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MAX1546ETL
REV 。一
可靠性报告
MAX1546ETL
塑封器件
2003年5月8日
Maxim Integrated Products版权所有
120圣盖博博士
加利福尼亚州桑尼维尔94086
撰稿
来自
吉姆Pedicord
质量保证
可靠性实验室经理
布赖恩J. Preeshl
质量保证
执行董事
结论
在MAX1546成功地满足了所有Maxim的产品所需的质量和可靠性标准。此外,
Maxim的连续可靠性监视程序确保所有传出的产品将继续满足Maxim的质量
和可靠性标准。
目录
一, ........设备描述
II 。 ........制造业信息化
III 。 .......包装信息
一,设备说明
A.一般
该MAX1546是双相,的Quick-PWM 降压控制器,英特尔IMVP CPU核供电。双相工作模式降低
输入纹波电流要求,同时简化了元件选择和电路板布线的输出电压纹波。在Quick-PWM控制
方案提供了快速负载电流的步骤瞬态响应。该MAX1546包括有源电压定位增益可调
和抵消,降低了功耗和大容量输出电容的要求。
该MAX1546可用于两种不同的笔记本CPU核应用:直接下台电池或降压的5V
制度供给创造核心电压。在单级转换方式允许该器件直接下台高压
电池尽可能高的效率。另外,两级转换(步进的向下5V系统电源,而不是
电池),在较高的开关频率,提供了最小的物理尺寸。
在MAX1546符合IMVP规格。开关稳压器具有SOF T-启动和电源排序。该
-V
MAX1546还具有独立的四级逻辑电平输入,用于设置挂起电压( S0 - S1) 。该MAX1546具有输出
欠压保护,过热保护和电压调节器电源就绪( VROK )输出。如果任何这些保护功能检测
发生故障时,控制器将关闭。此外, MAX1546具有过压保护
该MAX1546是低调, 40引脚,6mm x 6mm的薄型QFN封装。
五........质量保证信息
VI 。 .......可靠性评估
IV 。 .......模具信息
附件.....
B.绝对最大额定值
V +至GND
VCC和GND
VDD至PGND
SKIP , SUS , D0 -D5到GND
ILIM , FB , OFS , CCV , CCI ,楼盘, OAIN + , OAIN-到GND
CMP , CSP , CMN , CSN , GNDS到GND
TON ,时间, VROK , S0 , S1到GND
SHDN接GND (注1 )
DLM , DLS至PGND
BSTM , BSTS到GND
DHM到LXM
LXM到BSTM
国土安全部LXS
LXS到BSTS
GND和PGND
REF短路持续时间
工作温度范围
结温
存储温度范围
焊接温度(焊接, 10秒)
连续功率耗散( TA = + 70 ° C)
40引脚QFN封装( 6× 6 )
减额高于+ 70℃
40引脚QFN
等级
-0.3V至+ 30V
-0.3V至+ 6V
-0.3V至+ 6V
-0.3V至+ 6V
-0.3V至( VCC + 0.3V )
-0.3V至( VCC + 0.3V )
-0.3V至( VCC + 0.3V )
-0.3V至+ 18V
-0.3V至( VDD + 0.3V )
-0.3V至+ 36V
-0.3V到( VBSTM + 0.3V )
-6V至+ 0.3V
-0.3V到( VBSTS + 0.3V )
