1996年12月
NDH8301N
双N沟道增强型场效应晶体管
概述
这些N沟道增强型功率场效应
晶体管都采用飞兆半导体专有的,高电池产生
密度, DMOS技术。这非常高密度的过程
特别是针对减少通态电阻。这些
器件特别适用于低电压应用,例如
作为笔记本电脑的电源管理和其他电池
供电电路中快速切换,低线功率
需要在一个非常小的轮廓表面损失贴装封装。
特点
3 A, 20 V
DS ( ON)
= 0.06
@ V
GS
= 4.5 V
R
DS ( ON)
= 0.075
@ V
GS
= 2.7 V.
专有SuperSOT
TM
使用铜-8包装设计
引线框架为优异的热和电性能。
高密度电池设计极低R
DS ( ON)
.
呈导通电阻和最大直流电流
能力。
____________________________________________________________________________________________
5
4
3
2
1
6
7
8
绝对最大额定值
T
A
= 25 ° C除非另有笔记
符号
V
DSS
V
GSS
I
D
P
D
T
J
,T
英镑
参数
漏源电压
栅源电压
漏电流 - 连续
- 脉冲
最大功率耗散
工作和存储温度范围
(注1 )
(注1 )
NDH8301N
20
8
3
15
0.8
-55到150
单位
V
V
A
W
°C
热特性
R
θ
JA
R
θ
JC
热阻,结到环境
热阻,结到外壳
(注1 )
(注1 )
156
40
° C / W
° C / W
1997仙童半导体公司
NDH8301N Rev.E
电气特性
(T
A
= 25 ° C除非另有说明)
符号
参数
条件
民
典型值
最大
0.67
(注2 )
单位
A
V
漏源二极管的特性和最大额定值
I
S
V
SD
注意事项:
1. R
θ
JA
在这里的情况下热参考被定义为漏极引脚的焊锡安装表面的结到壳体和壳到环境的热阻之和。
θ
JC
被担保
设计,同时
θ
CA
是通过用户的电路板的设计来确定。
最大连续漏源二极管的正向电流
漏源二极管的正向电压
V
GS
= 0 V,I
S
= 0.67 A
0.7
1.2
P
D
(
t
) =
R
θ
J A
t
)
(
T
J
T
A
=
R
θ
J·C
R
θ
CA
t
)
+
(
T
J
T
A
=
I
2
(
t
) ×
R
DS
(
ON
)
D
T
J
典型
θ
JA
对于单台设备的操作使用上4.5"x5" FR- 4 PCB的静止空气环境下图所示的电路板布局:
156
o
安装在一个0.0025 C / W的时
2
垫2盎司覆铜。
比例为1 : 1的信纸尺寸的纸张。
2.脉冲测试:脉冲宽度< 300μS ,占空比< 2.0 % 。
NDH8301N Rev.E