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NTHD4P02F
功率MOSFET和
肖特基二极管
-20 V, -3.0 A,单P沟道与
3.0肖特基势垒二极管, ChipFETt
特点
http://onsemi.com
MOSFET
V
( BR ) DSS
20 V
R
DS ( ON)
典型值
-130毫瓦@ -4.5 V
200毫瓦@ -2.5 V
I
D
最大
3.0 A
无管脚SMD封装,提供一个MOSFET和肖特基二极管
比TSOP- 6封装较小类似热40%
特征
独立的引出线为每个设备易于电路设计
超低V
F
肖特基
无铅包装是否可用
应用
肖特基二极管
V
R
最大
20 V
S
V
F
典型值
0.510 V
A
I
F
最大
3.0 A
锂离子电池充电
高端DC-DC转换电路
高边驱动器的小型无刷直流电机
便携式,电池供电产品的电源管理
G
V
V
A
A
A
W
MOSFET的最大额定值
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
参数
漏极至源极电压
栅极 - 源极电压
连续漏极
当前
稳定
状态
t
v
5s
脉冲漏
当前
功耗
T
J
= 25°C
T
J
= 85°C
T
J
= 25°C
I
D
I
DM
P
D
符号
V
DSS
V
GS
I
D
价值
20
±12
2.2
1.6
3.0
9.0
1.1
0.6
2.1
I
S
T
J
, T
英镑
T
L
2.1
-55到150
260
A
°C
°C
单位
D
P沟道MOSFET
C
肖特基二极管
ChipFET
CASE 1206A
方式3
t
p
= 10
ms
稳定
状态
t
v
5s
T
J
= 25°C
T
J
= 85°C
T
J
= 25°C
引脚连接
1
8
记号
1
2
3
4
C3 M
G
8
7
6
5
A
2
7
C
C
6
连续源电流(体二极管)
工作结存储
温度
无铅焊接温度的目的
( 1/8“从案例10秒)
A
S
3
D
D
4
5
G
肖特基二极管的最大额定值
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
参数
反向重复峰值电压
阻断电压DC
平均整流
正向电流
稳定
状态
t
v
5s
T
J
= 25°C
3.0
A
符号
V
RRM
V
R
I
F
价值
20
20
2.2
单位
V
V
A
C3 =具体设备守则
M =月守则
G
= Pb-Free包装
订购信息
设备
NTHD4P02FT1
NTHD4P02FT1G
ChipFET
ChipFET
(无铅)
航运
3000 /磁带&卷轴
3000 /磁带&卷轴
最大额定值超出该设备损坏可能会发生这些值。
施加到器件的最大额定值是个人压力限值(不
正常工作条件下),并同时无效。如果这些限制
超标,设备功能操作不暗示,可能会出现损伤和
可靠性可能受到影响。
。有关磁带和卷轴规格,
包括部分方向和磁带大小,请
请参阅我们的磁带和卷轴包装规格
宣传册, BRD8011 / D 。
出版订单号:
NTHD4P02F/D
半导体元件工业有限责任公司, 2005年
1
2005年11月 - 修订版7
NTHD4P02F
热电阻额定值
参数
结到环境(注1 )
稳定状态
t
v
5s
T
J
= 25°C
符号
R
qJA
最大
110
60
单位
° C / W
1.表面(平方[ 1盎司]痕迹,包括铜面积= 1.27 ),安装在FR4板采用1平方焊盘尺寸。
MOSFET电气特性
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
参数
开关特性
漏极至源极击穿电压
零栅极电压漏极电流
栅极 - 源极漏电流
基本特征
(注2 )
栅极阈值电压
漏 - 源导通电阻
正向跨导
收费和电容
输入电容
输出电容
反向传输电容
总栅极电荷
阈值的栅极电荷
栅极 - 源极充电
栅 - 漏极电荷
开关特性
(注3)
导通延迟时间
上升时间
关断延迟时间
下降时间
t
D(上)
t
r
t
D(关闭)
t
f
V
GS
= 4.5 V, V
DD
= 16 V,
I
D
= -2.2 A,R
G
= 2.5
W
7.0
13
33
27
12
25
50
40
ns
C
国际空间站
C
OSS
C
RSS
Q
G( TOT )
Q
G( TH )
Q
GS
Q
GD
V
GS
= 4.5 V, V
DS
= 10 V,
I
D
= 2.2 A
V
GS
= 0 V , F = 1.0 MHz时,
V
DS
= 10 V
185
95
30
3.0
0.2
0.5
0.9
300
150
50
6.0
nC
pF
V
GS ( TH)
R
DS ( ON)
g
FS
V
GS
= V
DS
, I
D
= 250
mA
V
