMS
n
不提供一个上拉电阻器(其被假定为存在于一个连接的TMS
输入时,根据IEEE 1149.1的规定) (注2 ) 。这些输出具有驱动电流24毫安。
本地测试时钟输出:对于每个本地扫描端口单独的输出。这些
缓冲TCK版本
B
(注2 ) 。这些输出具有驱动电流24毫安。
TDI
B
1
I
TDO
B
1
O
TCK
B
1
I
TRST
B
1
I
特里斯特
B
1
O
A
B
1
I
Y
B
1
O
S
(0-6)
OE
7
1
I
I
TDO
(0-2)
TDI
(0-2)
TMS
(0-2)
3
3
3
O
I
O
TCK
(0-2)
3
O
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4
SCANSTA111
表2.引脚说明
(续)
引脚
3
2
引脚名称
TRST
(0-2)
A
(0-1)
I / O
O
I
描述
本地测试复位的: TRST的门版本
B
(注2 ) 。这些产出的24毫安
驱动电流。
LOCAL直通输入:通用输入可驱动至
背板引脚
B
。 (仅在LSP
0
和LSP
1
。只提供一个单一的LSP时选择)
(注2 ) 。这些输入具有内部上拉电阻。
LOCAL直通输出:通用输出可以从驱动
背板引脚上的
B
。 (仅在LSP
0
和LSP
1
。只提供一个单一的LSP时选择)
(注2 ) 。这些输出具有驱动电流24毫安。
本地模拟测试总线ENABLE :这些模拟引脚作为启用模拟信号
总线支持IEEE 1149.4混合信号测试总线标准(注2 ) ,或
背板物理层的变化(即; TTL到LVDS ) 。这些输出驱动器具有的12毫安
电流。
局部三态通知输出:此信号为高时,本地扫描端口时
处于三态(注2 ) 。这些引脚用于背板物理层的变化(即;
TTL到LVDS ) 。这些输出具有驱动电流12毫安。
专用通用输入:这些专用输入(高密度脂蛋白可用)
由可以使用DOT1背板销被读或写的寄存器(TDI控制
B
,
TDO
B
, TMS
B
和TCK
B
) (注3) 。
专用通用输出:这些专用输出( HDL提供)
由可以使用DOT1背板销被读或写的寄存器进行控制(TDI
B
,
TDO
B
, TMS
B
和TCK
B
) (注3) 。
TEST ENABLE输入:此引脚用于工厂测试,并应连接到V
CC
正常
操作。
Y
(0-1)
2
O
LSP_ACTIVE
(0-2)
3
O
特里斯特
(0-2)
3
O
GPI
n
不适用
I
GPO
n
不适用
O
测试开启
1
I
注1 :
硅设备将有七(7 )插槽地址引脚。将HDL版本paramaterized有选择地允许6,7或8 。
注2 :
硅器件将具有三(3 ) LSP的。高密度脂蛋白版本paramaterized有选择地允许多达8个总的LSP 。
注3 :
多达四( 4 ) GPI / O的每个LSP 。此功能仅在HDL版本。
注4 :
请参考我们的网站上进行I / O特性的IBIS模型。
应用概述
解决方案
- 该SCANSTA111架构
延伸在IEEE 1149.1标准的由功能
该补充协议与解决方案
这允许一个测试控制器与特定通信
STA111s '内的一个网络STA111s ' 。该网络可以
包括多点和层次的连接。在EF -
FECT中,“ STA111架构允许一个测试控制器
动态地选择这样的网络的特定部
参与扫描操作。这允许一个复杂的系
统被划分成用于测试目的的更小的块。
在“ STA111提供了两个级别的考试,网络分区
能力。首先,一个测试控制器可以选择单个
“ STA111s ,具体设置' STA111s (多播组) ,或所有
“ STA111s (广播) 。这种“ STA111选择过程
由Level-1的通信协议的支持。其次,
每个所选择的' STA111内,一个测试控制器可以选择
的一个或多个芯片的三个本地扫描端口。即,
个别地方的端口,可以选择列入
(单)扫描链,一个“ STA111呈现给测试
控制器。这种机制允许控制器选择spe-
cific终端扫描链内的全盘扫描网络。
端口选择过程支持Level-2的原型
歌罗西书
层次支持