-6V至+ 0.3V
-0.3V至+ 0.3V
连续
-40 ° C至+ 100°C
+150°C
-65 ° C至+ 150°C
+300°C
1860mW
23.2mW/°C
注1 :
SHDN可能被迫12V使用无故障测试模式下进行调试原型板的目的,
这将禁用故障保护和重叠操作。
II 。制造业信息化
A.描述/功能:
B.过程:
的设备C.晶体管数量:
D.制作地点:
E.大会地点:
初始生产F.日期:
双相, Quick-PWM控制器用于IMVP CPU核电源
S12 (标准1.2微米硅栅CMOS )
11,015
加州或俄勒冈州,美国
泰国和美国
2003年1月,
III 。包装信息
A.包装类型:
B.引线框架:
C.铅表面处理:
D.芯片粘接:
E.键合线:
F.模具材料:
G.汇编图:
H.可燃性等级:
湿度敏感的一分类
根据JEDEC标准JESD22-112 :
40引脚QFN封装( 6×6 )
焊接板
银填充环氧树脂
黄金( 1.3密耳直径)
环氧树脂与二氧化硅填料
# 05-9000-0383
类UL94 -V0
LEVEL 1
IV 。芯片信息
A.尺寸:
B.钝化:
C.互连:
D.背面金属化:
E.最小金属宽度:
F.最小金属间距:
G.焊垫尺寸:
H.隔离介质:
一,模具分离方法:
130 ×172密耳
Si
3
N
4
/二氧化硅
2
(氮化硅/二氧化硅)
铝/硅(SI = 1 % )
1.2微米(如拉)
1.2微米(如拉)
5密耳。平方米。
SIO
2
片锯
五,质量保证信息
A.质量保证联系方式:
吉姆Pedicord (可靠性实验室经理)
布莱恩Preeshl (执行董事)
肯尼斯Huening (副总裁)
0.1 %,由数据保证所有的电气参数。
0.1 %,对于所有的视觉缺陷。
B.出厂检验水平:
C.观察传出缺陷率: < 50ppm的
D.抽样计划: MIL-STD- 105D
VI 。可靠性评估
A.加速寿命试验
在135℃的偏压(静态)寿命试验的结果示于
表1中。
利用这些结果,故障
率( λ )的计算方法如下:
λ
=
1
=
MTTF
1.83
192 x 4389 x 48 x 2
( MTTF为上限卡方值)
温度加速因子假设0.8eV的活化能
λ
= 22.62 x 10
-9
λ
= 22.62 F.I.T. (60 %的置信水平@ 25 ℃)的
这种低故障率表示从Maxim的可靠性监视程序收集的数据。此外
日常生产烧机,马克西姆拉从每一个制造过程的样本每周和科目三次
它以一个扩展的老炼在装运之前,以确保其可靠性。每个批次的可靠性控制水平是
发货作为标准品59 F.I.T.在60 %的置信水平,这相当于3次失败在80片
样本。马克西姆执行任意很多超过此可靠性管理水平失效分析。附加烧伤,在
示意图(规格。 # 06-6131 )显示静态老化测试电路。 Maxim还进行季度千小时寿命试验
显示器。该数据公布的产品可靠性报告( RR- 1M) 。
B.耐湿性测试
马克西姆拉压力罐样品从每一个组装过程,每周三次。每批样品
必须在货物装船为标准产品之前满足的LTPD = 20或更小。此外,行业标准
85 ℃/ 85 % RH测试每个通用器件/封装系列的四分之一做一次。
C.等效球径和栓锁测试
在PD38模式已经发现都能够承受的瞬态脉冲销
±1500V,
每MIL-
STD- 883方法3015 (参考附ESD测试电路) 。闭锁的测试表明,该装置
承受的电流
±250mA.