GS
= 4.5, I
D
= 2.2 A
V
GS
= 2.5, I
D
= 1.7 A
V
DS
= -10 V,I
D
= 1.7 A
0.6
0.75
0.130
0.200
5.0
1.2
0.155
0.240
S
V
W
V
( BR ) DSS
I
DSS
I
GSS
V
GS
= 0 V,I
D
= 250
mA
V
DS
= 16 V, V
GS
= 0 V ,T
J
= 25°C
V
DS
= 16 V, V
GS
= 0 V ,T
J
= 85°C
V
DS
= 0 V, V
GS
=
±12
V
20
23
1.0
5.0
±100
nA
V
mA
符号
测试条件
典型值
最大
单位
漏源二极管特性
(注2 )
正向二极管电压
反向恢复时间
充电时间
放电时间
反向恢复电荷
V
SD
TRR
ta
tb
QRR
V
GS
= 0 V,I
S
= 2.1 A ,
dI
S
/ DT = 100 A / MS
V
GS
= 0 V,
I
S
= 2.1 A
0.85
32
10
22
15
nC
1.15
V
ns
肖特基二极管电气特性
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
参数
最大正向电压
符号
V
F
测试条件
I
F
= 0.1 A
I
F
= 0.5 A
I
F
= 1.0 A
最大瞬时反向电流
变化最大电压率
非重复性峰值浪涌电流
I
R
dv / dt的
I
FSM
V
R
= 10 V
V
R
= 20 V
V
R
= 20 V
半波,单脉冲, 60赫兹
10,000
23
典型值
0.425
0.480
0.510
0.575
1.0
5.0
V / ns的
A
mA
最大
单位
V
2.脉冲测试:脉冲宽度
v
300
女士,
占空比
v
2%.
3.开关特性是独立的工作结点温度。
http://onsemi.com
2
NTHD4P02F
典型MOSFET的性能曲线
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
4
I
D,
漏电流(安培)
V
GS
= -6 V至-3 V
V
GS
= 2.4 V
2.2 V
T
J
= 25°C
I
D,
漏电流(安培)
2 V
4
V
DS
10 V
3
3
1.8 V
2
1.6 V
1
1.4 V
1.2 V
0
0
1
2
3
4
5
6
7
8
V
DS
,漏极至源极电压(伏)
2
T
C
= 55°C
25°C
0
0.5
100°C
3
1
1
1.5
2
2.5
V
GS
,栅极至源极电压(伏)
图1.区域特征
R
DS (ON ) ,
漏极至源极电阻( W)
R
DS (ON ) ,
漏极至源极电阻( W)
0.5
I
D
= 2.1 A
T
J
= 25°C
0.25
图2.传输特性
T
J
= 25°C
0.225
V
GS
= 2.5 V
0.2
0.175
0.15
V
GS
= 4.5 V
0.125
0.1
0.5
1.5
2.5
3.5
I
D,
漏电流(安培)
0.4
0.3
0.2
0.1
0
1
2
3
4
5
6
V
GS
,栅极至源极电压(伏)
图3.导通电阻与栅极 - 源
电压
1.6
R
DS (ON ) ,
漏极 - 源极
电阻(标准化)
I
D
= 2.1 A
V
GS
= 4.5 V
I
DSS
,漏电( A)
1.4
1000
10000
图4.导通电阻与漏电流和
栅极电压
V
GS
= 0 V
T
J
= 150°C
1.2
1
100
T
J
= 100°C
0.8
0.6
50
10
25
0
25
50
75
100
125
150
2
4
6
8
10
12
14
16
18
20
T
J
,结温( ° C)
V
DS
,漏极至源极电压(伏)
图5.导通电阻变化与
温度
图6.漏 - 源极漏电流
与电压
http://onsemi.com
3
NTHD4P02F
典型MOSFET的性能曲线
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
V
GS ,
栅 - 源电压(V)的
600
V
DS
= 0 V
500
C,电容(pF )
400
300
200
100
0
10
5
V
GS
0
V
DS
5
10
15
20
C
OSS
C
RSS
C
国际空间站
V
GS
= 0 V
T
J
= 25°C
V
DS ,
漏极至源极电压(V )
5
Q
T
4
V
DS
V
GS
12
15
3
Q
GS
2
Q
GD
9
6
1
I
D
= 2.1 A
T
J
= 25°C
0
1
2
3
4
3
0
0
栅极 - 源极或漏极至源极电压( V)
Q
G
,总栅极电荷( NC)
图7.电容变化
1000
I
S
,源电流(安培)
V
DD
= 16 V
I
D
= 2.1 A
V
GS