- 多SCANSTA111的罐头
用于组装的分级边界扫描树。在
这样的结构,该系统检测仪可以配置
一组“ STA111s的本地端口,以便连接特定
5
集的本地扫描链,以有效扫描链。使用这种
能力,测试人员可以选择,它特有沟通
目标系统的cific部分。测试仪的扫描端口
连接到根层的背板端口扫描
' STA111s ,其每一个可以通过使用多点来选择
寻址。的“ STA111s第二层可以连接到
这根层,通过连接一个根级的本地端口( LSP)的
层“ STA111到二线的背板端口
“ STA111 。这个过程可以继续构建多
水平扫描层次。 “ STA111本地端口不属于磁带式
caded到更高级别的“ STA111s可以被认为是作为
终端树叶的扫描树。测试主可以选择
一个或多个目标离开,通过选择和配置
的一套合适的“ STA111s在测试树本地端口。
请与您的ATPG工具的供应商,以确保支持这一
功能。
状态机
的' STA111是IEEE 1149.1兼容的,因为它支持
所有必需的1149.1操作。此外,它支持一个
高层协议的, ( 1级) ,扩展了IEEE
1149.1标准。到多点的环境。
在多点扫描系统,扫描仪可以选择indi-
维杜阿尔“ STA111s为参加即将到来的扫描操作
系统蒸发散。 STA111选择是通过同时完成
扫描设备地址到多个STA111s 。通过
芯片上地址匹配过程中,只有那些' STA111s
其静态分配地址匹配扫描出
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SCANSTA111增强扫描桥梁多点寻址IEEE 1149.1 ( JTAG )端口
2004年4月
SCANSTA111
增强扫描桥梁
多点寻址IEEE 1149.1 ( JTAG )端口
概述
该SCANSTA111延伸的IEEE标准。 1149.1测试总线
进入多点测试总线的环境。的优点
在一个单一的串行扫描链,多点方法是im-
探明测试吞吐量并删除板的能力
从系统和保留测试接入到剩余
模块。每个SCANSTA111最多支持3个当地
IEEE1149.1扫描环可单独访问的
或组合串联。寻址是通过加载完成
指令寄存器的值相匹配的插槽中
输入。背板和板间测试可以很容易地被响应
停经当地TAP控制器的一个complished
通过园区的指令稳定的TAP控制器的状态。 32位
TCK柜台启用内置自测试操作要per-
形成在一个端口上,而其他的扫描链被simulta-
neously测试。
n
3 IEEE 1149.1兼容配置本地扫描端口
n
模式寄存器
0
允许本地抽头被绕过,
选择用于插入到扫描链单独,或
串联的两个或三个基团
n
透明模式也可以与一个单一的使能
指令可以方便地缓冲底板IEEE
1149.1引脚那些在一个本地端口扫描
n
LSP ACTIVE输出提供本地端口使能信号
模拟总线支持IEEE 1149.4 。
n
通用本地端口直通位很有用
交付写入脉冲用于FPGA编程或
监控设备状态。
n
知名电状态
n
TRST上的所有本地扫描端口
n
32位计数器TCK
n
16位线性反馈移位寄存器签名夯
n
本地的TAP可以通过OE输入成为TRI -STATE
可替代测试主采取局部控制
龙头( LSP
0-2
具有三态输出的通知)
n
3.0-3.6V V
CC
电源供电
n
断电高阻抗输入和输出
n
支持实时插入/取款
特点
n
真正的IEEE 1149.1的层次和多点
寻址能力
n
7插槽输入支持高达121的唯一地址,
询问地址,广播地址,而4
多播组地址(地址为000000
预留)
连接图
10124516
10124502
2004美国国家半导体公司
DS101245
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SCANSTA111
表1.名词解释
LFSR
LSP
当地
线性反馈移位寄存器。当启用时,会产生采样串行测试的16位签名
数据。
本地扫描端口。驱动本地的四信号端口(即非背板)扫描链。 (例如, TCK
0
, TMS
0
,
TDO
0
, TDI
0
).
