加利福尼亚微设备公司
PACDN005
P / ACTIVE肖特基二极管高速总线终结者
特点
?? 36集成二极管在单一封装
提供18通道，双导轨夹紧动作
??提供独立的总线终端正确
外部线路或卡装载条件
??肖特基二极管技术;优秀的前锋
电压和反向恢复特性
??采用24引脚QSOP封装可节省电路板空间和
简化了空间的关键总线终端布局
应用与离散方法
应用
?? PCI 2.1总线终端基于Intel的奔腾
和Pentium Pro的系统
??本地高速总线终止所有流行
RISC嵌入式微处理器应用
??高速内存和SDRAM内存
总线终端
请参阅AP- 201终止应用笔记
进一步的信息。
产品说明
注： CMD ？的P /主动DN005肖特基二极管高速总线终结者是原PDN001的升级版或
IPEC DN001二极管阵列。 PACDN005提供了最小化引线电感和寄生电容效应（与地面加
销），改进的正向电压和串扰特性，以及优良的终端性能特性以高数据
的传输速率。该PACDN005被推荐用于所有的新设计。
在高速数据线的反射导致下冲和过冲的干扰而可能导致不正确的系统
操作。电阻器端接，当用于端接高速数据线，增加功率消耗并降低
输出（高）水平从而降低抗噪声能力。肖特基二极管终端是应用的最佳整体解决方案
系统蒸发散在其中的功耗和噪声抑制能力是关键的考虑因素。
CMD ？的P /主动DN005肖特基二极管高速总线终结者
是专门设计用来降低下冲/过
拍摄高速公交线路，如2.1 66MHz的PCI总线反射引起的噪声干扰， RISC的所有品种
嵌入式处理器/控制本地总线，同步DRAM ，以及其他高速内存总线终端的应用程序。
这款高度集成的肖特基二极管网络提供在高速数据线路非常有效的终端性能
可变载荷条件。该器件以高达每包18行终止支持？每一个都可以是simulta-
neously夹紧于两地与电源轨。一个典型的总线终端的应用程序将利用3 PAC DN005
设备，以取代大约50传统的肖特基二极管对;从而提供显著降低组件
成本和组装成本，改善生产效率和可靠性，并且在分配板的面积为与空间的节省
关键的设计。
概略结构
VDD
VDD
GND
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
14
13
1
GND
2
3
4
5
6
GND
7
8
9
10
11
12
VDD
2000加利福尼亚微设备公司保留所有权利。
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215黄玉街， Milpitas，加利福尼亚95035
联系电话： （ 408 ） 263-3214
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1
加利福尼亚微设备公司
标准规格
符号
V
DD
I
钳
TSTG
PACDN005
绝对最大额定值
参数
电源电压
通道钳位电流（连续）
工作温度
储存温度
封装额定功率
等级
-0.3V至+ 7V
±50mA
0
O
C至70
O
C
-65
O
C至+150
O
C
1.00W ，最大值
绝对最大额定值的限制值，可以单独应用，超出该设备可以被永久地损坏。实用
在任何这些条件的操作不能保证。该设备暴露其绝对最大额定值可能
影响其可靠性。
二极管的特性（T
A
= 0
O
70
O
C)
参数
条件
民
二极管盼着电压
到V
DD
I
F
= 16毫安
0.55V
I
F
= 50毫安
从GND
I
F
= 16毫安
0.50V
I
F
= 50毫安
反向恢复时间（见注1 ）I
F
= 50毫安（估计）
渠道渗漏
0
≤
V
IN
≤
V
DD
输入电容
F = 1MHz时， V
IN
= 2.5V ，T
A
= 25
O
C，V
DD
= 5.0V
ESD保护
MIL -STD -883方法3015
4KV
典型值
0.55V
0.70V
0.50V
0.65V
0.1A
5pF
最大
0.70V
0.90V
0.65V
0.85V
<400pS
5A
引脚
24
24
注1 ：
包
标准件订购信息
订货型号
风格
管
磁带&卷轴
QSOP
PACDN005Q/T
PACDN005Q/R
SOIC宽
PACDN005S/T
PACDN005S/R
最热
PACDN005Q
PACDN005S
测试电路示出了肖特基二极管在它们的典型应用。的反向恢复时间的影响被测量
使用窄脉冲670- ps的上升和下降时间。此脉冲传播下了60厘米， 54欧姆的带状线的制作
多层，控制阻抗印制电路板。在该测试接地钳位二极管，负边沿
脉冲引起的反射，迫使二极管测试，成为正向偏置。脉冲的正向边沿
试图把这二极管出正向导通的。反向恢复现象会导致的延迟
已知的正边缘与所观察到的边缘的到达时间，由于它需要用于前向偏置的二极管，以实际的时间
成为反向偏置。在该测量中，然而，没有可观察到的差异，因此也没有延迟的
正边缘由于二极管的存在。该波形被调节到单独测试接地和V
DD
夹。
见测试电路。
V
DD
ABT16244A
脉冲
发电机
Z
0
, L
二极管
下
TEST
测试电路。线长度，脉冲宽度和占空比被选择，如只有一个反射参与
在测量中。
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