MAX2135A
可靠性报告
为
MAX2135AETN+
塑封器件
2011年3月4日
Maxim Integrated Products版权所有
120圣盖博博士
加利福尼亚州桑尼维尔94086
经批准
唐·利普斯
质量保证
管理,可靠性工程
美信集成产品。版权所有。
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MAX2135A
结论
该MAX2135AETN +成功地满足了所有Maxim的产品所需的质量和可靠性标准。此外, Maxim的
连续可靠性监视程序确保所有传出的产品将继续满足Maxim的质量和可靠性标准。
目录
一, ........设备描述
II 。 ........制造业信息化
III 。 .......包装信息
附件.....
一,设备说明
A.一般
该MAX2135A低功耗, 6MHz的ISDB -T和为6MHz / 7MHz的/ 8MHz的DVB -T低中频调谐器的多样性直接将广播ISDB -T和DVB - T信号
以一个低IF使用宽带I / Q下变频器。工作频率范围覆盖VHF和UHF广播电视频段的90MHz的到
862MHz的。该MAX2135A集成了低噪声放大器, RF可变增益放大器(VGA ) , VHF和UHF跟踪滤波器, I / Q下变频混频器,基带
可变增益放大器,和低IF滤波器。该器件还包括一个完全集成的VCO和谐振电路以及完整的频率合成器包括一个
片上晶体振荡器和输出缓冲器/分频器。该器件集成了一个2线( IC )与串行控制接口的多个读写
地址。低功耗待机模式,可随后的信号通路关闭,而串行控制接口和寄存器
电路活跃。此外,整个设备可以通过一个外部引脚被关闭。该MAX2135A是一个56引脚薄型QFN封装( 7×
7毫米) ,带有裸焊盘。电气性能可保证在-40° C至+ 85 °C温度范围。
IV 。 .......模具信息
五........质量保证信息
VI 。 .......可靠性评估
美信集成产品。版权所有。
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MAX2135A
五,质量保证信息
A.质量保证联系方式:
B.出厂检验水平:
C.观察传出缺陷率:
D.抽样方案:
VI 。可靠性评估
A.加速寿命试验
在135℃的偏压(静态)寿命试验的结果示于表1中。这些结果,故障率()的计算方法如下:
= ___1___
MTTF
=
_______ _______ 1.83 (平均无故障时间为上限卡方值)
192 x 4340 x 96 x 2
(其中, 4340 =温度加速因子假设0.8eV的活化能)
肯·温德尔(导演,可靠性工程)
布莱恩Preeshl ( QA董事总经理)
0.1 %,由数据保证所有的电气参数。
0.1 %,对于所有的视觉缺陷。
< 50ppm的
Mil-Std-105D
= 11.5 x 10
-9
= 11.5 F.I.T. (60 %的置信水平@ 25 ℃)的
下面的故障率表示从Maxim的可靠性监视程序收集的数据。马克西姆季度进行寿命试验
显示器上的过程。该数据公布在http://www.maxim-ic.com/qa/reliability/monitor找到了可靠性报告。
累计监测数据, MB3过程导致的0.08 FIT率@ 25℃, 1.33 @ 55℃ ( 0.8电子伏特, 60 % UCL)
B.耐湿性测试
工业标准的85 ℃/ 85 %RH下或HAST测试每个器件过程四分之一监测一次。
C.等效球径和栓锁测试
该WG53-1模型已被发现具有所有能承受为+/- 2500V根据JEDEC一个HBM瞬态脉冲销
JESD22- A114 。闭锁的测试表明,该装置可承受+/-为250mA的电流。
美信集成产品。版权所有。
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