当地是用来描述IEEE标准。 1149.1兼容的扫描环和SCANSTA111测试访问端口
驱动它们。这个词从本地系统测试架构采用了“ STA111将最
通常被用在;即,系统测试底板,每个卡上的“ STA111驱动多达3地方
每张卡的扫描环。 (每张卡可以包含多个' STA111s ,每3本地扫描端口“ STA111 )。
公园/取消驻留/取消驻留停放,取消驻留,并已启动,用于描述LSP控制器的状态和的状态
本地的TAP控制器(本地的TAP控制器指的扫描部件的TAP控制器
弥补本地扫描环) 。园还用于描述停放LSP的动作(转换成
停放的LSP控制的州之一) 。重要的是要明白,当一个LSP控制器处于很重要
停放的国家之一, TMS
n
保持恒定,从而保持或停放在一个本地的TAP控制器
给定状态。
龙头
选中/未选中
测试访问端口由IEEE标准所定义的。 1149.1 。
选中和未选中是指“ STA111选择控制器的状态。选定“ STA111有
得到妥善解决,并已准备好接收2级协议。未选中“ STA111s监控
系统测试底板,但不接受级别2协议(除
GOTOWAIT
指令)。该
数据寄存器和未选择的“ STA111s的LSP都无法从系统中测试主访问。
该活动扫描链是指在扫描链的结构在给定的可见由测试主
的时刻。当一个“ STA111选择与其所有的LSP停车时,所述主动扫描链是当前
只扫描登记。当LSP是已启动,活动扫描链变为: TDI
B
当前的' STA111
注册
局部扫描寄存器环
一个PAD位
TDO
B
。请参阅
表7
对已启动
该LSP网络的配置。
级别1是用于寻址' STA111的协议。
级别2是一次' STA111被选择时所使用的协议。 2级协议是IEEE标准。 1149.1
符合当个体' STA111被选中。
一个一比特的寄存器,它被放置在每个本地扫描端口扫描链的末端。在PAD位消除
这将通过TDI之间的“ STA111 LSPN逻辑被添加丙延迟
n
和TDO
(n+1)
或TDO
B
by
缓冲和LSP的TDI输入同步于TCK的下降沿
B
,因此允许数据被
在较高的频率扫描,而不违反的建立和保持时间。
最低有效位,在一个寄存器中的最右边的位置(位0)。
最有效位,在一个寄存器中的最左边的位置。
主动扫描链
1级协议
2级协议
PAD
最低位
最高位
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2
SCANSTA111
架构
图1
示出了' STA111的基本体系结构。该
设备的主要功能模块都在这里说明。该
TAP控制器,具有16个状态的状态机,是中央CON-
控制该设备。指令寄存器和各种测试
数据寄存器可以被扫描行使的各种功能
的' STA111的行动(这些寄存器表现为在定义
IEEE标准。 1149.1 ) 。在“ STA111选择控制器提供
它允许在要使用的1149.1协议的功能
多点的环境。它主要比较的地址
输入到时隙识别和使' STA111用于
随后的扫描操作。本地扫描端口网络
( LSPN )包含用来选择不同的复用逻辑
端口配置。该LSPN控制块包含
本地扫描端口控制器( LSPC )对每个本地扫描端口
( LSP
0
, LSP
1
LSP ...
n
) 。该控制模块接收来自输入
在“ STA111指令寄存器,状态寄存器和TAP
控制器。每一个本地端口包含所有四个边界扫描
所需信号与本地的TAP加上接口
可选的测试复位信号( TRST ) 。
10124503
图1. SCANSTA111框图
3
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SCANSTA111
表2.引脚说明
引脚名称
VCC
GND
TMS
B
引脚
3
3
1
I / O
不适用
不适用
I
动力
描述
背板测试模式选择:控制顺序通过的TAP控制器
“ STA111 。还控制这是在本地扫描链的水龙头测序。该输入
具有25KΩ上拉电阻和没有ESD钳位二极管(ESD进行控制的备用
法)。当该装置处于断电状态(Ⅴ
DD
浮动) ,显示该输入是一个电容
负载到地(注4 ) 。当V
DD
= 0V (即;不浮,但连接到V
SS
)出现这种输入
以与上拉至地的电容性负载。
背板测试数据输入:所有底板扫描数据是通过供给到' STA111
这种输入管脚。该输入具有25KΩ上拉电阻和没有ESD钳位二极管( ESD是
用另一种方法来控制)。当该装置处于断电状态(Ⅴ
DD
浮动) ,该输入
似乎是一种电容性负载向地面(注4)。当V
DD
= 0V (即;不浮,但绑
到V
SS
)该输入似乎是与上拉至地的电容性负载。
