SCAN16512低压通用16位IEEE 1149.1总线收发器，具有三态输出
2002年8月
SCAN16512
低压通用16位IEEE 1149.1总线
收发器，具有三态输出
概述
该SCAN16512是一款高速，低功耗的通用总线
收发器具有数据输入分为两个8位
与字节输出使能和锁存使能控制信号。
此功能可配置为D型锁存器或触发器，
并且可以在透明锁存，或时钟模式下操作。
该器件符合IEEE 1149.1标准测试
访问端口和边界扫描架构，频率不
所定义的边界扫描测试逻辑和测试的穿孔
由测试数据输入（TDI） ，测试数据的访问端口
输出（ TDO ） ，测试模式选择（ TMS ） ，测试时钟（ TCK ）和
测试复位（ TRST ） 。
特点
IEEE 1149.1 （ JTAG ）标准
2.7V至3.6V V
CC
手术
三态输出的总线型应用
对于总线应用双字节宽数据
掉电高阻抗输入和输出
在数据输入可选的总线保持省去了
对于外部上拉/下拉电阻（ SCANH16512 ，
SCANH162512版本）
n
可选的25Ω串联电阻的输出，以最大限度地减少
噪音和消除终端电阻（ SCAN162512 ，
SCANH162512版本）
n
支持实时插入/取款
n
包括CLAMP和HIGHZ指令
n
n
n
n
n
n
框图
20026602
2002美国国家半导体公司
DS200266
www.national.com
SCAN16512
引脚说明
针
名字
A1
0
-A1
7
,
A2
0
-A2
7
B1
0
-B1
7
,
B2
0
-B2
7
CLKAB
1
,
CLKBA
1
,
CLKAB
2
,
CLKBA
2
GND
V
CC
LEAB
1
,
LEBA
1
,
LEAB
2
,
LEBA
2
OEAB
1
,
OEBA
1
,
OEAB
2
,
OEBA
2
TDO
TMS
TCK
TDI
正常功能的总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的B-总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的时钟inputs.See功能表正常模式逻辑。
描述
地
电源电压
正常功能的锁存使能。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的输出使能。见正常模式逻辑函数表。
测试数据输出，支持IEEE标准1149.1-1990 。 TDO是通过将数据串行输出
指令寄存器或选定的数据寄存器。
该测试模式选择输入，支持IEEE标准1149.1-1990 。 TMS通过它的TAP指示装置
控制器的状态。一个内部上拉的力量TMS高，如果悬空。
测试时钟输入，支持IEEE标准1149.1-1990 。该装置的测试操作是同步的，以
TCK 。捕获数据在TCK的上升沿和输出在TCK的下降沿发生变化。
测试数据输入，支持IEEE标准1149.1-1990 。 TDI是串行输入通过转向数据
指令寄存器或选择的数据寄存器。内部上拉电阻力高TDI如果离开
悬空。
测试复位输入，支持IEEE标准1149.1-1990 。 TRST是异步复位引脚，将
TAP控制器强制它的初始化状态活跃时。内部上拉电阻的力量TRST高，如果
悬空。
TRST
BGA引脚
1
A
B
C
D
E
F
G
H
A1
0
A1
1
TRST
TMS
TCK
CLKBA
1
B1
1
B1
0
2
A1
2
A1
3
CLKAB
1
GND
GND
LEBA
1
B1
3
B1
2
3
A1
4
A1
5
LEAB
1
V
CC
V
CC
OEBA
1
B1
5
B1
4
4
A1
6
A1
7
OEAB
1
GND
V
CC
GND
B1
7
B1
6
5
A2
0
A2
1
GND
V
CC
GND
N / C
B2
1
B2
0
6
A2
2
A2
3
CLKAB
2
GND
GND
CLKBA
2
B2
3
B2
2
7
A2
4
A2
5
LEAB
2
TDI
N / C
LEBA
2
B2
5
B2
4
8
A2
6
A2
7
OEAB
2
TDO
V
CC
OEBA
2
B2
7
B2
6
www.national.com
2
SCAN16512
接线图
20026603
顶视图
见NS包装数SLC64A
真值表
功能表
（注1 ）
输入
OEAB
L
L
L
L
L
H
LEAB
L
L
L
H
H
X
CLKAB
L
↑
↑
输出
A
X
L
H
L
H
X
B
B
0
（注2 ）
L
H
L
H
Z
X
X
X
H =高电压等级
L =低电压等级
X =非物质（高或低，投入可能不会浮动）
Z =高阻抗
注1 ：
如图A到B的数据流。 B-到一个数据流相似，但使用OEBA ， LEBA和CLKBA 。
注2 ：
建立了表示稳态输入条件之前，输出电平。
功能说明
在正常模式中，这些设备都是16位通用总线
收发器相结合的D型锁存器和D型倒装
触发器允许在透明的数据流，闭锁或计时
模式。它们可以作为两个8位收发器，或作为
一个16位收发器。测试电路可通过激活
水龙头取出现在数据快照样本
该器件的引脚，或在边界测试执行自检
细胞。激活TAP可能会影响正常的功能
通用总线收发器的操作。当TAP是
激活时，测试电路进行边界扫描测试OP-
根据该协议操作在IEEE标准中描述
1149.1-1990.
