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位置:首页 > IC型号导航 > 首字符M型号页 > 首字符M的型号第259页 > M28C64C-150N6
M28C64C
M28C64X
64千位(8KB ×8 )并行EEPROM
快速存取时间: 150ns的
单5V
±
10 %电源电压
低功耗
快速写周期
- 32字节页写操作
- 字节或页写入周期: 5毫秒
写检测的增强END
- READY / BUSY开漏输出
(仅适用于M28C64C产品)
- 数据查询
- 触发位
页面加载定时器状态位
高可靠性单多晶硅,
CMOS技术
- 耐力>100,000擦除/写周期
- 数据保留>40年
JEDEC核准的单字节宽, PIN OUT
描述
该M28C64C是8千位X8低功耗并行
EEPROM制造与意法半导体亲
专有的单多晶硅CMOS技术。该
设备提供快速存取时间,低功耗显示
sipation ,需要一个5V电源。
该电路被设计成提供了一个灵活
单片机的接口配备硬件
和软件handshakingmode与就绪/忙,
数据轮询和切换位。该M28C64C支持
口32字节页写操作。
表1.信号名称
A0 - A12
DQ0 - DQ7
W
E
G
RB
V
CC
V
SS
地址输入
数据输入/输出
写使能
芯片使能
OUTPUT ENABLE
READY / BUSY
电源电压
28
1
PDIP28 (P)的
PLCC32 ( K)
28
1
SO28 (MS)的
300密耳
TSOP28 ( N)
8 x13.4mm
图1.逻辑图
VCC
13
A0-A12
8
DQ0-DQ7
W
E
M28C64C
RB
G
VSS
AI00746B
1999年2月
1/15
M28C64C , M28C64X
图2A 。 DIP引脚连接
图2B中。 LCC引脚连接
AI00747C
DQ1
DQ2
VSS
DU
DQ3
DQ4
DQ5
AI00748D
RB
A12
A7
A6
A5
A4
A3
A2
A1
A0
DQ0
DQ1
DQ2
VSS
1
28
2
27
3
26
4
25
5
24
6
23
7
22
M28C64C
8
21
9
20
10
19
11
18
12
17
13
16
14
15
VCC
W
DU
A8
A9
A11
G
A10
E
DQ7
DQ6
DQ5
DQ4
DQ3
A6
A5
A4
A3
A2
A1
A0
NC
DQ0
RB
DU
VCC
W
DU
1 32
A8
A9
A11
NC
G
A10
E
DQ7
DQ6
25
17
21
15
14
8
AI01016D
9
警告:
DU =不要使用。
警告:
NC =不连接, DU =不要使用。
图2C 。 SO引脚连接
图2D 。 TSOP引脚连接
RB
A12
A7
A6
A5
A4
A3
A2
A1
A0
DQ0
DQ1
DQ2
VSS
1
2
3
4
5
6
7
M28C64C
8
9
10
11
12
13
14
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
VCC
W
DU
A8
A9
A11
G
A10
E
DQ7
DQ6
DQ5
DQ4
DQ3
G
A11
A9
A8
DU
W
VCC
RB
A12
A7
A6
A5
A4
A3
22
A7
A12
M28C64C
28
1
M28C64C
7
A10
E
DQ7
DQ6
DQ5
DQ4
DQ3
VSS
DQ2
DQ1
DQ0
A0
A1
A2
AI00876C
警告:
DU =不要使用。
警告:
DU =不要使用。
PIN DESCRITPION
地址( A0 - A12 ) 。
地址输入选择
在读或写一个8位的存储器位置
操作。
芯片启用( E) 。
该芯片使能输入必须是
低,以使所有读/写操作。当片
能为高,功耗减小。
输出使能( G) 。
输出使能输入端接
指令对数据输出缓冲器和用于启动
读操作。
2/15
M28C64C , M28C64X
表2.绝对最大额定值
符号
T
A
T
英镑
V
CC
V
IO
V
I
V
ESD
参数
工作环境温度
存储温度范围
电源电压
输入/输出电压
输入电压
静电放电电压(人体模型)
价值
- 40 125
- 65 150
- 0.3 6.5
- 0.3 V
CC
+0.6
- 0.3 6.5
2000
单位
°C
°
C
V
V
V
V
注意:
除了评价“工作温度范围” ,强调高于表中所列“绝对最大额定值”可能
对器件造成永久性损坏。这些压力额定值只,设备的操作在这些或以上的任何其他条件
在该规范规定的经营部门所标明的是不是暗示。长期在绝对最大额定值条件下,其
期间可能会影响器件的可靠性。另请参阅意法半导体处处计划和其他有关质量文件。
表3.操作模式
模式
待机/写禁止
写禁止
写禁止
输出禁用
注意:
X = V
IH
或V
IL
E
V
IL
V
IL
V
IH
X
X
X
G
V
IL
V
IH
X
X
V
IL
V
IH
W
V
IH
V
IL
X
V
IH
X
X
DQ0 - DQ7
数据输出
DATA IN
高阻
数据输出或Hi -Z
数据输出或Hi -Z
高阻
数据输入/输出( DQ0 - DQ7 ) 。
数据被写入或读
从通过I / O引脚的M28C64C 。
写使能( W) 。
写使能输入控制
数据写入到M28C64C 。