背板测试数据输出:此输出驱动器,从“ STA111和测试数据
当地水龙头,走回扫描主控制器。这种输出具有驱动电流24毫安。
当该装置处于断电状态(Ⅴ
DD
= 0V或浮动) ,此输出似乎是一个电容
负载(注4)。
测试时钟输入从背板:这是控制主时钟信号
的本地扫描的端口' STA111和所有扫描操作。该输入具有无拉
电阻器和没有ESD钳位二极管(ESD进行控制的另一种方法) 。当
设备断电(V
DD
浮动) ,显示该输入是容性负载到地(注
4)。当V
DD
= 0V (即;不浮,但连接到V
SS
)该输入似乎是一个电容
负载到地。
测试复位:异步复位信号(低电平有效),它初始化“ STA111逻辑。
该输入具有25KΩ上拉电阻和没有ESD钳位二极管(ESD控制用
另一种方法) 。当该装置处于断电状态(Ⅴ
DD
浮置) ,该输入似乎是一个
容性负载到地(注4)。当V
DD
= 0V (即;不浮,但连接到V
SS
)这
显示输入是一个电容性负载用的上拉至地。
背板三态通知输出:此信号为高时,背板
扫描端口是三态。该引脚用于背板物理层的变化(即; TTL到
LVDS ) 。这种输出具有驱动电流12毫安。
背板直通输入:通用输入被驱动到Y
n
of
单个选定的LSP。 (不可用时,多条LSP被选中) 。该输入具有
内部上拉电阻。
背板直通输出:通用输出,从驱动
A
n
的单一选择的LSP。 (不可用时,多条LSP被选中) 。此输出
有驱动电流24毫安。
SLOT鉴定:这些引脚的配置用来识别(分配一个唯一的
地址)上的系统底板(注1)每个' STA111 。
OUTPUT ENABLE为本地扫描端口,低电平有效。当高,这种低有效控制
信号三态上的“ STA111所有本地扫描端口,以使备用资源
访问一个或多个本地三扫描链。
测试数据输出:对于每个本地扫描端口单独的输出(注2 ) 。这些
输出具有驱动电流24毫安。
测试数据输入:单个扫描数据输入为每个本地扫描端口(注2) 。
测试模式选择输出:对于每个本地扫描端口单独的输出。 TMS
n
不提供一个上拉电阻器(其被假定为存在于一个连接的TMS
输入时,根据IEEE 1149.1的规定) (注2 ) 。这些输出具有驱动电流24毫安。
本地测试时钟输出:对于每个本地扫描端口单独的输出。这些
缓冲TCK版本
B
(注2 ) 。这些输出具有驱动电流24毫安。
TDI
B
1
I
TDO
B
1
O
TCK
B
1
I
TRST
B
1
I
特里斯特
B
1
O
A
B
1
I
Y
B
1
O
S
(0-6)
OE
7
1
I
I
TDO
(0-2)
TDI
(0-2)
TMS
(0-2)
3
3
3
O
I
O
TCK
(0-2)
3
O
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4
SCANSTA111
表2.引脚说明
(续)
引脚
3
2
引脚名称
TRST
(0-2)
A
(0-1)
I / O
O
I
描述
本地测试复位的: TRST的门版本
B
(注2 ) 。这些产出的24毫安
驱动电流。
LOCAL直通输入:通用输入可驱动至
背板引脚
B
。 (仅在LSP
0
和LSP
1
。只提供一个单一的LSP时选择)
(注2 ) 。这些输入具有内部上拉电阻。
LOCAL直通输出:通用输出可以从驱动
背板引脚上的
B
。 (仅在LSP
0
和LSP
1
。只提供一个单一的LSP时选择)
(注2 ) 。这些输出具有驱动电流24毫安。
本地模拟测试总线ENABLE :这些模拟引脚作为启用模拟信号
总线支持IEEE 1149.4混合信号测试总线标准(注2 ) ,或
背板物理层的变化(即; TTL到LVDS ) 。这些输出驱动器具有的12毫安
电流。
局部三态通知输出:此信号为高时,本地扫描端口时
处于三态(注2 ) 。这些引脚用于背板物理层的变化(即;
TTL到LVDS ) 。这些输出具有驱动电流12毫安。
专用通用输入:这些专用输入(高密度脂蛋白可用)
由可以使用DOT1背板销被读或写的寄存器(TDI控制
B
,
TDO
B
, TMS
B
和TCK
B
) (注3) 。
专用通用输出:这些专用输出( HDL提供)
由可以使用DOT1背板销被读或写的寄存器进行控制(TDI
B
,
TDO
B
, TMS
B
和TCK
B
) (注3) 。
TEST ENABLE输入:此引脚用于工厂测试,并应连接到V
CC
正常
操作。
Y
(0-1)
2
O
LSP_ACTIVE
(0-2)
3
O
特里斯特
(0-2)
3
O
GPI
n
不适用
I
GPO
n
不适用
O
测试开启
1
I
注1 :
硅设备将有七(7 )插槽地址引脚。将HDL版本paramaterized有选择地允许6,7或8 。
