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16777216位( 1,048,576 -word 16位) CMOS
3.3V -ONLY闪存&
4,194,304位( 524,288 ,一个字一个8 - BIT) CMOS SRAM
堆叠MCP (多芯片封装)
M6MGB/T162S4BVP
三菱的LSI
描述
特点
三菱M6MGB / T162S4BVP是一种堆叠式多
访问时间
芯片封装( S- MCP)的内容, 16M位闪存
FL灰内存
为90ns (最大)
和48引脚TSOP ( I型) 4M位的静态RAM 。
SRAM
85ns (最大)
电源电压
VCC = 2.7 3.6V
16M位闪存是1048576的话, 3.3V -而已, 环境温度
高性能非易失性存储器由CMOS制造
W版本
TA = -20 85°C
技术对所述外围电路和DINOR (分割
封装: 48引脚TSOP ( I型) , 0.4毫米引线间距
位线NOR)体系结构的存储器单元。
4M位SRAM是一种262144words unsynchronous SRAM
由硅栅CMOS技术制造。
应用
M6MGB / T162S4BVP适合的应用
移动通讯产品
移动通信系统,以减少两个安装
空间和重量。
引脚配置(顶视图)
A15
A14
A13
A12
A11
A10
A9
A8
A19
S-CE
WE#
F- RP #
F- WP #
S- VCC
F- RY / BY #
A18
A17
A7
A6
A5
A4
A3
A2
A1
1
2
3
4
5
6
7
8
9
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11
12
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20
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48
47
46
45
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43
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41
40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
28
27
26
25
A16
DQ15
GND
S-A-1
DQ7
DQ14
DQ6
DQ13
DQ5
DQ12
DQ4
F- VCC
DQ11
DQ3
DQ10
DQ2
DQ9
DQ1
DQ8
DQ0
OE #
GND
F- CE #
A0
10.0 mm
14.0 mm
F- VCC
S- VCC
GND
S-A-1
A0-A17
A18-A19
DQ0-DQ15
F- CE #
S-CE
OE #
WE#
F- WP #
F- RP #
F- RY / BY #
: VCC时闪光
NC :无连接
: VCC时SRAM
: GND为Flash SRAM
:地址为SRAM
:闪存/ SRAM通用地址
:地址为Flash
:数据I / O
:闪存芯片使能
: SRAM芯片使能
:闪存/ SRAM输出使能
:闪存/ SRAM写使能
:闪存写保护
:闪存复位关机
:闪存就绪/忙
1
1999年9月, Rev.2.0
16777216位( 1,048,576 -word 16位) CMOS
3.3V -ONLY闪存&
4,194,304位( 524,288 ,一个字一个8 - BIT) CMOS SRAM
堆叠MCP (多芯片封装)
M6MGB/T162S4BVP
三菱的LSI
框图
16MB闪存
A
19
A
18
A
17
A
16
A
15
A
14
A
13
A
12
A
11
A
10
A
9
A
8
A
7
A
6
A
5
A
4
A
3
A
2
A
1
A
0
128字的页面缓冲区
主座
32KW
F-VCC(3.3V)
28
银行( II )
GND (0V)
主座
参数Block7
参数Block6
参数BLOCK5
参数块4
参数块3
参数块2
参数块1
BOOT BLOCK
X解码器
银行( I)
32KW
16KW
16KW
16KW
16KW
16KW
16KW
16KW
16KW
地址
输入
y解码器
Y型门/感应放大器。
状态/ ID寄存器
多路复用器
芯片使能输入
输出使能输入
写使能输入
写保护输入
RESET / POWER DOWN输入
F- CE #
OE #
WE#
F- WP #
F- RP #
WSM
输入/输出
缓冲器
READY / BUSY输出
F- RY / BY #
DQ
15
DQ
14
DQ
13
DQ
12
DQ
3
DQ
2
DQ
1
DQ
0
4MB SRAM
S-A
-1
地址输入缓冲器
感测放大器。
数据输入/输出
行解码器
A
0
524288字X
8位
输出缓冲器
DQ 0
DQ 7
A
16
A
17
S-CE
DataInput中
卜FF器
时钟
发电机
S- VCC
WE#
OE #
GND
2
1999年9月, Rev.2.0
16777216位( 1,048,576 -word 16位) CMOS
3.3V -ONLY闪存&
4,194,304位( 524,288 ,一个字一个8 - BIT) CMOS SRAM
堆叠MCP (多芯片封装)
M6MGB/T162S4BVP
三菱的LSI
1.闪存
描述
M6MGB / T162S4BVP的闪存为3.3V ,仅高速16777216位CMOS引导块闪存记忆与交流
BGO (回地面操作)功能。该装置的BGO功能允许编程或擦除操作在一个库中进行
而装置同时允许读操作,以对其他银行进行。这BGO特征是适合于移动和
个人计算和通信产品。 M6MGB / T162S4BVP的闪存是采用CMOS工艺制造的
外围电路和DINOR (分裂位线NOR)体系结构的存储器单元。
特点
组织
.................................
