【文档和流程转换必要的措施以符合本次修订由1999年11月4日完成英制MIL-PRF-19500/50】,IC型号JANTXV2N6286,JANTXV2N6286 PDF资料,JANTXV2N6286经销商,ic,电子元器件-51电子网

文档和流程转换

必要的措施以符合本次修订

由1999年11月4日完成

英制

MIL-PRF-19500/505B

1999年8月4日

取代

MIL-S-19500/505A(USAF)

1993年10月6日

性能规格表

半导体器件中，达林顿晶体管， PNP ，硅，电

TYPE 2N6286 ， 2N6287 JAN ， JANTX ，和JANTXV

该规范被批准用于通过部门使用

ments和国防部的机构。

1.范围

1.1适用范围。该规范涵盖了PNP ，达林顿管，功率晶体管的性能要求。三个层次的产品

提供了保证，为每个封装的器件类型的MIL -PRF- 19500规定。

1.2物理尺寸。见图1 （类似T0-3 ）。

1.3最大额定值。

CBO

= +25°C

175

= +100°C

87.5

V DC

-80

-100

V DC

-80

-100

V DC

-7

直流

-20

直流

-0.5

°C

-65到+175

首席执行官

EBO

和T

英镑

TYPE

2N6286

2N6287

1 /线性降容在1.17 W / ° C以上牛逼

> + 25°C 。

1.4主要电气特性。

FE2

= -3 V DC

= -10一个DC

FE3

= -3 V DC

= -20 DC

CE(sat)1

= -20 DC

= -200毫安的直流

V DC

民

最大

1,250

18,000

敖包

= -10 V直流

= 0

100千赫

≤

1兆赫

民

最大

400

300

-3.0

= -3 V DC

= -10一个DC

F = 1 MHz的

° C / W

700

0.857

-2.0

= -3 V DC

= -10一个DC

F = 1 MHz的

-4.0

CE(sat)2

= -10一个DC

= -40毫安的直流

V DC

BE （ SAT ）

= -20 DC

= -200毫安的直流

V DC

开关

关闭

1 /脉冲（见4.5.1 ）。

有益的意见（建议，添加，删除）和任何相关的数据，可能会使用改进本文档

应该给：指挥官，哥伦布国防供应中心，联系人： DSCC - VAC ， 3990东宽街，哥伦布，俄亥俄州

43216-5000 ，通过使用寻址标准化文献改进建议（DD表格1426 ）出现在此结束

文档或字母。

美国超导公司N / A

分配表A.获准公开发行;分布是无限的。

FSC 5961

MIL-PRF-19500/505B

2.适用文件

2.1一般。在本节中列出的文档都将在第3和第4本规范的规定。本节不包括

本说明书中引用的其他部分或推荐的其他信息或实例文档。虽然尽力了

已作出保证这个列表的完整性，文档的用户应注意，它们必须符合所有规定的要求

引用在第3和第4本说明书中，无论它们是否被列出的文档。

2.2政府文件。

2.2.1规格，标准和手册。以下规范，标准，和手册形成本文档的一部分

在本文中所指定的范围。除非另有说明，这些文件的问题是那些在该部的发行上市

规格及（ DODISS ）补充防御指数标准和于此，引用在招标（见6.2）。

规范

国防部

MIL -PRF- 19500 - 半导体器件，一般规格。

标准

军事

MIL -STD- 750 - 试验方法半导体器件。

（除非另有说明，可从防自动以上的规格，标准和手册的副本

印刷服务，建筑4D （ DPM - DODSSP ）， 700罗宾斯大道，费城，宾夕法尼亚州19111-5094 。）

2.3优先顺序。在本文档的文本和本文中所引用的参考文献之间存在冲突的情况下（除

相关的相关规范或规格表），该文档的文本为准。本文档中的任何内容，

然而，取代适用的法律法规，除非特别豁免已获得。

3.要求

3.1资格。根据本说明书提供的设备应是由合格的活性上市授权产品

之前签订合同适用的合格产品名单（见4.2和6.3 ）。

3.2相关规范。个别项目要求应符合MIL -PRF- 19500和本文规定。

3.3缩写，符号和定义。缩写，符号，以及本文所用的定义应以符合MIL- PRF-被指定

19500.