注2 :
硅器件将具有三(3 ) LSP的。高密度脂蛋白版本paramaterized有选择地允许多达8个总的LSP 。
注3 :
多达四( 4 ) GPI / O的每个LSP 。此功能仅在HDL版本。
注4 :
请参考我们的网站上进行I / O特性的IBIS模型。
应用概述
解决方案
- 该SCANSTA111架构
延伸在IEEE 1149.1标准的由功能
该补充协议与解决方案
这允许一个测试控制器与特定通信
STA111s '内的一个网络STA111s ' 。该网络可以
包括多点和层次的连接。在EF -
FECT中,“ STA111架构允许一个测试控制器
动态地选择这样的网络的特定部
参与扫描操作。这允许一个复杂的系
统被划分成用于测试目的的更小的块。
在“ STA111提供了两个级别的考试,网络分区
能力。首先,一个测试控制器可以选择单个
“ STA111s ,具体设置' STA111s (多播组) ,或所有
“ STA111s (广播) 。这种“ STA111选择过程
由Level-1的通信协议的支持。其次,
每个所选择的' STA111内,一个测试控制器可以选择
的一个或多个芯片的三个本地扫描端口。即,
个别地方的端口,可以选择列入
(单)扫描链,一个“ STA111呈现给测试
控制器。这种机制允许控制器选择spe-
cific终端扫描链内的全盘扫描网络。
端口选择过程支持Level-2的原型
歌罗西书
层次支持
- 多SCANSTA111的罐头
用于组装的分级边界扫描树。在
这样的结构,该系统检测仪可以配置
一组“ STA111s的本地端口,以便连接特定
5
集的本地扫描链,以有效扫描链。使用这种
能力,测试人员可以选择,它特有沟通
目标系统的cific部分。测试仪的扫描端口
连接到根层的背板端口扫描
' STA111s ,其每一个可以通过使用多点来选择
寻址。的“ STA111s第二层可以连接到
这根层,通过连接一个根级的本地端口( LSP)的
层“ STA111到二线的背板端口
“ STA111 。这个过程可以继续构建多
水平扫描层次。 “ STA111本地端口不属于磁带式
caded到更高级别的“ STA111s可以被认为是作为
终端树叶的扫描树。测试主可以选择
一个或多个目标离开,通过选择和配置
的一套合适的“ STA111s在测试树本地端口。
请与您的ATPG工具的供应商,以确保支持这一
功能。
状态机
的' STA111是IEEE 1149.1兼容的,因为它支持
所有必需的1149.1操作。此外,它支持一个
高层协议的, ( 1级) ,扩展了IEEE
1149.1标准。到多点的环境。
在多点扫描系统,扫描仪可以选择indi-
维杜阿尔“ STA111s为参加即将到来的扫描操作
系统蒸发散。 STA111选择是通过同时完成
扫描设备地址到多个STA111s 。通过
芯片上地址匹配过程中,只有那些' STA111s
其静态分配地址匹配扫描出
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SCANSTA111
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SNLS060K - 2001年8月 - 修订2013年4月
SCANSTA111增强扫描大桥
多点寻址IEEE 1149.1 ( JTAG )端口
检查样品:
SCANSTA111
1
特点
真正的IEEE 1149.1的层次和多点
寻址能力
7插槽输入支持高达121独特
地址,询问地址,
播地址,以及4多铸组
地址(地址000000保留)
3 IEEE 1149.1兼容的本地配置
端口扫描
模式寄存器
0
允许本地水龙头是
绕过,入选插入扫描
链单独,或顺序的组
两个或三个
透明模式可以用一个被启用
单指令可以方便地将缓冲区
背板IEEE 1149.1销到那些在
单一的本地扫描端口
LSP ACTIVE输出提供本地端口
启用模拟公共汽车支持信号
IEEE 1149.4 。
通用本地端口直通位
是有用的交付写入脉冲
FPGA编程或监控设备
状态。
知名电状态
TRST上的所有本地扫描端口
32位计数器TCK
16位线性反馈移位寄存器签名夯
本地的TAP可以通过OE成为TRI -STATE
输入允许备用测试主拿
控制本地水龙头( LSP
0-2
有三
状态通知输出)
3.0-3.6V V
CC
电源供电
断电高阻抗输入和输出
支持实时插入/取款
描述
该SCANSTA111延伸的IEEE标准。 1149.1测试
公交车成多点测试总线的环境。该
优势过于单一多点方法
串行扫描链,提高测试吞吐量和
