PIC24FJ256GA110系列
PIC24FJ256GA110系列
芯片勘误表和数据表澄清
您有PIC24FJ256GA110系列器件
接收功能符合当前设备数据
表（ DS39905E ） ，除了所描述的异常情况
在此文档。
在下面几页中讨论的硅问题
硅版本的设备和版本标识
上市
表1中。
硅的问题总结于
表2中。
本文档中描述的勘误表将被寻址
在PIC24FJ256GA110系列的未来版本
硅。
注意：
本文总结了全硅
硅的所有修订勘误的问题，
以前和电流。只有
中的最后一列所示的问题
表2
适用于当前的硅
修订版（ A6 ） 。
例如，要确定使用硅修订级别
MPLAB IDE中使用MPLAB ICD 2或结合
的PICkit 3 ：
1.
使用相应的接口，连接
设备
to
该
MPLAB
ICD
2
编程器/调试器或的PICkit 3 。
从MPLAB IDE的主菜单中，选择
Configure>Select设备，
然后选择
针对在该对话框中的部件编号。
SELECT
该
MPLAB
五金
工具
（ Debugger>Select
工具）。
执行一个“连接”操作的装置
（ Debugger>Connect ） 。根据不同的人员开发
使用opment工具，零件号
和
设备
修订ID值出现在
产量
窗口。
注意：
如果您无法提取硅
修订级别，请联系您当地的
Microchip销售办事处寻求协助。
2.
3.
4.
数据表的澄清和更正开始
第12页，
下面的硅问题的讨论。
硅修订级别可以使用标识
MPLAB的当前版本
IDE和Microchip的
编程器，调试器和仿真工具，
可在Microchip公司网站
（ www.microchip.com ） 。
该
DEVREV
值
为
该
各个
PIC24FJ256GA110系列硅修订是
所示
表1中。
表1：
硅DEVREV VALUES
设备
ID
(1)
101Eh
1016h
100Eh
1006h
101Ah
1012h
01h
03h
04h
对于修订ID
硅版本
(2)
A3
A5
A6
PIC24FJ128GA108
PIC24FJ64GA108
PIC24FJ256GA106
PIC24FJ192GA106
PIC24FJ128GA106
PIC24FJ64GA106
产品型号
设备
ID
(1)
100Ah
1002h
1018h
1010h
1008h
1000h
01h
03h
04h
对于修订ID
硅版本
(2)
A3
A5
A6
产品型号
PIC24FJ256GA110
PIC24FJ192GA110
PIC24FJ128GA110
PIC24FJ64GA110
PIC24FJ256GA108
PIC24FJ192GA108
注1 ：
2:
的设备ID （ DEVID和DEVREV ）位于结构的最后两个实施地址
存储器空间。他们以十六进制的格式为“ DEVID DEVREV ” 。
参阅
“ PIC24FJXXXGA0XX闪存编程规范”
（ DS39768 ）了解详细信息
对设备和版本编号为您的特定设备。
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DS80368N第1页
PIC24FJ256GA110系列
芯片勘误表问题
注意：
本文总结了全硅
硅的所有修订勘误的问题，
以前和电流。只有
通过在阴影列显示的问题
下面的表应用于当前
芯片版本（ A5 ） 。
3.模块： JTAG （器件编程）
在JTAGEN配置位可以亲
编程为“0” ，而使用JTAG接口
器件编程。这可能导致一种情况
其中， JTAG编程可以锁定自己出
能够对器件进行编程。
解决
无。
受影响的芯片版本
A3
X
A5
X
A6
X
1.模块：核心（运行内存）
如果在RAM中读取的指令执行
紧接使打盹模式，额外的
读取事件时打盹模式是可能发生
启用。这对大多数SFR和无影响
用户内存空间。但是，这可能会导致寄存器
TER值也上读取执行某些操作
（如自动递增一个指针或除去
从FIFO缓冲区中的数据），重复该动作，
可能导致数据丢失或意外
操作。
解决
避免读取寄存器，执行二线
元的动作（例如， UART和SPI的FIFO缓冲器，并
在RTCVAL寄存器）前夕
进入打盹模式。
如果这是无法避免的，执行
NOP
进入打盹模式之前的指令。
受影响的芯片版本
A3
X
A5
X
A6
X
4
模块： UART
当UART使用两个停止位操作系统
（ STSEL =
1),
它可以品尝第一个停止位
而不是第二个。如果该设备是的COM
即时传达同是一款使用在一个停止位的
通信，这可能会导致帧错误。
解决
无。
受影响的芯片版本
A3
X
A5
A6
5.模块： I / O （ PORTB ）
当RB5被配置为漏极开路输出，
它保持在一个高阻抗状态。设置
LATB5和TRISB5的对脚的无影响
状态。
解决
如果不需要漏极开路操作，配置
RB5作为常规的I / O （ ODCB<5> =
0).
如果需要漏极开路操作中，有两个
选项：
选择不同的I / O引脚的漏极开路
功能;或
放置一个外部晶体管的引脚上，并
引脚配置为常规的I / O。
受影响的芯片版本
A3
X
A5
A6
2.模块：核心（ BOR ）
当片上稳压器被使能（ ENVREG
连接到V
DD
） ，一个BOR事件可能自发地
发生在下列情况下：
V
DD
小于2.5V，并且：
内部带隙参考正被用作
与A / D转换器的参考
（ AD1PCFGH<1>或<0> =
0)
或比较器
（ CMxCON<1 ： 0> =
11);
or
CTMU模块被启用。
解决
限制以下，只有那些次
当片上稳压器是不是在跟踪模式
（ LVDIF （ IFS4<8> ） =
0):
使CTMU模块;
选择内部带隙为基准
在A / D转换器或比较器。
受影响的芯片版本
A3
X
A5
A6
DS80368N第4页
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PIC24FJ256GA110系列
6.模块：的SPIx （主模式）
在主控模式下，将SPIx中断标志
（ SPIxIF位置）和SPIRBF位（ SPIxSTAT<0> ）可
成为初期设定的半个时钟周期，而不是
在时钟边沿。这仅发生在
有以下情况：
=增强型缓冲模式被禁用
（ SPIBEN =
0);
和
模块配置为串行数据输出
从时钟上的过渡变化主动时钟
空闲状态（ CKE =
1)
如果应用程序正在使用的中断标志位来确定
当要发送写入到矿井数据
在缓冲器中当前发送缓冲器中，数据可
被覆盖。
解决
以前写的SPIx缓冲区，检查SCKx引脚
以确定是否最后一个时钟边沿已经过去。
例1
（下）演示了一种方法
这样做。在本实施例中，引脚RD1用作
SPIx时钟，并将SCKx，其被配置为空闲低。
受影响的芯片版本
A3
X
A5
A6
7.模块： CTMU
当CTMU模块被选择作为触发
源（ SYNCSEL<4 ： 0> =
11000),
输入
捕获和/或输出比较触发可能不
工作。
解决
手动触发输入捕捉和/或输出
比较模块（ S）后CTMU事件
收到。可以肯定，以弥补任何时间
延迟而导致的手动触发
模块。
受影响的芯片版本
A3
X
A5
A6
实施例1：
正在检查的SPIxIF的状态AGAINST THE SPIx时钟
//等待传输完成
//等待最后的时钟来完成
//写入新的数据到缓冲
而（ IFS0bits.SPI1IF == 0 ） { }
而（ PORTDbits.RD1 == 1 ）{}
SPI1BUF = 0xFF的;
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