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P4C163/P4C163L
超高速8K ×9
静态CMOS RAMS
特点
全CMOS , 6T细胞
高速(平等机会和循环时间)
- 25 / 35ns的(商业)
- 40 /35 /为45nS (军事)
低功耗工作(商用/军用)
输出使能和双芯片使能控制
功能
单5V ± 10 %电源
数据保留与2.0V供电, 10 μA典型
电流( P4C163L军)
通用I / O
充分TTL兼容输入和输出
标准引脚( JEDEC批准)
- 28引脚300密耳DIP , SOJ
- 28引脚350× 550密耳LCC
- 28引脚CERPACK
描述
该P4C163和P4C163L是73,728位超高速
组织为8K ×9的CMOS存储器静态RAM重
叠纸无时钟或刷新,并有平等的机会和
周期时间。输入是完全TTL兼容。公羊
从单一5V ± 10 %的容差电源供电。
带备用电池,数据完整性被保持供给
电压下降到2.0V 。漏电流是从2.0V 10 μA
供应量。
存取时间快25纳秒可用, per-
mitting大大提高了系统的运行速度。 CMOS
用于减少在两个有源功率消耗和
待机模式。
该P4C163和P4C163L提供28引脚300密耳可
DIP和SOJ , 28引脚350× 550密耳LCC和28引脚
CERPACK封装提供卓越的板级densi-
关系。
功能框图
销刀豆网络gurations
DIP ( P5 , C5 ) , SOJ ( J5 )
CERPACK ( F4 )相似
LCC ( L5)的
文档#
SRAM120
REV C
1
修订后的2006年8月
P4C163/163L
最大额定值
(1)
符号
V
CC
V
TERM
T
A
参数
电源引脚与
对于GND
与端电压
对于GND
(高达7.0V )
工作温度
价值
-0.5到+7
-0.5到
V
CC
+0.5
-55到+125
单位
V
符号
T
BIAS
T
英镑
P
T
I
OUT
参数
高温下
BIAS
储存温度
功耗
直流输出电流
价值
-55到+125
-65到+150
1.0
50
单位
°C
°C
W
mA
V
°C
推荐运行温度和电源电压
GRADE
(2)
军事
环境
温度
-55到+ 125°C
GND
0V
V
CC
5.0V ± 10%
GRADE
(2)
广告
环境
温度
0 ° C至+ 70°C
GND
0V
V
CC
5.0V ± 10%
DC电气特性
在推荐运行温度和电源电压
(2)
符号
V
IH
V
IL
V
HC
V
LC
V
CD
V
OL
V
OLC
V
OH
V
OHC
I
LI
I
LO
参数
输入高电压
输入低电压
CMOS输入高电压
CMOS输入低电压
输入钳位二极管电压
输出低电压
( TTL负载)
输出低电压
( CMOS负载)
输出高电压
( TTL负载)
输出高电压
( CMOS负载)
输入漏电流
输出漏电流
测试条件
P4C163
2.2
–0.5
(3)
–0.5
(3)
最大
V
CC
+0.5
0.8
0.2
–1.2
0.4
0.2
2.4
V
CC
–0.2
–10
–5
–10
–5
+10
+5
+10
+5
P4C163L
2.2
–0.5
(3)
–0.5
(3)
最大
V
CC
+0.5
0.8
0.2
–1.2
0.4
0.2
2.4
V
CC
–0.2
–5
不适用
–5
不适用
+5
不适用
+5
不适用
单位
V
V
V
V
V
V
V
V
V
A
A
V
CC
–0.2 V
CC
+0.5
V
CC
=最小值,我
IN
= -18毫安
I
OL
= 8毫安,V
CC
=最小值。
I
OLC
= 100 μA ,V
CC
=最小值。
I
OH
= -4毫安,V
CC
=最小值。
I
OHC
= -100 μA ,V
CC
=最小值。
V
CC
=最大。
V
IN
= GND到V
CC
V
CC
=最大,
CE
= V
IH
,
V
OUT
= GND到V
CC
米尔。
Com'l 。
米尔。
Com'l 。
V
CC
–0.2 V
CC
+0.5
电容
(4)
(V
CC
= 5.0V ,T
A
= 25 ° C,F = 1.0MHz的)
符号
C
IN
参数
输入电容
典型的条件。单位
V
IN
= 0V
5
pF
符号
C
OUT
参数
输出电容
典型的条件。单位
V
OUT
= 0V
7
pF