能够从系统中移除主板和留住
测试访问其余模块。每
达SCANSTA111支持当地3 IEEE 1149.1
可单独存取的搜索环或
串联结合。寻址是通过完成
用一个值匹配的加载指令寄存器
说的插槽输入。背板和板间
测试可以很容易地通过停放来实现
在稳定的TAP的一个地方TAP控制器
通过园区的指令控制状态。 32位
TCK柜台启用内置自测试操作要
在一个端口上进行的,而其他的扫描链
同时测试。
2
1
2
请注意,一个重要的通知有关可用性,标准保修,并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
所有商标均为其各自所有者的财产。
版权所有 2001至2013年,德州仪器
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合占德州条款规范
仪器标准保修。生产加工过程中不
不一定包括所有参数进行测试。
SCANSTA111
SNLS060K - 2001年8月 - 修订2013年4月
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接线图
表1.名词解释
LFSR
LSP
当地
线性反馈移位寄存器。当启用时,会产生采样串行测试数据的16位签名。
本地扫描端口。驱动本地的四信号端口(即非背板)扫描链。 (例如, TCK
0
, TMS
0
, TDO
0
,
TDI
0
).
当地是用来描述IEEE标准。 1149.1兼容的扫描环和SCANSTA111测试访问端口
驱使他们。这个词从本地系统测试架构采用了“ STA111将最常用
可以使用在;即,系统测试底板,每个卡上的“ STA111可驱动高达每3本地扫描戒指
卡。 (每张卡可以包含多个' STA111s ,每3本地扫描端口“ STA111 )。
停放,取消驻留,并已启动,用于描述LSP控制器的状态和当地TAP状态
控制器(本地的TAP控制器指的扫描部件的TAP控制器组成一个本地
扫描环) 。公园也被用来形容停放LSP (过渡的作用进入停放LSP之一
控制器状态) 。它以了解是很重要的是,当LSP控制器处于停车状态中的一个,TMS
n
is
保持恒定,从而保持或停车的地方的TAP控制器在一个给定的状态。
测试访问端口由IEEE标准所定义的。 1149.1 。
选中和未选中是指“ STA111选择控制器的状态。选定“ STA111已
妥善处理和准备接收2级协议。未选中“ STA111s监控系统测试
背板,但不接受级别2协议(除
GOTOWAIT
指令)。数据寄存器和
未选择的“ STA111s的LSP都无法从系统中测试主访问。
该活动扫描链是指在扫描链的结构在某一特定时刻看到的测试主。
当一个“ STA111选择与其所有的LSP停车时,所述主动扫描链是仅在当前扫描寄存器。
当LSP是已启动,活动扫描链变为: TDI
B
目前“ STA111寄存器
局部扫描
环寄存器
一个PAD位
TDO
B
。请参阅
表6
对于LSP网络已启动的配置。
级别1是用于寻址' STA111的协议。
级别2是一次' STA111被选择时所使用的协议。 2级协议是IEEE标准。 1149.1标准
当个体' STA111被选中。
一个一比特的寄存器,它被放置在每个本地扫描端口扫描链的末端。在PAD位消除了道具
这将通过TDI之间的“ STA111 LSPN逻辑被添加延迟
n
和TDO
(n+1)
或TDO
B
通过缓冲和
LSP的TDI输入同步到TCK的下降沿
B
,因此允许数据以较高的扫描
频率不违反建立时间和保持时间。
最低有效位,在一个寄存器中的最右边的位置(位0)。
最有效位,在一个寄存器中的最左边的位置。
公园/取消驻留/取消驻留
龙头
选中/未选中
主动扫描链
1级协议
2级协议
PAD
最低位
最高位
2
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架构
图1
示出了' STA111的基本体系结构。该设备的主要功能模块都在这里说明。
TAP控制器,具有16个状态的状态机,是中央控制设备。指令寄存器和
各个测试数据寄存器可以被扫描行使' STA111的各种功能(这些寄存器
表现为在IEEE标准定义。 1149.1 ) 。的' STA111选择控制器提供允许的功能
在一个多点的环境中使用的1149.1协议。它主要的地址输入进行比较,以所述时隙
识别和使' STA111用于随后的扫描操作。本地扫描端口网络( LSPN )
包含用来选择不同的端口配置复用的逻辑。该LSPN控制块包含本地
扫描端口控制器( LSPC )对每个本地扫描端口( LSP
0
, LSP
1
LSP ...
