特点和优点
电源电压高达12 V
接口直接与5 V CMOS逻辑电路的MCU
串行链路
可同时驱动2 360 °执行器& 3 90 °执行器
开路/短路检测的输出驱动器
小尺寸( SO24封装)
实时角跟踪
应用
Logometer驾驶仪表板
工业计量
订购信息
产品型号
MLX10407
温度后缀
E( -40 ° C至85°C )
包
DF ( SOIC24 )
选项代码
CA
工作原理图
描述
该10407是一个MCU外设使用单logometers控制/ COS PWM命令。该电路控制两个
CMOS电源桥的独立集。一个10位的角度显示了9位象限分辨率的PWM
频率由晶体振荡器设置。上电自检检测开路或短路输出,每个logometer和
实时角度跟踪避免出现显示错误。
在10407也可以驱动三个小角度logometers (90°) 。一个三线串行链路允许双向通信
与MCU 。
传感器MLX902xx名称
3901010407
冯Y.X
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22/Aug/98
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Aug/02
修订版003
DC电气特性
环境温度Tamb = -40 85 ℃, VDD = 4.5 V至12 V ,除非另有规定。
特征
电源电流
测试条件
输入为VDD或
VSS ,无负载上的
输出
符号
民
ICC
范围
典型值
最大
5.5
单位
mA
最大功率耗散
输入
输入电容
引脚11
下拉电阻
输入电压低
输入电压高
迟滞
漏电流
引脚12 , 13 , 14 , 15 , 17
输入电压低
输入电压高
迟滞
漏电流(引脚12 ,15,17 )
下拉电阻(引脚14)的
输出
PIN码16
低电平输出电压
高电平输出漏电流
引脚2 , 3 , 5 , 6 , 20 , 21 , 23 , 24
辍学电压为每对
缓冲器
辍学电压不匹配
销7 ,8,9
输出电压低
输出电压高
VDD = 8.5 V
引脚VDD或VSS
VDD = 8.5 V
引脚VDD或VSS
PDMAX
CIN
RPD
VIL
VIH
VHYS
IL
VIL
VIH
VHYS
IL
RPD
125
-0.3
4
0.5
-1
-0.3
4
0.5
-1
0.8
620
10
750
1
VDD+0.3
2.5
1
1
VDD+0.3
2.5
1
1.5
mW
pF
千欧
V
V
V
A
V
V
V
A
千欧
IOUT < 500 μA
VOUT = VDD
VDD = 8.5V ,环境温度Tamb =
25 ° C, ICOIL = 30毫安
VOL
ILKG
Vd
Vd的
0.3
10
1.6
± 50
0.3
6.8
7.8
0.6
V
A
V
mV
V
V
VDD = 8.5V ,环境温度Tamb =
25 ° C, ISINK = 40毫安
VDD = 8.5V ,环境温度Tamb =
25 ° C, ISOURCE =
40mA
VOL
VOH
振荡器
引脚18,19
输入引脚电容
CIN
10
20
pF
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绝对最大额定值
参数
符号
民
价值
最大
+150
+85
14.0
VDD +0.3
单位
存储温度范围
工作温度范围
电源电压范围
输入电压范围
TSTG
TAMB
VDD
Vi
-40
-40
-0.3
-0.3
°C
°C
V
V
AC电气特性
环境温度Tamb = -40 85 ℃, VDD = 4.5 V至12 V ,除非另有规定。
特征
测试条件
符号
民
范围
典型值
最大
单位
振荡器
时钟频率
串行通信
串行数据时钟频率
对于DIN时间稳定SCLK上升
保持时间为DIN
f运行
FCLK
0
.
95
8
8.4
兆赫
兆赫
500
100
100
千赫
ns
ns
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手术
1 ) 360° logometers
紧接着复位时,IC会检查是否有短路或断路各
缓冲驱动器输出(用于输出5,6不进行本试验和7)。在此试验中,每个缓冲器
在高阻抗状态,和大的值的内部电阻( RT外接100K )被保持顺序是
连接于各对缓冲器(注:致动器线圈必须连接于桥) 。
三个试验是按下面的图和表进行。
测试短路和开路
条件
测试1
测试2
测试3
S1闭合, S2开
S1打开, S2闭合
S1和S2闭合
测试:
V1 = VSS
V1 = VDD
V1 = VDD / 2
在测试过程中的销ERRB (16)是在逻辑电平0。在完成试验, ERRB遗体后
低,如果一个(或多个)测试失败。
ERRB返回到高阻如果一切OK 。
这些测试最后以8 MHz的时钟频率大约为4毫秒。
测试后,所有缓冲区都在VSS 。该芯片然后等待MCU发送一个角度/象限
值,以输出为每个缓冲区的PWM信号。每logometer线圈连接成桥式,
所以目前ICOIL可以为正或负。
总辍学的桥梁为:V
d
= | V
CC
- V
COIL
|
一桥
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