1048,576字X 16位
BOOT BLOCK
M6MGB162S4BVP
........................
底部启动
M6MGT162S4BVP
........................
热门引导
其他功能
软洁具命令控制
选择性块锁
擦除挂起/恢复
计划暂停/恢复
状态寄存器读
交替回地面编程/擦除操作
银行( I)和银行( II )之间
.............................
V
CC
= 2.7~3.6V
电源电压
................................
存取时间
..............................
为90ns (最大)
功耗
.................................
54毫瓦(最大。在5MHz )
(自动保存断电后)
..........
0.33mW (典型值)。
编程/擦除
.................................
126毫瓦(最大)
.................................
0.33mW (典型值)。
待机
深度掉电模式
.......................
0.33mW (典型值)。
的银行自动程序(一)
.................................
4毫秒(典型值)。
节目时间
程序单元
.........................
1word
(字节编程)
(页编程)
.........................
128word
的银行自动程序( II )
.................................
4毫秒(典型值)。
节目时间
.................................
128word
程序单元
自动擦除
.................................
40毫秒(典型值)。
擦除时间
擦除单元
银行(我)引导块
.....................
16KWord的X 1
..............
参数块
16KWord的×7
......................
32Kword ×28
银行( II )主座
编程/擦除周期
.........................................
100Kcycles
3
1999年9月, Rev.2.0
16777216位( 1,048,576 -word 16位) CMOS
3.3V -ONLY闪存&
4,194,304位( 524,288 ,一个字一个8 - BIT) CMOS SRAM
堆叠MCP (多芯片封装)
功能
M6MGB / T162S4BVP的Flash存储器包括片
编程/擦除控制电路。写状态机( WSM )
控制块擦除和字节/页编程操作。
经营模式由写入命令选择
命令的用户界面( CUI) 。状态寄存器指示
在WSM的地位和在WSM顺利完成
期望的节目或块擦除操作。
深层掉电模式被激活时, F- RP #引脚为
GND ,降低了功耗。
M6MGB / T162S4BVP的闪存有三种阅读模式,
它访问到所述存储器阵列,所述设备标识符与所述
状态寄存器。了适当的读命令都需要
被写入在CUI 。在最初的设备上电或退出后
深断电,闪存将自动重置为
读阵列模式。在读阵列模式,低电平输入到F - CE#
和OE # ,高电平输入到WE#和F -RP #和地址信号
给地址输入端( A19 -A0 :字模式)的输出处的数据
寻址单元的数据输入/输出( D15 -D0 :字模式) 。
写到崔使读取存储器阵列的数据,设备
标识符和读数和状态寄存器清零。他们
也使块擦除和编程。崔写的是
使WE#为低电平,而F- CE#为低电平和OE #是
在较高的水平。地址和数据锁存早期崛起
的WE#和F -CE #边缘。标准的微处理器的写时序
被使用。
M6MGB/T162S4BVP
三菱的LSI
深度掉电
当F- RP #是为VIL ,该装置是在深断电
模式,其功耗是相当低的。中
阅读模式下,内存被取消和数据
输入/输出处于高阻抗(高Z)状态。后
从断电恢复,崔复位到读阵列和
状态寄存器清为80H值。
在块擦除或编程模式, F- RP #低会中止
无论是操作。块的存储器阵列的数据被修改
变得无效。
自动省电( APS )
自动省电最大限度地减少了功率
在读模式下的消耗。自动装置
变为该模式时,任何地址或F- CE#为不
最后的交替变化后超过200纳秒。该
功率消耗变得一样的待机
模式。在此模式下,输出数据被锁存并能