在每个方向上的数据流由控制的输出使能
（ OEAB和OEBA ） ，锁存使能（ LEAB和LEBA ） ，并
时钟（ CLKAB和CLKBA ）输入。对于A到B的数据流中，
器件在透明模式下操作时LEAB高。
当LEAB为低时，所述的数据被锁存，而CLKAB被保持
在一个静态低或高逻辑电平。否则，如果LEAB低，
的数据被存储在由低到高CLKAB的过渡。当
OEAB为低电平时， B输出是活动的。当OEAB是
高电平时， B输出端处于高阻抗状态。 B-到-A
数据流类似于A至B数据流，而是使用OEBA ，
LEBA和CLKBA投入。
五个专用测试引脚用来观察和控制
测试电路的操作：测试数据输入（TDI），测试数据
输出（ TDO ） ，测试模式选择（ TMS ） ，测试时钟（ TCK ）和
测试复位（ TRST ） 。所有的测试和扫描操作是同步
chronized的TAP接口。
有关边界扫描单元中的顺序的信息
SCAN16512请参阅所述的BSDL （边界扫描
描述语言）文件可以在我们的网站上。
3
www.national.com
SCAN16512
DC电气特性
符号
参数
（续）
V
CC
(V)
2.7
3.0
3.6
3.6
3.6
产业
T
A
= -40 ° C至+ 85°C
民
最大
0.4
0.6
V
V
A
A
A
V
IN
= V
IL
或V
IH
,
I
OL
= 4毫安
V
IN
= V
IL
或V
IH
,
I
OL
= 12毫安
V
I
= V
CC
， GND
V
IN
= GND
V
I
（ OE ） = V
IL
, V
IH
V
I
= V
CC
， GND
V
O
= V
CC
， GND
V
I
= 0.8V或2.0V
V
I
= 0 3.6V
V
A
A
mA
V
I
= V
CC
–0.6V
I
IN
= -18mA
V
O
= V
CC
， GND
单位
条件
最大输出电压低
A和B端口： SCAN162512和
SCANH162512选项（ 25Ω
串联电阻选项）
I
IN
I
ILR
I
OZ
最大输入漏电流
输入低电平电流
最大I / O漏电流
±
5.0
-200
±
5.0
I
我（ HOLD ）
V
IKL
I
关闭
I
CC
I
CCT
总线保持输入最小驱动
保持电流（注4 ）
输入钳位二极管电压
关机漏电流
最大静态电源
当前
我最大
CC
每个输入
2.7
3.6
2.7
0.0
3.6
3.6
±
75
±
625
-1.5
A
±
10.0
20
0.5
注4 ：
适用于只用总线保持功能的器件。
噪声指标
适用于SCAN16512及SCANH16512选项，C
L
= 30pF的，R
L
= 500Ω到GND
符号
参数
V
CC
(V)
产业
T
A
= 25C
典型的限制
V
OLP
V
OLV
V
OHP
V
OHV
安静输出最大动力VOL
（注5 ）
安静的输出最低动态VOL
（注5 ）
安静输出最大动力VOH
（注6 ）
安静的输出最低动态VOH
（注6 ）
3.3
3.3
3.3
3.3
1.2
-1.5
VOH + 0.9
VOH - 1.5
V
V
V
V
单位
5
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SCAN16512低压通用16位IEEE 1149.1总线收发器，具有三态输出
2002年8月
SCAN16512
低压通用16位IEEE 1149.1总线
收发器，具有三态输出
概述
该SCAN16512是一款高速，低功耗的通用总线
收发器具有数据输入分为两个8位
与字节输出使能和锁存使能控制信号。
此功能可配置为D型锁存器或触发器，
并且可以在透明锁存，或时钟模式下操作。
该器件符合IEEE 1149.1标准测试
访问端口和边界扫描架构，频率不
所定义的边界扫描测试逻辑和测试的穿孔
由测试数据输入（TDI） ，测试数据的访问端口
输出（ TDO ） ，测试模式选择（ TMS ） ，测试时钟（ TCK ）和
测试复位（ TRST ） 。
特点
IEEE 1149.1 （ JTAG ）标准
2.7V至3.6V V
CC
手术
三态输出的总线型应用
对于总线应用双字节宽数据
掉电高阻抗输入和输出
在数据输入可选的总线保持省去了
对于外部上拉/下拉电阻（ SCANH16512 ，
SCANH162512版本）
n