= 4.5 V
100
T, TIME ( NS )
t
D(关闭)
t
f
10
t
D(上)
t
r
2.5
图8.栅极 - 源极和
漏极至源极电压与总充电
V
GS
= 0 V
T
J
= 25°C
2
1.5
1
0.5
0
0.3
1
1
10
R
G
,栅极电阻( W)
100
0.5
0.7
0.9
V
SD
,源极到漏极电压(V )
图9.电阻开关时间变化
与栅极电阻
图10.二极管的正向电压与电流
1.0
R(T ) ,规范有效
瞬态热阻
D = 0.5
0.2
0.1
0.05
0.02
0.01
单脉冲
1.0E02
1.0E01
1.0E+00
T,时间(S )
0.0154 F
0.0854 F
0.3074 F
1.7891 F
107.55 F
0.1
归一
qJA
为10s 。
芯片
0.0175
W
0.0710
W
0.2706
W
0.5776
W
0.7086
W
环境
1.0E+03
0.01
1.0E03
1.0E+01
1.0E+02
图11.热响应
http://onsemi.com
4
NTHD4P02F
典型的肖特基特性曲线
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
10
I
F
,瞬间向前
电流(安培)
10
I
F
,瞬间向前
电流(安培)
1
T
J
= 150°C
1
T
J
= 150°C
T
J
= 25°C
T
J
= 55°C
0.40
0.60
0.80
T
J
= 25°C
0.40
0.60
0.80
0.1
0.20
0.1
0.20
V
F
,正向电压(伏)
V
F
,最大正向
电压(伏)
图12.典型正向电压
1E3
I
R,
反向电流(安培)
I
R,
最大反向电流(安培)
1.0E+1
图13.最大正向电压
T
J
= 150°C
1.0E+0
1.0E1
1.0E2
1.0E3
T
J
= 150°C
100E6
T
J
= 100°C
10E6
T
J
= 100°C
1E6
1.0E4
1.0E5
T
J
= 25°C
0
10
V
R
,反向电压(伏)
20
100E9
10E9
0
T
J
= 25°C
1.0E6
1.0E7
10
V
R
,反向电压(伏)
20
图14.典型的反向电流
P
FO
,平均功耗(瓦)
图15.最大反向电流
I
O,
平均正向电流( AMPS )
3.5
FREQ = 20千赫
3
2.5
2
1.5
1
0.5
0
25
dc
方波
IPK / IO =
p
IPK / IO = 5
IPK / IO = 10
IPK / IO = 20
1.8
1.6
1.4
1.2
1
0.8
0.6
0.4
0.2
0
0
0.5
1
1.5
2
2.5
3
3.5
I
O
,平均正向电流(安培)
方波
IPK / IO =
p
IPK / IO = 5
IPK / IO = 10
IPK / IO = 20
dc
45
65
85
105
125
145
165
T
L
,焊接温度( ° C)
图16.电流降额
图17.前向功率耗散
http://onsemi.com
5
NTHD4P02F
功率MOSFET和
肖特基二极管
-20 V, -3.0 A,单P沟道与
3.0肖特基势垒二极管, ChipFETt
特点
http://onsemi.com
MOSFET
V
( BR ) DSS
20 V
R
DS ( ON)
典型值
-130毫瓦@ -4.5 V
200毫瓦@ -2.5 V
I
D
最大
3.0 A
无管脚SMD封装,提供一个MOSFET和肖特基二极管
比TSOP- 6封装较小类似热40%
特征
独立的引出线为每个设备易于电路设计
超低V
F
肖特基
无铅包装是否可用
应用
肖特基二极管
V
R
最大
20 V
V
F
典型值
0.510 V
A
I
F
最大
3.0 A
锂离子电池充电
高端DC-DC转换电路
高边驱动器的小型无刷直流电机
便携式,电池供电产品的电源管理
参数
符号
V
DSS
V
GS
T
J
= 25°C
T
J
= 85°C
T
J
= 25°C
I
D
I
DM
P
D
I
D
价值
20
±12
2.2
1.6
3.0
9.0
1.1
0.6
2.1
I
S
T
J
, T
英镑
T
L
2.1
-55到150
260
A
°C
°C
A
A
W
单位
V
V
A
S
MOSFET的最大额定值
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
漏极至源极电压
栅极 - 源极电压
连续漏极
当前
稳定
状态
t
v
5s
脉冲漏
当前
功耗
G
D
P沟道MOSFET
C
肖特基二极管
ChipFET
CASE 1206A
方式3
t
p
= 10
ms
稳定
状态
t
v
5s
T
J
= 25°C
T
J
= 85°C
T
J
= 25°C