被读出。新的数据正确读出地址时,
被改变。
交替后台操作( BGO )
M6MGB / T162S4BVP的闪存允许读取阵列
从一个银行,而其他银行的操作软件
命令写入骑自行车或在擦除/编程操作
的背景。读阵列的操作与BGO其他银行
通过改变存储单元地址而无需任何附加执行
命令。当银行的地址指向软件银行
命令写入骑自行车或擦除/编程操作,
该数据是从状态寄存器读出。与所述接入时间
BGO是一样的正常读出操作。
输出禁用
当OE #为VIH ,从设备输出被禁用。数据
输入/输出处于高阻抗(高Z)状态。
待机
当F- CE#为在VIH时,设备处于待机模式,并
它的功耗减小。数据输入/输出是在一
高阻抗(High -Z )状态。如果内存取消
在块擦除或编程,内部控制电路
保持活跃,该设备正常消耗的有功功率
直到操作完成。
4
1999年9月, Rev.2.0
16777216位( 1,048,576 -word 16位) CMOS
3.3V -ONLY闪存&
4,194,304位( 524,288 ,一个字一个8 - BIT) CMOS SRAM
堆叠MCP (多芯片封装)
软件命令定义
该设备操作通过编写特定的软件选择
命令到命令的用户界面。
读阵列命令
( FFH )
该设备是在初始器件上电时读阵列模式,
从深掉电退出后,或者通过写FFH的
命令的用户界面。开始内部操作的后
设备会自动设置为读状态寄存器模式。
阅读设备标识符命令
(90H)
它通常可以读取设备识别码时,读取设备
标识代码命令( 90H )写入命令锁存器。
以下的命令写入,制造商代码和
设备代码可以从地址0000H和0001H中读取,
分别。
读状态寄存器命令
(70H)
写读状态寄存器后,状态寄存器读
命令70H到命令的用户界面的。另外,后
开始内部操作的设备被设置为读取状态
自动注册模式。
状态寄存器的内容被锁定在后来的下跌
的OE #或F - CE #边缘。因此, F- CE #或OE #必须在每次切换
状态读取。
清除状态寄存器命令
(50H)
擦除状态,程序状态和块状态位被设置为
由写状态机"1"s并只能通过清除复位
状态寄存器50H的命令。这些位表示不同
失败条件。
M6MGB/T162S4BVP
三菱的LSI
C)单数据加载到页面缓冲区( 74H )
/页缓冲区到Flash ( 0EH / D0H )
单个数据加载到页缓冲器被写入74H执行
接着是第二写入指定列地址和
数据。不同的数据多达128word可以加载到页
通过这两年的命令序列缓存。另一方面,所有的
加载的数据到页缓冲器同时程序性
通过编写页面缓冲,以0EH Flash的命令,随后的
确认D0H的命令。编程的完成之后
在页面缓冲器中的数据被自动清除。
此命令仅对银行( I)相似的Word程序。
清除页面缓冲区命令
(55H)
加载数据到页缓冲器被写入清除清除
55H的页面缓冲区命令后确认命令
的D0H 。该命令适用于由单结算加载数据
数据加载到页面缓冲区命令。
挂起/恢复命令
(B0H/D0H)
在块擦除写B0H的暂停命令
操作中断的块擦除操作,并且允许读出
从另一个内存块。写的暂停命令
在编程操作期间B0H中断程序的操作
并允许从存储器另一个块中读出。银行
写的时候暂停/恢复命令地址是必需的。
该设备将继续输出状态寄存器中读取数据时,
暂停命令后写入其中。轮询WSM
状态和暂停状态位将决定何时擦除
操作或编程操作已被暂停。在这
点读阵列命令写入到崔使
从块比其悬浮其它读取的数据。
当D0H的恢复命令写入CUI ,
在WSM将继续与擦除或编程过程。
数据保护
块擦除/确认命令
(20H/D0H)
自动块擦除是通过写块擦除启动
20H的命令,随后D0H的确认命令。一
要被擦除的块中的地址是必需的。在WSM
反复执行擦除脉冲应用和擦除验证
操作。
程序命令
A)字/字节编程( 40H )
字程序是由一个双指令序列执行。该
40H的Word程序设置命令写入
命令接口,随后是第二写入指定
地址和数据被写入。在WSM控制程序
脉冲应用和验证操作。 Word程序
命令仅对银行( I) 。
B)页编程的数据块( 41H )
世行( I)和银行( II )的页编程允许快速编程
128words /数据的256字节。 41H写入启动页面
程序操作为数据区域。从第二个周期
第129周期,写数据必须串行输入。地址A6 -A0
必须从增加00H到7FH 。数据完成之后
加载中, WSM控制编程脉冲应用和验证
操作。
M6MGB / T162S4BVP的快闪记忆体提供了可选
存储块的块锁定。每个块都有一个相关联的
非易失锁定位,它确定该块的锁定状态。
