MAX1735EUK
REV 。一
可靠性报告
为
MAX1735EUK
塑封器件
2001年12月23日
Maxim Integrated Products版权所有
120圣盖博博士
加利福尼亚州桑尼维尔94086
撰稿
来自
吉姆Pedicord
质量保证
可靠性实验室经理
布赖恩J. Preeshl
质量保证
执行董事
结论
在MAX1735成功地满足了所有Maxim的产品所需的质量和可靠性标准。此外,
Maxim的连续可靠性监视程序确保所有传出的产品将继续满足Maxim的质量
和可靠性标准。
目录
一, ........设备描述
II 。 ........制造业信息化
III 。 .......包装信息
IV 。 .......模具信息
五........质量保证信息
VI 。 .......可靠性评估
......附件
一,设备说明
A.一般
在MAX1735负输出,低压差线性稳压器从-2.5V动作, -6.5V输入,并提供一
保证200mA的低80mV的压降。高精度( ±1%)的输出电压是预先设定的或可调整
从-1.25V至-5.5V与外部电阻分压器。
一个内部的N沟道MOSFET允许低85μA静态电流几乎不受负载,使得这
器件非常适用于电池供电的便携式设备,如PDA,移动电话,无绳电话和无线
数据调制解调器。
该设备是在几个预设输出电压版本可供选择: -5.0V , -3.0V , -2.5V和。所有版本提供了一个低为1nA
功耗关断模式,短路保护和热过载保护。该器件采用一个小巧的5引脚
SOT23封装。
B.绝对最大额定值
项
IN, SET至GND
SHDN接GND
OUT到GND
PGND到GND
工作温度。
储存温度。
铅温度。 (10秒)。
功耗
5引脚SOT
减额高于+ 70℃
5引脚SOT
等级
-7V至+ 0.3V
( VIN - 0.3 ) V至+ 7V
( VIN - 0.3 ) V至+ 0.3V
-0.3V至+ 0.3V
-40 ° C至+ 85°C
-65 ° C至+ 150°C
+300°C
571mW
7.1mW/°C
II 。制造业信息化
A.描述/功能:
B.过程:
的设备C.晶体管数量:
D.制作地点:
E.大会地点:
初始生产F.日期:
的200mA,负输出,低压差线性稳压器
S12 (标准1.2微米硅栅CMOS )
293
美国俄勒冈州
马来西亚和泰国
, 2000年7月
III 。包装信息
A.包装类型:
B.引线框架:
C.铅表面处理:
D.芯片粘接:
E.键合线:
F.模具材料:
G.汇编图:
H.可燃性等级:
5引脚SOT
铜
焊接板
银填充环氧树脂
黄金( 1.0密耳直径)
环氧树脂与二氧化硅填料
Buildsheet # 05-2301-0057
类UL94 -V0
湿度敏感的一分类
根据JEDEC标准JESD22- A112 : 1级
IV 。芯片信息
A.尺寸:
B.钝化:
C.互连:
D.背面金属化:
E.最小金属宽度:
F.最小金属间距:
G.焊垫尺寸:
H.隔离介质:
一,模具分离方法:
55 X 42密耳
Si
3
N
4
/二氧化硅
2
(氮化硅/二氧化硅)
铝/硅(SI = 1 % )
无
1.2微米(如拉)
1.2微米(如拉)
5密耳。平方米。
SIO
2
片锯
五,质量保证信息
A.质量保证联系人:吉姆Pedicord (可靠性实验室经理)
布莱恩Preeshl ( QA执行董事)
肯尼斯Huening (副总裁)
B.出厂检验水平:
0.1 %,由数据保证所有的电气参数。
0.1 %,对于所有的视觉缺陷。
C.观察传出缺陷率: < 50ppm的
D.抽样计划: MIL-STD- 105D
VI 。可靠性评估
A.加速寿命试验
在135℃的偏压(静态)寿命试验的结果示于
表1中。
利用这些结果,故障
率( λ )的计算方法如下:
λ
=
1
=
MTTF
1.83
192 x 4389 x 160 x 2
( MTTF为上限卡方值)
温度加速因子假设0.8eV的活化能
λ
= 6.79 x 10
-9
λ
= 6.79 F.I.T. (60 %的置信水平@ 25 ℃)的
这种低故障率表示从Maxim的可靠性鉴定和监控程序收集的数据。
Maxim还每周进行老化测试的样品生产,以确保其过程的可靠性。该
需要大量的该接收的老化资格可靠性是59 FIT在60 %的置信水平,这相当于
3故障在80件样品。马克西姆执行对不合格品的失效分析,从大量的超过这个水平。该
附老化测试原理图(规格。 # 06-5610 )显示本次测试使用的静态电路。 Maxim还执行
千小时寿命试验季度监测每个进程。该数据公布的产品可靠性报告( RR-
1L).
B.耐湿性测试
Maxim的评估压力罐的压力从每一个组装过程中每一个新设计的鉴定过程中。
压力罐的检测必须通过20 % LTPD进行验收。此外,工业标准85 ℃/ 85 %RH下或
HAST测试每季度器件/封装系列执行。
C.等效球径和栓锁测试
的PY25模具类型已被发现具有所有能承受± 400V的瞬态脉冲管脚,每MIL-
STD- 883方法3015 (参考附ESD测试电路) 。闭锁的测试表明,该装置
承受的电流
±250mA
和/或
±20V.
表1
可靠性评估测试结果
MAX1735EUK
测试项目
测试条件
失败
鉴定
样品
SIZE
数
失败
静态寿命试验
(注1 )
TA = 135℃
偏见
时间为192小时。
水分测试
(注2 )
压力罐
TA = 121℃
P = 15磅。
RH = 100%的
时间= 168hrs 。
TA = 85°C
RH = 85 %
偏见
时间为1000小时。
DC参数
&的功能
160
0
DC参数
&的功能
355
0
85/85
DC参数
&的功能
77
0
机械应力
(注2 )
温度
周期
-65°C/150°C
1000次
方法1010
DC参数
77
0
注1 :寿命测试数据可以表示塑料DIP资格地段的小外形封装。
注2 :通用封装/过程数据