连接
1
8
记号
1
2
3
4
C3
M
8
7
6
5
连续源电流(体二极管)
工作结存储
温度
无铅焊接温度的目的
( 1/8“从案例10秒)
A
2
7
C
C
6
A
S
3
D
D
4
5
肖特基二极管的最大额定值
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
参数
反向重复峰值电压
阻断电压DC
平均整流
正向电流
稳定
状态
t
v
5s
符号
V
RRM
V
R
I
F
25 C
T
J
= 25°C
3.0
A
价值
20
20
2.2
单位
V
V
A
G
C2 =具体设备守则
M =月守则
订购信息
设备
NTHD4P02FT1
NTHD4P02FT1G
ChipFET
ChipFET
(无铅)
航运
3000 /磁带&卷轴
3000 /磁带&卷轴
最大额定值超出该设备损坏可能会发生这些值。
施加到器件的最大额定值是个人压力限值(不
正常工作条件下),并同时无效。如果这些限制
超标,设备功能操作不暗示,可能会出现损伤和
可靠性可能受到影响。
半导体元件工业有限责任公司, 2004年
。有关磁带和卷轴规格,
包括部分方向和磁带大小,请
请参阅我们的磁带和卷轴包装规格
宣传册, BRD8011 / D 。
出版订单号:
NTHD4P02F/D
1
2004年10月 - 第4版
NTHD4P02F
热电阻额定值
参数
结到环境(注1 )
(
)
稳定状态
t
v
5s
T
J
= 25°C
符号
R
qJA
最大
110
60
单位
° C / W
1.表面(平方[ 1盎司]痕迹,包括铜面积= 1.27 ),安装在FR4板采用1平方焊盘尺寸。
MOSFET电气特性
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
参数
开关特性
漏极至源极击穿电压
零栅极电压漏极电流
g
栅极 - 源极漏电流
基本特征
(注2 )
栅极阈值电压
漏 - 源导通电阻
正向跨导
收费和电容
输入电容
输出电容
反向传输电容
总栅极电荷
阈值的栅极电荷
栅极 - 源极充电
栅 - 漏极电荷
开关特性
(注3)
导通延迟时间
上升时间
关断延迟时间
下降时间
t
D(上)
t
r
t
D(关闭)
t
f
V
GS
= 4.5 V, V
DD
= 16 V,
I
D
= -2.2 A,R
G
= 2.5
W
7.0
13
33
27
12
25
50
40
ns
C
国际空间站
C
OSS
C
RSS
Q
G( TOT )
Q
G( TH )
Q
GS
Q
GD
V
GS
= 4.5 V, V
DS
= 10 V,
I
D
= 2.2 A
V
GS
= 0 V , F = 1.0 MHz时,
V
1 0 MH
V
DS
= 10 V
185
95
30
3.0
0.2
0.5
0.9
300
150
50
6.0
nC
pF
V
GS ( TH)
R
DS ( ON)
g
FS
V
GS
= V
DS
, I
D
= 250
mA
V
GS
= 4.5, I
D
= 2.2 A
V
GS
= 2.5, I
D
= 1.7 A
V
DS
= -10 V,I
D
= 1.7 A
0.6
0.75
0.130
0.200
5.0
1.2
0.155
0.240
S
V
W
V
( BR ) DSS
I
DSS
I
GSS
V
GS
= 0 V,I
D
= 250
mA
V
DS
= 16 V, V
GS
= 0 V ,T
J
= 25°C
V
DS
= 16 V, V
GS
= 0 V ,T
J
= 85°C
V
DS
= 0 V, V
GS
=
±12
V
20
23
1.0
5.0
±100
nA
V
m
mA
符号
测试条件
典型值
最大
单位
漏源二极管特性
(注2 )
正向二极管电压
反向恢复时间
充电时间
放电时间
反向恢复电荷
V
SD
TRR
ta
tb
QRR
V
GS
= 0 V,I
S
= 2.1 A ,
dI
S
/ DT = 100 A / MS
V
GS
= 0 V,
I
S
= 2.1 A
0.85
32
10
22
15
nC
1.15
V
ns
肖特基二极管电气特性
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
参数
最大正向电压
g
符号
V
F
测试条件
I
F
= 0.1 A
I
F
= 0.5 A
I
F
= 1.0 A
最大瞬时反向电流
I
R
dv / dt的
I
FSM
V
R
= 10 V
V
R
= 20 V
变化最大电压率
非重复性峰值浪涌电流
V
R
= 20 V
半波,单脉冲, 60赫兹
10,000
23
典型值
0.425
0.480
0.510
0.575
1.0
5.0
V / ns的
A
mA
m
最大
单位
V
2.脉冲测试:脉冲宽度
v
300
女士,
占空比
v
2%.