另外,闪存具有一个主写保护引脚
(F- WP# ),其可以防止任何修改的存储器块
其锁定位被设置为"0" ,当F- WP#为低电平。当F- WP #
为高电平时,所有的块可以被编程或擦除不管
的锁定位,并且锁定位的状态被清除为"1"由
抹去。请参阅第9页的详细信息,块锁定表。
电源电压
当电源电压(F -VCC )小于V
LKO ,
V
CC
锁定电压时,器件设置为只读模式。
V关于DC电气特性
LKO ,
见P.10 。
2延迟时间我们需要的任何设备的操作之前,
发起。的延迟时间是从时间F - cc达到测
F- Vccmin ( 2.7V ) 。
在上电期间, F- RP # = GND建议。飘落在忙
状态是不建议损坏器件的可能性。
存储器组织
M6MGB / T162S4BVP的闪存有一个16KWord的引导
块, 7 16KWord的参数块,银行(I)和
28 32Kword的银行主要模块( II ) 。块擦除
独立地在阵列中的其他块。
5
1999年9月, Rev.2.0
16777216位( 1,048,576 -word 16位) CMOS
3.3V -ONLY闪存&
4,194,304位( 524,288 ,一个字一个8 - BIT) CMOS SRAM
堆叠MCP (多芯片封装)
M6MGB/T162S4BVP
三菱的LSI
描述
特点
三菱M6MGB / T162S4BVP是一种堆叠式多
访问时间
芯片封装( S- MCP)的内容, 16M位闪存
FL灰内存
为90ns (最大)
和48引脚TSOP ( I型) 4M位的静态RAM 。
SRAM
85ns (最大)
电源电压
VCC = 2.7 3.6V
16M位闪存是1048576的话, 3.3V -而已, 环境温度
高性能非易失性存储器由CMOS制造
W版本
TA = -20 85°C
技术对所述外围电路和DINOR (分割
封装: 48引脚TSOP ( I型) , 0.4毫米引线间距
位线NOR)体系结构的存储器单元。
4M位SRAM是一种262144words unsynchronous SRAM
由硅栅CMOS技术制造。
应用
M6MGB / T162S4BVP适合的应用
移动通讯产品
移动通信系统,以减少两个安装
空间和重量。
引脚配置(顶视图)
A15
A14
A13
A12
A11
A10
A9
A8
A19
S-CE
WE#
F- RP #
F- WP #
S- VCC
F- RY / BY #
A18
A17
A7
A6
A5
A4
A3
A2
A1
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
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17
18
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20
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48
47
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33
32
31
30
29
28
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25
A16
DQ15
GND
S-A-1
DQ7
DQ14
DQ6
DQ13
DQ5
DQ12
DQ4
F- VCC
DQ11
DQ3
DQ10
DQ2
DQ9
DQ1
DQ8
DQ0
OE #
GND
F- CE #
A0
10.0 mm
14.0 mm
F- VCC
S- VCC
GND
S-A-1
A0-A17
A18-A19
DQ0-DQ15
F- CE #
S-CE
OE #
WE#
F- WP #
F- RP #
F- RY / BY #
: VCC时闪光
NC :无连接
: VCC时SRAM
: GND为Flash SRAM
:地址为SRAM
:闪存/ SRAM通用地址
:地址为Flash
:数据I / O
:闪存芯片使能
: SRAM芯片使能
:闪存/ SRAM输出使能
:闪存/ SRAM写使能
:闪存写保护
:闪存复位关机
:闪存就绪/忙
1
1999年9月, Rev.2.0
16777216位( 1,048,576 -word 16位) CMOS
3.3V -ONLY闪存&
4,194,304位( 524,288 ,一个字一个8 - BIT) CMOS SRAM
堆叠MCP (多芯片封装)
M6MGB/T162S4BVP
三菱的LSI