可选的25Ω串联电阻的输出，以最大限度地减少
噪音和消除终端电阻（ SCAN162512 ，
SCANH162512版本）
n
支持实时插入/取款
n
包括CLAMP和HIGHZ指令
n
n
n
n
n
n
框图
20026602
2002美国国家半导体公司
DS200266
www.national.com
SCAN16512
引脚说明
针
名字
A1
0
-A1
7
,
A2
0
-A2
7
B1
0
-B1
7
,
B2
0
-B2
7
CLKAB
1
,
CLKBA
1
,
CLKAB
2
,
CLKBA
2
GND
V
CC
LEAB
1
,
LEBA
1
,
LEAB
2
,
LEBA
2
OEAB
1
,
OEBA
1
,
OEAB
2
,
OEBA
2
TDO
TMS
TCK
TDI
正常功能的总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的B-总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的时钟inputs.See功能表正常模式逻辑。
描述
地
电源电压
正常功能的锁存使能。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的输出使能。见正常模式逻辑函数表。
测试数据输出，支持IEEE标准1149.1-1990 。 TDO是通过将数据串行输出
指令寄存器或选定的数据寄存器。
该测试模式选择输入，支持IEEE标准1149.1-1990 。 TMS通过它的TAP指示装置
控制器的状态。一个内部上拉的力量TMS高，如果悬空。
测试时钟输入，支持IEEE标准1149.1-1990 。该装置的测试操作是同步的，以
TCK 。捕获数据在TCK的上升沿和输出在TCK的下降沿发生变化。
测试数据输入，支持IEEE标准1149.1-1990 。 TDI是串行输入通过转向数据
指令寄存器或选择的数据寄存器。内部上拉电阻力高TDI如果离开
悬空。
测试复位输入，支持IEEE标准1149.1-1990 。 TRST是异步复位引脚，将
TAP控制器强制它的初始化状态活跃时。内部上拉电阻的力量TRST高，如果
悬空。
TRST
BGA引脚
1
A
B
C
D
E
F
G
H
A1
0
A1
1
TRST
TMS
TCK
CLKBA
1
B1
1
B1
0
2
A1
2
A1
3
CLKAB
1
GND
GND
LEBA
1
B1
3
B1
2
3
A1
4
A1
5
LEAB
1
V
CC
V
CC
OEBA
1
B1
5
B1
4
4
A1
6
A1
7
OEAB
1
GND
V
CC
GND
B1
7
B1
6
5
A2
0
A2
1
GND
V
CC
GND
N / C
B2
1
B2
0
6
A2
2
A2
3
CLKAB
2
GND
GND
CLKBA
2
B2
3
B2
2
7
A2
4
A2
5
LEAB
2
TDI
N / C
LEBA
2
B2
5
B2
4
8
A2
6
A2
7
OEAB
2
TDO
V
CC
OEBA
2
B2
7
B2
6
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2
SCAN16512
接线图
20026603
顶视图
见NS包装数SLC64A
真值表
功能表
（注1 ）
输入
OEAB
L
L
L
L
L
H
LEAB
L
L
L
H
H
X
CLKAB
L
↑
↑
输出
A
X
L
H
L
H
X
B
B
0
（注2 ）
L
H
L
H
Z
X
X
X
H =高电压等级
L =低电压等级
X =非物质（高或低，投入可能不会浮动）
Z =高阻抗
注1 ：
如图A到B的数据流。 B-到一个数据流相似，但使用OEBA ， LEBA和CLKBA 。
注2 ：
建立了表示稳态输入条件之前，输出电平。
功能说明
在正常模式中，这些设备都是16位通用总线
收发器相结合的D型锁存器和D型倒装
触发器允许在透明的数据流，闭锁或计时
模式。它们可以作为两个8位收发器，或作为
一个16位收发器。测试电路可通过激活
水龙头取出现在数据快照样本
该器件的引脚，或在边界测试执行自检
细胞。激活TAP可能会影响正常的功能
通用总线收发器的操作。当TAP是
激活时，测试电路进行边界扫描测试OP-
根据该协议操作在IEEE标准中描述
1149.1-1990.