表1
可靠性评估测试结果
MAX1546ETL
测试项目
测试条件
失败
鉴定
样品
SIZE
失败
静态寿命试验
(注1 )
TA = 135℃
偏见
时间为192小时。
水分测试
(注2 )
压力罐
TA = 121℃
P = 15磅。
RH = 100%的
时间= 168hrs 。
TA = 85°C
RH = 85 %
偏见
时间为1000小时。
DC参数
&的功能
48
0
DC参数
&的功能
QFN
77
0
85/85
DC参数
&的功能
77
0
机械应力
(注2 )
温度
周期
-65°C/150°C
1000次
方法1010
DC参数
&的功能
77
0
注1 :寿命测试数据可以表示塑料DIP资格地段。
注2 :通用封装/过程数据
MAX1546ETL
REV 。一
可靠性报告
MAX1546ETL
塑封器件
2003年5月8日
Maxim Integrated Products版权所有
120圣盖博博士
加利福尼亚州桑尼维尔94086
撰稿
来自
吉姆Pedicord
质量保证
可靠性实验室经理
布赖恩J. Preeshl
质量保证
执行董事
结论
在MAX1546成功地满足了所有Maxim的产品所需的质量和可靠性标准。此外,
Maxim的连续可靠性监视程序确保所有传出的产品将继续满足Maxim的质量
和可靠性标准。
目录
一, ........设备描述
II 。 ........制造业信息化
III 。 .......包装信息
一,设备说明
A.一般
该MAX1546是双相,的Quick-PWM 降压控制器,英特尔IMVP CPU核供电。双相工作模式降低
输入纹波电流要求,同时简化了元件选择和电路板布线的输出电压纹波。在Quick-PWM控制
方案提供了快速负载电流的步骤瞬态响应。该MAX1546包括有源电压定位增益可调
和抵消,降低了功耗和大容量输出电容的要求。
该MAX1546可用于两种不同的笔记本CPU核应用:直接下台电池或降压的5V
制度供给创造核心电压。在单级转换方式允许该器件直接下台高压
电池尽可能高的效率。另外,两级转换(步进的向下5V系统电源,而不是
电池),在较高的开关频率,提供了最小的物理尺寸。
在MAX1546符合IMVP规格。开关稳压器具有SOF T-启动和电源排序。该
-V
MAX1546还具有独立的四级逻辑电平输入,用于设置挂起电压( S0 - S1) 。该MAX1546具有输出
欠压保护,过热保护和电压调节器电源就绪( VROK )输出。如果任何这些保护功能检测
发生故障时,控制器将关闭。此外, MAX1546具有过压保护
该MAX1546是低调, 40引脚,6mm x 6mm的薄型QFN封装。
五........质量保证信息
VI 。 .......可靠性评估
IV 。 .......模具信息
附件.....
B.绝对最大额定值
V +至GND
VCC和GND
VDD至PGND
SKIP , SUS , D0 -D5到GND
ILIM , FB , OFS , CCV , CCI ,楼盘, OAIN + , OAIN-到GND
CMP , CSP , CMN , CSN , GNDS到GND
TON ,时间, VROK , S0 , S1到GND
SHDN接GND (注1 )
DLM , DLS至PGND
BSTM , BSTS到GND
DHM到LXM
LXM到BSTM
国土安全部LXS
LXS到BSTS
GND和PGND
REF短路持续时间
工作温度范围
结温
存储温度范围
焊接温度(焊接, 10秒)
连续功率耗散( TA = + 70 ° C)
40引脚QFN封装( 6× 6 )
减额高于+ 70℃
40引脚QFN
等级
-0.3V至+ 30V
-0.3V至+ 6V
-0.3V至+ 6V
-0.3V至+ 6V
-0.3V至( VCC + 0.3V )
-0.3V至( VCC + 0.3V )
-0.3V至( VCC + 0.3V )
-0.3V至+ 18V
-0.3V至( VDD + 0.3V )
-0.3V至+ 36V
-0.3V到( VBSTM + 0.3V )
-6V至+ 0.3V
-0.3V到( VBSTS + 0.3V )
-6V至+ 0.3V
-0.3V至+ 0.3V
连续
-40 ° C至+ 100°C