框图
16MB闪存
A
19
A
18
A
17
A
16
A
15
A
14
A
13
A
12
A
11
A
10
A
9
A
8
A
7
A
6
A
5
A
4
A
3
A
2
A
1
A
0
128字的页面缓冲区
主座
32KW
F-VCC(3.3V)
28
银行( II )
GND (0V)
主座
参数Block7
参数Block6
参数BLOCK5
参数块4
参数块3
参数块2
参数块1
BOOT BLOCK
X解码器
银行( I)
32KW
16KW
16KW
16KW
16KW
16KW
16KW
16KW
16KW
地址
输入
y解码器
Y型门/感应放大器。
状态/ ID寄存器
多路复用器
芯片使能输入
输出使能输入
写使能输入
写保护输入
RESET / POWER DOWN输入
F- CE #
OE #
WE#
F- WP #
F- RP #
WSM
输入/输出
缓冲器
READY / BUSY输出
F- RY / BY #
DQ
15
DQ
14
DQ
13
DQ
12
DQ
3
DQ
2
DQ
1
DQ
0
4MB SRAM
S-A
-1
地址输入缓冲器
感测放大器。
数据输入/输出
行解码器
A
0
524288字X
8位
输出缓冲器
DQ 0
DQ 7
A
16
A
17
S-CE
DataInput中
卜FF器
时钟
发电机
S- VCC
WE#
OE #
GND
2
1999年9月, Rev.2.0
16777216位( 1,048,576 -word 16位) CMOS
3.3V -ONLY闪存&
4,194,304位( 524,288 ,一个字一个8 - BIT) CMOS SRAM
堆叠MCP (多芯片封装)
M6MGB/T162S4BVP
三菱的LSI
1.闪存
描述
M6MGB / T162S4BVP的闪存为3.3V ,仅高速16777216位CMOS引导块闪存记忆与交流
BGO (回地面操作)功能。该装置的BGO功能允许编程或擦除操作在一个库中进行
而装置同时允许读操作,以对其他银行进行。这BGO特征是适合于移动和
个人计算和通信产品。 M6MGB / T162S4BVP的闪存是采用CMOS工艺制造的
外围电路和DINOR (分裂位线NOR)体系结构的存储器单元。
特点
组织
.................................
1048,576字X 16位
BOOT BLOCK
M6MGB162S4BVP
........................
底部启动
M6MGT162S4BVP
........................
热门引导
其他功能
软洁具命令控制
选择性块锁
擦除挂起/恢复
计划暂停/恢复
状态寄存器读
交替回地面编程/擦除操作
银行( I)和银行( II )之间
.............................
V
CC
= 2.7~3.6V
电源电压
................................
存取时间
..............................
为90ns (最大)
功耗
.................................
54毫瓦(最大。在5MHz )
(自动保存断电后)
..........
0.33mW (典型值)。
编程/擦除
.................................
126毫瓦(最大)
.................................
0.33mW (典型值)。
待机
深度掉电模式
.......................
0.33mW (典型值)。
的银行自动程序(一)
.................................
4毫秒(典型值)。
节目时间
程序单元
.........................
1word
(字节编程)
(页编程)
.........................
128word
的银行自动程序( II )
.................................
4毫秒(典型值)。
节目时间
.................................
128word
程序单元
自动擦除
.................................
40毫秒(典型值)。
擦除时间
擦除单元
银行(我)引导块
.....................
16KWord的X 1
..............
参数块
16KWord的×7
......................