3.4接口要求和物理尺寸。接口要求和物理尺寸应在被指定为

MIL-PRF- 19500和在图1 （类似于T0-3 ）本文中。

3.4.1铅完成。除非另有规定，铅涂层应焊符合MIL -STD- 750 ， MIL -PRF- 19500和

在本文中。

3.5标记。设备应标明符合MIL -PRF- 19500 。

3.6电气性能特性。除非另有说明，所述的电气性能特性中指定

1.3 ，1.4和表予本文。

3.7电气试验的要求。电气试验要求应在表一规定的亚组

4.验证

4.1分类检查。此规定的检验要求分类如下：

资质检查（见4.2）。

筛选（见4.3 ）。

一致性检查（见4.4 ）。

MIL-PRF-19500/505B

注意事项：

1.尺寸以英寸。

2.公制等值给出的只是一般信息。

3.车身轮廓在由CD限定区域可选

4.这些尺寸应在点0.050 （1.27 MM）来衡量，以0.055 （1.40 MM）以下座位平面。

5.两个终端。

6.在两端。

7.两个孔。

8.终端1为发射极，端子2基地。集电极应电连接到所述壳体。

9. LD适用的L1和LL之间。直径是不受控制的L1 。

10.根据ANSI Y14.5M ，直径相当于

φx

符号。

图1.物理尺寸。（类似TO- 3 ）

MIL-PRF-19500/505B

尺寸

符号

英寸

民

HR1

MHD

讯息处理系统

0.151

1.177

0.420

0.205

0.655

0.250

0.495

0.131

0.060

0.038

0.312

最大

0.875

0.360

0.525

0.188

0.135

0.043

0.500

0.050

0.165

1.197

0.440

0.225

0.675

3.84

29.90

10.67

5.21

16.64

6.35

12.57

3.33

1.52

0.97

7.92

22.23

9.14

13.34

4.78

3.43

1.09

12.7

1.27

4.19

30.40

11.18

5.72

17.15

5, 9

MILLIMETERS

笔记

图1.物理尺寸（类似TO- 3 ） - 续。

MIL-PRF-19500/505B

4.2资格检查。资质检验应符合MIL -PRF- 19500和在此。

4.3筛选。筛选应符合MIL -PRF- 19500的表IV ，和本文规定。以下

测量应符合表我在此提出。超出表的限制我这里的设备不能接受。

屏幕上（参见

表四

MIL-PRF-19500)

测量

JANTX和JANTXV水平

CEX1

和H

FE1

参见4.3.1

表我这里的亚组2 ;我

CEX1

= 100 ％的初始

值或100

DC ，以较高者为准。

FE1

= ± 40％初始值。

4.3.1电源老化条件。功率的老化条件如下：

= + 162.5 ° C± 12.5 ° C，V

≥

-10 V直流。

注：没有散热片或强制空气冷却的设备应被允许。

4.4符合性检查。一致性检验应符合MIL -PRF- 19500 。

4.4.1 A组检验。 A组检验应符合MIL -PRF- 19500进行，表我这里。电动

测量（终点）应符合表I，亚组2于此。

4.4.2 B组的检查。 B组检验应按照与亚组测试所规定的条件下进行

MIL -PRF- 19500的表VIb族（ JAN ， JANTX和JANTXV ）。电气测量（终点）应符合表I，

亚2于此。

小组

法

1037

条件

用于焊接芯片粘接： V

≥

-10 V直流;牛逼

≤

35 ° C， 2000次循环。

对于共晶芯片粘接：T已

≤

35 ℃，调整P

实现吨

= 150 ° C最小，V

≥

-10 V直流。

4.4.3 C组检验。 C组检验应按照与亚组测试所规定的条件下进行

表七MIL -PRF- 19500的。电气测量（终点）应符合表I，亚组2于此。

小组

法

2036

1037

条件

张力：测试条件A;体重= 10磅;时间= 15秒。

用于焊接芯片粘接： V

≥

-10 V直流;牛逼

≤

35 ° C， 6000次循环。

对于共晶芯片粘接：T已

≤

35 ℃，调整P

实现吨

= 150 ° C最小，V

≥

-10 V直流。

检验方法4.5 。检验方法应当在适当的表格中的规定和以下。

4.5.1脉冲测量。条件脉冲测量应符合MIL -STD- 750的第4条的规定。