3.开关特性是独立的工作结点温度。
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2
NTHD4P02F
典型MOSFET的性能曲线
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
4
I
D,
漏电流(安培)
V
GS
= -6 V至-3 V
V
GS
= 2.4 V
2.2 V
T
J
= 25°C
I
D,
漏电流(安培)
4
V
DS
10 V
3
2 V
3
1.8 V
2
1.6 V
1
1.4 V
1.2 V
0
0
1
2
3
4
5
6
7
8
V
DS
,漏极至源极电压(伏)
2
1
T
C
= 55°C
25°C
100°C
3
0
0.5
1
1.5
2
2.5
V
GS
,栅极至源极电压(伏)
图1.区域特征
R
DS (ON ) ,
漏极至源极电阻( W)
R
DS (ON ) ,
漏极至源极电阻( W)
0.5
I
D
= 2.1 A
T
J
= 25°C
0.25
图2.传输特性
T
J
= 25°C
0.225
V
GS
= 2.5 V
0.2
0.175
0.15
V
GS
= 4.5 V
0.125
0.1
0.5
1.5
2.5
3.5
I
D,
漏电流(安培)
0.4
0.3
0.2
0.1
0
1
2
4
3
5
V
GS
,栅极至源极电压(伏)
6
图3.导通电阻与栅极 - 源
电压
1.6
R
DS (ON ) ,
漏极 - 源极
电阻(标准化)
I
D
= 2.1 A
V
GS
= 4.5 V
I
DSS
,漏电( A)
1.4
1000
10000
图4.导通电阻与漏电流和
栅极电压
V
GS
= 0 V
T
J
= 150°C
1.2
1
100
T
J
= 100°C
0.8
0.6
50
10
25
0
25
50
75
100
125
150
2
4
6
8
10
12
14
16
18
20
T
J
,结温( ° C)
V
DS
,漏极至源极电压(伏)
图5.导通电阻变化与
温度
图6.漏 - 源极漏电流
与电压
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3
NTHD4P02F
典型MOSFET的性能曲线
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
V
GS ,
栅 - 源电压(V)的
V
DS ,
漏极至源极电压(V )
600
V
DS
= 0 V
500
C,电容(pF )
400
300
200
100
0
10
5
V
GS
0
V
DS
5
10
15
20
C
OSS
C
RSS
C
国际空间站
V
GS
= 0 V
T
J
= 25°C
5
Q
T
4
V
DS
V
GS
12
15
3
Q
GS
2
Q
GD
9
6
1
I
D
= 2.1 A
T
J
= 25°C
0
1
2
3
4
3
0
0
栅极 - 源极或漏极至源极电压( V)
Q
G
,总栅极电荷( NC)
图7.电容变化
1000
I
S
,源电流(安培)
V
DD
= 16 V
I
D
= 2.1 A
V
GS
= 4.5 V
100
T, TIME ( NS )
t
D(关闭)
t
f
10
t
D(上)
t
r
2.5
图8.栅极 - 源极和
漏极至源极电压与总充电
V
GS
= 0 V
T
J
= 25°C
2
1.5
1
0.5
0
0.3
1
1
10
R
G
,栅极电阻( W)
100
0.5
0.7
0.9
V
SD
,源极到漏极电压(V )
图9.电阻开关时间变化
与栅极电阻
图10.二极管的正向电压与电流
1.0
R(T ) ,规范有效
瞬态热阻
D = 0.5
0.2
0.1
0.05
0.02
0.01
单脉冲
1.0E02
1.0E01
1.0E+00
T,时间(S )
0.0154 F
0.0854 F
0.3074 F
1.7891 F
107.55 F
0.1
归一
qJA
为10s 。
芯片
0.0175
W
0.0710
W
0.2706
W
0.5776
W
0.7086
W
环境
1.0E+03
0.01
1.0E03
1.0E+01
1.0E+02
图11.热响应
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4