32Kword ×28
银行( II )主座
编程/擦除周期
.........................................
100Kcycles
3
1999年9月, Rev.2.0
16777216位( 1,048,576 -word 16位) CMOS
3.3V -ONLY闪存&
4,194,304位( 524,288 ,一个字一个8 - BIT) CMOS SRAM
堆叠MCP (多芯片封装)
功能
M6MGB / T162S4BVP的Flash存储器包括片
编程/擦除控制电路。写状态机( WSM )
控制块擦除和字节/页编程操作。
经营模式由写入命令选择
命令的用户界面( CUI) 。状态寄存器指示
在WSM的地位和在WSM顺利完成
期望的节目或块擦除操作。
深层掉电模式被激活时, F- RP #引脚为
GND ,降低了功耗。
M6MGB / T162S4BVP的闪存有三种阅读模式,
它访问到所述存储器阵列,所述设备标识符与所述
状态寄存器。了适当的读命令都需要
被写入在CUI 。在最初的设备上电或退出后
深断电,闪存将自动重置为
读阵列模式。在读阵列模式,低电平输入到F - CE#
和OE # ,高电平输入到WE#和F -RP #和地址信号
给地址输入端( A19 -A0 :字模式)的输出处的数据
寻址单元的数据输入/输出( D15 -D0 :字模式) 。
写到崔使读取存储器阵列的数据,设备
标识符和读数和状态寄存器清零。他们
也使块擦除和编程。崔写的是
使WE#为低电平,而F- CE#为低电平和OE #是
在较高的水平。地址和数据锁存早期崛起
的WE#和F -CE #边缘。标准的微处理器的写时序
被使用。
M6MGB/T162S4BVP
三菱的LSI
深度掉电
当F- RP #是为VIL ,该装置是在深断电
模式,其功耗是相当低的。中
阅读模式下,内存被取消和数据
输入/输出处于高阻抗(高Z)状态。后
从断电恢复,崔复位到读阵列和
状态寄存器清为80H值。
在块擦除或编程模式, F- RP #低会中止
无论是操作。块的存储器阵列的数据被修改
变得无效。
自动省电( APS )
自动省电最大限度地减少了功率
在读模式下的消耗。自动装置
变为该模式时,任何地址或F- CE#为不
最后的交替变化后超过200纳秒。该
功率消耗变得一样的待机
模式。在此模式下,输出数据被锁存并能
被读出。新的数据正确读出地址时,
被改变。
交替后台操作( BGO )
M6MGB / T162S4BVP的闪存允许读取阵列
从一个银行,而其他银行的操作软件
命令写入骑自行车或在擦除/编程操作
的背景。读阵列的操作与BGO其他银行
通过改变存储单元地址而无需任何附加执行
命令。当银行的地址指向软件银行
命令写入骑自行车或擦除/编程操作,
该数据是从状态寄存器读出。与所述接入时间
BGO是一样的正常读出操作。
输出禁用
当OE #为VIH ,从设备输出被禁用。数据
输入/输出处于高阻抗(高Z)状态。
待机
当F- CE#为在VIH时,设备处于待机模式,并
它的功耗减小。数据输入/输出是在一
高阻抗(High -Z )状态。如果内存取消
在块擦除或编程,内部控制电路
保持活跃,该设备正常消耗的有功功率
直到操作完成。
4
1999年9月, Rev.2.0
16777216位( 1,048,576 -word 16位) CMOS
3.3V -ONLY闪存&
4,194,304位( 524,288 ,一个字一个8 - BIT) CMOS SRAM
堆叠MCP (多芯片封装)
软件命令定义
该设备操作通过编写特定的软件选择
命令到命令的用户界面。
读阵列命令
( FFH )
该设备是在初始器件上电时读阵列模式,
从深掉电退出后,或者通过写FFH的
命令的用户界面。开始内部操作的后
设备会自动设置为读状态寄存器模式。
阅读设备标识符命令
(90H)
它通常可以读取设备识别码时,读取设备
标识代码命令( 90H )写入命令锁存器。
以下的命令写入,制造商代码和
设备代码可以从地址0000H和0001H中读取,
分别。
读状态寄存器命令