n
) 。该控制模块接收输入
从“ STA111指令寄存器,状态寄存器和TAP控制器。每一个本地端口包含所有四个
需要边界扫描信号与本地的TAP加上可选的测试复位信号( TRST )接口。
图1. SCANSTA111框图
版权所有 2001至2013年,德州仪器
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SCANSTA111
3
SCANSTA111
SNLS060K - 2001年8月 - 修订2013年4月
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引脚说明
引脚名称
VCC
GND
TMS
B
引脚
3
3
1
I / O
不适用
不适用
I
动力
背板测试模式选择:控制顺序通过的TAP控制器
“ STA111 。还控制这是在本地扫描链的水龙头测序。该输入具有
25KΩ上拉电阻和没有ESD钳位二极管(ESD进行控制的另一种方法) 。当
该设备是关机(V
DD
浮动) ,显示该输入是容性负载到地
(1)
。当
V
DD
= 0V (即;不浮,但连接到V
SS
)该输入似乎是与拉容性负载
到地面。
背板测试数据输入:所有底板扫描数据是通过该供给到' STA111
输入引脚。该输入具有25KΩ上拉电阻和没有ESD钳位二极管(ESD控制用
另一种方法) 。当该装置处于断电状态(Ⅴ
DD
浮动) ,显示该输入是一个电容
负载到地
(1)
。当V
DD
= 0V (即;不浮,但连接到V
SS
)该输入似乎是一个
电容性负载用的上拉至地。
背板测试数据输出:此输出驱动器,从“ STA111和本地测试数据
水龙头,走回扫描主控制器。这种输出具有驱动电流24毫安。当
设备断电(V
DD
= 0V或浮动) ,此输出似乎是一个电容性负载
(1)
.
测试时钟输入从背板:这是控制所有主时钟信号
的本地扫描的端口' STA111和扫描操作。该输入没有上拉电阻和无
ESD钳位二极管(ESD进行控制的另一种方法) 。当该装置处于断电状态(Ⅴ
DD
浮动) ,显示该输入是容性负载到地
(2)
。当V
DD
= 0V (即;不浮
但连接到V
SS
)该输入似乎是一个容性负载接地。
测试复位:异步复位信号(低电平有效),它初始化“ STA111逻辑。这
输入具有25KΩ上拉电阻和没有ESD钳位二极管(ESD进行控制的备用
法)。当该装置处于断电状态(Ⅴ
DD
浮动) ,显示该输入是容性负载
(2)
。当V
DD
= 0V (即;不浮,但连接到V
SS
)该输入似乎是一个电容
加载具有上拉至地。
TRI- STATE通知输出:此信号为高电平时,相关的TDO是
三态的。美联社表示特里斯特
B
是TDO
B
,特里斯特
1
是TDO
1
等,该输出具有
12毫安驱动电流。
背板直通输入:通用输入被驱动到Y
n
A的
单选择LSP 。 (不可用时,多条LSP被选中) 。该输入具有内部
上拉电阻。
背板直通输出:通用输出,从A驱动
n
of
单个选定的LSP。 (不可用时,多条LSP被选中) 。该输出具有24毫安
驱动电流。
SLOT鉴定:这些引脚的配置用来识别(分配一个唯一的
针对于)对系统背板的每个' STA111 。
OUTPUT ENABLE为本地扫描端口,低电平有效。当高,这种低有效控制信号
三态的' STA111所有本地扫描端口,以使备用资源访问的一种或
更多三本地扫描链。
测试数据输出:为每个本地扫描端口个别输出。这些输出有
24毫安驱动电流。
测试数据输入:单个扫描数据输入为每个本地扫描端口。
测试模式选择输出:对于每个本地扫描端口单独的输出。 TMS
n
提供一个上拉电阻器(其被假定为存在于一个连接的TMS的输入,根据IEEE
1149.1要求) 。这些输出具有驱动电流24毫安。
本地测试时钟输出:对于每个本地扫描端口单独的输出。这些都是
TCK的缓冲版本
B
。这些输出具有驱动电流24毫安。
本地测试复位的: TRST的门版本
B
。这些输出具有驱动电流24毫安。
LOCAL直通输入:通用输入可驱动背板
B
。 (仅在LSP
0
和LSP
1
。仅当一个LSP被选中) 。这些输入有
内部上拉电阻。
LOCAL直通输出:通用输出可以从驱动
背板引脚上的
B
。 (仅在LSP
0
和LSP
1