NTHD4P02F
典型的肖特基特性曲线
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
10
I
F
,瞬间向前
电流(安培)
10
I
F
,瞬间向前
电流(安培)
1
T
J
= 150°C
1
T
J
= 150°C
T
J
= 25°C
T
J
= 55°C
0.40
0.60
0.80
T
J
= 25°C
0.40
0.60
0.80
0.1
0.20
0.1
0.20
V
F
,正向电压(伏)
V
F
,最大正向
电压(伏)
图12.典型正向电压
I
R,
最大反向电流(安培)
1E3
I
R,
反向电流(安培)
10E+0
图13.最大正向电压
T
J
= 150°C
T
J
= 150°C
100E6
T
J
= 100°C
10E6
1E+0
T
J
= 100°C
100E3
1E6
10E3
100E9
10E9
0
T
J
= 25°C
1E3
T
J
= 25°C
100E6
0
10
V
R
,反向电压(伏)
20
10
V
R
,反向电压(伏)
20
图14.典型的反向电流
P
FO
,平均功耗(瓦)
图15.最大反向电流
I
O,
平均正向电流( AMPS )
3.5
FREQ = 20千赫
3
2.5
2
1.5
1
0.5
0
25
dc
方波
IPK / IO =
p
IPK / IO = 5
IPK / IO = 10
IPK / IO = 20
1.8
1.6
1.4
1.2
1
0.8
0.6
0.4
0.2
0
0
0.5
1
1.5
2
2.5
3
3.5
I
O
,平均正向电流(安培)
IPK / IO =
p
IPK / IO = 5
IPK / IO = 10
IPK / IO = 20
方波
dc
45
65
85
105
125
145
165
T
L
,焊接温度( ° C)
图16.电流降额
图17.前向功率耗散
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5
NTHD4P02F
功率MOSFET和
肖特基二极管
-20 V, -3.0 A,单P沟道与
3.0肖特基势垒二极管, ChipFETt
特点
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MOSFET
V
( BR ) DSS
20 V
R
DS ( ON)
典型值
-130毫瓦@ -4.5 V
200毫瓦@ -2.5 V
I
D
最大
3.0 A
无管脚SMD封装,提供一个MOSFET和肖特基二极管
比TSOP- 6封装较小类似热40%
特征
独立的引出线为每个设备易于电路设计
超低V
F
肖特基
无铅包装是否可用
应用
肖特基二极管
V
R
最大
20 V
V
F
典型值
0.510 V
A
I
F
最大
3.0 A
锂离子电池充电
高端DC-DC转换电路
高边驱动器的小型无刷直流电机
便携式,电池供电产品的电源管理
参数
符号
V
DSS
V
GS
T
J
= 25°C
T
J
= 85°C
T
J
= 25°C
I
D
I
DM
P
D
I
D
价值
20
±12
2.2
1.6
3.0
9.0
1.1
0.6
2.1
I
S
T
J
, T
英镑
T
L
2.1
-55到150
260
A
°C
°C
A
A
W
单位
V
V
A
S
MOSFET的最大额定值
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
漏极至源极电压
栅极 - 源极电压
连续漏极
当前
稳定
状态
t
v
5s
脉冲漏
当前
功耗
G
D
P沟道MOSFET
C
肖特基二极管
ChipFET
CASE 1206A
方式3
t
p
= 10
ms
稳定
状态
t
v
5s
T
J
= 25°C
T
J
= 85°C
T
J
= 25°C
连接
1
8
记号
1
2
3
4
C3
M
8
7
6
5
连续源电流(体二极管)
工作结存储
温度
无铅焊接温度的目的
( 1/8“从案例10秒)
A
2
7
C
C
6
A
S
3
D
D
4
5
肖特基二极管的最大额定值
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
参数
反向重复峰值电压
阻断电压DC
平均整流
正向电流
稳定
状态
t
v
5s