注意事项:
1.强调大于下最大额定值可能
对器件造成永久性损坏。这是一个额定值
该器件在这些或任何其它的条件和功能操作
超出本规范的业务部门所标明
是不是暗示。暴露在绝对最大额定值条件下,其
期间可能会影响其可靠性。
保证400每线性英尺2.扩展的工作温度
分钟的空气流。
3.瞬态输入, V
IL
IL
不超过-3.0V更负,
-100mA ,分别是允许的脉冲宽度至20毫微秒。
4.这个参数进行采样,而不是100 %测试。
文档#
SRAM120
REV C
第12页2
P4C163/163L
功耗特性
在推荐运行温度和电源电压
(2)
符号
I
CC
I
CC
I
SB
参数
工作动态
电流 - 25
工作动态
电流 - 35 , 45
测试条件
V
CC
=最大值, F =最大,
输出打开
V
CC
=最大值, F =最大,
输出打开
米尔。
Com'l 。
米尔。
Com'l 。
米尔。
Com'l 。
米尔。
Com'l 。
P4C163
最大
145
125
120
95
40
35
20
18
P4C163L
最大
145
不适用
120
不适用
40
不适用
1
不适用
单位
mA
mA
mA
备用电源
CE
1
V
IH
or
电流( TTL电平输入) CE
2
V
IL
, V
CC
=最大,
F =最大值,输出打开
备用电源
当前
( CMOS输入电平)
CE
1
V
HC
or
CE
2
V
LC
, V
CC
=最大,
F = 0时,输出打开,
V
IN
V
LC
或V
IN
V
HC
I
SB1
mA
N / A =不适用
数据保持特性( P4C163L ,军用温度只)
符号
V
DR
I
CCDR
t
CDR
t
R
参数
V
CC
数据保留
数据保持电流
芯片取消到
数据保存时间
手术恢复时间
CE
1
V
CC
- 0.2V或
CE
2
0.2V, V
IN
V
CC
– 0.2V
或V
IN
0.2V
测试条件
2.0
10
0
t
RC =
15
200
300
TYP 。 *
V
CC
=
2.0V
3.0V
最大
V
CC
=
2.0V
3.0V
单位
V
A
ns
ns
*T
A
= +25°C
§
t
RC
=读周期时间
此参数是保证,但未经测试。
数据保存波形
文档#
SRAM120
REV C
第12页3
P4C163/163L
AC电气特性 - 读周期
(V
CC
= 5V ±10 % ,全温度范围)
(2)
符号
t
RC
t
AA
t
AC
t
OH
t
LZ
t
HZ
t
OE
t
OLZ
t
OHZ
t
PU
t
PD
参数
读周期时间
地址访问时间
芯片使能
存取时间
从输出保持
地址变更
芯片使能到
在低Z输出
芯片禁用到
在高Z输出
OUTPUT ENABLE
低到数据有效
OUTPUT ENABLE
低到低Z
OUTPUT ENABLE
高到高阻
芯片使能到
电时间
芯片禁用到
关机时间
-25
25
25
25
3
3
10
13
3
12
0
20
0
3
3
3
35
-35
45
35
35
3
3
15
18
3
15
0
20
-45
最小值最大值最小值最大值最小值最大值
45
45
单位
ns
ns
ns
ns
ns
20
20
ns
ns
ns
20
ns
ns
25
ns
读周期NO 。 1 ( OE控制)
(5)
OE
注意事项:
5.
WE
为高的读周期。
6.
CE
1
为低电平,CE
2
为HIGH和
OE
为低电平读周期。
7.地址必须是有效的之前或与重合
CE
1
过渡
LOW和CE
2
变为高电平。
8.转变是从稳态电压前测量± 200mV的
改变,同时装载如在图1中指定的该参数是
采样,而不是100 %测试。
文档#
SRAM120
REV C
第12页4
P4C163/163L
读周期NO 。 2 (地址控制)
(5,6)
读周期NO 。 3 ( CE
1
,CE
2
控制)
(5,7,10)
CE
注意事项:
9.读周期时间是从最后一个有效地址测到第一
转换地址。
造成芯片使能控制10转换也有类似的延误
不论
CE
1
或CE
2
导致他们。
文档#
SRAM120
REV C
第12页5
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    地址:深圳市福田区振兴路156号上步工业区405栋3层

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