MIL-M-38510/14E
1.3绝对最大额定值。
电源电压范围............................................... .......
输入电压范围............................................... ..........
存储温度范围............................................
每门最大功耗(P
D
) 1/
设备类型01 ............................................... .........
设备类型02和06 ...........................................
设备类型03 ............................................... .........
设备类型04 ............................................... .........
设备类型05 ............................................... .........
引线温度(焊接10秒) ......................
热阻,结到外壳( θ
JC
)......................
结温(T
J
)
2/
..........................................
1.4推荐工作条件。
电源电压(V
CC
) .......................................................
最小输入高电平电压(V
IH
) ...........................
最大低电平输入电压(V
IL
) ............................
最大低电平输出电流(I
IL
) ............................
归一化的扇出(每个输出)3 /
低逻辑电平............................................... ..........
高逻辑电平............................................... .........
情况下的工作温度范围(T
C
) .........................
2.0适用文档
2.1一般。在本节中所列出的文件中的第3, 4或5本说明书指定。
此部分不包括本说明书中引用的其它部分的或推荐的文件
附加的信息或作为例子。虽然已尽力确保本完整性
列表,文档的用户应注意,它们必须满足的引用文档中的所有规定的要求
第3, 4或5本说明书中的,无论它们是否被列出。
2.2政府文件。
2.2.1规范和标准。以下规范和标准构成本说明书的一个组成部分
的程度,这里指定的。除非另有说明,这些文件的问题的那些引用的
招标或合同。
防御规格DEPARTMENT
MIL -PRF- 38535 -
集成电路(微型)制造,一般规格。
4.5 V最低至5.5 V最大
2.0 V直流
0.8 V直流
16毫安
10最高
20最高
-55 ° C至125°C
-0.5 V至7.0 V
-1.5 V在-12 mA至+5.5 V
-65 ° C至+ 150°C
375毫瓦
268毫瓦
286毫瓦
248毫瓦
275毫瓦
300°C
(见MIL -STD- 1835 )
175°C
作者防御标准部
MIL-STD-883
MIL-STD-1835
-
-
测试方法标准的微电子。
接口标准电子元器件案例纲要
(提供这些文件的副本在网上
http://assist.daps.dla.mil/quicksearch/
or
http://assist.daps.dla.mil
或从标准化文档顺序台, 700罗宾斯大道,大厦4D ,
费城,宾夕法尼亚州19111-5094 )。
_______
1 /必须能承受加P
D
由于短路条件(例如我
OS
测试) 。
2 /最高结温不能超过除按照允许的短
时间老化筛选条件按照MIL-PRF- 38535 。
3 /设备将在高和低的水平扇出到相同设备类型的输入的指定数量的
作为该被测试。
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