LH5268A
CMOS 64K ( 8K
×
8 )静态RAM
AC特性
( 1 )读周期(T
A
= 0至+ 70℃ ,V
CC
= 5 V
±10%)
参数
符号
分钟。
马克斯。
单位
记
读周期时间
地址访问时间
芯片使能
存取时间
( CE
1
)
( CE
2
)
t
RC
t
AA
t
ACE1
t
ACE2
t
OE
t
OH
( CE
1
)
( CE
2
)
t
LZ1
t
LZ2
t
OLZ
t
HZ1
t
HZ2
t
OHZ
100
100
100
100
40
10
10
10
5
0
0
0
30
30
20
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
1
1
1
1
1
1
输出启用访问时间
输出保持时间
芯片使能到
在低Z输出
输出使能到输出的
低Z
芯片使能到
输出高阻
( CE
1
)
( CE
2
)
输出禁用输出
高-Z
注意:
1.主动输出到一个指定的高阻抗和高阻抗输出有源测试
±200
毫伏转型
从稳态水平进入试验载荷。
( 2 )写周期(T
A
= 0至+ 70℃ ,V
CC
= 5 V
±10%)
参数
符号
分钟。
马克斯。
单位
记
写周期时间
芯片使能写操作的结束
地址有效到写结束
地址建立时间
把脉冲宽度
写恢复时间
数据有效到写结束
数据保持时间
输出写入结束活动
我们在高阻输出
OE为输出高阻
t
WC
t
CW
t
AW
t
AS
t
WP
t
WR
t
DW
t
DH
t
OW
t
WZ
t
OHZ
100
80
80
0
60
0
40
0
10
0
0
30
20
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
1
1
1
注意:
1.主动输出到一个指定的高阻抗和高阻抗输出有源测试
±200
毫伏转型
从稳态水平进入试验载荷。
AC测试条件
参数
模式
记
输入电压幅度
输入的上升/下降时间
时序参考电平
输出负载条件
注意:
1.包括范围和夹具电容。
为0.6 2.4 V
10纳秒
1.5 V
1TTL + C
L
( 100 pF的)
1
4