符号
V
RRM
V
R
I
F
25 C
T
J
= 25°C
3.0
A
价值
20
20
2.2
单位
V
V
A
G
C2 =具体设备守则
M =月守则
订购信息
设备
NTHD4P02FT1
NTHD4P02FT1G
ChipFET
ChipFET
(无铅)
航运
3000 /磁带&卷轴
3000 /磁带&卷轴
最大额定值超出该设备损坏可能会发生这些值。
施加到器件的最大额定值是个人压力限值(不
正常工作条件下),并同时无效。如果这些限制
超标,设备功能操作不暗示,可能会出现损伤和
可靠性可能受到影响。
半导体元件工业有限责任公司, 2004年
。有关磁带和卷轴规格,
包括部分方向和磁带大小,请
请参阅我们的磁带和卷轴包装规格
宣传册, BRD8011 / D 。
出版订单号:
NTHD4P02F/D
1
2004年10月 - 第4版
NTHD4P02F
热电阻额定值
参数
结到环境(注1 )
(
)
稳定状态
t
v
5s
T
J
= 25°C
符号
R
qJA
最大
110
60
单位
° C / W
1.表面(平方[ 1盎司]痕迹,包括铜面积= 1.27 ),安装在FR4板采用1平方焊盘尺寸。
MOSFET电气特性
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
参数
开关特性
漏极至源极击穿电压
零栅极电压漏极电流
g
栅极 - 源极漏电流
基本特征
(注2 )
栅极阈值电压
漏 - 源导通电阻
正向跨导
收费和电容
输入电容
输出电容
反向传输电容
总栅极电荷
阈值的栅极电荷
栅极 - 源极充电
栅 - 漏极电荷
开关特性
(注3)
导通延迟时间
上升时间
关断延迟时间
下降时间
t
D(上)
t
r
t
D(关闭)
t
f
V
GS
= 4.5 V, V
DD
= 16 V,
I
D
= -2.2 A,R
G
= 2.5
W
7.0
13
33
27
12
25
50
40
ns
C
国际空间站
C
OSS
C
RSS
Q
G( TOT )
Q
G( TH )
Q
GS
Q
GD
V
GS
= 4.5 V, V
DS
= 10 V,
I
D
= 2.2 A
V
GS
= 0 V , F = 1.0 MHz时,
V
1 0 MH
V
DS
= 10 V
185
95
30
3.0
0.2
0.5
0.9
300
150
50
6.0
nC
pF
V
GS ( TH)
R
DS ( ON)
g
FS
V
GS
= V
DS
, I
D
= 250
mA
V
GS
= 4.5, I
D
= 2.2 A
V
GS
= 2.5, I
D
= 1.7 A
V
DS
= -10 V,I
D
= 1.7 A
0.6
0.75
0.130
0.200
5.0
1.2
0.155
0.240
S
V
W
V
( BR ) DSS
I
DSS
I
GSS
V
GS
= 0 V,I
D
= 250
mA
V
DS
= 16 V, V
GS
= 0 V ,T
J
= 25°C
V
DS
= 16 V, V
GS
= 0 V ,T
J
= 85°C
V
DS
= 0 V, V
GS
=
±12
V
20
23
1.0
5.0
±100
nA
V
m
mA
符号
测试条件
典型值
最大
单位
漏源二极管特性
(注2 )
正向二极管电压
反向恢复时间
充电时间
放电时间
反向恢复电荷
V
SD
TRR
ta
tb
QRR
V
GS
= 0 V,I
S
= 2.1 A ,
dI
S
/ DT = 100 A / MS
V
GS
= 0 V,
I
S
= 2.1 A
0.85
32
10
22
15
nC
1.15
V
ns
肖特基二极管电气特性
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
参数
最大正向电压
g
符号
V
F
测试条件
I
F
= 0.1 A
I
F
= 0.5 A
I
F
= 1.0 A
最大瞬时反向电流
I
R
dv / dt的
I
FSM
V
R
= 10 V
V
R
= 20 V
变化最大电压率
非重复性峰值浪涌电流
V
R
= 20 V
半波,单脉冲, 60赫兹
10,000
23
典型值
0.425
0.480
0.510
0.575
1.0
5.0
V / ns的
A
mA
m
最大
单位
V
2.脉冲测试:脉冲宽度
v
300
女士,
占空比
v
2%.