。仅当一个LSP被选中) 。这些
输出具有驱动电流24毫安。
描述
TDI
B
1
I
TDO
B
1
O
TCK
B
1
I
TRST
B
1
I
特里斯特
(B,0-2)
4
O
A
B
1
I
Y
B
1
O
S
(0-6)
OE
7
1
I
I
TDO
(0-2)
TDI
(0-2)
TMS
(0-2)
3
3
3
O
I
O
TCK
(0-2)
TRST
(0-2)
A
(0-1)
3
3
2
O
O
I
Y
(0-1)
2
O
(1)
(2)
4
请参考我们的网站上进行I / O特性的IBIS模型。
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SNLS060K - 2001年8月 - 修订2013年4月
引脚说明(续)
引脚名称
LSP_ACTIVE
(0-2)
引脚
3
I / O
O
描述
本地模拟测试总线ENABLE :这些模拟引脚作为启用模拟信号
总线支持IEEE 1149.4混合信号测试总线标准,或用于底板物理
层的变化(因此, TTL到LVDS ) 。这些输出具有驱动电流12毫安。
局部三态通知输出:此信号为高时,本地扫描端口
三态的。这些引脚用于背板物理层的变化(即; TTL到LVDS ) 。这些
输出具有驱动电流12毫安。
TEST ENABLE输入:此引脚用于工厂测试,并应连接到V
CC
正常
操作。
特里斯特
(0-2)
3
O
测试开启
1
I
应用概述
解决方案
- 该SCANSTA111架构扩展了IEEE 1149.1标准的功能
通过补充该协议与寻址方案,它允许测试控制器与通信
STA111s具体'内的一个网络STA111s ' 。该网络可以包括多点和分级
连接。实际上, ' STA111架构允许一个测试控制器动态地选择的特定部分
这样的网络参与扫描操作。这允许一个复杂的系统被划分成更小的
块用于测试目的。在“ STA111提供了两个级别的考试,网络分区功能。首先,一个测试
控制器可以选择个人的STA111s ,具体设置' STA111s (多播组) ,或所有“ STA111s
(广播) 。这种“ STA111选择过程是由Level-1的通信协议的支持。其次,在
每个选定的“ STA111 ,测试控制器可以选择一个芯片的三个本地扫描端口或更多。即,
个别地方的端口,可以选择列入(单)扫描链,一个“ STA111呈现给测试
控制器。这种机制允许控制器选择的整体扫描范围内的特定终端扫描链
网络。端口选择过程由Level-2的协议支持。
层次支持
- 多个SCANSTA111的可以用来组装一个分层的边界扫描
树。在这样的配置中,系统测试器可以作为配置的一组“ STA111s的本地端口,以便
一组特定的本地扫描链连接到所述主动扫描链。使用这种能力,测试者可以
与目标系统的特定部分选择地进行通信。测试仪的扫描端口连接到
的' STA111s ,其每一个可以通过使用多点寻址方式选择了基础层的底板扫描端口。一
的' STA111s第二层可以被连接到这根层,通过连接一个根层的一个本地端口( LSP)的
“ STA111到第二层的背板端口” STA111 。这个过程可以继续构建多级
扫描层次。 '不属于级联成更高级别的STA111本地端口“ STA111s可以被认为是作为
终端树叶的扫描树。测试主可以选择一个或多个目标留下了选择和配置
的一套合适的“ STA111s在测试树中的本地端口。
请与您的ATPG工具的供应商,以确保支持此功能。
状态机
的' STA111是IEEE 1149.1兼容,因为它支持所有所需1149.1操作。此外,它支持
更高级别的协议, ( 1级) ,它扩展了IEEE 1149.1标准。到多点的环境。
在多点扫描系统,扫描仪可以选择个人的STA111s为参加即将到来的扫描
操作。 STA111选择是通过同时扫描的装置地址到多个完成
“ STA111s 。通过芯片上地址匹配过程中,只有那些' STA111s其静态分配
地址相匹配的扫描出地址成为选择用于接收来自扫描仪的进一步说明。
SCANSTA111选择是使用一个Level-1的协议,而后续的指令被发送到选定的
“ STA111s使用Level-2的协议。
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