+150°C
-65 ° C至+ 150°C
+300°C
1860mW
23.2mW/°C
注1 :
SHDN可能被迫12V使用无故障测试模式下进行调试原型板的目的,
这将禁用故障保护和重叠操作。
II 。制造业信息化
A.描述/功能:
B.过程:
的设备C.晶体管数量:
D.制作地点:
E.大会地点:
初始生产F.日期:
双相, Quick-PWM控制器用于IMVP CPU核电源
S12 (标准1.2微米硅栅CMOS )
11,015
加州或俄勒冈州,美国
泰国和美国
2003年1月,
III 。包装信息
A.包装类型:
B.引线框架:
C.铅表面处理:
D.芯片粘接:
E.键合线:
F.模具材料:
G.汇编图:
H.可燃性等级:
湿度敏感的一分类
根据JEDEC标准JESD22-112 :
40引脚QFN封装( 6×6 )
焊接板
银填充环氧树脂
黄金( 1.3密耳直径)
环氧树脂与二氧化硅填料
# 05-9000-0383
类UL94 -V0
LEVEL 1
IV 。芯片信息
A.尺寸:
B.钝化:
C.互连:
D.背面金属化:
E.最小金属宽度:
F.最小金属间距:
G.焊垫尺寸:
H.隔离介质:
一,模具分离方法:
130 ×172密耳
Si
3
N
4
/二氧化硅
2
(氮化硅/二氧化硅)
铝/硅(SI = 1 % )
1.2微米(如拉)
1.2微米(如拉)
5密耳。平方米。
SIO
2
片锯
五,质量保证信息
A.质量保证联系方式:
吉姆Pedicord (可靠性实验室经理)
布莱恩Preeshl (执行董事)
肯尼斯Huening (副总裁)
0.1 %,由数据保证所有的电气参数。
0.1 %,对于所有的视觉缺陷。
B.出厂检验水平:
C.观察传出缺陷率: < 50ppm的
D.抽样计划: MIL-STD- 105D
VI 。可靠性评估
A.加速寿命试验
在135℃的偏压(静态)寿命试验的结果示于
表1中。
利用这些结果,故障
率( λ )的计算方法如下:
λ
=
1
=
MTTF
1.83
192 x 4389 x 48 x 2
( MTTF为上限卡方值)
温度加速因子假设0.8eV的活化能
λ
= 22.62 x 10
-9
λ
= 22.62 F.I.T. (60 %的置信水平@ 25 ℃)的
这种低故障率表示从Maxim的可靠性监视程序收集的数据。此外
日常生产烧机,马克西姆拉从每一个制造过程的样本每周和科目三次
它以一个扩展的老炼在装运之前,以确保其可靠性。每个批次的可靠性控制水平是
发货作为标准品59 F.I.T.在60 %的置信水平,这相当于3次失败在80片
样本。马克西姆执行任意很多超过此可靠性管理水平失效分析。附加烧伤,在
示意图(规格。 # 06-6131 )显示静态老化测试电路。 Maxim还进行季度千小时寿命试验
显示器。该数据公布的产品可靠性报告( RR- 1M) 。
B.耐湿性测试
马克西姆拉压力罐样品从每一个组装过程,每周三次。每批样品
必须在货物装船为标准产品之前满足的LTPD = 20或更小。此外,行业标准
85 ℃/ 85 % RH测试每个通用器件/封装系列的四分之一做一次。
C.等效球径和栓锁测试
在PD38模式已经发现都能够承受的瞬态脉冲销
±1500V,
每MIL-
STD- 883方法3015 (参考附ESD测试电路) 。闭锁的测试表明,该装置
承受的电流
±250mA.
表1
可靠性评估测试结果
MAX1546ETL
测试项目
测试条件
失败
鉴定
样品
SIZE
失败
静态寿命试验
(注1 )
TA = 135℃
偏见
时间为192小时。
水分测试
(注2 )
压力罐
TA = 121℃
P = 15磅。
RH = 100%的
时间= 168hrs 。
TA = 85°C
RH = 85 %
偏见
时间为1000小时。
DC参数
&的功能
48
0
DC参数
&的功能
QFN
77
0
85/85
DC参数
&的功能
77
0
机械应力
(注2 )
温度
周期
-65°C/150°C
1000次
方法1010
DC参数
&的功能
77
0
注1 :寿命测试数据可以表示塑料DIP资格地段。
注2 :通用封装/过程数据
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