3.开关特性是独立的工作结点温度。
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2
NTHD4P02F
典型MOSFET的性能曲线
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
4
I
D,
漏电流(安培)
V
GS
= -6 V至-3 V
V
GS
= 2.4 V
2.2 V
T
J
= 25°C
I
D,
漏电流(安培)
4
V
DS
10 V
3
2 V
3
1.8 V
2
1.6 V
1
1.4 V
1.2 V
0
0
1
2
3
4
5
6
7
8
V
DS
,漏极至源极电压(伏)
2
1
T
C
= 55°C
25°C
100°C
3
0
0.5
1
1.5
2
2.5
V
GS
,栅极至源极电压(伏)
图1.区域特征
R
DS (ON ) ,
漏极至源极电阻( W)
R
DS (ON ) ,
漏极至源极电阻( W)
0.5
I
D
= 2.1 A
T
J
= 25°C
0.25
图2.传输特性
T
J
= 25°C
0.225
V
GS
= 2.5 V
0.2
0.175
0.15
V
GS
= 4.5 V
0.125
0.1
0.5
1.5
2.5
3.5
I
D,
漏电流(安培)
0.4
0.3
0.2
0.1
0
1
2
4
3
5
V
GS
,栅极至源极电压(伏)
6
图3.导通电阻与栅极 - 源
电压
1.6
R
DS (ON ) ,
漏极 - 源极
电阻(标准化)
I
D
= 2.1 A
V
GS
= 4.5 V
I
DSS
,漏电( A)
1.4
1000
10000
图4.导通电阻与漏电流和
栅极电压
V
GS
= 0 V
T
J
= 150°C
1.2
1
100
T
J
= 100°C
0.8
0.6
50
10
25
0
25
50
75
100
125
150
2
4
6
8
10
12
14
16
18
20
T
J
,结温( ° C)
V
DS
,漏极至源极电压(伏)
图5.导通电阻变化与
温度
图6.漏 - 源极漏电流
与电压
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3
NTHD4P02F
典型MOSFET的性能曲线
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
V
GS ,
栅 - 源电压(V)的
V
DS ,
漏极至源极电压(V )
600
V
DS
= 0 V
500
C,电容(pF )
400
300
200
100
0
10
5
V
GS
0
V
DS
5
10
15
20
C
OSS
C
RSS
C
国际空间站
V
GS
= 0 V
T
J
= 25°C
5
Q
T
4
V
DS
V
GS
12
15
3
Q
GS
2
Q
GD
9
6
1
I
D
= 2.1 A
T
J
= 25°C
0
1
2
3
4
3
0
0
栅极 - 源极或漏极至源极电压( V)
Q
G
,总栅极电荷( NC)
图7.电容变化
1000
I
S
,源电流(安培)
V
DD
= 16 V
I
D
= 2.1 A
V
GS
= 4.5 V
100
T, TIME ( NS )
t
D(关闭)
t
f
10
t
D(上)
t
r
2.5
图8.栅极 - 源极和
漏极至源极电压与总充电
V
GS
= 0 V
T
J
= 25°C
2
1.5
1
0.5
0
0.3
1
1
10
R
G
,栅极电阻( W)
100
0.5
0.7
0.9
V
SD
,源极到漏极电压(V )
图9.电阻开关时间变化
与栅极电阻
图10.二极管的正向电压与电流
1.0
R(T ) ,规范有效
瞬态热阻
D = 0.5
0.2
0.1
0.05
0.02
0.01
单脉冲
1.0E02
1.0E01
1.0E+00
T,时间(S )
0.0154 F
0.0854 F
0.3074 F
1.7891 F
107.55 F
0.1
归一
qJA
为10s 。
芯片
0.0175
W
0.0710
W
0.2706
W
0.5776
W
0.7086
W
环境
1.0E+03
0.01
1.0E03
1.0E+01
1.0E+02
图11.热响应
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4
NTHD4P02F
典型的肖特基特性曲线
(T
J
= 25 ° C除非另有说明)
10
I
F
,瞬间向前
电流(安培)
10
I
F
,瞬间向前
电流(安培)
1
T
J
= 150°C
1
T
J
= 150°C
T
J
= 25°C
T
J
= 55°C
0.40
0.60
0.80
T
J
= 25°C
0.40
0.60
0.80
0.1
0.20
0.1
0.20
V
F
,正向电压(伏)
V
F
,最大正向
电压(伏)
图12.典型正向电压
I
R,
最大反向电流(安培)
1E3
I
R,
反向电流(安培)
10E+0
图13.最大正向电压
T
J
= 150°C
T
J
= 150°C
100E6
T
J
= 100°C
10E6
1E+0
T
J
= 100°C
100E3
1E6
10E3
100E9
10E9
0
T
J
= 25°C
1E3
T
J
= 25°C
100E6
0
10
V
R
,反向电压(伏)
20
10
V
R
,反向电压(伏)
20
图14.典型的反向电流
P
FO
,平均功耗(瓦)
图15.最大反向电流
I
O,
平均正向电流( AMPS )
3.5
FREQ = 20千赫
3
2.5
2
1.5
1
0.5
0
25
dc
方波
IPK / IO =
p
IPK / IO = 5
IPK / IO = 10
IPK / IO = 20
1.8
1.6
1.4
1.2
1
0.8
0.6
0.4
0.2
0
0
0.5
1
1.5
2
2.5
3
3.5
I
O
,平均正向电流(安培)
IPK / IO =
p
IPK / IO = 5
IPK / IO = 10
IPK / IO = 20
方波
dc
45
65
85
105
125
145
165
T
L
,焊接温度( ° C)
图16.电流降额
图17.前向功率耗散
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5
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