在每个方向上的数据流由控制的输出使能
（ OEAB和OEBA ） ，锁存使能（ LEAB和LEBA ） ，并
时钟（ CLKAB和CLKBA ）输入。对于A到B的数据流中，
器件在透明模式下操作时LEAB高。
当LEAB为低时，所述的数据被锁存，而CLKAB被保持
在一个静态低或高逻辑电平。否则，如果LEAB低，
的数据被存储在由低到高CLKAB的过渡。当
OEAB为低电平时， B输出是活动的。当OEAB是
高电平时， B输出端处于高阻抗状态。 B-到-A
数据流类似于A至B数据流，而是使用OEBA ，
LEBA和CLKBA投入。
五个专用测试引脚用来观察和控制
测试电路的操作：测试数据输入（TDI），测试数据
输出（ TDO ） ，测试模式选择（ TMS ） ，测试时钟（ TCK ）和
测试复位（ TRST ） 。所有的测试和扫描操作是同步
chronized的TAP接口。
有关边界扫描单元中的顺序的信息
SCAN16512请参阅所述的BSDL （边界扫描
描述语言）文件可以在我们的网站上。
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SCAN16512
DC电气特性
符号
参数
（续）
V
CC
(V)
2.7
3.0
3.6
3.6
3.6
产业
T
A
= -40 ° C至+ 85°C
民
最大
0.4
0.6
V
V
A
A
A
V
IN
= V
IL
或V
IH
,
I
OL
= 4毫安
V
IN
= V
IL
或V
IH
,
I
OL
= 12毫安
V
I
= V
CC
， GND
V
IN
= GND
V
I
（ OE ） = V
IL
, V
IH
V
I
= V
CC
， GND
V
O
= V
CC
， GND
V
I
= 0.8V或2.0V
V
I
= 0 3.6V
V
A
A
mA
V
I
= V
CC
–0.6V
I
IN
= -18mA
V
O
= V
CC
， GND
单位
条件
最大输出电压低
A和B端口： SCAN162512和
SCANH162512选项（ 25Ω
串联电阻选项）
I
IN
I
ILR
I
OZ
最大输入漏电流
输入低电平电流
最大I / O漏电流
±
5.0
-200
±
5.0
I
我（ HOLD ）
V
IKL
I
关闭
I
CC
I
CCT
总线保持输入最小驱动
保持电流（注4 ）
输入钳位二极管电压
关机漏电流
最大静态电源
当前
我最大
CC
每个输入
2.7
3.6
2.7
0.0
3.6
3.6
±
75
±
625
-1.5
A
±
10.0
20
0.5
注4 ：
适用于只用总线保持功能的器件。
噪声指标
适用于SCAN16512及SCANH16512选项，C
L
= 30pF的，R
L
= 500Ω到GND
符号
参数
V
CC
(V)
产业
T
A
= 25C
典型的限制
V
OLP
V
OLV
V
OHP
V
OHV
安静输出最大动力VOL
（注5 ）
安静的输出最低动态VOL
（注5 ）
安静输出最大动力VOH
（注6 ）
安静的输出最低动态VOH
（注6 ）
3.3
3.3
3.3
3.3
1.2
-1.5
VOH + 0.9
VOH - 1.5
V
V
V
V
单位
5
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QQ：2880707522 复制