就绪/忙( RB ) 。
就绪/忙是一个开漏
输出可以被用来检测的结束
内部写周期。
手术
为了防止数据损坏和意外的
在上电,上电写入操作
复位( POR )电路,复位所有内部编程
cicuitry 。在写入模式下对存储器的访问是
如表6规定的后电允许的。
该M28C64C访问就像一个静态RAM 。
当E和G都是低用W高时,数据
解决的问题是呈现在I / O引脚。在I / O
引脚为高impedancewhen G或E为高。
写操作开始时,包括了W和E
低, G是high.The M28C64C支持
E和硬件控制的写周期。地址是
通过E的下降沿或W这永远锁
最后发生的数据上E的上升沿或
它先出现W的一旦开始写
操作内部定时,直到完成。
页写
页写允许最多32个字节是次连续
tively之前启动一个锁存到存储器
编程周期。所有字节必须位于一个
单页地址,即A 5 - A12必须是
相同的所有字节。页写可以启动
在任何字节写操作。
以下的第一个字节写指令中的主机
可以发送另一个地址和数据到一个马克西
后E或W的上升沿妈妈为100μs的哪
先出现(T
BLC
) 。如果E或W的过渡
在100没有检测
s时,内部编程
明周期将开始。
3/15
M28C64C , M28C64X
图3.框图
RB
E
G
W
VPP GEN
RESET
ATD &控制逻辑
X解码
A5-A12
(页面地址)
地址
LATCH
64K阵列
A0-A4
地址
LATCH
解码
SENSE和数据锁存器
I / O缓冲器
页面加载
定时器状态
切换位
数据轮询
AI00877C
DQ0-DQ7
单片机控制接口
该M28C64C提供了两个写操作状态
位和一个状态引脚可以用于最小化
系统写周期。这些信号可
在I / O端口上的位DQ7存储器或DQ6
在编程周期,或者仅作为RB信号
在一个独立的引脚。
图4.状态位分配
DQ7 DQ6 DQ5 DQ4 DQ3 DQ2 DQ1 DQ0
DP
TB
PLTS高阻
高阻
高阻
高阻
高阻
DP =数据查询
TB =触发位
PLTS =页面加载定时器状态
数据轮询位( DQ7 ) 。
在内部写
周期,任何尝试读取写入的最后一个字节将
生产DQ7上的互补价值
先前锁存位。一旦写周期是装订
ished真正的逻辑值在DQ7中出现
读周期。
4/15
翻转位( DQ6 ) 。
该M28C64C提供了另一种
方法,用于确定当内部写周期
就完成了。 Duringthe内部擦除/写周期,
DQ6将发生从“0”切换到“1”和“1”到“0”(在
第一次读值为“ 0 ” )的后续尝试
读入内存中的任何地址。当内部
循环完成触发将停止,
设备将可为一新读或写
操作。
页面加载定时器状态位( DQ5 ) 。
在页面
写模式数据可以通过电子邮件或W高达锁存
前一个字节后为100μs 。最多32个字节可
被输入。数据输出( DQ5 )表示
内部页面加载定时器状态。 DQ5可能
通过置输出使能低(T读
PLTS
).
DQ5低指示定时器正在运行,高
表示超时之后,在写周期将
就没有新的数据可被输入。
READY / BUSY引脚。
在RB引脚提供一个信号
它的开漏输出,低在
擦除/写周期,但其释放的
编程周期完成。
M28C64C , M28C64X
表4. AC测量条件
输入上升和下降时间
输入脉冲电压
输入和输出时序参考。电压
20ns
0.4V至2.4V
0.8V至2.0V
1N914
图6. AC测试等效负载电路
1.3V
注意,输出高阻被定义为点数据是无
再驱动。
3.3k
图5. AC测试输入输出波形
2.4V
设备
TEST
CL = 30pF的
OUT
2.0V
0.8V
AI00826
0.4V
CL INCLUDES夹具电容
AI01129
表5.电容
(1)
(T
A
= 25
°C,
F = 1 MHz)的
符号
C
IN
C
OUT
参数
输入电容
输出电容
测试条件
V
IN
= 0V
V
OUT
= 0V
最大
6
12
单位
pF
pF
注意:
1.采样只,而不是100 %测试。
表6.读模式DC特性
(T
A
= 0至70℃或-40至85℃ ,V
CC
= 4.5V至5.5V )
符号
I
LI
I
LO
I
CC (1)
I
CC1
I
CC2
(1)
(1)
参数
输入漏电流
输出漏电流
电源电流( TTL和CMOS输入)
电源电流(待机) TTL
电源电流(待机) CMOS
输入低电压
输入高电压
输出低电压
输出高电压
测试条件
0V
V
IN
V
CC
0V
V
IN
V
CC
E = V
IL
,G = V
IL
, F = 5兆赫
E = V
IH
ê > V
CC
–0.3V
最大
10
10
30
2
100
单位
A
A
mA
mA
A
V
V
V
V
V
IL
V
IH
V
OL
V
OH
– 0.3
2
I
OL
= 2.1毫安
I
OH
= –400
A
2.4
0.8
V
CC
+0.5
0.4
注意:
1.所有的I / O开路。
表7.上电时序
(1)
(T
A
=
0到70
°
C或-40 85
°
C,V
CC
= 4.5V至5.5V )
符号
t
PUR
t
PUW
参数
时间延迟到读操作
时间延迟写操作
1
10
最大
单位
s
ms
注意:
1.采样只,而不是100 %测试。
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