(70H)
写读状态寄存器后,状态寄存器读
命令70H到命令的用户界面的。另外,后
开始内部操作的设备被设置为读取状态
自动注册模式。
状态寄存器的内容被锁定在后来的下跌
的OE #或F - CE #边缘。因此, F- CE #或OE #必须在每次切换
状态读取。
清除状态寄存器命令
(50H)
擦除状态,程序状态和块状态位被设置为
由写状态机"1"s并只能通过清除复位
状态寄存器50H的命令。这些位表示不同
失败条件。
M6MGB/T162S4BVP
三菱的LSI
C)单数据加载到页面缓冲区( 74H )
/页缓冲区到Flash ( 0EH / D0H )
单个数据加载到页缓冲器被写入74H执行
接着是第二写入指定列地址和
数据。不同的数据多达128word可以加载到页
通过这两年的命令序列缓存。另一方面,所有的
加载的数据到页缓冲器同时程序性
通过编写页面缓冲,以0EH Flash的命令,随后的
确认D0H的命令。编程的完成之后
在页面缓冲器中的数据被自动清除。
此命令仅对银行( I)相似的Word程序。
清除页面缓冲区命令
(55H)
加载数据到页缓冲器被写入清除清除
55H的页面缓冲区命令后确认命令
的D0H 。该命令适用于由单结算加载数据
数据加载到页面缓冲区命令。
挂起/恢复命令
(B0H/D0H)
在块擦除写B0H的暂停命令
操作中断的块擦除操作,并且允许读出
从另一个内存块。写的暂停命令
在编程操作期间B0H中断程序的操作
并允许从存储器另一个块中读出。银行
写的时候暂停/恢复命令地址是必需的。
该设备将继续输出状态寄存器中读取数据时,
暂停命令后写入其中。轮询WSM
状态和暂停状态位将决定何时擦除
操作或编程操作已被暂停。在这
点读阵列命令写入到崔使
从块比其悬浮其它读取的数据。
当D0H的恢复命令写入CUI ,
在WSM将继续与擦除或编程过程。
数据保护
块擦除/确认命令
(20H/D0H)
自动块擦除是通过写块擦除启动
20H的命令,随后D0H的确认命令。一
要被擦除的块中的地址是必需的。在WSM
反复执行擦除脉冲应用和擦除验证
操作。
程序命令
A)字/字节编程( 40H )
字程序是由一个双指令序列执行。该
40H的Word程序设置命令写入
命令接口,随后是第二写入指定
地址和数据被写入。在WSM控制程序
脉冲应用和验证操作。 Word程序
命令仅对银行( I) 。
B)页编程的数据块( 41H )
世行( I)和银行( II )的页编程允许快速编程
128words /数据的256字节。 41H写入启动页面
程序操作为数据区域。从第二个周期
第129周期,写数据必须串行输入。地址A6 -A0
必须从增加00H到7FH 。数据完成之后
加载中, WSM控制编程脉冲应用和验证
操作。
M6MGB / T162S4BVP的快闪记忆体提供了可选
存储块的块锁定。每个块都有一个相关联的
非易失锁定位,它确定该块的锁定状态。
另外,闪存具有一个主写保护引脚
(F- WP# ),其可以防止任何修改的存储器块
其锁定位被设置为"0" ,当F- WP#为低电平。当F- WP #
为高电平时,所有的块可以被编程或擦除不管
的锁定位,并且锁定位的状态被清除为"1"由
抹去。请参阅第9页的详细信息,块锁定表。
电源电压
当电源电压(F -VCC )小于V
LKO ,
V
CC
锁定电压时,器件设置为只读模式。
V关于DC电气特性
LKO ,
见P.10 。
2延迟时间我们需要的任何设备的操作之前,
发起。的延迟时间是从时间F - cc达到测
F- Vccmin ( 2.7V ) 。
在上电期间, F- RP # = GND建议。飘落在忙
状态是不建议损坏器件的可能性。
存储器组织
M6MGB / T162S4BVP的闪存有一个16KWord的引导
块, 7 16KWord的参数块,银行(I)和
28 32Kword的银行主要模块( II ) 。块擦除
独立地在阵列中的其他块。
5
1999年9月, Rev.2.0
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